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SHIGEO SHINGO1909 – 1990

ZERO QUALITY CONTROLTECNOLOGÍAS PARA EL CERO DEFECTOS

1Prof. Juan Felipe Pons

“Muchos de nosotros hemos pensado que p qnada es perfecto y que producir defectos es inherentemente inevitable y, por tanto,

una parte aceptable del proceso de producción”.


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Una historia sobre la producción de paracaídas durante

la Segunda Guerra Mundial:

• “ ¿Cómo podía decirse a los pilotos que había una…¿Cómo podía decirse a los pilotos que había una

tasa de error del 3% en los paracaídas que se les

entregaba?...”

• “…El problema se resolvió finalmente y se consiguió

el cero defectos, pidiendo a los que manufacturaban

los paracaídas que los verificasen saltando ellos

mismos desde aeroplanos preparados

especialmente para la ocasión…”


Hay que desprenderse de la idea de que los defectos son una parte normal de lalos defectos son una parte normal de la fabricación.

DEFECTOS = 0

¡ES ABSOLUTAMENTE POSIBLE!


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MÉTODOS DE INSPECCIÓN DE CALIDAD

• Shigeo Shingo clasificó los métodos de i ió d lid d t tiinspección de calidad en tres tipos:

1. Inspecciones que descubren defectos: inspecciones evaluativas.

2. Inspecciones que reducen defectos: i i i f tiinspecciones informativas.

3. Inspecciones que eliminan defectos: inspecciones en la fuente.


INSPECCIONES QUE DESCUBREN LOS DEFECTOSINSPECCIONES EVALUATIVAS

• Inspecciones cuyo único propósito es

categorizar los productos acabados como

defectuosos o aceptables una vez concluido el

proceso.

• Este método genera:

– RE‐TRABAJO

– INSATISFACCIÓN DEL CLIENTE


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INSPECCIONES QUE DESCUBREN LOS DEFECTOSINSPECCIONES EVALUATIVAS

• Este método no puede por sí mismo contribuirEste método no puede por sí mismo contribuir

a reducir la tasa de defectos en una fábrica, en

una obra, en un hospital, etc.

• Consecuentemente no tiene valor alguno si lo

que se desea es precisamente reducir la tasaque se desea es precisamente reducir la tasa

de defectos.



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INSPECCIONES QUE REDUCEN DEFECTOSINSPECCIONES INFORMATIVAS

• Es una inspección en la que, cuando ocurre un

defecto, la información sobre el mismo se

retrotrae al proceso de trabajo implicado, el

cual entonces adopta acción para corregir el

método de operación.

• Consecuentemente, es de esperar, que la

adopción de este sistema tendrá el efecto de

reducir gradualmente la tasa de defectos.


INSPECCIONES QUE REDUCEN DEFECTOSINSPECCIONES INFORMATIVAS

• Las inspecciones informativas pueden p p

dividirse en tres categorías:

1. Sistema de Control de Calidad Estadístico (SQCS).

2. Sistemas de Verificación Sucesiva (SuCS).

3. Sistema de Auto‐Chequeo (SeCS).


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INSPECCIONES INFORMATIVASSISTEMAS DE CONTROL DE CALIDAD ESTADÍSTICOS

• Basados en la estadística,

• para reducir los defectos futuros,

retrotrayendo la información sobre los

defectos a los procesos afectados.

• Usan estadísticas para fijar límites de controlUsan estadísticas para fijar límites de control

que distinguen entre las situaciones normales

y las anómalas.



CONCLUSIONESCONCLUSIONES

1. Aunque este enfoque pueda estar apoyado

por la ciencia estadística, permanece el

hecho de que las anomalías aparecen

irregular y aleatoriamenteirregular y aleatoriamente.


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CONCLUSIONESCONCLUSIONES

2. Como no se puede predecir cuando aparecerán, la probabilidad de que las muestras estadísticas encuentren las anomalías justo cuando aparecen es de lejos j p jinferior que con un muestreo al 100 por cien.



CONCLUSIONES

3. Estos métodos implican un desfase de tiempo considerable entre el descubrimiento de una anomalía y la acción correctiva.

Es decir, transcurre mucho tiempo antes de que se hagan mejoras; y durante este período, probablemente aparecerá un número sustancial de defectos.


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INSPECCIONES INFORMATIVASSISTEMAS DE CHEQUEO SUCESIVO (SuCS)

“B” INSPECCIONA EL TRABAJO DE “A”

“C” INSPECCIONA EL TRABAJO DE “B”

TRABAJADORA

TRABAJADORB

TRABAJADORC

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• Este sistema supera ampliamente las deficiencias de los métodos estadísticos porque hace posible conducir inspecciones al 100 por cien, se realizan retroacciones y acciones inmediatas, y las inspecciones se realizan por trabajadores distintos a los que han ejecutado el proceso.

Prof. Juan Felipe Pons

INSPECCIONES INFORMATIVASSISTEMAS DE AUTO‐CHEQUEO (SeCS)

M i i t h i l i t d tMovimiento hacia los sistemas de auto‐

inspección:

• Sería ideal que cada trabajador implicado

realizase inspecciones al 100 por cien para

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verificar los defectos.


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Sin embargo, existen dos inconvenientes:

1. Los trabajadores pueden ser proclives a

hacer juicios sesgados cuando inspeccionan

las piezas que ellos mismos han trabajado.

2 Ocasionalmente tienen alguna tendencia a

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2. Ocasionalmente, tienen alguna tendencia a

obviar u olvidar hacerse chequeos a sí

mismos.



• Si fuese posible guardarse contra estos i i t t i t d tinconvenientes, entonces un sistema de auto‐chequeo sería superior a un sistema de chequeo sucesivo.

• Un sistema de auto‐chequeo combinado con dispositivos poka yoke representa un enfoque

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dispositivos poka‐yoke representa un enfoque de más alto nivel que el sistema de chequeo sucesivo, y su utilización puede reducir la tasa de defectos aún más.


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INSPECCIONES QUE ELIMINAN LOS DEFECTOSINSPECCIONES EN LA FUENTE

• Son métodos de inspección que se basan en la id d d b i l di iidea de descubrir errores en las condiciones que originan los defectos y realizar el feedbacky la acción en la fase errónea de forma que se evite que esos errores se tornen en defectos.

• Para alcanzar este fin el uso de mecanismosPara alcanzar este fin, el uso de mecanismos poka‐yoke es extremadamente efectivo. De hecho, son éstos mecanismos los que hacen posible realizar el “cero defectos”.



Sistemas de dirección del pasado:

1. Sucedía un error (causa).

2. Como resultado ocurría un defecto.

3. La información se enviaba en retroacción.

4 S d t b ió ti4. Se adoptaba acción correctiva en

consecuencia.


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Con las inspecciones en la fuente:

1. Ocurre un error (causa).

2. El feedback se realiza en fase con el error,

antes de que el error se materialice en

defecto.

3. Se adopta acción correctiva consecuente.



• Se consigue el “cero‐defectos” porque los

errores no se materializan en defectos, y los

ciclos de dirección son extremadamente

rápidos.


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• Inspecciones en la fuente verticales

– La idea que fundamenta las inspecciones en la fuente verticales es llevar el control a los procesos “aguas arriba” en los casos en los que éstos contienen las causas de los defectos.

• Inspecciones en la fuente horizontales

– Está basado en la idea de detectar las fuentes de los defectos dentro de los procesos y entonces conducir inspecciones para evitar que los errores se conviertan en defectos.



• Ejemplos:Ejemplos:

– Una operación de embalaje de aspiradoras.

– Curvado de bordes de forro.

– Montaje de carburadores.

j d i– Montaje de asientos.


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ASEGURAR LA CALIDADCONSEGUIR EL “CERO – DEFECTOS”

CONCLUSIONES



1. Los sistemas poka‐yoke implican realizar i i l 100 i li dinspecciones al 100 por cien, realizando inmediatos feedback y acción cuando ocurren errores o defectos.

Este enfoque, por tanto, resuelve el problema planteado por la desfasadaproblema planteado por la desfasada creencia de que las inspecciones al 100 por cien son fastidiosas y costosas.


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2. Las inspecciones en la fuente y las medidas k k d b bi i dpoka‐yoke deben combinarse si se desea

eliminar defectos.

Es la combinación de las inspecciones en la fuente y los mecanismos poka‐yoke la que hace posible establecer un sistema dehace posible establecer un sistema de Control de Calidad Cero.



3. A pesar de que los métodos poka‐yoke son í i t d t f ti len sí mismos extremadamente efectivos, los

resultados finales dependerán considerablemente del sistema con el que los sistemas poka‐yoke se combinen.


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• Es imperativo intentar combinar las inspecciones en la fuente y el sistema poka yokeen la fuente y el sistema poka‐yoke.

• El uso de métodos poka‐yoke con auto‐chequeos o chequeos sucesivos debe limitarse a situaciones restringidas por impedimentos técnicos o financieros.

• El cero defectos no puede conseguirse con el SQC.

• El sistema poka‐yoke es un medio y no un fin.31Prof. Juan Felipe Pons


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