Report copyright - SANS-J-II - JAEAjrr3uo.jaea.go.jp/pdf/institution/sans.pdf概 要 SANS-J-IIは数度以下の小角に散乱した中性子を測定し、物質内部の 階層構造とそのダイナミクスをメゾスケール(nmからμm)で調べる
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