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INSTRUMENTACIÓN

MECATRÓNICA

2015

CONSULTA

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INSTRUMENTACIÓN MECATRÓNICA

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SOFTWARE DE ADQUISICION DE DATOS 

SOFTWARE NI-DAQmx

El software controlador NI-DAQmx y el software adicional de servicios de medidaincluidos con cada dispositivo DAQ con soporte de NI-DAQmx contienen:(Instruments, 2015)

Figura 1. Software NI-DAQmx  

PRINCIPALES CARACTERISTICAS: (Instruments, 2015) 

  Una sola interfaz de programación para programar entrada analógica,salida analógica, E/S digital y contadores en cientos de dispositivos dehardware DAQ multifunción.

  Los mismos VIs y funciones en NI LabVIEW, NI LabWindowsTM/CVI,

Visual Basic, Visual Studio .NET y C/C++.  NI Measurement & Automation Explorer, DAQ Assistant y software

LabVIEW SignalExpress LE para ahorrar tiempo de configuración,desarrollo y registro de datos.

  NI-DAQmx solo para Windows

SOFTWARE CATMAN: SIMPLIFICANDO LA MEDICIÓN Simplifica la adquisición, la visualización y el análisis de sus datos de medición.Con su interfaz intuitiva y su enorme adaptabilidad, catman facilita organizar

proyectos de medición, y es un complemento ideal para los

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INSTRUMENTACIÓN MECATRÓNICA

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amplificadores QuantumX,  MGCplus, PMX, Somat e Interrogadores ópticos deHBM. (HBM, 2015)

Figura 2. Software Catman 

PRINCIPALES CARACTERISTICAS: (HBM, 2015) 

  Conectar, medir, visualizar y analizar fácilmente

  Identificación instantánea y automática de sensores mediante TEDS y unabase de datos de sensores.

  Facilidad de uso: solo hay que pulsar "START" para empezar a obtenerresultados.

  Numerosas herramientas de visualización disponibles para sus informes.  Complemento específico de los amplificadores de medida de HBM.  Fácil integración de archivos de vídeo.  Numerosas funciones matemáticas y de análisis integradas.  Scripts y autosecuencias para llevar a cabo pruebas y análisis

automatizados.  Exportación rápida a los formatos de datos más frecuentes para

posprocesamiento y análisis

DEWESOFTEs un completo software de adquisición y análisis que puede trabajar condiferentes plataformas, desde los más potentes equipos de DEWETRON hastalas tarjetas de adquisición más básicas de National Instruments oDataTranslation. (SENSING, 2015)

Figura 3. Software Dewesoft

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Es la solución definitiva para adquirir todo tipo de señales analógicas y digitalesde forma simultánea desde diferentes fuentes, incluso con diferentes frecuenciasde muestreo, mostrarlas y registrarlas en un solo archivo. Con las funciones depostproceso de la señal todas las funciones matemáticas y análisis pueden serutilizadas tanto en tiempo real como sobre los datos almacenados. Maneja todo

tipo de señales de disparo, señal de video, GPS, Salidas Analógicas (AO),contadores, etc. Cuenta con módulos de análisis especiales según campo deaplicación o sector. (SENSING, 2015)

MUESTREO DE DATOS

Para adquirir una señal analógica, primero se debe convertir la señal analógicaen una señal digital, en la práctica esto se implementa con un convertidor A/D.Se considera una señal analógica x (t) que se muestrea cada ∆t segundos (∆t:periodo de muestreo). 1/∆t es la frecuencia de muestreo, siendo sus unidadesmuestras por segundo. (Vasco, 2015)

Figura 4. Adquisición de datos 

Cada valor discreto de x (t) en t = 0, ∆t, 2∆t, 3∆t, etc., es conocido co mo unamuestra. Así, x (0), x (∆t), x (2∆t),…, son todos muestras. La señal x (t) puederepresentarse por el sistema de muestras discretas como se indica en lasiguiente ecuación. (Vasco, 2015)

{X (0), x (∆t), x (2∆t), x (3∆t),…, x (k∆t),…} 

La siguiente figura indica una señal analógica y su correspondiente muestreo. El

periodo de muestreo es ∆t. Las muestras se definen en intervalos discretos detiempo. (Vasco, 2015)

Figura 5. Muestreo de señal  

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Las siguientes notaciones representan las muestras individuales: X[i] = x (i∆t),para i= 0, 1, 2, Si para la señal x (t) se obtienen N muestras, x (t) puederepresentarse con la secuencia: X = {x [0], x [1], x [2], x [3],…, x [N-1]}

Esto es conocido como la representación digital o versión de muestreo de x (t).

Hay que tener en cuenta que la secuencia X = {x[i]} se indexa la variable denúmero entero i, y no contiene ninguna información sobre la frecuencia demuestreo. Conociendo solamente los valores de las muestras contenidas en X,no es posible saber la frecuencia de muestreo. (Vasco, 2015)

FRECUENCIA DE MUESTREOUno de los elementos más importantes de un sistema de medida de entradaanalógica o de salida analógica es la frecuencia en la cual el dispositivo demedida muestrea una señal entrante o genera la señal de salida. La frecuenciade muestreo en el NI-DAQmx, determina cuantas veces ocurre la conversión A/Do D/A. Una frecuencia de muestreo rápida de la entrada adquiere más puntos enun tiempo dado y puede formar una mejor representación de la señal original queuna frecuencia de muestreo lenta. La generación de una señal de 1 Hz usando1.000 puntos por ciclo en 1.000 muestras/s produce una representación muchomás exacta que usando 10 puntos por ciclo que una frecuencia de muestreo de10 muestras/s. (Vasco, 2015)

ALIASINGUn muestreo demasiado lento da lugar al aliasing, que es una malarepresentación de la señal analógica. Un bajo muestreo causa que la señalaparezca como si tuviera una frecuencia diferente a la real. Para evitar aliasing,

hay que muestrear varias veces más rápido que la frecuencia de la señal. En lailustración siguiente aparece una señal adecuadamente muestreada y losefectos del aliasing de bajo muestreo. (Vasco, 2015)

Figura 6. Aliasing

Para las medidas de la frecuencia, según el teorema de Nyquist, se debemuestrear a una frecuencia mayor que el doble de la frecuencia máxima en laseñal que se está adquiriendo para representar exactamente la señal. Lafrecuencia de Nyquist es la frecuencia máxima que se puede representarexactamente sin el aliasing para una frecuencia de muestreo dada. La frecuenciade Nyquist es la mitad de la frecuencia de muestreo. (Vasco, 2015) 

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