Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid
Montaje experimental
Muestra
Procesador de señales
Fotodiodo
Laser
Oscilador
2a imágenno-contacto
otras interacciones
1a imágenno-contacto topografía
PiezoeléctricoBarridos xy, movimiento z
Microscopio de fuerzas magnéticas, MFM
Recubrimos las puntas de
AFM con una lámina delgada
magnética y detectamos la
fuerza entre la punta y la
muestra a cierta distancia
para evitar la interacción Van
der Waals.
Monocristal NGa
900nm
Con estos microscopios se puede incluso “escribir” con átomos.
En el ejemplo, átomos de estaño sobre una superficie de Si. UHV-RT-AFM, O. Custance, Osaka, 2006
Cabezadel AFM
Sistema de controlGlóbulos
Rojos2.500 nm
Virus 25 nm
ADN2 nm
Cabello humano
75.000 nm
900nm 900nm 900nm
La densidad de información aumenta a medidaque baja el tamaño de los bits (dominos).
1GB 2Gb 120Gb
Las flechas indican ladirección de imanación.
Disco duro tradicionalTamaño: 20mx20m
000110000001111110000000111001110
Distribución de imanación en nanohilos de Ni
600nm 600nm 600nm
600nm 600nm600nm
600nm
600nm
0 Oe 75 Oe 105 Oe 125 Oe 145 Oe 200 Oe
Procesos de imanación en nanoestructuras de Ni
H
Dirección campo aplicado
MFM
Simulación
MFM
Simulación
Vista superior de una membrana rellena denanohilos de Ni. Los poros, paralelos unos aotros están ordenados con simetría hexagonal.
Cada nanohilo da un contrasteclaro u oscuro dependiendo desi la dirección de imanación eshacia arriba o hacia abajo.
600nm
Láminas delgadas de BaTiO3
500nm
Nanoindentaciones en Au (111) Crecimiento de escalones en BaSO4
600nm
Aluminio electropulido
El AFM (Atomic Force Microscope) es capaz de detectar fuerzas delorden de piconewtons (10-12N) entre una punta afilada y una superficie.La punta “barre” la muestra para obtener la topografía de la superficiecon gran resolución vertical y lateral. El AFM es un instrumento de granutilidad en el campo de la Nanociencia y la Nanotecnología.
Laboratorio de Microscopía de Campo Cercano, AFM-MFM
