microscopia electronica de barrido
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PRACTICA DE LABORATORIO DE QUÍMICA ANALITICATRANSCRIPT
7/17/2019 Microscopia Electronica de Barrido
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MICROSCOPIA
ELECTRÓNICA DE
BARRI
DO OSEM
UNIVERSIDAD NACIONAL DEL SANTAQuímica Analítica: Gru! "D#
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UNIVERSIDAD
FACULT
E.A.P. INGENIERÍA
CURSO: QU$MICA ANAL$TICADOCENTE: Dani%l S&nc'%( Vaca
CICLO: III
INTEGRANTES:
Antic!na Alc&ntara Dr%i)* E)t%'an* C&c%r%) P%r%+a M%r*)'%ll Cru( P,r%( S'%*la -%rn&n+%( S!l.r(an! C%l%)t% Al%/an+ra Gam0!a A1uilar Br*an Al%/i) 2uam&n Li3&n Luc* 2uinc'! A4ui3! S!nia 5im,n%( P%3a Carl!) Ric'ar+ Lu%ra D!min1u%( R!*+%r Sant!)
Mat!) M%+ina I6!nn% 7a+ira N83%( M!ral%) S%l%n* Ort%c'! 9uriai 5!), San+!6al C%rna Gar* St%6% T%rr!n%) R!)al%) Rut' V&)4u%( Villac!rta N%ll* S!;ía$NDICE
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Desde finales del Siglo XIX resultaba evidente a partir de los trabajos de Abbe que mediante la
iluminación con ondas electromagnéticas no era posible mejorar significativamente la resolución del
microscopio óptico, simultáneamente, mientras realizaba estudios con tubos de raos catódicos,
!"!" #$omson descubrió los electrones, part%culas que luego jugar%an un papel decisivo en los
microscopios de nuevo tipo que se avecinaban"
&n un inicio se vio que los electrones se manifestaban de forma compatible con las propiedades
corpusculares no e'ist%a en la (%sica la idea de que las part%culas pudieran presentar un
comportamiento dual"
INTRODUCCIÓN
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&n el a)o *+- D./roglie sacude los cimientos del conocimiento de su época al enunciar el carácter
ondulatorio de los electrones asignarles longitudes de ondas dependientes de sus energ%as" &ste
planteamiento teórico, que luego fue confirmado, sentó las bases para que se pensara en los
electrones también como una onda"
&n el a)o *+0 /usc$ presenta el dise)o de una lente electromagnética1 de acuerdo a sus
enunciados ser%a posible enfocar un $az de electrones de la misma forma que en la óptica se
enfoca la luz mediante los lentes"
&ste aporte sin dudas significó el establecimiento del 2ltimo requisito necesario para que fuera
construido un 3icroscopio &lectrónico de #ransmisión, mérito que correspondió a &" 4us5a 3"
6noll en *+77, invención que le valió al primero el 8remio 9obel de (%sica en *+:0"
A la obtención del 3icroscopio &lectrónico de #ransmisión ;3&#< siguió la propuesta del
3icroscopio &lectrónico de /arrido ;3&/< por el propio 6noll en *+7=1 no obstante, el vertiginoso
desarrollo que llevó en mu poco tiempo a la obtención del 3&# que culminó en *+7+ con la
obtención del primer equipo comercial por parte de Siemens, no se produjo en el caso de 3&/
fue necesario esperar 7> a)os, a partir de los trabajos de 6noll, para que el primer 3&/ saliera al
mercado"
?a e'plicación de esta demora fue tecnológica entre ellas se encontraban los efectos causados
por las aberraciones, las dificultades para lograr un sistema de barrido con el debido sincronismo
la necesidad de un sistema de detección con suficiente rapidez de respuesta" Al solucionar los
problemas planteados se dedicaron numerosos cient%ficos en diferentes partes del mundo"
&n el a)o *+7: 3" von Ardenne introduce un sistema de barrido en un 3&#, dando lugar a un nuevo
tipo de equipo, el 3icroscopio &lectrónico de /arrido@#ransmisión ;3&/#<"
n a)o después /oersc$ logra $aces electrónicos del orden de los ,=nm, factor determinante
cuando se quiere alcanzar resoluciones elevadas"
&n el a)o *+- se produce un salto considerable en el desarrollo del 3&/ con los trabajos que
desarrollan BCor5in un conjunto de colaboradores"
&n el 3icroscopio desarrollado por BCor5in sobresalen la introducción de un Detector de
&lectrones Secundarios ;D&S<, al cual se le aplicó una carga de recolección de =>E, as% como un
#ubo (oto 3ultiplicador ;#(3<" &stos aportes a este microscopio solo llegó a una resolución del
orden de los =>nm aumentos de :,>>>' lo que lamentablemente desestimuló a sus creadores que
no continuaron los trabajos"
&n *+-:, bajo un proecto dirigido por F"G" Hatle, 3c3ullan desarrolla una columna mu eficazbasada en lentes electromagnéticas, logra una fuente estable de alto voltaje para alimentar el
filamento e introduce el #ubo de 4aos Fatódicos ;#4F< como sistema de registro observación de
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las imágenes, aportes que representaron un importante avance en el desarrollo de
la 3icroscop%a &lectrónica de /arrido"
&n el a)o *+=0 ocurre otro avance importante cuando 6"F"A" Smit$ introduce el procesamiento no
lineal de las se)ales, el barrido con doble defle'ión del $az la corrección electromagnética del
astigmatismo, as% como un sistema eficaz de centrado de las aperturas"
Dando continuidad a los trabajos de 3c3ullan, Smit$, &verjart #$ornl desarrollan en *+0> undetector basado en el empleo de un dispositivo centellador, una gu%a de luz un #(3" &ste detector
significó un aporte tal, que permanece como estándar sin variaciones significativas de su
concepción sin dudas fue la antesala de la salida del 3&/ al mercado"
&n los a)os 0> varios fabricantes de 3icroscopios &lectrónicos trabajaron en el desarrollo de un
equipo que pudiera ser comercializado, este logro le correspondió a la Fambridge Scientific
Instruments con el 3A46 I S#&4&HSFA9, equipo que sale al mercado en diciembre de *+0=,
seguido mu de cerca por !&H?, que comercializa su primer 3&/ en enero de *+00"
&l desarrollo del 3icroscopio &lectrónico de /arrido no se detuvo con la salida al mercado del
primer microscopio" n aporte importante a este desarrollo estuvo relacionado con el mejoramiento
de las fuentes de iluminación" asta ese momento los filamentos de Golframio dominaban este
importante componente del equipo, pero en *+0+ /roers introduce el filamento de ?a/0, mientras
que casi simultáneamente FreCe realiza sus trabajos que destacan las ventajas como fuente del
Fa)ón de &fecto de Fampo"
&n la década del J> se producen diferentes mejoras refinamientos sobre todo en las lentes de los
microscopios en el desarrollo de diferentes sistemas de detección, $asta que en *+:= la firma
Farl Beiss obtiene un resultado importante al introducir el primer 3&/ en el cual el barrido no era
controlado de forma analógica sino digital, este aporte luego ser%a determinante para lograr 3apeos
de 4aos X muc$o más eficaces, para corregir defectos de imagen por acumulación de cargas en
el espécimen"
&n el a)o *+:0 surge la 3icroscop%a &lectrónica de /arrido controlada mediante computadora" &neste momento eran computadoras de propósito espec%fico a estos equipos se les llamó de *era"
Keneración, para diferenciarlos de los que surgieron en el a)o *++, llamados de da" Keneración,
en los que una computadora personal tomaba el control del sistema"
&stos dos aportes fueron logrados por ?&H, firma $eredera de la Fambridge Scientific Instruments,
que $ab%a logrado el primer 3&/ comercial" A finales de la década del :>, pero sobre todo en los
a)os +>, tuvo lugar otro avance importante en la 3icroscop%a &lectrónica de /arrido1 $asta ese
momento, salvo en trabajos que luego no tuvieron continuidad ;como los del propio Smit$ en *+=0,
siempre se $ab%a considerado como inevitable que la muestra que se observaba en el 3icroscopio
&lectrónico deb%a estar al vac%o, condición que impon%an tanto la duración del filamento, como el
paso de los electrones por la columna, lo que deb%a ocurrir como un camino libre sin interacciones
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que afectaran su movimiento" 8ero en este per%odo surgen diferentes opciones para diferenciar el
vac%o del ca)ón la columna, del correspondiente a la zona donde se encontraba la muestra"
&n el desarrollo de tecnolog%as con esta finalidad, indiscutiblemente la 8$ilips con sus 3icroscopios
Ambientales la utilización de varias Aperturas ?imitadoras del Eac%o en sus dise)os tuvo los
resultados más significativos"
?a 3icroscop%a &lectrónica de /arrido no se $a detenido" an surgido otros 3icroscopios como losde (uerza Atómica con resoluciones superficiales a niveles atómicos, el 3&/ conserva un
importante sector en los requerimientos de gran cantidad de ramas del conocimiento $umano"
&n los 2ltimos a)os se $a visto el surgimiento de la 3icroscop%a 4emota, que no solo facilita el
diagnóstico de roturas a distancia sino incluso el que un equipo pueda ser compartido por usuarios
ubicados a grandes distancias"
#ambién se $a trabajado con é'ito en la obtención de equipos LinteligentesM, capaces de fijar lascondiciones de trabajo con un alto grado de independencia, a partir de algunos datos elementalessobre la muestra"
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*" &s un instrumento capaz de ofrecer un variado rango de informaciones procedentes de la
superficie de la muestra"
" 8ermite enfocar los raos catódicos ;electrones< obtener una imagen tridimensional, por el
e'amen de la superficie de las estructuras, permitiendo la observación la caracterización
de materiales orgánicos e inorgánicos, proporciona aumentos de >>">>> diámetros"7" ?os electrones acelerados, como toda carga eléctrica en movimiento, producen una
radiación electromagnética cua longitud de onda es proporcionalmente inversa a la
velocidad, resultando varios órdenes de magnitud inferior a la luz visible"-" ?os raos X que se generan en una muestra sometida a bombardeo electrónico permiten
identificar los elementos presentes establecer su concentración"
?a posibilidad de observar muestras %ntegras en sus tres dimensiones mediante la microscop%a
electrónica, fue $ec$a realidad con la aparición del microscopio electrónico de scanning ;S&3< o de
OB5ETIVOS
RESUMEN
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barrido, en el a)o *+0=" Sin embargo, los conceptos básicos para este tipo de microscop%a fueron
propuestos por 6noll en *+7=, tres a)os después de que 4us5a 6noll lo $icieran para el
microscopio electrónico de transmisión ;#&3<" 3ientras que en el desarrollo de este 2ltimo se
$icieron grandes rápidos progresos $asta el punto de que en *+7+ Siemens als5e
comercializaron el primer #&3, la microscop%a de barrido tendr%a que esperar $asta que en *+0=, la
Fambridge Instrument Fo" lanzase el primer S&3" Desde entonces $asta la fec$a, este tipo de
microscop%a $a avanzado rápidamente constituéndose en una técnica imprescindible en distintos
tipos de estudio, tanto sobre material biológico como en el campo inorgánico"
&n el presente informe daremos a conocer más sobre la microscop%a electrónica de barrido, los
principios, fundamentos, principales usos as% como las marcas precios de estos"
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?a posibilidad
de observar
muestras
%ntegras
en 7D mediante la microscop%a electrónica, fue $ec$a realidad con la aparición del
microscopio electrónico de scanning ;S&3< o de barrido, en el a)o *+0=" Sin embargo, los
conceptos básicos para este tipo de microscop%a fueron propuestos por 6noll en *+7=, tres
a)os después de que 4us5a 6noll lo $icieran para el microscopio electrónico de
transmisión ;#&3<" 3ientras que en el desarrollo de este 2ltimo se $icieron grandes rápidos
progresos $asta el punto de que en *+7+ Siemens als5e comercializaron el primer #&3,
la microscop%a de barrido tendr%a que esperar $asta que en *+0=, la Fambridge Instrument
Fo" lanzase el primer S&3" Desde entonces $asta la fec$a, este tipo de microscop%a $a
avanzado rápidamente constituéndose en una técnica imprescindible en distintos tipos de
estudio, tanto sobre material biológico como en el campo inorgánico" Aunque los
fundamentos teóricos del #&3 del S&3 son similares, conviene recalcar cuales son los
puntos principales comunes que diferencian ambos sistemas, a saberN
CAP$TULO IPRINCIPIOS
TEMNecesidad de alto vacío
Haz electrónico estático
Haz electrónico no puntual
Necesidad de secciones ultrafinas
Electrones transmitidos
Lente proyectora
Pantalla en el interior de la columna
Imagen en dos dimensiones
Resolución de 0! nm
"umentos #asta !00$000
%ontraste &uímico de la muestra
SEM Necesidad de alto vacío
Haz electrónico móvil
Haz electrónico puntual
'uestras íntegras
Electrones secundarios
"usencia de lente proyectara
Pantalla en tu(o
)ro*n Imagen tridimensional
Resolución de +0 nm
"umentos #asta +,0$000
%ontraste no &uímico
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1. PRINCIPIO DE FUNCIONAMIENTO
&l microscopio electrónico de transmisión ;#&3< fue el primer tipo de microscopio electrónico
desarrollado, en *+7*" tiliza un $az de electrones en lugar de luz para enfocar la muestra
consiguiendo aumentos de *>>">>> X" 8ara ello emplea las propiedades ondulatorias de los
electrones porque genera imágenes de los objetos que no pueden verse a simple vista o con el
microscopio de luz" Seg2n las lees de la óptica, es imposible formar una imagen de un objeto de
dimensiones inferiores a la mitad de la longitud de onda de la luz empleada para observarlo" Dado
que el intervalo de longitudes de onda de la luz visible comienza alrededor de ->> nanómetros
;>O>>>>>>- metros<, no es posible ver algo que mida menos de >O>>>>>> metros"
&n principio, con los raos X se pueden ver objetos en laescala atómica molecular porque sus longitudes de onda
están entre >,>* *> nm" Sin embargo, no es posible
enfocar los raos X, las imágenes que se obtienen son
difusas" &l microscopio electrónico, al trabajar con
part%culas cargadas, los electrones, se enfocan aplicando
un campo eléctrico o un campo magnético, de la misma
forma en que se enfoca una imagen en la pantalla de
televisión" Seg2n la mecánica cuántica, la longitud de
onda de un electrón está en proporción inversa con su
velocidad, por lo que si los electrones se aceleran a
grandes velocidades, se obtienen longitudes de
onda tan cortas como >,>>- nm"
&n *+- se desarrolló el microscopio electrónico de barrido ;S&3<, con una resolución entre 7 >
nm, dependiendo del microscopio" Aunque permite una menor capacidad de aumento que elmicroscopio electrónico de transmisión, este permite apreciar con maor facilidad te'turas objetos
en tres dimensiones que $aan sido pulverizados metálicamente antes de su observación" 8or esta
razón solamente pueden ser observados organismos muertos, no se puede ir más allá de la
te'tura e'terna que se quiera ver" ?os microscopios electrónicos sólo pueden ofrecer imágenes en
Micrografía (50X) con microscopía de
la piel con una glándula en el
cenro! elecr"nica de #arrido (S$M)
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blanco negro puesto que no utilizan la luz" 8osteriormente son coloreadas las imágenes digitales
para proporcionar más realismo"
2. PRINCIPIOS FÍSICOS DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO
2.1 PODER DE RESOLUCIÓN
n microscopio es un instrumento dise)ado para $acer visibles objetos que el ojo no es capaz de
distinguir" Fuando los raos de luz emitidos por un punto pasan a través de una lente de aperturasemiangular alfa, se forma una imagen no maor que un punto pero cua intensidad se manifiesta
en forma del llamado disco de Air ;(ig"*<" ?a distancia ;D< entre los dos m%nimos de dic$o anillo
situados a ambos lados del pico de má'ima intensidad viene dada por la e'presiónN
Donde <es la
longitud
de onda
de la luz,
n el
%ndice
de
refracción del material donde se encuentra el objeto a la semiapertura numérica" Fuando dos
puntos emisores se encuentran mu pró'imos ;(ig"< las intensidades de ambos en la imagen final
se solapan" As%, la resolución de un sistema óptico se define como la distancia entre los má'imos
cuando la intensidad má'ima de un punto coincide con el primer m%nimo del otro punto" Fomo se
puede deducir de la e'presión P*Q, la resolución no depende de ninguna propiedad de la lente a
e'cepción de R"
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3. CARACTERISTICAS S.E.M.
&l fundamento del S&3 radica en que los electrones emitidos
por un cátodo de tungsteno pasan a través de una columna
en la que se $a $ec$o un vac%o de alrededor de *> @J #orr" &n
ella, el $az inicial es concentrado por una serie de lenteselectromagnéticas ;condensadora, objetivo< desde unos
=">>>@=>">>> nm $asta unos *> nm1 es decir, su diámetro va
disminuendo $asta $acerse casi puntual" Al mismo tiempo,
la intensidad de corriente se disminue desde unos *> @*- =
$asta unos *>@*> @ *>@* =" &sta disminución en la intensidad
implica una menor cantidad de electrones primarios a que la
intensidad inicial de *>
@*-
= supone una emisión de *>*=e@seg, mientras que en la definitiva, de *>@* => es de 0"*>0
e@seg
&l $az electrónico con estas 2ltimas caracter%sticas, es decir
puntual, es desplazado sobre toda la superficie de la muestra
a modo de un pincel que ir%a barriendo la muestra con continuas idas venidas" &sta motilidad del
$az se consigue gracias a un sistema de bobinas de barrido situadas en la columna del instrumento
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&n la interacción del $az electrónico con la superficie se producen e@ secundarios que, tras ser
captados por un detector, son $ec$os incidir sobre un TscintillatorT, donde cada e@ dará origen a
varios fotones" Dic$os fotones son dirigidos $asta un fotomultiplicador a través del ca)ón de luz ,
a en aquél, cada fotón dará origen a un fotoelectrón que, a través de una serie de dinodos condiferencias de potencial crecientes produce, mediante un efecto en cascada, gran cantidad de e@
secundarios" &n definitiva, lo que se $a conseguido $a sido una amplificación de la corriente debida
a la e@ secundaria original o, el dic$o de otro modo, una amplificación de la información sobre la
muestra suministrada de dic$os e@" ?os e@ secundarios, finalmente, previo paso por un video
amplificador, son dirigidos $acia un tubo semejante a un osciloscopio de raos catódicos ;H4F<
sobre cua pantalla se producirá la imagen"
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Foncretando, se puede decir que una de las principales caracter%sticas de este instrumento es la
e'istencia de una correspondencia biun%voca ;punto a punto< establecida entre la muestra a
e'aminar la imagen formada, correspondencia que se establece al mismo tiempo, de forma que
cubrir%a a la muestra en series de tiempo, quedando la imagen dividida en muc$os elementos
fotográficos los cuales ser%an captados por el sistema fotográfico instalado en el instrumento e
integrados en una sola imagen que nos informa sobre la apariencia c2bica de material en estudio"
3.1. TIPOS DE SEÑALES EMITIDOS POR MUESTRA
&'isten se)ales que se producen por la interacción entre el $az electrónico la muestra que son,
en definitiva, las que darán lugar a la formación de la imagen" &stas se)ales pueden ser
clasificadas en tres grupos con arreglo a su categor%a ;fig"0<N
@ Se)ales con carácter de ondas electromagnéticas, tales como raos X cátodo
luminiscencia"
@ Se)ales compuestas por e@, que incluen e@ reflejados ;Tbac5scatteredT<, e @ secundarios,
transmitidos absorbidos"
@ Solamente en el caso de espec%menes semiconductores, se)ales de fuerza electromotriz
;f"e"m"<" De estos tres tipos de se)ales solamente interesan aquellas compuestas por e @ , en
particular, las debidas a los e@ secundarios a los reflejados a que son éstos los que serán
recogidas por el detector , finalmente, e'presadas en términos de brillos oscuros sobre la
pantalla del H4F" ?a procedencia de los e@ var%a1 algunos e@ del $az pueden penetrar en la
muestra perdiendo energ%a distribuirse dentro de ella bajo diferentes ángulos"
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na parte de éstos pueden, después, emerger siguiendo direcciones más o menos opuestas a la
del $az" Son los e@ reflejados ;/&<" Htros e@ primarios pueden bombardear orbitales electrónicos de
átomos de la muestra, lo cuales liberar%an e @" Ustos ser%an los e@ secundarios ;S&l<, de menor
energ%a que los reflejados" ?a e@ reflejada puede también incidir sobre átomos de la muestra
induciendo la producción de e@ secundarios ;S&<" &n cuanto al resto de se)ales compuestas por
e@, aquellas debidas a los absorbidos estar%an compuestas por e @ primarios que, tras penetrar en la
pieza, permanecer%an en su interior, mientras que las debidas a los e@ transmitidos estar%an
compuestas por e@ capaces de atravesar la muestra @siempre que ésta sea lo bastante fina@" &ste
2ltimo tipo de e@ es el utilizado en el #&3" &'iste una correspondencia entre el volumen de la
emisión el n2mero ató@ mico promedio ;B< de la muestra" A menor B maor energ%a del $az, más
penetran los e@ primarios viceversa" #eniendo en cuenta esto, as% como los resultados que indican
que la profundidad desde donde pueden ser emitidas estas se)ales es menor de => nm para los e@
secundarios, de *>> nm a * flll* para los reflejados de =>> nm a = um para las radiaciones X, es
lógico pensar en la necesidad de recubrir la superficie a e'aminar con un elemento metálico de Belevado, que sea buen conductor, pueda emitir gran n2mero de e@ que, además, sea ino'idable,
a que los elementos biológicos ;F, 9, , H, 8, S, etc"< tienen un B bajo no resultan buenos
conductores" &n la fig" J se representa el volumen relativo de la emisión de cada tipo de se)ales de
una muestra sin recubrir"
3.2. DETECTORES EN SEM
&l detector en el S&3 constitue el puente entre el $az electrónico la pantalla donde las
interacciones del $az con la muestra dan la información deseada" &n principio, un detector debe
satisfacer los siguientes requerimientosN
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• Alta sensibilidad, la se)al t%pica que debe ser recogida se encuentra entre * pA ;*> @*< * nA
;*>@+<, equivalente a *>@0 V *>@+ e@ por segundo" Fada pi'el en la imagen formada representa
la detección de solamente *>@*">>> e@
• Alta frecuencia, el detector debe ser capaz de responder a cambios arbitrarios en la
intensidad de se)al, que ocurren en función de la velocidad de barrido" 8ara observaciones
normales, donde la formación del pi'el es del orden de *>= por segundo, el detector requiere
una frecuencia de alrededor de * 3z, aunque para registro fotográfico se puede trabajar con *>> 5z" 8ara la formación de la imagen de #E, la frecuencia debe ser superior a 7>
3z"• Amplitud dinámica, para una serie de condiciones dadas, la se)al a ser detectada puede
variar entre dos puntos en magnitudes por un factor de *>>N * o :* más" &l detector debe ser
capaz de trabajar en este rango sin pérdida de linealidad"• &ficiencia, la se)al recogida es más débil en unas zonas de la muestra que en otras" ?a
eficiencia del detector constitue el factor limitante del sistema , por tanto, de la calidad final
de la imagen"• #ama)o f%sico peque)o, para trabajar en alta resolución la distancia de trabajo debe ser mu
peque)a, lo que puede condicionar el tipo de detector a utilizar ;ser%a necesario cambiar el
detector en función de la distancia<"• Faracter%sticas de la cámara, en la maor parte de los S&3s, la cámara de la porta muestras
se suele abrir con frecuencia para cambiar la muestra" ?os detectores deben ser estables a
los cambios vac%o@aire, oscuridad@luz"
3.3. TIPOS DE DETECTORES
&l microscopio electrónico de barrido ;S&3< es un instrumento capaz de ofrecer un variado rango
de informaciones procedentes de la superficie de la muestra" Su funcionamiento se basa en barrer
un $az de electrones sobre un área del tama)o que deseemos ;aumentos< mientras en un monitor se visualiza la información que $aamos seleccionado en función de los detectores que $aan
disponibles" &n el Servicio de 3icroscop%a de la "8"E" e'isten los siguientesN
Detector de electrone ec!nd"r#o $SE%
&s el que ofrece la t%pica imagen en blanco negro de la topograf%a de la superficie
e'aminada" &s la se)al más adecuada para la observación de la muestra por ser la de
maor resolución"
Detector de electrone retro d#&er"do $'SE%
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#ambién ofrece una imagen de superficie aunque de menor resolución" Su ventaja
consiste en que es sensible a las variaciones en el n2mero atómico de los elementos
presentes en la superficie" Si tenemos una superficie totalmente lisa observaremos
distintos tonos de gris en función de que e'istan varias fases con distintos elementos"
Detector de r"(o ) $EDS%
&s el que recibe los raos X procedentes de cada uno de los puntos de la superficie
sobre los que pasa el $az de electrones" Fomo la energ%a de cada rao X es
caracter%stica de cada elemento, podemos obtener información anal%tica cualitativa
cuantitativa de áreas del tama)o que deseemos de la superficie" 8or ello se conoce
esta técnica como 3icroanálisis por &DS"
Detector de r"(o ) $*DS%
Similar al anterior, pero en vez de recibir procesar la energ%a de todos los raos X a
la vez, 2nicamente se mide la se)al que genera un solo elemento" &sto $ace que esta
técnica, aunque más lenta, sea muc$o más sensible precisa que la de &DS"
4ealmente son complementarias, pues el &DS ofrece una buena información de todos
los elementos presentes en la superficie de la muestra el GDS es capaz de resolver
los picos de elementos cuas energ%as de emisión estén mu cercanas, as% como
detectar concentraciones muc$o más peque)as de cualquier elemento , sobre todo,de los ligeros"
Detector de electrone retro d#&er"do d#+r"ct"do $'SED%
&n este caso sólo se reciben aquellos electrones difractados por la superficie de la
muestra que cumplen la le de /ragg en el punto que son generados, es decir, se
trata de una se)al que nos aporta información de la estructura cristalina de la muestra"
Si conocemos previamente la o las fases cristalinas presentes en nuestra muestra, elsistema es capaz de procesar la se)al que recibe en forma de Ll%neas de 6i5uc$iM
ofrecer una variada información cristalográficaN orientación de granos, orientaciones
relativas entre ellos, te'tura, identificación de fases, evaluación de tensión, fronteras
de grano, tama)o de grano
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MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE 'ARRIDO.
SEM del inglés “Scanning Electron Microscopy”. ?os electrones secundarios de baja energ%a ;W=>
eE< emitidos de la superficie de la muestra se puede utilizar para dar un tipo de imagen" 8ara
facilitar esta emisión de electrones se metaliza la muestra que es recubrirla de una peque)a
capa de un metal conductor como el Au" &l $az de e@ se puede concentrar en una zona diminuta
;> Y< que puede barrer la superficie del espécimen al ser deflactado por bobinas adecuadas" ?os
CAP$TULO II%&N'M$NOS
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electrones secundarios se detectan por encima del espécimen la imagen muestra la intensidad
de los electrones secundarios emitidos por las diferentes partes de la muestra" &l
esquema de un microscopio S&3 se da en la figura "*" ?a 3& de barrido es mu 2til para estudiar
la morfolog%a de los cristalitos un ejemplo se da en la figura "" &n esta figura se muestra la
microfotograf%a de un sólido laminar se pueden ver claramente los micro cristales como plaquetas
;diminutas laminillas< que son capaces de sufrir reacciones de intercalación, es decir de $ospedar
;albergar< moléculas o iones entre las láminas" &n la figura "7 se muestra una microfotograf%a
S&3 muc$o más compleja" Se trata de un $ormigón parcialmente carbonatado" ?as zonas
grisáceas son gel F@S@ ;que da la ad$erencia co$esión del $ormigón fraguado< junto con
FaFH7 entre crecido" ?as part%culas blancas mu brillantes es Flin5er no $idratado mientras que
las part%culas más oscuras son gel F@S@ de relación FaSi menor"
&l fundamento del S&3 rad ica en que los electrones emitidos por un cátodo de tungsteno
pasan a través de una columna en la que se $a $ec$o un vac%o de alrededor de *> @J #orr" &n
ella, el $az inicial es concentrado por una serie de lentes electromagnéticas desde unos =">>>
@ =>">>> nm $asta unos *> nm1 es decir, su diámetro va
disminuendo $as ta $acerse casi puntual" Al mismo tiempo, la
intensidad de corriente se disminue desde unos *> @*- Z
$asta unos *> @*> [*>@* Z" &sta disminución en la intensidad
implica una menor cantidad de electrones primarios a que la
intensidad inicial de *>@*- Z supone una emisión de *>*= e@seg,
mientras que en la definitiva, de *>@* Z, es de 0"*>0 e@seg"
&l $az electrónico con estas 2ltimas caracter%sticas, es decir
puntual, es desplazado sobre toda la superficie de la
muestra a modo de un pincel que ir%a barriendo la muestra
con continuas
idas venidas"
&sta motilidad
del $az se con sigue gracias a un sistema de bobinas de barrido
situadas en la columna del instru mento"
&n la interacción del $az electrónico con la superficie se producen e@ secundarios que, tras ser
captados por un detector, son $ec$os incidir sobre un TscintillatorT, donde cada e@ dará origen a
varios fotones" Dic$os fotones son dirigidos $asta un fotomultiplicador a través del ca)ón de
luz , a en aquél, cada fotón dará origen a un fotoelectrón que, a través de una serie de
dinodos con diferencias de potencial crecientes produce, mediante un efecto en cascada, gran
cantidad de e@ secundarios"
C o m p o n e n t e s d e l a ó p t i c a d e S E M c o n v e n c i o n a l
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&n definitiva, lo que se $a conseguido $a sido una amplificación de la corriente debida a los e@
secundarios originales o, dic$o de otro modo, una amplificación de la información sobre la
muestra suministrada de dic$os e"
?os e@ secundarios, finalmente, previo paso por un video amplificador, son dirigidos $acia un
tubo semejante a un osciloscopio de raos catódicos ;H4e< sobre cua pantalla se producirá
la imagen "
Foncretando, se puede decir que una de las principales caracter%sticas de este instrumento es
la e'istencia de una correspondencia biun%voca ;punto apunto< establecida entre la muestra
a e'aminar la imagen formada, correspondencia que se establece al mismo tiempo, de
forma que cubrir%a a la muestra en series de tiempo, quedando la imagen dividida en muc$os
elementos fotográficos los cuales ser%an captados por el sistema fotográfico instalado en el
instrumento e integrados en una sola imagen que nos informa sobre la apariencia c2bica de
material en estudio$
LA FORMACIÓN DE LA IMA,EN
&n la microscopia S&3 es formada mediante la focalización de una fina fuente de
electrones sobre la superficie de la muestra" ?a fuente de electrones barre la muestra en una serie de l%neas redes, construéndose
una imagen de la superficie en un monitor" ?os electrones bombardean una peque)a áreaN
4efle'ión elástica sin pérdida de energ%a" Absorbidos por la muestra producir electrones secundarios de baja energ%a ;
raos X< Absorbidos por la muestra producir luz visible"
?a imagen se forma a partir de los electrones secundarios" ?os electrones secundarios son atra%dos $acia el porta muestras ;reflectante< mediante un
potencial positivo ;=> volt<" Al atravesar la muestra e incidir sobre el porta muestras se
genera una luz que mediante un fotomultiplicador se convierte en una se)al de voltaje, la
cual se convierte en imagen" ?a magnificación de la imagen se produce al barrer un área mu peque)a" ?as imágenes S&3 se pueden obtener sobre cualquier especie en masa ;no $an de ser mu
finas como en #&3<"
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EL MICROSCO
PIOELECTRÓNICO
DE
'ARRIDO O SE
M $Scanning
Electron
Microscope%
Inventado
en *+7J por 3a
nfred von Ardenne, es aquel que utiliza un $az de electrones en lugar de un $az de luz para formar
una imagen" #iene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una
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gran parte de la muestra" #ambién produce imágenes de alta resolución, de forma que las
caracter%sticas más %nfimas de la muestra pueden ser e'aminadas con gran amplificación" ?a
preparación de las muestras es relativamente fácil a que la
maor%a de los S&3 sólo requieren que estas sean conductoras"
De esta forma, la muestra generalmente es recubierta con una
capa de carbono o una capa delgada de un metal como
el oro para conferirle carácter conductor" 8osteriormente, se
barre la superficie con electrones acelerados que viajan a través
del ca)ón" n detector formado por lentes basadas
en electroimanes, mide la cantidad e intensidad de
electrones que devuelve la muestra, siendo capaz de mostrar
figuras en tres dimensiones mediante imagen digital" Su
resolución está entre - > nm, dependiendo del microscopio"
FUNCIONAMIENTO
&n el microscopio electrónico de barrido es necesario acelerar los electrones en un campo eléctrico,
para aprovec$ar de esta manera su comportamiento ondulatorio, lo cual se lleva a cabo en la
columna del microscopio, donde se aceleran mediante una diferencia de potencial de *>>> a 7>>>>
voltios" ?os electrones acelerados por un voltaje peque)o se utilizan para muestras mu sensibles,
como podr%an ser las muestras biológicas sin preparación adicional o muestras mu aislantes" ?os
voltajes elevados se utilizan para muestras metálicas, a que éstas en general no sufren da)os
como las biológicas de esta manera se aprovec$a la menor longitud de onda para tener una mejor
resolución" ?os electrones acelerados salen del ca)ón, se enfocan mediante las lentes
condensadora objetiva, cua función es reducir la imagen del filamento, de manera que incida en
la muestra un $az de electrones lo más peque)o posible ;para as% tener una mejor resolución<" Fon
las bobinas deflectoras se barre este fino $az de electrones sobre la muestra, punto por punto
l%nea por l%nea"
Fuando el $az incide sobre la muestra, se producen muc$as interacciones entre los electrones del
mismo $az, los átomos de la muestra1 puede $aber, por ejemplo, electrones que reboten como las
bolas de billar " 8or otra parte, la energ%a que pierden los electrones al Tc$ocarT contra la muestra
puede $acer que otros electrones salgan despedidos ;electrones secundarios<, producir raos
X, electrones Auger , etc" &l más com2n de éstos es el que detecta electrones secundarios, es con
él que se $ace la maor%a de las imágenes de microscopios de barrido"
#ambién podemos adquirir la se)al de raos X que se produce cuando se desprenden estos
mismos de la muestra, posteriormente $acer un análisis espectro gráfico de la composición de lamuestra"
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UTILI-ACIÓN
Se utilizan ampliamente en la biolog%a celular " Aunque
permite una menor capacidad de aumento que el microscopio
electrónico de transmisión, éste permite apreciar con maor facilidad te'turas objetos en tres dimensiones que se $aan
pulverizado metálicamente antes de su observación" 8or esta
razón solamente pueden observarse organismos muertos,
no se puede ir más allá de la te'tura e'terna que se quiera
ver" ?os microscopios electrónicos sólo pueden ofrecer
imágenes en blanco negro puesto que no utilizan la luz
visible"
&ste instrumento permite la observación
caracterización superficial de materiales inorgánicos orgánicos, entregando información
morfológica del material analizado" A partir de él se producen distintos tipos de se)al que se
generan desde la muestra se utilizan para e'aminar muc$as de sus caracter%sticas" Fon él se
pueden observar los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de diversos materiales,
además del procesamiento análisis de las imágenes obtenidas"
3D EN SEM
?os microscopios electrónicos de barrido no proporcionan naturalmente las imágenes en 7D
contrarias a microscopio de sonda de barrido" Sin embargo los datos 7D se pueden obtener
utilizando un S&3 con diferentes métodos, tales comoN
(otogrametr%a ; o 7 imágenes de muestra inclinado<
C a 0 % ( a + % ' ! r m i 1 a 6 i ) t a c ! n u n ? M E B @ A
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Stereo fotométrica también llamado Tla forma con sombreadoT ;con - imágenes<
4econstrucción inversa utilizando modelos interactivos de electrones de material
?as aplicaciones posibles son la medición de rugosidad, medida de la dimensión fractal, medición
de la corrosión la evaluación altura de los escalones"?as imágenes que se obtienen en el
microscopio electrónico de barrido corresponden a electrones secundarios o electrones retro
dispersados emitidos tras la interacción con la muestra de un $az incidente de entre = 7> 6eE"
&l $az de electrones se desplaza sobre la muestra realizando un barrido en las direcciones X e \ de
tal modo que la posición en la que se encuentra el $az en cada momento coincide con la aparición
de brillo, proporcionalmente a la se)al emitida, en un determinado punto de la pantalla"?a se)al de
electrones secundarios se forma en una delgada capa superficial, del orden de => a *>> Y" Son
electrones de baja energ%a, menos de => eE, que pueden ser desviados fácilmente de su traectoria
emergente inicial permiten obtener información de zonas que no están a la vista del detector" &sta
particularidad otorga a esta se)al la posibilidad de aportar información Len relieveM"
?a emisión de electrones retro dispersados depende fuertemente del n2mero atómico de la
muestra" &sto implica que dos partes de la muestra que tengan distinta composición se revelan con
distinta intensidad aunque no e'ista ninguna diferencia de topograf%a entre ellas"
?os raos X que se generan en una muestra sometida a bombardeo electrónico permiten identificar"
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COMPONENTES DEL MICROSCOPIO SEM
na fuente de electrones que proporciona la iluminación" Fonsta
normalmente de un filamento de G el cual es calentado, los electrones
son acelerados mediante un campo de 7> 5E" Sistema óptico de iluminación que consta de dos lentes magnéticas" Su
función es focalizar lo má'imo posible la fuente de electrones" n juego de tornillos que permite que la radiación se movida sobre la
superficie de la muestra" n portamuestras lentes objetivo" ?a resolución obtenida por el
microscopio depende de las propiedades de estas lentes su distancia a
la muestra" n sistema de detección
PREPARACIÓN DE LA MUESTRA
?a muestra $a de ser necesariamente conductora ?as muestras aislantes son recubiertas con una pel%cula delgada de un
material conductor ;F, Au, Fr< &'iste posibilidad de perder información al recubrir la superficie de la
muestra S&3 de alto vac%o ;todo tipo de muestras<
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CAP$TULO III&SOS * P+ICCION$S
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PRINCIPALES APLICACIONES
?a microscop%a electrónica de barrido es una técnica que sirve para analizar la
morfolog%a de materiales sólidos de todo tipo ;metales, cerámicos, pol%meros,
biológicos, etc"<, con e'cepción de muestras l%quidas" ?a resolución nominal
del equipo es de 7 nm lo cual permite estudiar caracter%sticas de los materiales
a una escala mu peque)a" &ste microscopio cuenta con la técnica de
&spectroscopia de Dispersión de &nerg%a ;&DS< que sirve para $acer análisis
elemental" Fon esta técnica se pueden detectar todos los elementos qu%micos
con n2mero atómico maor a - de manera cualitativa semicuantitativa" na
de las grandes ventajas respecto a otro tipo de microscop%a es la facilidad de
preparación de muestras a que sólo en casos especiales se puede tornar laboriosa Además del e'amen de muestras convencionalmente
p re p a r a da s para el estudio de su superficie ;S&3 convencional<, l a
microscop%a de barrido tiene en la actualidad otras aplicaciones que resultan
de gran interés tanto en el campo biológico como en el de materiales"
?a primera aplicación en importancia consiste en la posibilidad de $acer
análisis cuantitativos de los componentes de la muestra, lo que se realiza
mediante el análisis de los raos X emitidos por la muestra tras su
irradiación con el $az electrónico" na segunda aplicación en el campo
biológico es el análisis inmunocitoqu%mico d e los componentes de la
superficie de la muestra"
&sta posibilidad de reciente desarrollo se basa en el mismo principio de la
técnica inmunocitoqu%mica c o n oro coloidal" &s decir, las muestras, fijadas
o no, se incuban con un primer anticuerpo capaz de reconocer alg2n tipo
de ant%geno de superficie, tras lo cual se procede a una segunda
incubación con un segundo anti cuerpo conjugado con part%culas de oro
coloidal" 3ediante las se)ales /& se puede visualizar las part%culas de
oro en los lugares de reacción , mediante las se)ales de S&l, se analiza
la topograf%a de la superficie" &sta técnica se está utilizando con bastante
é'ito para el análisis de los ant%genos de superficie linfocitarios, as% como
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para los lugares de unión del virus del SIDA"
8or 2ltimo, e'iste la posibilidad de congelar la muestra, fracturarla mecánica
mente , tras los procesos de preparación $abituales, e'aminar el interior
de las células" &sta técnica, aunque dif%cil, permite el e'amen tridimensionalde los componentes intracelulares"
?as aplicaciones de la técnica son mu numerosas tanto en ciencia de
materiales, como en ciencia biomédica" Dentro de la ciencia de materiales
destacan las aplicaciones en metalurgia, petrolog%a mineralog%a, materiales
de construcción, materiales cerámicos tradicionales avanzados, electrónica,
fractograf%a estudio de superficies composición elemental de sólidos en
general"
?a microscop%a electrónica de barrido también se aplica en botánica, en el
estudio de cultivos celulares, en dermatolog%a, en odonto@estomatolog%a
biomateriales, en $ematolog%a, inmunolog%a, en el estudio de la morfolog%a de
preparaciones biomédicas en general"
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?as aplicaciones del microscopio electrónico de barrido son mu variadas, son mu
variadas van desde la industria petroqu%mica o de la metalurgia $asta la medicina
forense" Sus análisis proporcionan datos como te'tura, tama)o forma de la
muestra"
&ntre las áreas de aplicación de esta técnica, se pueden mencionarN
,EOLO,ÍA Investigaciones geomineras, cristalográficas, mineralógicas,
petrológicas" &studio morfológico estructural de las muestras"
ESTUDIO DE MATERIALES Faracterización microestructural de materiales"
Identificación, análisis de fases cristalinas, transiciones de fases en diversos
materiales tales como metales, cerámicos, materiales compuestos,
semiconductores, pol%meros minerales" Fomposición de superficies tama)o de
grano" Ealoración del deterioro de materiales, determinación del grado de
cristalinidad presencia de defectos" Identificación del tipo de degradaciónN fatiga,
corrosión, fragilidad entre otros"
METALUR,IAN Fontrol de calidad estudio de fatiga de materiales caracter%sticas
te'turales" Análisis de fractura ;fractomecánica< en materiales"
ODONTOLO,ÍA &n este campo son muc$as las aplicaciones de las
caracterizaciones morfológicas que se pueden realizar con el microscopio
electrónico de barrido"na aplicación espec%fica de este microscopio se obtiene al estudiar la
direccionalidad de las varillas del esmalte dental" Además se pueden analizar las
alteraciones que producen los ácidos producidos por la entrada de microorganismos
restos alimenticios en las superficies vestibulares de los dientes anteriores1 a que
sobre ellos se produce la retención de los materiales odontológicos en fracturas,
fisuras, ferulizaciones, entre otras" PALEONTOLO,ÍA / AR0UEOLO,ÍA Faracterización de aspectos morfológicos"
CONTROL DE CALIDADN &n este campo, el microscopio electrónico de barrido es
de gran utilidad para el siguiente morfológico de procesos su aplicación en el
control de calidad de productos de uso consumo" na industria que lo utiliza es la
te'til"
FI'RASN &l instrumento se usa para e'aminarN• Detalles superficiales de fibras"
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• 3odificaciones en las formas de las fibras o en detalles superficiales"• Da)ado de fibras"• Fonstrucción de $ilos tejidos"• (ractograf%a de fibras rotas por diferentes causas"• rdimbre"• Dimensiones de caracter%sticas de fibras diferentes ángulos"
PERITAESN &studios de muestras de las áreas antes mencionadas"
MEDICINA FORENSE Análisis morfológico de pruebas"
'OTNICA 'IOMEDICINA / MEDICINA &studio morfológico" &studio qu%mico
estructural de obras de arte, alteraciones de monumentos, control de calidad,
identificación de pigmentos ;restauración, autenticación<"
PERITACIONES CALI,RAFÍASN &studio de trazos"
ELECTRÓNICAN Fontrol calidad de partes electrónicas"
APLICACIONES EN MATERIALES DE CONSTRUCCIÓN
3H4#&4HS \ H43IKH9&SN microestructura, fases cristalinas, impurezas,
detección e identificación de sales, microfisuración, etc"
3A#&4IA?&S 3&#Z?IFHSN fases cristalinas, te'turas, composición, tama)o de
grano, patolog%as deterioro ;corrosión, fatiga, defectos, fragilización, etc<"
A9Z?ISIS D& (4AF#4ASN en distintos materiales"
D&#&43I9AFI]9 D& &S8&SH4&S
84HDF#HS F&4Z3IFHSN microestructura, evaluación de la temperatura de
cocción, fases cristalinas, impurezas, detección e identificación de sales
esflorescencias, etc"
K&H?HK^AN cristalograf%a, composición mineralógica, petrolog%a, estudio de
composición de arcillas, etc"
8A#4I3H9IH, FH9S&4EAFI]9 \ 4&A/I?I#AFI]9N Análisis de materialespétreos, morteros origen de alteración, estado, caracterización del sistema poroso,
biodeterioro, efecto de los tratamientos de limpieza consolidación, análisis de sales
costras, análisis de pigmentos"
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?as aplicaciones son m2ltiples mu 2tiles donde otros análisis ensaos comunes
en los laboratorios tradicionales de construcción no pueden llegar"na gran ventaja de aplicar este método es por la escasa cantidad de muestro para
usar en el análisis, convirtiéndolo en un ensao no destructivo"
CAP$TULO IVMRCS * PR$CIOS
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MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE 'ARRIDO MARCA 4ITAC4I MODELO S3555N.
&ste microscopio cuenta conun detector de raos X
marca /ru5er modelo
X(las$ 7>>* para
microanálisis ;&DS<
mapping" Dispone del
modo de trabajo en
presión variable para observación de muestras no conductoras sin necesidad derecubrirlas con material conductor"
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO MARCA JEOL MODELO JSM-8!"
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MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO #$ESEM%MARCA &EISS MODELO MERLIN 'P COMPACT"
&quipado con un sistema de microanálisis por
&DX marca /46&4 modelo _uanta' ->>" ?a
resolución que alcanza es >,: nm a *= 5E *,0
nm a * 5E" ?os equipos de emisión de campo son
capaces de trabajar a voltajes mu reducidos ;de
>,> 5E a 7> 5E< permitiendo observar muestras
sensibles al $az de electrones sin da)arlas
minimizando los efectos de carga"
INSTR(MENTAL PARA LA PREPARACIÓN DE M(ESTRAS)
• &quipo de secado por punto cr%tico marca &?&F#4H9 3IF4HSFH8\
SFI&9F&S modelo &3S :=>"
• 3etalizador ;Au< evaporador ;F< marca /A?B&4S modelo SFD >>-
• 3etalizador evaporador marca /A?B&4S modelo 3&D >>
RE*(ISITOS DE M(ESTRAS)
• ?as muestras deberán ser conductoras, sólidas estar e'entas de $umedad,
disolventes l%quidos en general"
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• Se procurará que tengan el menor tama)o que permitan las caracter%sticas
particulares de cada una aceptándose como tama)o má'imo - cm de
diámetro * cm de altura"
• Independientemente de la naturaleza de la muestra siempre se procederá a su
preparación sobre el soporte adecuado al microscopio"
• Si las muestras no son conductoras se recubrirán con oro o carbono"
• Si el personal técnico lo considera necesario las muestras se someterán a un
tratamiento térmico en vac%o"
MODELO NO6A NANOSEM 255 MARCA FEI
• 4esolución de *nm a 7>6v, *"= nm a *> 5E ;/ajo
vac%o<"• Eoltaje AceleradorN >> E a 7> 5E"• 3odos de trabajoN Alto vac%o para muestras
conductoras, /ajo vac%o para muestras semi no conductoras"
• Detector de electrones Secuendarios,
4etrodispersados S#&3 ;combina los
elementos de un S&3 un #&3<"• Sistema &DS
MARCA EOL MODELO SM78395F
MARCA EOL MODELO SM :815
8ermite la observación estudio de muestras sólidas conductoras mediante la
interacción de un $az de electrones con la superficie del material objeto de estudio,
• tiliza un $az de electrones en lugar de un $az
de luz para formar una imagen"• #iene una gran profundidad de campo"• 8roduce imágenes de alta resolución"
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que proporciona imágenes de gran
resolución de la topograf%a
superficial de la muestra, que
pueden ser tratadas analizadas
posteriormente"
MARCA FEI MODELO 0UANTA 255
• Hpera con tres modos de vac%o
;alto vac%o, bajo vac%o modo
ambiental< con detectores de
electrones secundarios retrodispersados para todos los
modos de vac%o, el 3icroscopio
dispone de un sistema de
Análisis integrado HX(H4D
I9S#43&9#S Analtical@Inca
con dos detectores de 4aos X
que se pueden usar simultánea alternativamente, uno &DS ;&nerg%a
Dispersiva< otro GDS ;?ongitud de Hnda Dispersiva<"
MARCA FEI MODELO INSPECT CON DETECTOR DE ELECTRONES
SECUNDARIOS / RETRODISPERSADOS.
Dispone de un sistema de análisis integrado HX(H4D I9S#43&9#S
analtical@I9FA" &ste
microscopio dispone de un
detector de
FA#HDH?3I9ISF&9FIA con
sistema de refrigeración con 9
l%quido ampliación espectral$asta el Infrarrojo 3odelo
KA#A9 3ono F?7"
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MARCA FSM MODELO 9:T1
UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE 'ARRIDO MARCA LEO 19:56P
MARCA SEM LEO 19256P
`Serie sz' zoom microscopio
estereoscópico, totalmente
recubierto optial sistema imágenes
n%tidas claras con mu buena
llanura el contraste" It se
caracteriza por la marca@ nuevo
dise)o óptico, el mejor reprduction
en color verdadero de la imagen"
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MARCA I' MODELO 9851F
&n el microscopio electrónico de barrido, un campo magnético permite enfocar los
raos catódicos ;electrones< obtener una imagen tridimensional, por el e'amen
de la superficie de las estructuras, permitiendo la observación la caracterización
de materiales orgánicos e inorgánicos, proporciona aumentos de >>">>>
diámetros"
Fon la mi microscopia electrónica de barrido podemos conseguir $asta los *>>
A, resolución mu superior a cualquier instrumento óptico"
CONCLUSION
ES
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&l microscopio electrónico de barrido permite obtener información topográfica
composicional rápida, eficiente simultáneamente en distintos tipos de muestras"
&n este trabajo se muestra el potencial de los equipos las posibilidades de uso
de los mismos"
&l Servicio de 3icroscop%a &lectrónica de /arrido es mu utilizado por las áreas
de bioqu%mica, qu%mica otras comunidades cient%fica, organismos oficiales,
empresas estatales privadas" Aunque su utilización sea costosa"
$ttpNocC"uc7m"esciencia@e@oincaracterizacion@de@materialesmaterial@de@clase@
*nidad[-[#ema[3icroscopia[electronica[de[/"pdf $ttpNCebdeptos"uma"esqicmdoc[docenciatema*-[me"pdf $ttpNCCC"upv"esentidadesS3&infoJ=7*>normalc"$tml $ttpNCCC"javeriana"edu"co(acultadesFienciasneurobioquimicalibroscelularmelecbarrido"
$tm $ttpsNes"Ci5ipedia"orgCi5i3icroscopio[electrF7/7nico[de[barrido $ttpNruc"udc"esbitstream*:7+7*7*FF@>**[art[="pdf $ttpNocC"uc7m"esciencia@e@oincaracterizacion@de@materialesmaterial@de@clase@
*nidad[-[#ema[3icroscopia[electronica[de[/"pdf $ttpNocC"uc7m"esciencia@e@oincaracterizacion@de@materialespracticas@
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