infraestructura en laboratorios cinvestav unidad querétaro libramiento norponiente no. 2000 fracc....
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Infraestructura en Laboratorios
Cinvestav Unidad QuerétaroCinvestav Unidad Querétaro
Libramiento Norponiente No. 2000Fracc. Real de Juriquilla, C.P. 76230 www.qro.cinvestav.mxQuerétaro, Qro., Tel. (442) 211-9900
Infraestructura de Laboratorios
Desde la formación de la Unidad se ha hecho un gran esfuerzo por gestionar la adquisición de equipos para los Laboratorios gestionando diversos tipos de recursos:
Propios del Cinvestav
Proyectos CONACyT.
Proyectos de vinculación con la industria.
Hasta la fecha, estos esfuerzos nos ha llevado a contar con equipamiento que permite satisfacer la mayoría de las necesidades de investigación a los estudiantes de posgrado durante su trabajo de tesis. Estos equipos son básicos para el desarrollo de las investigaciones y se encuentran distribuidos de la siguiente manera.
Laboratorios
1. Propiedades Eléctricas.
2. Propiedades Estructurales y Microscopía.
3. Propiedades Ópticas.
4. Crecimiento de peliculas delgadas II y caracterización
5. Química de Materiales II
6. Crecimientos de Películas Delgadas Semiconductoras.
7. Materiales optoelectronicos.
8. Procesamiento de Materiales Orgánicos.
9. Recubrimientos.
10. Química de Materiales I.
11. Materiales Compuestos.
12. Películas ultradelgadas
13. Simulación.
14. XPS
1. Propiedades Eléctricas.
2. Propiedades Estructurales y Microscopía.
3. Propiedades Ópticas.
4. Crecimiento de peliculas delgadas II y caracterización
5. Química de Materiales II
6. Crecimientos de Películas Delgadas Semiconductoras.
7. Materiales optoelectronicos.
8. Procesamiento de Materiales Orgánicos.
9. Recubrimientos.
10. Química de Materiales I.
11. Materiales Compuestos.
12. Películas ultradelgadas
13. Simulación.
14. XPS
Laboratorios
1. Propiedades de Transporte Térmico.
2. Propiedades Multifuncionales Nanométricas
3. Investigación y Desarrollo Tecnológico en Recubrimientos Avanzados.
4. Cerámicos Multifuncionales.
5. Polvos metálicos.
6. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica.
7. Polímeros y Biomateriales.
8. Energías Alternativas I.
9. Películas Delgadas y Recubrimientos.
10. Propiedades Fisicoquímicas..
11. Procesamiento Químico de Películas.
1. Propiedades de Transporte Térmico.
2. Propiedades Multifuncionales Nanométricas
3. Investigación y Desarrollo Tecnológico en Recubrimientos Avanzados.
4. Cerámicos Multifuncionales.
5. Polvos metálicos.
6. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica.
7. Polímeros y Biomateriales.
8. Energías Alternativas I.
9. Películas Delgadas y Recubrimientos.
10. Propiedades Fisicoquímicas..
11. Procesamiento Químico de Películas.
Laboratorio 1. Propiedades Eléctricas
Medidores de Impedancias.
Efecto HALL.
Sistemas de depósito de metales.
Analizador de semiconductores.
Celda de mediciones ópticas.
Laboratorio 1. Propiedades Eléctricas
Analizador de impedancia de precisión, Analizador de componentes y circuitos, Agilent 4294A con intervalo de Frecuencia 40 Hz a 110 MHz
Precisión de impedancia de +/- 0.08 %
Espectrómetro E4994A
Intervalo de frecuencia de 36 Hz a 1 MHz
Control de temperatura de -65 a 150 ºC
Evaporador de metales TE10P
Presión en vacío hasta 10-6 Torr
Control de temperatura hasta 900 ºC
Laboratorio 1. Propiedades Eléctricas
Efecto HALL
Campo Magnético de 1 Tesla.
Enfriamiento interno.
Sistema de depósito de metales
Presión de vacío de 30 mTorr.
Atmósfera controlada con gas inerte.
Laboratorio 1. Propiedades Eléctricas
AGILENT 4155CAnalizador de parámetros de
semiconductores Resolución de 10 fA y 0.2 mV
Celda de Mediciones con corriente eléctrica mediciones ópticas PASCO SF-9585A Usa un programa de LabVIEW Control de temperatura de 380ºC
Multímetro de alta definición HP 34401A
Pico amperímetro KEITHLEY 485
Osciloscopio GWINSTK GDS-84 OC
Laboratorio de Propiedades Eléctricas
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopía
Microscopio de Fuerza Atómica.
Microscopio Electrónico de Barrido.
Microscopio Óptico.
Difracción de Rayos X.
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopia
MICROSCOPÍO DE FUERZA ATÓMICA
Microscopio con Nanoposicionador, corrección de histéresis (CLOSELOOP) con 2 modos de operación convencional y no convencional .
Modos de operación convencional:
Contacto
Contacto Intermitente (TAPPING)
Modos de operación No convencional:
Microscopia de fuerza piezoeléctrica (PFM)
Microscopia de fuerza piezoeléctrica Resonante
Microscopia de fuerzas laterales
Microscopia de fuerza Kelvin
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopia
MICROSCÓPIOS ÓPTICOSMicroscopio Óptico Olympuscon objetivos 5, 10, 50 y 100x con cámara digital, software de adquisición y análisis de imágenes.
Microscopio Óptico Olympus GX51 de platina invertida con objetivos 5, 10 y 50x , cuenta con cámara digital (Paxcam) y software de adquisición y análisis de imágenes.
Microscopio Estereoscópico Olympus SZ61 con cámara digital.
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopia
CARACTERÍSTICAS Tubo Generador (XG) de Rayos X con un
rango de 20Kv-2mA hasta 40Kv-50mA y target de Cobalto (Co), con un longitud de onda de 1.7889Å (Kα1).
Goniómetro RIGAKU ULTIMA+ de radio de 185mm.
Rejillas de Divergencia a la salida del XG.
Filtro de Hierro (Fe) para la atenuación de la radiación de la linea Kβ en el Receiving slit.
No se cuenta con Monocromador.
Detector de centelleo (Contador Geiger).
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X (Dmax2100) Marca RigakuDIFRACTÓMETRO DE RAYOS X (Dmax2100) Marca Rigaku
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopía
CARÁCTERÍSTICAS Goniómetro con geometría vertical θ/θ con
un radio de 285 mm. Alineación completamente automatizada. Control independiente de los ejes θ s
(source) y θ d (detector). Velocidad de Barrido: 0.002°/min a 100°/min
de 2θ. Resolución: 0.0001° Tubo Generador de Rayos X de 2.0 kW de
Potencia y Target de Cobre (Kα1=1.5406 Å). Óptica Bragg-Brentano (polvos). Selección del tamaño del haz del : 2.0, 5.0,
10.0 mm. Soller Slits: 5.0° y 0.5º divergencia axial. Monocromador de Grafito. Detector de centelleo de alta eficiencia y
sensibilidad (0.5 cps) con linealidad: 700,000 cps
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X Modelo Ultima IV Marca Rigaku DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X Modelo Ultima IV Marca Rigaku
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopia
Microscopio Phillips XL30 Ambiental (ESEM) permite al usuario caracterizar de manera superficial y morfológica una amplia gama de materiales, cuenta además con un Espectrómetro de Dispersión de Energía de Rayos X (EDS).
Excelente resolución 3 – 10 nm.
Imágenes tridimesionales y con profundidad de campo.
Caracterización de muestras no conductoras u orgánicas en estado nativo
Obtención y determinación de composición química elemental a partir del carbono (EDS).
MICOSCOPÍO ELECTRÓNICO DE BARRIDOMICOSCOPÍO ELECTRÓNICO DE BARRIDO
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
Espectroscopía RAMAN, UV-Vis, FTIR
y de Fluorescencia.
Efecto HALL.
Nanoindentación.
Elipsometría.
CARACTERÍSTICAS
Láser de Argón sintonizable a 488 y 514 nm con potencia 60 mW.
Permite realizar barridos Espectrales desde 40x0 μm hasta 500 x 500 µm.
Aplicable a soluciones, polvos, películas y gases.
Rango de temperaturas : -180ºC a 250ºC.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
MICRO ESPECTRÓMETRO RAMAN
(Dilor modelo Lab. Raman II)
MICRO ESPECTRÓMETRO RAMAN
(Dilor modelo Lab. Raman II)
CARACTERÍSTICAS
Corriente de entrada: 1nA-20 mA.
Resistividad: 10-4 -10-7.
Concentración: 107 – 1021.
Movilidad: 1-107.
Densidad de flujo magnético:
0.27, 0.31, 0.37, 0.51 y 1.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
EFECTO HALL
ESCOPIA HMS-3000.
EFECTO HALL
ESCOPIA HMS-3000.
Determina: las propiedades mecánicas: dureza, elasticidad y tenacidad a la fractura, en bulk (bulto) y de algunas películas delgadas. Con las siguientes funciones:
Módulos mapping. Mapeo del modulo de elasticidad.
Nanoscihatch. Determina el coeficiente de fricción.
Nanowear. Determina el desgaste.
Con puntas de prueba: berkovish, esferocónica, esquina cúbica (cube corner) y knoop.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
NANO INDENTADOR (Ubi 1 Hysitron, Inc .)NANO INDENTADOR (Ubi 1 Hysitron, Inc .)
DETERMINA: Espesores: a partir de 1 nm hasta 3 m. Índices de refracción y coeficientes de extinción. Función dieléctrica compleja. Ancho de banda prohibida. Transiciones electrónicas. Rugosidad superficial e interfacial. Composición. Cristalinidad.
APLICACIONES EN : Semiconductores. Aislantes. Cerámicos. Metálicos. Polímeros. Aleaciones. Óxidos metálicos.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
Elipsómetro Espectroscópico UVISEL (Horiba-Jobin Yvon, Inc.)Elipsómetro Espectroscópico UVISEL (Horiba-Jobin Yvon, Inc.)
CARACERÍSTICAS
Sistema con modulación de fase. Intervalo espectral: 1.5 – 5.0 eV. Ángulo de incidencia variable: 45° -
90°.
Espectrómetro UV-Vis Perkin Elmer Lambda II.
Espectrómetro FTIR Nicolet Avatar 360.
Espectrómetro de Fluorescencia.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
ESPECTRÓMETROSESPECTRÓMETROS
Laboratorio 4. Crecimiento de Películas delgadas II y caracterización
Laboratorio en acondicionamiento que albergara los
siguientes equipos:
2 sistemas de sublimación en espacio cercano Cromatógrafo de gases marca Agilent Espectrómetro de masas Intercovamex.
Laboratorio 5. Química de Materiales II
Mediciones de Viscosidad.
Medición de punto de fusión.
Perfilometría.
Análisis de gases residuales.
Para la determinación de espesores de películas delgadas.
Resolución de 100 Ǻ.
Permite la identificación de compuestos por medio de la cuantificación de especies ionizadas.
Resolución hasta 200 uma.
Laboratorio 5. Química de Materiales II
Perfilometro Dektak IIPerfilometro Dektak II
Espectrómetro de Masas Vac CheckEspectrómetro de Masas Vac Check
Sistema de Inmersión para crecimiento de películas delgadas por método sol-gel.
Desionizador de agua.
Balanzas analíticas.
Campanas de extracción
Muflas y estufas.
Laboratorio 5. Química de Materiales II
Equipos varios:Equipos varios:
Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras
Depósito de películas delgadas (Rf-Sputtering).
Sistema de Epitaxia en fase Líquida (EFL).
Horno de atmósfera inerte.
CSC-Evaporador.
Crecimiento de películas delgadas por erosión catódica)
Crecimientos desde T amb. hasta 600ºC
Vacío de 10-6 Torr
Desde T amb. hasta 200ºC
Vacío de 10-6 Torr.
Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras
SPUTTERINGSPUTTERING
SISTEMA DE CRECIMIENTOS DE EPITAXIA EN FASE LIÍQUIDASISTEMA DE CRECIMIENTOS DE EPITAXIA EN FASE LIÍQUIDA
Crecimiento de películas cristalinas de alta calidad
Presión hasta 10-6 Torr
Temperaturas hasta 900ºC
Laboratorio 6. Crecimiento dePelículas Delgadas Semiconductoras
2 cámaras para crecimiento
1 evaporador térmico
Operación desde presión atmosférica hasta 10-6 Torr
Desde T amb hasta 650ºC
Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras
CRECIMIENTO DE PELICULAS POR SUBLIMACIÓN EN ESPACIO CERRADO.
CRECIMIENTO DE PELICULAS POR SUBLIMACIÓN EN ESPACIO CERRADO.
Sistema de Inmersión para crecimiento de películas delgadas método sol-gel.
Prensa Hidráulica.
Con capacidad de 20 toneladas.
Muflas y horno de tubo para tratamientos térmicos.
Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras
Equipos variosEquipos varios
Laboratorio 7. Materiales Optoelectrónicos
Laboratorio en acondicionamiento que alojara los
siguientes equipos.
Potensiostatos Bancos de pruebas de celdas de combustible Sistema de Sputtering Equipos periférico de caracterización eléctrica
Extrusor de bajo cizallamiento (Cinvestav) Capacidad para 5 kg/h, elaboración de botanas de 2ª y 3ª generación, alimentos para ganado y modificación de almidones.
Extrusor de bajo cizallamiento (Cinvestav) Capacidad para 50 kg/h, elaboración de alimentos para ganado, modificación de almidones, elaboración de harinas nixtamalizadas por métodos ecológicos.
Laboratorio 8. Procesamiento de Materiales Orgánicos
EXTRUSOR DE ALIMENTOSEXTRUSOR DE ALIMENTOS
Molino de martillos Pulvex.
Molino ciclónico UDY.
Molino de piedras.
Laboratorio 8. Procesamiento de Materiales Orgánicos
MolinosMolinos
Mezcladora amasadora. Secador Ciclónico.Máquina Tortilladora eléctrica y de extrusión con cocedores de infrarrojo. Perladora de granos. Equipo Rotap para determinación de distribución de tamaño
de partículas en harinas. Hornos y estufas de secado.
Laboratorio 8. Procesamiento de Materiales Orgánicos
Equipos utilizados para el procesamiento de cereales, almidones y maíz: Equipos utilizados para el procesamiento de cereales, almidones y maíz:
Laboratorios 9 y 10. Química de Materiales I
Depósito de películas y recubrimientos cerámicos por Sol-Gel.
Sistema de medición de potencial Z
Microdurómetro.
Hornos y muflas
Laboratorio 11. Materiales Compuestos
Prensa semiautomática.
Pulidora de 2 discos de diamante.
Cortadora de disco de silicio.
Pulidora de 1 disco.
Cortadora de disco de diamante (automática y manual).
Pulidora electrolítica.
Struers Labotom-3Cortadora de disco de silicio Para el corte manual de especímenes metalográficos.
Struers Dap-7 Pulidora semiautomática de 1 disco se utiliza para pulido acabado espejo, se usan discos de paño de diferentes texturas en los cuales también se ocupa alúmina y pasta de diamante con granulometría de ¼ a 3 micras.
Struers Rotopol-25 Pulidora de 2 discos para probetas
metalográficas de velocidad variable.
Laboratorio 11. Materiales Compuestos
Struers Labopress-1 Prensa semiautomática
Para encapsular muestras
Struers Accutom-5 Cortadora de disco de diamante Para cortes de precisión para la preparación metalográfica de muestras.
Laboratorio 11. Materiales Compuestos
Struers LectroPol-5 Pulidora Electrolítica, se utiliza para pulido, ataque químico de
metales y grabado de especimen metalográficos.
Cortadora de diamantePara cortes de precisión y
para metales de alta dureza.
Laboratorio 12. Películas Ultradelgadas
Laboratorio en acondicionamiento
Los equipos que albergara son:
ALD (Atomic Layer Deposition) Hornos de tratamientos térmicos en atmósferas controladas
Laboratorio 13. Simulación de Procesos
Simulación de flujo de fluidos.
Modelado de procesos termodinámicos, principalmente de transferencia de calor
Solidificación de metales
COMPUTADORAS DE SIMULACIÓN DE PROCESOS Y SOFTWARE DE SIMULACIÓN. (Procast, Flow, 3D, Inventor V 9)
COMPUTADORAS DE SIMULACIÓN DE PROCESOS Y SOFTWARE DE SIMULACIÓN. (Procast, Flow, 3D, Inventor V 9)
Laboratorios 14. XPS
Depósito por Capas Atómicas (Atomic Layer Deposition, ALD)
Horno tubular Thermolyne 7400
Campana de extracción para realizar limpiezas químicas.
Software para análisis (desarrollado en Cinvestav):
AAnalyzer y XPSGeometry.
ESPECTROSCOPIA POR FOTOELECTRONES EMITIDOS CON RAYOS X
(X-Ray Photoelectron Espectroscopy, XPS). Con software Thermo Avantage)
ESPECTROSCOPIA POR FOTOELECTRONES EMITIDOS CON RAYOS X
(X-Ray Photoelectron Espectroscopy, XPS). Con software Thermo Avantage)
Técnica para superficies, muy sensible y no destructiva. Para analizar cualquier material sólido: semiconductores, polímeros, zeolitas, cerámicos, etc.
Proporciona información del estado químico de la superficie de los primeros 10 nm de espesor, de todos los elementos excepto para hidrógeno y helio.
Compuesto por: Fuente monocromática de Al. Fuente dual de Al y Mg. Cámara de análisis en vacío ~6x10-10 Torr. Analizador de energía multi-detector hemisférico, cuenta con 7 canales. Manipulador de 3 ejes de alta precisión. Bombas: mecánica, turbo, iónica y sublimadora. Sistema ininterrumpible de energía (UPS).
Laboratorios 14. XPS
SISTEMA DE ESPECTROCOPIA DE FOTOELECTRÓNES DE RAYOS –X (XPS)
SISTEMA DE ESPECTROCOPIA DE FOTOELECTRÓNES DE RAYOS –X (XPS)
Técnica que permite controlar el crecimiento de películas delgadas a nivel atómico.
Este depósito por capas atómicas se basa en la obtención secuencial de estados estables y auto controlados en la superficie.
La técnica utiliza reactivos secuenciados en condiciones termodinámicas en las que ocurre una saturación de la superficial entre cada reactante y la superficie.
Cada una de estas reacciones adiciona una capa atómica sobre la superficie de crecimiento. El sistema opera a presión ~1x10-3 Torr
Laboratorios 14. XPS
ALD (Atomic Layer Deposition)
ALD (Atomic Layer Deposition)
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico
Ubicado en el Nuevo Edificio,Edificio de Investigación B.
Técnicas Fototérmicas
Espectroscopia Térmica.
Espectroscopia Óptica.
Espectroscopia Raman.
Determinación de Conductividad Térmica.
Espectroscopia Fotoacústica.
Espectroscopia óptica
Estudio de la propiedades ópticas de materiales.
Espectroscopia óptica con celda fotoacústica. Espectroscopia óptica por reflectancia difusa. Espectrofotómetro de medición de color por reflectancia.
Espectroscopia RAMAN
Resolución de 0.15 cm-1. Puede usarse para espectroscopia de alta resolución.
Con láser de argón como fuente de excitación.Con un monocromador doble Spex-1403 con rejillas holográficas de 1800 líneas/mm.
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico
Espectroscopia térmica.
Para determinar propiedades térmicas de materiales, principalmente cerámicos, metales y estructuras complejas.
Determina la difusividad térmica por fotoacústica y detección fotopiroeléctrica.
Espectroscopia fotoacústica con celda abierta y celda cerrada.
Resonador de ondas térmicas con control de temperatura (hasta 150ºC).
Espectroscopía de lente térmico.
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico
Flash Laser LFA 1000 Marca Linseis.
Analizador para determinar propiedades térmicas de materiales, principalmente cerámicos, metales y estructuras complejas.
Determina la difusividad térmica, calor específico y conductividad térmica.
Horno con control de temperatura (hasta 1200ºC) y flujo de gases especiales.
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico
Estación de trabajo Radiant LC
Analizador de precisión para determinar propiedades
dieléctricas y piezoeléctricas de materiales ferroeléctricos.
Realiza ciclos de hysteresis de polarización, capacitancia,
corrientes de fuga etc.
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico
Laboratorio 16 Propiedades Multifuncionales Nanométricas.
Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación.
Microscopio de Fuerza Atómica.
Nanoindentador (Ubi 1 Hysitron, Inc .)
Nanoindentador Fischer Cripps.
Nanoindentador
(Ubi 1 Hysitron, Inc .)
Para determinar las propiedades mecánicas: dureza, elasticidad y tenacidad a la fractura, en bulk (bulto) y de algunas películas delgadas.
Con las siguientes funciones:
Módulos mapping
mapeo del modulo de elasticidad.
Nanoscihatch
determina el coeficiente de fricción.
Nanowear
determina el desgaste.
Con puntas de prueba: berkovish, esferocónica, esquina cúbica (cube corner) y knoop.
Laboratorio 16. Propiedades Multifuncionales Nanométricas.
Laboratorio 16. Propiedades Multifuncionales Nanométricas.
Microscopio de Fuerza Atómica
Microscopio con Nanoposicionador, corrección de histéresis (CLOSELOOP) con
2 modos de operación convencional y no convencional .
Modos de operación convencional:
Contacto
Contacto Intermitente (TAPPING)
Modos de operación No convencional:
Microscopia de fuerza piezoeléctrica (PFM)
Microscopia de fuerza piezoeléctrica Resonante
Microscopia de fuerzas laterales
Microscopia de fuerza Kelvin
Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación.
Laboratorio 17. Investigación y Desarrollo Tecnológico en Recubrimientos Avanzados.
Laboratorio 18. Cerámicos Multifuncionales.
Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación.
Laboratorio 19. Polvos Metálicos.
Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación.
Acoustosizer ZIIS Colloidal Dynamics
Mediciones de tamaño de partícula desde 20 nm hasta 20 micras
Mediciones de potencia Zeta utilizando un modelo acústico (modalidad dinámica, PH,
temperatura y punto isoeléctrico (IEP).Con una celda de medición que permite
solventes polares y no polares.
Zeta Sizer Nano-S de MalverN Instrumen
Mide tamaño de partícula con la técnica de dispersión de luz (LDS). Intervalo de 1 nm a 6 micras. Puede medir suspensiones coloidales.
Laboratorio 20. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica.
Microindentador con punta Vickers de Buller Mod. 1600,
Punta de diamante con geometría Vicker Con cargas de 10 a 1000 gfSalida para cámara fotográfica.
Volta Lab 80 marca Radiometer Analytical Mod. PGZ402
Voltametría, cíclica y lineal, Impedancia dinámica, Mediciones de corrosión, Medición por pulso, etc. (Características del potenciómetro: 230 V y 47.5-63 Hz.)
Laboratorio 20. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica.
Sonda Ultrasónica
De alta intensidad acoplado a una sonda metaliza de 13 ml, se utiliza para la síntesis de diversos materiales conocidos como sonoquímica o síntesis por ultrasonido
Laboratorio 20. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica.
Sistema de depósito por inmersión (DIP-Coating)
Velocidad variableUtilizados para: Catalizadores en aire, aguas y filtros y Sensores, etc.
Laboratorio 21 Polímeros y Biomateriales.
En Proceso su traslado hacia el Edificio de Investigación B
Reactor de polimerización.
Equipo análisis termodinámicos
Cromatografía de permeación en gel (GPC)
Balanzas Analíticas
Espectrómetro FTIR
Microscopio ATR
Espectrofotómetro de Infrarrojo con transformada de Fourier (FTIR)
Spectrum GX, Pekín Elmer.
Regiones de medición:NIR: cercano infrarrojo de 1000 a 4000-1 cmMIR: medio infrarrojo de 4000 a 400 cm-1
Tiene 4 técnicas: Transmisión: MIR y NIR Reflectancia totalmente atenuada (ATR) con punta de diamante o ZnSe. Reflectancia especular MIR y NIR, con polarizador de KRS-5 (Specac) para el MIR
Cuenta con Microscopio acoplado que se utiliza en el MIR para análisis puntual de los grupos funcionales de una superficie, realiza mapas de color falso.
Laboratorio 21 Polímeros y Biomateriales.
Cromatografo de tamaño de exclusión (SEC)
Waters.
Para fases: acuosa y orgánica (THF) dos lectores:
Absorbancia dual X (waters 2487) Índice de refracción (waters 2410)
Intervalo de medición 3,900,000 – 1260 daltones.
Determina los pesos moleculares de polímeros
Laboratorio 21 Polímeros y Biomateriales.
Laboratorio 22. Energías Alternativas I.
Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación.
Laboratorio 23. Películas Delgadas y Recubrimientos
Sputtering DC pulsada y polarizada
Depósitos por erosión catódica.
Laboratorio 23 Películas Delgadas y Recubrimientos
DC-Sputtering.
Equipo de análisis térmico DSC (TGA).
Sputtering V3 Intercovamex
Para realizar depósitos por erosión catódica.
Depósito por radiofrecuencia, DC pulsada y polarizada.
Recubrimientos duros y ternarios en memorias ópticas, materiales semiconductores, etc.
Laboratorio 23 Películas Delgadas y Recubrimientos
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Viscosímetro
Calorímetro Diferencial
de Barrido (DSC).
Colorímetro.
Texturómetro.
Medidor de Actividad de Agua.
Fluorómetro.
TexturómetroTexture Analyzer TA-XT2
Características:
Carga Máxima: 25Kg. Resolución: 1g. Modos de medición de fuerza y distancia a la tensión o compresión.
Con estándares de análisis de textura incluyendo adhesividad, ciclos de fatiga y relajación a la tensión.
TexturómetroTexture Analyzer TA-XT2
Características:
Carga Máxima: 25Kg. Resolución: 1g. Modos de medición de fuerza y distancia a la tensión o compresión.
Con estándares de análisis de textura incluyendo adhesividad, ciclos de fatiga y relajación a la tensión.
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Viscosímetro Rapid visco analyzer (RVA4)
Principal uso: alimentos, cereales y almidones. Para métodos estándar aprobados enUSA (AACC), Europa (ICC) y Australasia (RACI).
Rango de Temperatura : 0 - 99.9ºC.
Precisión de la Temperatura: +/- 0.3°C
Intervalo de Velocidad: 10-2,000 rpm.
Intervalo de Viscosidad: 50-50,000 cP a 80 rpm.
Viscosímetro Rapid visco analyzer (RVA4)
Principal uso: alimentos, cereales y almidones. Para métodos estándar aprobados enUSA (AACC), Europa (ICC) y Australasia (RACI).
Rango de Temperatura : 0 - 99.9ºC.
Precisión de la Temperatura: +/- 0.3°C
Intervalo de Velocidad: 10-2,000 rpm.
Intervalo de Viscosidad: 50-50,000 cP a 80 rpm.
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Calorímetro Diferencial de Barrido (DSC) Mettler Toledo 822E.
Determina propiedades para:
Comportamiento en la fusión. Transiciones vítreas. Cristalización. Estabilidad en la oxidación.Calor específico.
Características:
Celda de medida con sensor de cerámica.Sistema de refrigeración por aire.
Intervalo de temperatura: desde ambiente hasta 700 °C.
Calorímetro Diferencial de Barrido (DSC) Mettler Toledo 822E.
Determina propiedades para:
Comportamiento en la fusión. Transiciones vítreas. Cristalización. Estabilidad en la oxidación.Calor específico.
Características:
Celda de medida con sensor de cerámica.Sistema de refrigeración por aire.
Intervalo de temperatura: desde ambiente hasta 700 °C.
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Fluorómetro VICAM4
Se usa para el análisis de micotoxinas
Base para pruebas de diagnóstico rápido USDA-y AOAC- para las micotoxinas y patógenos de los alimentos.
Fluorómetro VICAM4
Se usa para el análisis de micotoxinas
Base para pruebas de diagnóstico rápido USDA-y AOAC- para las micotoxinas y patógenos de los alimentos.
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Colorímetro Hunterlab – Mini Scan® XE Plus.
Espectrofotómetro de medición de color por reflectancia portátil.
Geometría de 45º/0º.
Se pueden medir fácilmente muestras pequeñas, grandes, lisas o texturizadas. Incluye todas las escalas de colores índice tales como CIE XYZ, Hunter Lab, CIE L*a*b*, L*c h, Yxy, etc.
Colorímetro Hunterlab – Mini Scan® XE Plus.
Espectrofotómetro de medición de color por reflectancia portátil.
Geometría de 45º/0º.
Se pueden medir fácilmente muestras pequeñas, grandes, lisas o texturizadas. Incluye todas las escalas de colores índice tales como CIE XYZ, Hunter Lab, CIE L*a*b*, L*c h, Yxy, etc.
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Equipo de cocimiento Ohmico
Básicamente es un DSC eléctrico para el análisis térmico y la determinación de cambios de fase, estructura y otras propiedades.
Mide el grado y temperatura de gelatinización de almidones de cereales y otros granos, pero se puede extender su aplicación a otros materiales bio-orgánicos o inorgánicos conductores de la electricidad.
Patentado por Cinvestav, utiliza las propiedades de conductividad eléctrica del almidón nativo, almidones modificados, cereales, almidón de tubérculos y el agua.
El método puede ser usado con cereales sin cocer, o almidones gelatinizados, en forma de grano entero, molido y harinas.
Equipo de cocimiento Ohmico
Básicamente es un DSC eléctrico para el análisis térmico y la determinación de cambios de fase, estructura y otras propiedades.
Mide el grado y temperatura de gelatinización de almidones de cereales y otros granos, pero se puede extender su aplicación a otros materiales bio-orgánicos o inorgánicos conductores de la electricidad.
Patentado por Cinvestav, utiliza las propiedades de conductividad eléctrica del almidón nativo, almidones modificados, cereales, almidón de tubérculos y el agua.
El método puede ser usado con cereales sin cocer, o almidones gelatinizados, en forma de grano entero, molido y harinas.
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
OTROS EQUIPOS:
Medidor de actividad de agua (Aw), AQUA-LAB, CX2.
Equipo Soxhlet de 6 plazas.
Centrífuga Labnet con rotor Hermes Z 200 A .
Potenciómetro (pH-ISE-Conductivity Meter) Denver Instrument Mod. 250.
Analizador de gases; O2/CO2 Analyzer Mca NITEC.
Balanzas analíticas.
Mufla FE-340 (25 a 1100ºC) Mca. Felisa.
Baño María (con agitación).
OTROS EQUIPOS:
Medidor de actividad de agua (Aw), AQUA-LAB, CX2.
Equipo Soxhlet de 6 plazas.
Centrífuga Labnet con rotor Hermes Z 200 A .
Potenciómetro (pH-ISE-Conductivity Meter) Denver Instrument Mod. 250.
Analizador de gases; O2/CO2 Analyzer Mca NITEC.
Balanzas analíticas.
Mufla FE-340 (25 a 1100ºC) Mca. Felisa.
Baño María (con agitación).
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Laboratorio 25. Procesamiento Químico de Películas.
Ubicado en el Nuevo
Edificio de Investigación.