pruebas a relevadores de protecciÓn = daby ctcon = yy ctr1 = 20 ctr2 = 100 datc = 15 pdem = 5.0...
TRANSCRIPT
TECNICA ELÉCTROMECANICA CENTRAL S.A. DE C.V.
Manufacturas Vitromex S.A. de C.V.
Complejo San José Iturbide, Gto.Carr .57, km 60.2 tramo QRO-SLP
07/07/2015
Avenida Técnicos No. 250 Col. El Sabino, Querétaro, Qro, México. C.P. 76148
Tel. 52(442)248-0035 www.tecsaqro.com
PRUEBAS A RELEVADORES DE PROTECCIÓN
Página 1 de 16
Fecha: 07/07/2015Manufacturas Vitromex S.A. de C.V.
Resumen de pruebas
Equipo Ubicación Evaluación Número de página
87T SEL 587 TABLERO PCYM CUARTO ELECTRICO S.E. 115 KV Correcta3
SEL 501-2 Correcta6
EQUIPO DE PRUEBA UTILIZADO:
OMICRON CMC 356 ''equipo de prueba universal de relés y de puesta en servicio'' NUMERO DE SERIE:EB602H
Realizó pruebas: Ing. Camilo Sánchez Becerril. Departamento de Operaciones
COMENTARIOS:
De acuerdo a las pruebas realizadas, los equipos operan correctamente de acuerdo a los parametros de proteccion a los que se encuentran ajustados.
TABLERO PCYM CUARTO ELECTRICO S.E. 115 KV
Página 2 de 16
Equipo en prueba - PROTECCION DIFERENCIAL DE TRANSFORMADOR 87T
Subestación/Bahía:Subestación: S.E. 115 KV VITROMEX Dirección de subestación:Bahía: Dirección de bahía:
Dispositivo:Nombre/descripción: 87T1 Fabricante: SELTipo de dispositivo: SEL 587 Dirección del dispositivo: CUARTO ELECTRICO S.E. 115
KVNo de serie: 97240042Info adicional 1:Info adicional 2:
Hardware Configuration
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 EB602H
Comprobación del hardware
Realizado en Resultado Detalles
07/07/2015 03:11:48 p.m.
Correcta
Relay Settings:
RID =87-T-1TID =S.E.VITROMEXMVA = 6.3 VWDG1 = 115.00 VWDG2 = 13.80 TRCON = DABY CTCON = YY CTR1 = 20 CTR2 = 100 DATC = 15 PDEM = 5.0 QDEM = 5.0 NDEM = 5.0 TAP1 = 1.58 TAP2 = 2.64 IN1 = 52A1 IN2 = 52A2 O87P = 0.5 SLP1 = 40 SLP2 = 200 IRS1 = 10.0 U87P = 8.0 PCT2 = 15 PCT5 = 35 TH5 = 3.0 TH5D = 12.000 IHBL = Y
Página 3 de 16
Tiempo de rampa 3.100s
Trigger Bin
Lógica del trigger ORDisparo 1
Paso atrás NoTiempo de retardo 0.000 s
Módulo de pruebaNombre: OMICRON Ramping Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 15:15:02 Fin: 07-jul-2015 15:15:08Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.
Resultados de la prueba
Resultados de la evaluaciónNombre / ejec.
Rampa Condición Señ. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal
Arranque Rampa 1 Disparo 0->1 I L1, L2, L3
790.0 mA 800.0 mA 50.00 mA 50.00 mA 10.00 mA + 79.00 ms
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
Rampa 1
I L1, L2, L3
t/s0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6
Señ. 1/mA
0
100
200
300
400
500
600
700
t/s0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6
Disparo
Estado de la prueba:Prueba correcta
87T WDG1:Ajustes de la prueba
GeneralNº de estados de rampa:
1
Pasos totales por prueba:
31
Tiempo total por prueba:
3.100 s
Nº de ejecuciones de prueba:
1
Modo de entrada: DirectoTipo de falta:
Magnitudes en rampaI L1, L2, L3 / Magnitud
Estados de rampa
Rampa Rampa 1
I L1 0.000 A0.00 °60.000 Hz
I L2 0.000 A-120.00 °60.000 Hz
I L3 0.000 A120.00 °60.000 Hz
Forzar fases abs. SíSeñ. 1 Desde 0.000 ASeñ. 1 Hasta 1.500 ASeñ. 1 Delta 50.00 mASeñ. 1 d/dt 500.0 mA/s
dt por paso 100.0 msPasos de rampa 31
Página 4 de 16
Estados de rampa
Rampa Rampa 1
I L1 0.000 A0.00 °60.000 Hz
I L2 0.000 A-120.00 °60.000 Hz
I L3 0.000 A120.00 °60.000 Hz
Forzar fases abs. Sí
Señ. 1 Desde 0.000 ASeñ. 1 Hasta 1.500 ASeñ. 1 Delta 50.00 mASeñ. 1 d/dt 500.0 mA/sdt por paso 100.0 msPasos de rampa 31Tiempo de rampa 3.100s
Trigger Bin
Lógica del trigger ORDisparo 1
Paso atrás NoTiempo de retardo 0.000 s
Módulo de pruebaNombre: OMICRON Ramping Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 15:26:19 Fin: 07-jul-2015 15:26:25Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.
Resultados de la prueba
Resultados de la evaluaciónNombre / ejec. Rampa Condición Señ. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal
Arranque Rampa 1 Disparo 0->1 I L1, L2, L3
1.320 A 1.350 A 50.00 mA 50.00 mA 30.00 mA + 30.30 ms
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
Rampa 1
I L1, L2, L3
t/s0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25 2.50
Señ. 1/A
0.00.10.20.30.40.50.60.70.80.91.01.11.2
t/s0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25 2.50
Disparo
Estado de la prueba:Prueba correcta
87T WDG2:Ajustes de la prueba
GeneralNº de estados de rampa:
1
Pasos totales por prueba:
31
Tiempo total por prueba:
3.100 s
Nº de ejecuciones de prueba:
1
Modo de entrada: DirectoTipo de falta:
Magnitudes en rampaI L1, L2, L3 / Magnitud
Página 5 de 16
Equipo en prueba - PROTECCION POR SOBRECORRIENTE 152-L-X
Subestación/Bahía:Subestación: S.E. 115 KV VITROMEX Dirección de subestación:Bahía: Dirección de bahía:
Dispositivo:Nombre/descripción: 152-L Fabricante: SELTipo de dispositivo: SEL 501-2 Dirección del dispositivo: CUARTO ELECTRICO S.E. 115
KVNo de serie: 97337033Info adicional 1:Info adicional 2:
Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente
General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de
estrella del TC:A equipo protegido
Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No
Elementos - Fase:
Activo Nombre Característica de disparoI arranque Tiempo
Relación de restauración: Dirección
Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 0.30 Iref 4.00 0.95 No direccional Sí I #1 Fase 50H CEI Tiempo definido 5.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Elementos - Residuales:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.10 Iref 1.00 0.95 No direccional Sí I #1 Residual 50NH CEI Tiempo definido 2.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Hardware Configuration
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 EB602H
Comprobación del hardware
Realizado en Resultado Detalles
07/07/2015 12:25:04 p.m.
Correcta
51PP:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente
General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de
estrella del TC:A equipo protegido
Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No
Elementos - Fase:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 0.30 Iref 4.00 0.95 No direccional Sí I #1 Fase 50H CEI Tiempo definido 5.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Elementos - Residuales:
Activo Nombre Característica de disparoI arranque Tiempo
Relación de restauración: Dirección
Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.10 Iref 1.00 0.95 No direccional Sí I #1 Residual 50NH CEI Tiempo definido 2.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Módulo de pruebaNombre: OMICRON Overcurrent Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 12:43:50 Fin: 07-jul-2015 12:44:27Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.
Ajustes de la prueba:
Página 6 de 16
Modelo de Falta:Referencia de tiempo: Inicio de la faltaCorriente de carga: 0.00 AÁngulo de carga: 0.00 ° Tiempo de pre-falta: 0.10 sTiempo máx. abs.: 240.00 sTiempo de post-falta: 0.50 sTiempo máx. rel.: 100.00 %Activar salida de tensión: NoTensión de falta LN (todas fases menos las bifásicas):
30.00 V
Tensión de falta LL (para faltas bifásicas): 51.96 VCC en disminución activa: NoConstante de tiempo: 0.05 sTiempo mín. car. IP: 0.05 sReposición térmica activa: NoMétodo de Habilitar reposición: ManualMensaje de reposición térmica: Reinicie la memoria térmica del dispositivo sometido a
prueba antes de continuar.
Prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. tmin tmax
L1-L2 I #1 Fase 51PP 1.333 2.00 A n/a 20.34 s 12.16 s 45.53 s L2-L3 I #1 Fase 51PP 2.000 3.00 A n/a 5.559 s 4.357 s 7.306 s L2-L3 I #1 Fase 51PP 2.667 4.00 A n/a 2.925 s 2.464 s 3.509 s L1-L2-L3 I #1 Fase 51PP 5.333 8.00 A n/a 950.7 ms 851.6 ms 1.065 s
Entradas binarias:Lógica del trigger: And
Nombre Estado del trigger
Disparo 1
Resultados de la prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. trealSobrecarga Resultado
L1-L2 I #1 Fase 51PP 1.333 2.00 A n/a 20.34 s 20.43 s No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 51PP 2.000 3.00 A n/a 5.559 s 5.588 s No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 51PP 2.667 4.00 A n/a 2.925 s 2.941 s No CorrectaL1-L2-L3 I #1 Fase 51PP 5.333 8.00 A n/a 950.7 ms 953.8 ms No Correcta
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-L2 n/a
I/A
2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L2-L3 n/a
I/A
2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-L2-L3 n/a
Página 7 de 16
I/A
2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Estado:4 de 4 puntos probados.4 puntos correctos.0 puntos incorrectos.
Evaluación general: Prueba correcta
50H:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente
General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de
estrella del TC:A equipo protegido
Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No
Elementos - Fase:
Activo Nombre Característica de disparoI arranque Tiempo
Relación de restauración: Dirección
Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 0.30 Iref 4.00 0.95 No direccional Sí I #1 Fase 50H CEI Tiempo definido 5.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Elementos - Residuales:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.10 Iref 1.00 0.95 No direccional Sí I #1 Residual 50NH CEI Tiempo definido 2.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Módulo de pruebaNombre: OMICRON Overcurrent Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 12:47:32 Fin: 07-jul-2015 12:47:39Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.
Ajustes de la prueba:
Modelo de Falta:Referencia de tiempo: Inicio de la faltaCorriente de carga: 0.00 AÁngulo de carga: 0.00 ° Tiempo de pre-falta: 0.10 sTiempo máx. abs.: 240.00 sTiempo de post-falta: 0.50 sTiempo máx. rel.: 100.00 %Activar salida de tensión: NoTensión de falta LN (todas fases menos las bifásicas):
30.00 V
Tensión de falta LL (para faltas bifásicas): 51.96 VCC en disminución activa: NoConstante de tiempo: 0.05 sTiempo mín. car. IP: 0.05 sReposición térmica activa: NoMétodo de Habilitar reposición: ManualMensaje de reposición térmica: Reinicie la memoria térmica del dispositivo sometido a
prueba antes de continuar.
Prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. tmin tmax
L1-L2 I #1 Fase 50H 1.004 25.10 A n/a 0.000 s 0.000 s 486.9 ms L2-L3 I #1 Fase 50H 1.040 26.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 482.6 ms L2-L3 I #1 Fase 50H 1.080 27.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 40.00 ms L1-L2-L3 I #1 Fase 50H 1.120 28.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 40.00 ms
Entradas binarias:Lógica del trigger: And
Nombre Estado del trigger
Disparo 1
Página 8 de 16
Resultados de la prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. treal Sobrecarga
Resultado
L1-L2 I #1 Fase 50H 1.004 25.10 A n/a 0.000 s 26.50 ms No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 50H 1.040 26.00 A n/a 0.000 s 24.70 ms No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 50H 1.080 27.00 A n/a 0.000 s 24.80 ms No CorrectaL1-L2-L3 I #1 Fase 50H 1.120 28.00 A n/a 0.000 s 24.10 ms No Correcta
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-L2 n/a
I/A
2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L2-L3 n/a
I/A
2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-L2-L3 n/a
I/A
2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Estado:4 de 4 puntos probados.4 puntos correctos.0 puntos incorrectos.
Evaluación general: Prueba correcta
51NP:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente
General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de
estrella del TC:A equipo protegido
Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No
Elementos - Fase:
Activo Nombre Característica de disparoI arranque Tiempo
Relación de restauración: Dirección
Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 0.30 Iref 4.00 0.95 No direccional Sí I #1 Fase 50H CEI Tiempo definido 5.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Elementos - Residuales:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.10 Iref 1.00 0.95 No direccional Sí I #1 Residual 50NH CEI Tiempo definido 2.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Página 9 de 16
Módulo de pruebaNombre: OMICRON Overcurrent Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 12:50:32 Fin: 07-jul-2015 12:50:42Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.
Ajustes de la prueba:
Modelo de Falta:Referencia de tiempo: Inicio de la faltaCorriente de carga: 0.00 AÁngulo de carga: 0.00 ° Tiempo de pre-falta: 0.10 sTiempo máx. abs.: 240.00 sTiempo de post-falta: 0.50 sTiempo máx. rel.: 100.00 %Activar salida de tensión: NoTensión de falta LN (todas fases menos las bifásicas):
30.00 V
Tensión de falta LL (para faltas bifásicas): 51.96 VCC en disminución activa: NoConstante de tiempo: 0.05 sTiempo mín. car. IP: 0.05 sReposición térmica activa: NoMétodo de Habilitar reposición: ManualMensaje de reposición térmica: Reinicie la memoria térmica del dispositivo sometido a
prueba antes de continuar.
Prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. tmin tmax
L1-E I #1 Residual 51NP 1.600 0.80 A n/a 2.583 s 1.172 s 19.50 s L2-E I #1 Residual 51NP 5.000 2.50 A n/a 258.0 ms 188.9 ms 337.9 ms L3-E I #1 Residual 51NP 14.000 7.00 A n/a 116.2 ms 74.34 ms 158.4 ms
Entradas binarias:Lógica del trigger: And
Nombre Estado del trigger
Disparo 1
Resultados de la prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. trealSobrecarga Resultado
L1-E I #1 Residual 51NP 1.600 0.80 A n/a 2.583 s 2.855 s No CorrectaL2-E I #1 Residual 51NP 5.000 2.50 A n/a 258.0 ms 269.7 ms No CorrectaL3-E I #1 Residual 51NP 14.000 7.00 A n/a 116.2 ms 119.3 ms No Correcta
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-E n/a
I/A
0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L2-E n/a
I/A
0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L3-E n/a
Página 10 de 16
I/A
0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Estado:3 de 3 puntos probados.3 puntos correctos.0 puntos incorrectos.
Evaluación general: Prueba correcta
51NH:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente
General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de
estrella del TC:A equipo protegido
Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No
Elementos - Fase:
Activo Nombre Característica de disparoI arranque Tiempo
Relación de restauración: Dirección
Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 0.30 Iref 4.00 0.95 No direccional Sí I #1 Fase 50H CEI Tiempo definido 5.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Elementos - Residuales:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.10 Iref 1.00 0.95 No direccional Sí I #1 Residual 50NH CEI Tiempo definido 2.00 Iref 0.00 s 0.95 No direccional
Módulo de pruebaNombre: OMICRON Overcurrent Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 12:51:48 Fin: 07-jul-2015 12:51:54Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.
Ajustes de la prueba:
Modelo de Falta:Referencia de tiempo: Inicio de la faltaCorriente de carga: 0.00 AÁngulo de carga: 0.00 ° Tiempo de pre-falta: 0.10 sTiempo máx. abs.: 240.00 sTiempo de post-falta: 0.50 sTiempo máx. rel.: 100.00 %Activar salida de tensión: NoTensión de falta LN (todas fases menos las bifásicas):
30.00 V
Tensión de falta LL (para faltas bifásicas): 51.96 VCC en disminución activa: NoConstante de tiempo: 0.05 sTiempo mín. car. IP: 0.05 sReposición térmica activa: NoMétodo de Habilitar reposición: ManualMensaje de reposición térmica: Reinicie la memoria térmica del dispositivo sometido a
prueba antes de continuar.
Prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. tmin tmax
L1-E I #1 Fase 50H 0.404 10.10 A n/a 0.000 s 0.000 s 146.9 ms L2-E I #1 Fase 50H 0.440 11.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 40.00 ms L3-E I #1 Fase 50H 0.480 12.00 A n/a 0.000 s 0.000 s 40.00 ms
Entradas binarias:Lógica del trigger: And
Nombre Estado del trigger
Disparo 1
Resultados de la prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. treal Sobrecarga
Resultado
L1-E I #1 Fase 50H 0.404 10.10 A n/a 0.000 s 25.30 ms No CorrectaL2-E I #1 Fase 50H 0.440 11.00 A n/a 0.000 s 26.60 ms No CorrectaL3-E I #1 Fase 50H 0.480 12.00 A n/a 0.000 s 24.50 ms No Correcta
Página 11 de 16
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-E n/a
I/A
0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L2-E n/a
I/A
0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L3-E n/a
I/A
0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0
t/s
0.010
0.100
1.000
10.000
100.000
1000.000
10000.000
Estado:3 de 3 puntos probados.3 puntos correctos.0 puntos incorrectos.
Evaluación general: Prueba correcta
Página 12 de 16
Equipo en prueba - PROTECCION POR SOBRECORRIENTE 152-L-Y
Subestación/Bahía:Subestación: S.E. 115 KV VITROMEX Dirección de subestación:Bahía: Dirección de bahía:
Dispositivo:Nombre/descripción: 152-L Fabricante: SELTipo de dispositivo: SEL 501-2 Dirección del dispositivo: CUARTO ELECTRICO S.E. 115
KVNo de serie: 97337033Info adicional 1:Info adicional 2:
Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente
General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de
estrella del TC:A equipo protegido
Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No
Elementos - Fase:
Activo Nombre Característica de disparoI arranque Tiempo
Relación de restauración: Dirección
Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 1.00 Iref 3.00 0.95 No direccional
Elementos - Residuales:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.80 Iref 3.00 0.95 No direccional
Hardware Configuration
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 EB602H
Comprobación del hardware
Realizado en Resultado Detalles
07/07/2015 01:48:34 p.m.
Correcta
51PP:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente
General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de
estrella del TC:A equipo protegido
Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No
Elementos - Fase:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 1.00 Iref 3.00 0.95 No direccional
Elementos - Residuales:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.80 Iref 3.00 0.95 No direccional
Módulo de pruebaNombre: OMICRON Overcurrent Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 13:54:41 Fin: 07-jul-2015 13:56:25Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.
Ajustes de la prueba:
Página 13 de 16
Modelo de Falta:Referencia de tiempo: Inicio de la faltaCorriente de carga: 0.00 AÁngulo de carga: 0.00 ° Tiempo de pre-falta: 0.10 sTiempo máx. abs.: 240.00 sTiempo de post-falta: 0.50 sTiempo máx. rel.: 100.00 %Activar salida de tensión: NoTensión de falta LN (todas fases menos las bifásicas):
30.00 V
Tensión de falta LL (para faltas bifásicas): 51.96 VCC en disminución activa: NoConstante de tiempo: 0.05 sTiempo mín. car. IP: 0.05 sReposición térmica activa: NoMétodo de Habilitar reposición: ManualMensaje de reposición térmica: Reinicie la memoria térmica del dispositivo sometido a
prueba antes de continuar.
Prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. tmin tmax
L1-L2 I #1 Fase 51PP 1.100 5.50 A n/a 55.72 s 33.38 s 133.1 s L2-L3 I #1 Fase 51PP 1.200 6.00 A n/a 26.74 s 19.09 s 41.10 s L3-L1 I #1 Fase 51PP 1.400 7.00 A n/a 12.41 s 9.800 s 16.20 s L1-L2-L3 I #1 Fase 51PP 2.400 12.00 A n/a 2.734 s 2.341 s 3.215 s
Entradas binarias:Lógica del trigger: And
Nombre Estado del trigger
Disparo 1
Resultados de la prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. trealSobrecarga Resultado
L1-L2 I #1 Fase 51PP 1.100 5.50 A n/a 55.72 s 55.84 s No CorrectaL2-L3 I #1 Fase 51PP 1.200 6.00 A n/a 26.74 s 26.63 s No CorrectaL3-L1 I #1 Fase 51PP 1.400 7.00 A n/a 12.41 s 12.43 s No CorrectaL1-L2-L3 I #1 Fase 51PP 2.400 12.00 A n/a 2.734 s 2.732 s No Correcta
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-L2 n/a
I/A
5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
t/s
1.0
10.0
100.0
1000.0
10000.0
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L2-L3 n/a
I/A
5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
t/s
1.0
10.0
100.0
1000.0
10000.0
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L3-L1 n/a
Página 14 de 16
I/A
5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
t/s
1.0
10.0
100.0
1000.0
10000.0
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-L2-L3 n/a
I/A
5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
t/s
1.0
10.0
100.0
1000.0
10000.0
Estado:4 de 4 puntos probados.4 puntos correctos.0 puntos incorrectos.
Evaluación general: Prueba correcta
51NP:Equipo en prueba - Parámetros de sobrecorriente
General - Valores:Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexión del TT: En equipo protegidoTo. tiem. rel.: 5.00 % Conexión del pto. de
estrella del TC:A equipo protegido
Tol. corr. abs.: 0.05 IrefTol. corr. rel.: 5.00 %Direccional: No
Elementos - Fase:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Fase 51PP SEL VI curve U3 1.00 Iref 3.00 0.95 No direccional
Elementos - Residuales:
Activo Nombre Característica de disparo I arranque
Tiempo Relación de restauración:
Dirección
Sí I #1 Residual 51NP SEL VI curve U3 0.80 Iref 3.00 0.95 No direccional
Módulo de pruebaNombre: OMICRON Overcurrent Versión: 3.00 Comienzo: 07-jul-2015 13:57:34 Fin: 07-jul-2015 13:58:10Nombre de usuario: Ing. Camilo Sánchez Becerril Director: Oscar Ortiz ParedesCompañía: TECSA S.A. DE C.V.
Ajustes de la prueba:
Modelo de Falta:Referencia de tiempo: Inicio de la faltaCorriente de carga: 0.00 AÁngulo de carga: 0.00 ° Tiempo de pre-falta: 0.10 sTiempo máx. abs.: 240.00 sTiempo de post-falta: 0.50 sTiempo máx. rel.: 100.00 %Activar salida de tensión: NoTensión de falta LN (todas fases menos las bifásicas):
30.00 V
Tensión de falta LL (para faltas bifásicas): 51.96 VCC en disminución activa: NoConstante de tiempo: 0.05 sTiempo mín. car. IP: 0.05 sReposición térmica activa: NoMétodo de Habilitar reposición: ManualMensaje de reposición térmica: Reinicie la memoria térmica del dispositivo sometido a
prueba antes de continuar.
Página 15 de 16
Prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. tmin tmax
L1-E I #1 Residual 51NP 1.250 5.00 A n/a 20.98 s 15.58 s 30.10 s L2-E I #1 Residual 51NP 1.750 7.00 A n/a 5.933 s 4.928 s 7.232 s L3-E I #1 Residual 51NP 2.500 10.00 A n/a 2.506 s 2.152 s 2.937 s
Entradas binarias:Lógica del trigger: And
Nombre Estado del trigger
Disparo 1
Resultados de la prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud Ángulo tnom. trealSobrecarga Resultado
L1-E I #1 Residual 51NP 1.250 5.00 A n/a 20.98 s 21.30 s No CorrectaL2-E I #1 Residual 51NP 1.750 7.00 A n/a 5.933 s 5.966 s No CorrectaL3-E I #1 Residual 51NP 2.500 10.00 A n/a 2.506 s 2.510 s No Correcta
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L1-E n/a
I/A
4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
t/s
1.0
10.0
100.0
1000.0
10000.0
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L2-E n/a
I/A
4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
t/s
1.0
10.0
100.0
1000.0
10000.0
Gráficos para tipos de falta:
Tipo Ángulo
L3-E n/a
I/A
4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
t/s
1.0
10.0
100.0
1000.0
10000.0
Estado:3 de 3 puntos probados.3 puntos correctos.0 puntos incorrectos.
Evaluación general: Prueba correcta
Página 16 de 16