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Propiedades de emisión láser en películas delgadas de materiales orgánicos semiconductores Eva Mª Calzado Estepa

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Propiedades de emisión láser en películas delgadas de materiales orgánicos semiconductores

Eva Mª Calzado Estepa

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PROPIEDADES DE EMISIÓN LÁSER EN

PELÍCULAS DELGADAS DE

MATERIALES ORGÁNICOS

SEMICONDUCTORES

MEMORIA

Presentada por

Eva Mª Calzado Estepa

para optar al grado de

Doctor

Alicante, Julio de 2008

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A mis padres y a Santi

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Agradecimientos____________________

Estas primeras palabras están dedicadas a todas aquellas personas e instituciones que han

hecho posible este trabajo. A todos ellos quiero expresarles mi más sincero agradecimiento.

En primer lugar quiero agradecer a la directora de este trabajo, Mª Ángeles Díaz García, la

confianza que depositó en mí desde el primer momento, así como su continuo apoyo en todos

los ámbitos, desde el profesional al personal. Gracias María por todo lo que me has enseñado,

sin ti todo esto no hubiera sido posible.

También quiero agradecer a mis compañeros José Antonio, Moisés y Pedro todo lo que me

han ayudado y enseñado durante estos últimos años. Ellos también han sido una pieza

fundamental para la realización de esta tesis. Gracias por vuestro confianza y apoyo.

Este trabajo se ha desarrollado en el departamento de Física Aplicada, dentro del programa de

doctorado en Ciencia de Materiales del Instituto de Materiales de la Universidad de Alicante.

Agradezco tanto al director del departamento como al del Instituto como representantes de

todos los que los componen, la posibilidad de trabajar en ellos y poner a mi disposición todos

los medios necesarios para ello. Desde un punto de vista económico, agradezco la concesión

de una beca de técnico de apoyo a la investigación de la Generalitat Valenciana, así como los

diversos proyectos de investigación y ayudas de infraestructura concedidos a mi grupo que

me han permitido desarrollar este trabajo.

También quiero agradecer a Igor por sus útiles colaboraciones así como a Vicente por su

soporte técnico en el laboratorio.

Por último quiero agradecer a mis padres todo cariño, apoyo que me han dado desde el primer

momento y a Santi, mi marido, por aguantarme pacientemente en los momentos finales y por

su ayuda en la presentación de este trabajo.

A todos, muchas gracias.

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Índice

Parte I Fundamentos teóricos.

Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser. 1.1 Introducción........................................................................................................................ 5

1.2 Procesos elementales debidos a la interacción radiación-materia................................. 6

1.3 Las relaciones de Einstein ................................................................................................. 7

1.4 Medio Activo. Absorción y amplificación de la radiación.............................................. 9

1.5 Bombeo del medio activo ................................................................................................. 11

1.6 La cavidad resonante ....................................................................................................... 14

1.6.1 Umbral de oscilación láser ............................................................................. 14

1.6.2 Modos en la cavidad resonante...................................................................... 16

1.6.3 Efecto de la cavidad sobre las propiedades de la emisión láser .................. 19

1.6.4 Tipos de cavidades: láseres con realimentación distribuida (DFB) .......... 19

1.7 Modos de operación de un láser...................................................................................... 23

1.8 Emisión amplificada sin cavidad resonante: emisión espontánea amplificada

(ASE) ................................................................................................................................ 24

Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas. 2.1 Introducción……………………………………………………………………………..29

2.2 Modelo de rayos para una guía de ondas planar……………………………….……..29

2.3 Modos guiados…………………………………………………………………………...32

2.4 El desplazamiento de Goos-Hänchen…………………………………………………..35

Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos.

3.1 Introducción...................................................................................................................... 39

3.2 Clasificación de materiales y antecedentes .................................................................... 39

3.2.1 Colorantes tradicionales: moléculas orgánicas no conductoras ......................... 39

3.2.2 Materiales orgánicos semiconductores..................................................................40

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3.3 Comparación de las propiedades láser de materiales orgánicos láser estudiados en la literatura .................................................................................................................. 42

3.4 Motivación y justificación del trabajo de esta memoria............................................... 43

Parte II Técnicas experimentales.

Capítulo 4.- Técnicas experimentales. 4.1 Preparación de películas delgadas: spin coating ........................................................... 51 4.2 Medidas de absorción y fotoluminiscencia..................................................................... 53 4.3 Medida de eficiencias fotoluminiscentes ........................................................................ 54 4.4 Medida de espesores......................................................................................................... 57 4.5 Caracterización de guías de ondas:

técnica de los modos oscuros (“m-line” technique) ....................................................... 57 4.5.1 Sistema experimental .............................................................................................. 60 4.5.2 Observación de modos y toma de medidas ........................................................... 61 4.5.3 Caracterización ....................................................................................................... 62

4.6 Sistema experimental para determinar la presencia de emisión estimulada mediante la observación de ASE..................................................................................... 64

4.7 Medidas de fotoestabilidad.............................................................................................. 67 4.8 Proceso de fabricación de láseres DFB........................................................................... 67

4.8.1 Grabado de la red por litografía holográfica y transferencia al substrato mediante “ataque iónico reactivo” ....................................................................... 67

4.8.2 Depósito de la película sobre la red ....................................................................... 70 4.9 Sistema experimental para determinar la presencia de emisión láser en

láseres DFB ....................................................................................................................... 71 4.10 Cálculo de la intensidad umbral: influencia de factores geométricos

y métodos para la determinación del umbral.............................................................. 72 4.10.1 Métodos para el cálculo de umbrales .................................................................. 72 4.10.2 Influencia en los umbrales del sistema experimental utilizado

para la caracterización de la emisión estimulada............................................... 75

4.10.2.1 Sistema experimental para la caracterización de la ASE......................... 75

4.10.2.2 Sistema experimental para la caracterización de DFBs de 2º orden....... 76

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Parte III Resultados

Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del N,N´-bis(3-

metilfenil)-N,N´difenilbenzidina (TPD).

5.1 Introducción...................................................................................................................... 85

5.2 Preparación de muestras ................................................................................................. 87

5.3 Estudio de la presencia de emisión estimulada y determinación del mecanismo responsable ....................................................................................................................... 88

5.4 Dependencia de la ASE con el espesor de la película.................................................... 91

5.4.1 Longitud de onda, ancho de banda y umbral de la ASE: dependencia con el espesor ............................................................................91

5.4.2 Caracterización y modelización de las guías de ondas ................................ 93

5.4.3 Discusión de los resultados............................................................................. 96

5.5 Dependencia de la ASE con la concentración de TPD.................................................. 98

5.5.1 Espectros de absorción y fotoluminiscencia ................................................. 98

5.5.2 Longitud de onda, ancho de banda y umbral de la ASE........................... 102

5.5.3 Caracterización y modelización de las guías de ondas .............................. 104

5.5.4 Fotodegradación............................................................................................ 108

5.6 Estudio de la emisión láser en un DFB basado en TPD.............................................. 109

5.7 Comparación de las propiedades láser de películas basadas en TPD con las de otros materiales ............................................................................................ 117

Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del

oligo-p-fenilenovinileno (OPVs).

6.1 Introducción.................................................................................................................... 121

6.2 Preparación de muestras ............................................................................................... 122

6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas................................................. 123

6.4 Estudio del estrechamiento espectral en términos de ancho de banda, la intensidad umbral y el confinamiento del modo............................................................................. 123

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6.5 Determinación del mecanismo responsable del estrechamiento espectral y obtención de coeficientes de ganancia........................................................................ 128

6.6 Fotoestabilidad ............................................................................................................... 131

6.7 Comparación de las propiedades láser de películas basadas en 3-OPV y 5-OPV con las de otros materiales ............................................................................................. 131

Capítulo 7.- Estudio de las propiedades láser de tres derivados de

perilenodiimida (PDIs). 7.1 Introducción.................................................................................................................... 135

7.2 Preparación de muestras ............................................................................................... 138

7.3 Medidas de absorción, fotoluminiscencia y emisión estimulada................................ 138

7.3.1 Espectros de absorción y fotoluminiscencia en disolución........................ 140

7.3.2 Espectros de absorción y fotoluminiscencia en película............................ 143

7.3.3 Emisión estimulada en películas y estudio de la fotoestabilidad .............. 148

7.4 Estudio detallado de las propiedades láser de PDI-1.................................................. 152

7.4.1 Identificación del mecanismo responsable de los estrechamientos espectrales...................................................................................................... 152

7.4.2 Dependencia de la ASE con la concentración de PDI-1............................ 154

7.5 Comparación de las propiedades láser en películas de PDI-1 con las de otros materiales ............................................................................................ 159

Capítulo 8.- Conclusiones ................................................................163

Bibliografía ........................................................................................169

Apéndice ............................................................................................175

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Introducción_______________________

Durante la última década los materiales orgánicos tanto moleculares como poliméricos han

alcanzado un gran interés por su utilización en distintas aplicaciones optoelectrónicas y

fotónicas.1 Hoy en día, muchos de los dispositivos que tradicionalmente estaban basados en

materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos emisores de luz (LEDs), células

solares, transistores de efecto campo (FETs), así como circuitos básicos que integran las

anteriores aplicaciones (circuitos FET-LED), se han conseguido fabricar utilizando materiales

orgánicos. Respecto al láser, unos de los dispositivos más importantes en la tecnología

moderna, de momento, se ha conseguido observar emisión láser en materiales orgánicos

excitados mediante bombeo óptico.2,3,4,5 Sin embargo, la obtención de emisión láser mediante

bombeo eléctrico (el diodo láser) continúa siendo un reto.

Una propiedad única e importante de los materiales orgánicos es que debido a que poseen un

espectro de fotoluminiscencia ancho, la longitud de onda láser se puede sintonizar en un

amplio rango de longitudes de onda.6 Por otro lado, aquellos materiales que tienen una buena

solubilidad, presentan la ventaja de poder ser procesados de forma sencilla, utilizando

técnicas simples y relativamente baratas, tales como la deposición por platina giratoria ("spin

coating"), la fotolitografía,7 la impresión por chorro de tinta,8 la impresión por pantalla

("screen printing")9 y el micromoldeo ("micromolding")10 sobre casi cualquier tipo de

substrato, incluyendo los flexibles. Esto constituye una auténtica ventaja, comparada con la

sofisticada tecnología requerida para el procesado de materiales inorgánicos usada en la

tradicional industria de semiconductores. Además, la versatilidad de la química orgánica

ofrece la oportunidad de obtener materiales en los que se pueden controlar sus propiedades

láser mediante modificaciones estructurales. En la actualidad, la industria de los láseres

mueve en torno a 500 millones de euros anuales por su utilización en diversas aplicaciones

tales como el procesado de materiales, las telecomunicaciones, la metrología, la holografía y

la medicina. Ello pone de manifiesto el enorme interés que despierta el desarrollo de nuevos

materiales encaminado a la fabricación de este tipo de dispositivos.

Los requisitos esenciales para obtener un láser son: (1) un material que amplifique la luz -

medio activo; (2) un mecanismo de realimentación o resonador y (3) un sistema que

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suministre energía al láser (bombeo o excitación). La elección del medio amplificador permite

controlar el rango de posibles longitudes de onda de emisión además de influir notablemente

en las intensidades umbrales y eficiencias. Por otro lado, la elección de la cavidad resonante

influye en la intensidad umbral de oscilación, en la elección de la longitud de onda de emisión

láser, así como en el patrón de emisión.

El conocimiento y control de todas estas características es de suma importancia de cara al

desarrollo y aplicación de este tipo de láseres.

El OBJETIVO fundamental de este trabajo es la investigación experimental de las propiedades

láser, mediante bombeo óptico, que presentan diversos tipos de materiales orgánicos en forma

de película delgada, con la finalidad de ser utilizados como medio activo láser. En particular,

se han estudiado tres tipo de materiales: (1) la molécula orgánica comercial N,N´- bis(3-

metilfenil)-N,N’- difenilbencidina (TPD); (2) dos derivados del oligo-(p-fenilenovinileno)

(OPVs) con tres (3-OPV) y cinco (5-OPV) unidades monoméricas y (3) tres derivados de

perilenodiimida (PDIs). Tanto los OPVs como los PDIs han sido sintetizados por el grupo del

profesor José Luís Segura del Dpto. de Química Orgánica de la Universidad Complutense de

Madrid. Para finalizar, se ha fabricado y caracterizado un láser con realimentación distribuida

(DFB) de segundo orden basado en la molécula orgánica TPD como material activo. La

cavidad resonante ha sido fabricada por litografía holográfica.

La memoria consta de 3 partes fundamentales:

Una primera parte que describe brevemente los fundamentos teóricos necesarios para la

comprensión de este trabajo (capítulos 1 y 2). En particular, los fundamentos del

funcionamiento de un láser y la teoría de guías de ondas, puesto que muchas de las estructuras

estudiadas constituyen guías de ondas. Esta parte incluye asimismo una revisión bibliográfica

bastante completa de los distintos tipos de materiales estudiados en la literatura (capítulo 3),

que permitirá valorar las prestaciones de los materiales estudiados en este trabajo.

Un segundo bloque dedicado a las técnicas experimentales (capítulo 4) en el que se describen

las técnicas experimentales utilizadas a lo largo de este trabajo de investigación, tales como el

“spin-coating” para la preparación de películas delgadas orgánicas, la técnica de los modos

oscuros para la caracterización de guías de ondas y el sistema experimental para la

determinación de la presencia de emisión estimulada y emisión láser.

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En la tercera parte se exponen los resultados obtenidos con los distintos materiales estudiados

en configuración de guías de ondas (capítulos 5,6,7), así como la fabricación y posterior

estudio de la emisión láser en un DFB de segundo orden basado en la molécula orgánica TPD

(última parte del capítulo 5).

Por último, en el capítulo 8 se resumen las conclusiones a las que se han llegado tras la

realización de todo el trabajo expuesto.

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________________Parte I___________________

FUNDAMENTOS

TEÓRICOS

_________________________________________

Capítulo 1.-Fundamentos del funcionamiento de un láser.

Capítulo 2.-Teoría de guías de ondas.

Capítulo 3.-Antecedentes en el estudio de las propiedades láser

en materiales orgánicos.

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3

Capítulo 1________________________________

Fundamentos del funcionamiento

de un láser.

1.1 Introducción.

1.2 Procesos elementales debidos a la interacción radiación-materia.

1.3 Las relaciones de Einstein.

1.4 Medio Activo. Absorción y amplificación de la radiación.

1.5 Bombeo del medio activo.

1.6 La cavidad resonante.

1.6.1 Umbral de oscilación láser.

1.6.2 Modos en la cavidad resonante.

1.6.3 Efecto de la cavidad sobre las propiedades de la emisión láser.

1.6.4 Tipos de cavidades: láseres con realimentación distribuida (DFB).

1.7 Modos de operación de un láser.

1.8 Emisión amplificada sin cavidad resonante: emisión espontánea amplificada (ASE).

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4

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

5

1.1 Introducción.11

La palabra Láser es el acrónimo de “Light Amplification by Stimulated Emission of

Radiation” (Amplificación de luz mediante Emisión Estimulada). Se trata de dispositivos

capaces de amplificar la luz desde longitudes de onda que van del infrarrojo hasta el

ultravioleta. La emisión láser, además de caracterizarse por la existencia de ganancia, presenta

una serie de propiedades que la diferencian de la luz normal: (1) monocromaticidad (el

espectro de frecuencias es muy estrecho); (2) coherencia (todos los fotones están en fase) y

(3) direccionalidad (sólo las ondas que viajen a lo largo del eje de la cavidad o en una

dirección muy próxima a la misma son amplificadas por el medio activo y contribuyen al haz

láser de salida). Los requisitos necesarios para construir un láser son (ver figura 1.1): en

primer lugar, disponer de un medio material que sea capaz de producir amplificación, para lo

cual es necesario que presente lo que se denomina “emisión estimulada”; en segundo lugar,

un mecanismo de bombeo o excitación, y por último, que ese medio esté dispuesto en el

interior de una estructura resonante o cavidad. La cavidad más sencilla consistiría en un par

de espejos, de tal modo que el haz de luz pase repetidas veces a través del medio activo,

amplificándose a cada paso y consiguiendo que la distancia total recorrida sea suficiente como

para que la ganancia exceda las pérdidas.

Figura 1.1.- Elementos básicos para construir un láser.

Este factor de amplificación de la luz se denomina “Ganancia” y no es constante para un tipo

particular de medio, sino que depende de diversos factores tales como la longitud de onda de

la luz o el tamaño del medio activo. El material utilizado como medio activo puede ser de

diversos tipos: un sólido, tal como el Nd:YAG, consistente en una matriz amorfa de granate

de Ytrio y Aluminio, dopada con iones Nd3+; una disolución de una molécula orgánica

Excitación (bombeo)

Medio activo

Espejo Espejo

Excitación (bombeo)

Espejo Espejo

Excitación (bombeo)

Medio activo

Espejo Espejo

Excitación (bombeo)

Espejo Espejo

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

6

colorante en un disolvente adecuado (por ejemplo, Rhodamina 6G en metanol); un gas o una

mezcla de gases (por ejemplo, He-Ne) o un material semiconductor (láser de diodo). El tipo

de medio activo de interés en este trabajo es un material orgánico semiconductor disperso en

una película polimérica (típicamente poliestireno, PS) depositada sobre un substrato

transparente (típicamente vidrio).

1.2 Procesos elementales debidos a la interacción radiación-materia.12,13

Cuando un haz de luz interacciona con un medio, son posibles tres tipos de procesos:

absorción, emisión espontánea y emisión estimulada (ver figura 1.2). Cada uno de estos

procesos se define del siguiente modo:

Figura 1.2.- Procesos de absorción, emisión espontánea y emisión estimulada.

Absorción estimulada: proceso que tiene lugar cuando un átomo inicialmente en estado de

baja energía pasa a un estado de mayor energía por efecto de la absorción de un fotón de

energía radiante igual 1212 νhEE =− .

Emisión espontánea: proceso por el cual el átomo inicialmente en un estado excitado

experimenta una transición electrónica a un estado de menor energía emitiendo un fotón de

energía 1212 νhEE =− .

Emisión estimulada: proceso por el cual el átomo, inicialmente en el estado excitado, es

forzado a realizar la transición electrónica a un nivel de menor energía por efecto de un fotón

(a)

(c)

Emisión espontánea

(b)

Absorción

Estado inicial Estado Final

Emisión estimulada

(a)

(c)

Emisión espontánea

(b)

Absorción

Estado inicial Estado Final

Emisión estimulada

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

7

incidente de energía 1212 νhEE =− , emitiendo un segundo fotón idéntico en fase, dirección y

estado de polarización al primero. El resultado son dos fotones de la misma energía viajando

en la misma dirección y que superponen sus efectos.

La diferencia entre emisión espontánea y estimulada es que en la primera los átomos desde

niveles excitados emiten fotones que se superponen de manera incoherente, mientras que en la

emisión estimulada los átomos emiten fotones que se suman coherentemente. Además la

emisión estimulada necesita una radiación incidente para que se produzca la transición, siendo

proporcional a la intensidad del campo incidente, mientras que la emisión espontánea es

independiente del campo incidente. La absorción se dice que es un proceso resonante, puesto

que la energía del fotón absorbido debe ser igual a la diferencia de energía entre los dos

niveles. La longitud de onda de máxima absorción será aquella que cumpla la ley de Plank.

De igual modo, el fotón emitido (emisión espontánea) tendrá una energía igual a la diferencia

de los dos niveles. Estos dos procesos no pueden dar lugar a amplificación de luz. Por otra

parte, la emisión estimulada constituye la esencia de la emisión láser y para que se produzca

es necesario tener al electrón en un estado excitado, de modo que un fotón interaccione con el

átomo provocando la desexcitación mediante la emisión de un segundo fotón, que estará en

fase con el primero. No obstante, para que el proceso de emisión estimulada domine sobre la

absorción es necesario que la población del nivel excitado sea mayor que la del nivel

fundamental, es decir, se precisa tener lo que se denomina como “inversión de población”.

1.3 Las relaciones de Einstein.13

Se trata de relaciones entre los parámetros que describen los tres procesos elementales

anteriormente citados que se obtienen suponiendo válido un modelo sencillo consistente en un

sistema con dos niveles de energía E1 y E2 (en equilibrio termodinámico) y con número de

átomos o densidad de población N1 y N2 respectivamente con N1+ N2 = cte.

Como los átomos se encuentran en equilibrio termodinámico, la densidad de energía de la

radiación emitida (ρ) puede ser descrita mediante la radiación del cuerpo negro dada por la

ley de Planck:

( )1

183

33

=Tk

h

Bec

hnν

νπνρ (1.1)

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

8

donde ρ(ν) es la densidad espectral de radiación,ν la frecuencia de la radiación, kB la

constante de Boltzmann, h la constante Planck y c la velocidad de la luz.

El equilibrio termodinámico exige que el número de transiciones E1⇒ E2 sea igual al número

de transiciones E2⇒ E1. Además, se cumple la relación de Boltzman que nos da el cociente de

las densidades de población de los dos niveles.

( )( )

kT

EE

eN

N 12

1

2−−

= (1.2)

Se pueden escribir las ecuaciones que describen la variación temporal de la densidad de

población de estos niveles, debido a cada uno de los procesos antes descritos de la siguiente

forma:

• Transiciones E1⇒ E2 .

Absorción. La disminución de la densidad de población N1 por unidad de tiempo viene dada

por la siguiente ecuación:

( ) 112121 NB

dt

dN νρ−= (1.3)

donde B12 es una constante de proporcionalidad, N1 es el número de átomos por unidad de

volumen en el estado de baja energía E1 y ν12 es la frecuencia de la transición.

• Transiciones E2⇒ E1

Emisión espontánea. La disminución de la población del nivel de energía superior por efecto

de la emisión espontánea es proporcional a la propia densidad de población del nivel 2 (N2):

2212 NA

dt

dN−= (1.4)

donde A21 es una constante de proporcionalidad relacionada con el tiempo de vida del estado

excitado (τ21) según:

2121

1 τ=A

(1.5)

Emisión estimulada. Debido a este fenómeno se produce una disminución de población del

nivel superior por unidad de tiempo según la expresión:

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

9

( ) 212212 NB

dt

dN νρ−= (1.6)

donde B21 es la constante de proporcionalidad, N2 es el número de átomos por unidad de

volumen en el estado excitado de energía E2 y ν12 es la frecuencia de la transición.

En el equilibrio térmico, el número de transiciones E2⇒ E1 será igual al número de

transiciones E1⇒ E2 con lo que podrá escribirse:

( ) ( ) 1212121122212 BNBNAN νρνρ =+ (1.7)

Introduciendo la ecuación de Planck (Ec. 1.1) y la relación de Boltzman (Ec. 1.2) se obtiene:

3

312

21

21

2112

8

cB

A

BB

πν=

= (1.8)

Estas relaciones se conocen con el nombre de relaciones de Einstein e indican que para el

caso de un sistema de dos niveles, al ser B12 = B21, tanto las emisiones estimuladas como las

absorciones son igual de probables. Además, en condiciones de equilibrio termodinámico, el

número de emisiones espontáneas es mucho mayor que el de emisiones estimuladas, pues

estadísticamente no se puede tener más población en el nivel energético superior que en el

inferior, por lo que serán necesarios sistemas de tres o cuatro niveles (ver apartado 1.5).

1.4 Medio Activo. Absorción y amplificación de la radiación.11,13

En este apartado se describe el comportamiento de una onda electromagnética que atraviesa

un medio material y cómo y en qué casos ese medio material es capaz de producir

amplificación de la onda incidente.

Cuando una onda electromagnética atraviesa un medio material, su intensidad varía de forma

proporcional a la intensidad incidente y al camino recorrido por la onda dentro del medio

material (Ec. 1.9)

( ) ( ) ( ) xIIxII ∆∝−=∆ 00 (1.9)

donde I(0) es la intensidad de la onda a la entrada del medio e I(x) la intensidad después de

recorrer una distancia x en el medio material. Por simplificar los cálculos se supone que el

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

10

medio material es homogéneo en equilibrio termodinámico y está compuesto por un conjunto

de átomos con dos estados de energía E2 > E1 (ver figura 1.3).

Figura 1.3.- Sistema con 2 niveles energéticos.

La intensidad del haz luminoso que cruza una sección transversal de un medio material se

puede definir como:

n

cI νρ= (1.10)

donde n es el índice de refracción del medio, c es la velocidad de la luz en el vacío, ρν es la

densidad de energía a la frecuencia asociada a los fotones de la onda incidente y c/n es la

velocidad de la onda incidente en el medio material. Respecto a la variación de la densidad de

energía al atravesar el medio material, considerando la degeneración de los niveles la unidad,

vendrá dada por:

( ) [ ] 21212 ANNNBc

nh

dt

d

c

n

dx

d+−Ω== ν

νν ρννρρ (1.11)

donde Ω(ν) es el perfil espectral de la transición, N1 y N2 son el número de átomos por unidad

de volumen en los estados de energía E1 y E2 respectivamente, el término proporcional a B12

está relacionado con la emisión estimulada y la absorción y el término proporcional a A con la

emisión espontánea según las relaciones de Einstein. Los efectos de la emisión espontánea se

pueden despreciar dado que no contribuyen a reforzar la onda que viaja en el medio material,

ya que la emisión se produce aleatoriamente en todas direcciones. Así, la Ec. 1.11 se puede

simplificar eliminando este término. Teniendo en cuenta estas consideraciones la ecuación

anterior se puede expresar como:

( ) ( )νν

ν αρρννρ−=Ω−−=

c

NNBnh

dx

d 2112 (1.12)

1

2

E1

E2

1

2

E1

E2

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

11

siendo N1-N2 la diferencia entre el número de átomos por unidad de volumen entre los

estados energéticos 1 y 2 y α el coeficiente de absorción del medio material. Integrando le

ecuación anterior se obtiene:

( ) ( ) )exp(0 xIxI α−= (1.13)

conocida como la ley de Beer.

Según la Ec. 1.12 el coeficiente de absorción es proporcional a la diferencia de poblaciones

entre el nivel energético 1 y 2 del sistema (N1-N2). Al tratarse de un sistema en equilibrio

termodinámico (E2 > E1) y según la relación de Boltzmann (Ec. 1.2) se cumple que N1 > N2,

por lo que α es un número positivo. Por el contrario, si se fuerza al sistema a cumplir la

condición N2 > N1, el coeficiente de absorción será negativo y según la Ec. 1.13 la intensidad

se amplificará a medida que avance a través del medio material (ver figura 1.4). Bajo estas

condiciones el medio material se comporta como un medio amplificador óptico, definiéndose

g = -α como el coeficiente de ganancia.

Figura 1.4.- Efecto del coeficiente de absorción en la atenuación y amplificación de una onda

electromagnética.

1.5 Bombeo del medio activo.13

Una de las condiciones básicas para que un medio activo sea capaz de amplificar es que

presente inversión de población, tal y como se ha explicado en el apartado 1.4. Para conseguir

que se cumpla esta condición se ha de suministrar una energía adicional al medio, excitando

los átomos para que ocupen los niveles de energía superior. Este proceso de excitación es el

denominado bombeo del medio activo y lo que hace es romper el equilibrio termodinámico

produciendo inversión de población y haciendo que el medio material se convierta en un

amplificador óptico.

αααα < 0 Amplificación

αααα > 0 Absorciónαααα > 0

αααα < 0 αααα < 0 Amplificación

αααα > 0 Absorciónαααα > 0

αααα < 0 αααα < 0 Amplificación

αααα > 0 Absorciónαααα > 0 Absorciónαααα > 0

αααα < 0

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

12

Como ya se señaló en el apartado 1.3, en un sistema con 2 niveles no se puede tener inversión

de población, por lo que es necesario tener sistemas con 3 ó 4 niveles (ver figura 1.5)

Figura 1.5.- Esquema de un sistema de tres y cuatro niveles energéticos.

Para el caso de un sistema de tres niveles, la situación inicial de la distribución de población

de los estados atómicos es la que se muestra en la figura 1.6. Al excitar el medio, pueden

tener lugar un gran número de transiciones al estado de energía superior E2. De ahí decaen a

un nivel metaestable E1 que se caracteriza por tener baja probabilidad de transición a estados

de menor energía. Con un bombeo suficientemente intenso, un número de átomos en el estado

fundamental E0 pueden ser bombeados al nivel E2. Para conseguir la inversión fácilmente es

necesario que la transición de E2 a E1 sea rápida (tiempo de vida corto) y que el estado de

energía E1 sea metaestable (tiempo de vida de la transición 1⇒0 largo). Si se cumplen estas

dos condiciones, los átomos en el estado fundamental se bombean rápidamente al estado E1

donde tienden a acumularse. Los esquemas de tres niveles necesitan de potencias de bombeo

altas, porque el estado final de la transición láser es el estado fundamental, debiendo

bombearse más de la mitad de los átomos al nivel superior para conseguir la inversión de

población.

El esquema de bombeo de cuatro niveles se caracteriza porque se reducen las necesidades de

Estados Excitados

Transici ónNo-radiativaRápida (TNR)

Transici ónLáser (TL)

TNR

TNR

TL

Bombeo

Estado Fundamental

(a) 3 NIVELES (b) 4 NIVELES

Estados Excitados

Transiciónno-radiativarápida (TNR)

Transiciónláser (TL)

TNR

TNR

TL

Bombeo

Estado fundamental

(a) 3 NIVELES (b) 4 NIVELES

Estados Excitados

Transici ónNo-radiativaRápida (TNR)

Transici ónLáser (TL)

TNR

TNR

TL

Bombeo

Estado Fundamental

(a) 3 NIVELES (b) 4 NIVELES

Estados Excitados

Transiciónno-radiativarápida (TNR)

Transiciónláser (TL)

TNR

TNR

TL

Bombeo

Estado fundamental

(a) 3 NIVELES (b) 4 NIVELES

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

13

Figura 1.6.- Distribución de población en un sistema de tres niveles.

bombeo. Tal como muestra la figura 1.7, el bombeo lleva los átomos del nivel fundamental

hasta el más alto de los cuatro niveles implicados en el proceso. Desde este nivel, los átomos

excitados realizan la transición a un estado metaestable E2 y la población del mismo crece

rápidamente.

Figura 1.7.- Distribución de población en un sistema de 4 niveles.

Si los tiempos de vida de las transiciones 3⇒2 (τ32) y 1⇒0 (τ10) son cortos y el de la 2⇒1

(τ21) es largo, puede conseguirse y mantenerse una inversión de población con un bombeo

inferior al necesario para el caso de un sistema de tres niveles. Las poblaciones de los niveles

E3 y E1 permanecen prácticamente inalteradas por efecto del bombeo. La condición esencial

para que en este tipo de sistemas exista inversión de población es que el tiempo de vida de la

transición 2⇒1 (τ21) sea largo comparado con los de la transición 3⇒2 (τ32) y 1⇒0 (τ10), es

decir se debe cumplir:τ21 > τ32, τ21 > τ10.

E

N

E2

E1

E0

E

N

E2

E1

E0

E

N

E2

E1

E0

Transición rápida

Bombeo

E

N

E2

E1

E0

Transición láser

E

N

E2

E1

E0

E

N

E2

E1

E0

E

N

E2

E1

E0

Transición rápida

Bombeo

E

N

E2

E1

E0

Transición láser

E

N

E2

E1

E0

Transición rápida

Bombeo

E

N

E2

E1

E0

Transición láser

EE

E3

E2

E1

E0

E3

E2

E0

E1

NN

Transición rápida

Transición láser

Bombeo

EE

E3

E2

E1

E0

E3

E2

E0

E1

NN

Transición rápida

Transición láser

Bombeo

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

14

El bombeo del medio activo se puede llevar a cabo de formas diversas, siendo las más

habituales las conocidas como “bombeo óptico” y “bombeo eléctrico”. El primero se utiliza

típicamente en láseres de estado sólido y en láseres de colorante y consiste en irradiar el

medio activo con un haz de luz intenso o con otro láser, de tal forma que la luz de excitación

es absorbida en gran parte por el medio activo, proporcionando el llenado de los niveles

energéticos superiores. Por otra parte, el bombeo eléctrico es típico en láseres de gas y en

diodos láser de semiconductor. En los primeros el medio activo se excita haciendo pasar a su

través una descarga o una corriente eléctrica. También se puede hablar de bombeo eléctrico en

el caso de diodos láser polarizados en directa ya que en ellos la corriente eléctrica genera una

inversión de población en torno a la zona de la unión P-N. Además, existen otros métodos de

bombeo tales como el bombeo mediante una reacción química apropiada (bombeo químico) o

por medio de la expansión de un gas supersónico (bombeo por gas dinámico).

1.6 La cavidad resonante.5,13

Otro elemento esencial para tener un láser es la cavidad resonante. Gracias a ella se consigue

que la luz viaje sucesivas veces por el medio activo amplificándose en cada paso debido a la

emisión estimulada. La necesidad de la cavidad resonante se basa en el hecho de que, para la

mayor parte de los medios activos, los niveles de amplificación óptica por paso son muy

bajos, siendo necesario que la radiación atraviese un medio activo de longitud muy larga para

conseguir niveles de potencia apreciables. Para conseguir este objetivo se plantean dos

soluciones: en primer lugar, utilizar medios activos de gran longitud L, lo cual no sería una

buena solución desde un punto de vista práctico. La otra posibilidad consiste en obtener

realimentación óptica mediante un resonador óptico en el cual se coloca el medio activo. Esta

es la solución por la que se opta. Como veremos en detalle en las secciones 1.6.3 y 1.6.4, la

cavidad da lugar, asimismo, a la presencia de modos y afecta a las propiedades del haz.

1.6.1 Umbral de oscilación láser.

El resonador más común y sencillo consiste en colocar un par de espejos en los extremos del

medio activo (figura 1.1). Normalmente, uno de los espejos de la cavidad tiene una

reflectancia del 100 %, mientras que el otro la tiene de menor valor, por lo que transmite

parcialmente la luz. Este es precisamente el mecanismo de extracción de la energía láser. La

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

15

situación estacionaria se alcanza cuando la amplificación iguala a las pérdidas en un recorrido

de ida y vuelta entre los espejos.

Como ya se ha visto en el apartado 1.4.3, una condición necesaria para que se produzca

emisión láser es la existencia de inversión de población en el medio activo. Sin embargo, esta

condición no es suficiente, pues la amplificación óptica producida por el medio activo debe,

además, compensar las pérdidas que se produzcan durante el proceso y mantener un nivel de

salida de potencia láser. Por ello, es necesario un nivel umbral de ganancia. La transmisión,

absorción, y dispersión de los espejos, la absorción del medio activo, la dispersión por

inhomogeneidades del medio activo y las pérdidas por difracción en los espejos, son

mecanismos que contribuyen a producir pérdidas en la intensidad de la onda que viaja a través

del medio activo. El efecto de todos estos mecanismos en las pérdidas del sistema, se puede

englobar en un coeficiente γ que reduce el coeficiente de ganancia del medio activo al valor

(g-γ). Para calcular el coeficiente de ganancia umbral se considera un medio activo de

longitud L que llena completamente el espacio determinado por la cavidad. El cambio en la

intensidad Io de una onda al realizar un camino completo de ida y vuelta a través del medio

activo es:

( )[ ]LgRRII of γ−= 2exp21 (1.14)

donde If, e I0 son las intensidades del haz láser al final y principio del recorrido completo

dentro de la cavidad respectivamente, R1 y R2 son las reflectancias de los espejos de la

cavidad, g es el coeficiente de ganancia, γ es el coeficiente de pérdidas del medio activo y L

la longitud del medio activo. En cuanto a la ganancia en la intensidad del haz en un recorrido

completo de ida y vuelta vendrá dada por:

( )[ ]LgRRI

IG f γ−== 2exp21

0

(1.15)

La condición de umbral de oscilación se produce cuando G = 1, es decir, cuando las pérdidas

igualan a la amplificación, produciéndose una situación estacionaria. Para valores de G > 1 se

obtiene amplificación de la intensidad del haz incidente. Así, igualando la Ec. 1.15 a la unidad

y despejando el coeficiente de ganancia umbral se obtiene:

+=

21umbral

1ln

2

1

RRLg γ (1.16)

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

16

Hay que señalar que el hecho de que un dispositivo láser presente un elevado coeficiente de

ganancia no tiene porque ir acompañado de una elevada eficiencia. La eficiencia de

conversión en un sistema láser se puede definir como el cociente entre la potencia láser de

salida y la potencia total suministrada. Determinados láseres, como el de CO2, se caracterizan

por tener elevada ganancia y eficiencia, mientras que otros láseres, como el Árgon, poseen

elevados coeficientes de ganancia, pero baja eficiencia.

Figura 1.8.- Eficiencia de conversión de un sistema láser. Determinación del nivel umbral para la emisión láser

(Pumbral).

1.6.2 Modos en la cavidad resonante.

Dependiendo de la aplicación láser que se desee obtener es muy importante una buena

elección de la cavidad resonante puesto que ésta determina las frecuencias resonantes del

dispositivo, así como las características espaciales del haz láser a la salida de la cavidad. La

resolución de las ecuaciones de Maxwell, junto con las condiciones de contorno en la cavidad,

dan soluciones de ondas estacionarias con un número discreto de frecuencias de oscilación

(modos). Cuando la onda que viaja en el interior de la cavidad resonante alcanza una

configuración de onda estacionaria determinada por la separación de los espejos (L), la

cavidad resuena. Esto implica que existen ondas estacionarias en el interior de la cavidad

cuando hay un número entero (q) de semilongitudes de onda en toda la región que existe entre

los espejos que forman la cavidad, esto es:

Pot

enci

a d

e sa

lida

Pumbral

Emisiónestimulada

Emisiónespontánea

Pot

enci

a d

e sa

lida

Pumbral

Emisiónestimulada

Emisiónespontánea

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

17

(1.18) 2

(1.17)

2

L

qc

Lq

m =

=

ν

λ

Cada uno de los modos oscila con una frecuencia particular νm, estando separados entre ellos

por una diferencia constante:

L

cmm 21 =∆=−+ ννν (1.19)

A este tipo de solución de las ecuaciones de Maxwell se les denominan modos longitudinales

de la cavidad y corresponden a ondas estacionarias formadas a lo largo de eje de la cavidad.

El número entero ‘q’ se conoce como el índice del modo longitudinal.

Además, la distribución del campo en una sección transversal de la cavidad debe reproducirse

después de que la onda realice un camino completo de ida y vuelta en la cavidad. Cada una de

estas distribuciones transversales de campo constituye un modo transversal. Este tipo de

modos viene representado por dos índices enteros ‘m’ y ‘ n’ que indican el número de nodos

en dos direcciones ortogonales contenidas en una sección transversal. En particular ‘m’ indica

el número de nodos en la dirección horizontal y ‘n’ en la dirección vertical. En general, los

modos soportados por una cavidad resonante se designan por TEMmnq donde TEM significa

que los campos eléctrico y magnético son perpendiculares a la dirección de propagación de la

onda y (m,n,q) son los índices correspondientes al modo transversal y longitudinal. Para cada

pareja de índices m,n suelen existir diversos modos longitudinales.

Los modos resonantes de la cavidad son más estrechos en frecuencia que el ancho de banda

de la transición atómica del material que constituye el medio activo. Estos modos son los que

se sostengan en la cavidad y en consecuencia, el haz emergente estará restringido a dichas

frecuencias. Es decir, la transición atómica del medio material posee un rango ancho de

frecuencias de las cuales la cavidad seleccionará y amplificará determinadas bandas estrechas

e incluso una sola banda dependiendo del diseño de la cavidad.

En cuanto al número de modos que puede soportar la cavidad resonante, para los modos

longitudinales depende de la longitud de la cavidad L y del perfil de ganancia (figura 1.10) y

para los transversales depende del tamaño de los espejos.

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

18

Figura 1.9.- Distribución estacionaria del campo magnético: modos longitudinales y modos transversales.

Por otro lado, la cavidad láser es clave en la potencia del láser y tiene influencia en el umbral

láser de oscilación (Ec. 1.16) así como en la eficiencia de salida del dispositivo. El umbral

láser se produce cuando en uno de estos modos, aquel que presente menos pérdidas en la

cavidad, la emisión estimulada se concentra dominando sobre la emisión espontánea del resto

de modos, de tal forma que el exceso de energía de bombeo se convierte de forma eficiente en

luz láser.

Figura 1.10.- Salida multimodo de una cavidad láser como consecuencia del perfil de respuesta del medio

activo.

Frecuenciaυ

ΙΙΙΙ0 0 0 0 / 2/ 2/ 2/ 2

Co

ef.

de

gan

anc

ia

K max

υ1υ2υ3υ4

c/2LSeparación entre M. Long.

Perfil deganancia

K umbral

Frecuenciaυ

ΙΙΙΙ0 0 0 0 / 2/ 2/ 2/ 2

Co

ef.

de

gan

anc

ia

K max

υ1υ2υ3υ4

c/2LSeparación entre M. Long.

Perfil deganancia

K umbral

M. LONGITUDINALES

Modo 1 Modo 2

q λ / 2

Lq =2

lq = 1,2,3…

M. TRANSVERSALES

00 10 20 30 (m,n)

M. LONGITUDINALES

Modo 1 Modo 2

q λ / 2

Lq =2

lLq =

2

lq = 1,2,3…

M. TRANSVERSALES

00 10 20 30 (m,n)

M. LONGITUDINALES

Modo 1 Modo 2

q λ / 2

Lq =2

lLq =

2

lq = 1,2,3…

M. TRANSVERSALES

00 10 20 30 (m,n)

M. LONGITUDINALES

Modo 1 Modo 2

q λ / 2

Lq =2

lLq =

2

lq = 1,2,3…

M. TRANSVERSALES

00 10 20 30 (m,n)

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

19

1.6.3 Efecto de la cavidad sobre las propiedades de la emisión láser.

Como ya se ha indicado, la emisión láser tiene propiedades de monocromaticidad (se puede

obtener una onda a la salida del dispositivo que oscile a una única frecuencia ν), coherencia

(tanto espacial como temporal) y direccionalidad. Esta última propiedad es debida a la

cavidad resonante ya que su diseño influye en la colimación y divergencia del haz.

Además los modos longitudinales influyen en la monocromaticidad del haz y la longitud de

coherencia y los transversales en el diámetro del haz, divergencia e intensidad en la sección

transversal.

Figura 1.11.- Efecto de la cavidad resonante sobre las propiedades de la emisión láser.

1.6.4 Tipos de cavidades resonantes: láseres con realimentación distribuida (DFB).4,5

Además de la cavidad más sencilla consistente en dos espejos, descrita en apartados previos,

existen otros mucho tipos de cavidades resonantes (ver figura 1.12). En todas ellas existe una

función básica común, que como ya se ha explicado anteriormente consiste en que la luz viaje

sucesivas veces por el medio activo amplificándose en cada paso. Sin embargo, la utilización

de diferentes geometrías de la cavidad permite obtener una amplia variedad de propiedades

espectrales, espaciales y de potencia en la emisión láser. En este apartado se realizará una

breve descripción de algunas de las cavidades existentes, centrándonos especialmente en los

láseres con realimentación distribuida en una dimensión (figura 1.12 d) pues su fabricación

constituye parte del trabajo de esta memoria.

Como ya se ha señalado, la cavidad más común y sencilla consiste en colocar un par de

espejos en los extremos del medio activo. Si éste es una película, existen dos posibles

configuraciones: (1) espejos paralelos a la película, de modo que la realimentación (y la

emisión) se produzca en la dirección perpendicular a ésta (“microcavidad” vertical, figura

1.12 b) y (2) espejos depositados en el canto de la película, de modo que la luz viaje por la

película que constituye una guía de ondas y exista una realimentación longitudinal. En el caso

Cintura delhaz láser

θθθθ00000000

Envolvente w(z)del modo TEM00

w0

zzR

02w

TEM 00

w (z)

Cintura delhaz láser

θθθθ00000000

Envolvente w(z)del modo TEM00

w0

zzR

02w

02w

TEM 00

w (z)

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

20

de microcavidades basadas en películas orgánicas como material activo, generalmente se

fabrican depositando la capa orgánica sobre un espejo dieléctrico comercial, evaporando a

continuación una capa metálica (por ejemplo plata).

Figura 1.12.- Esquemas de varios tipos de resonadores láser; las flechas indican el camino que sigue la luz en el

resonador y la dirección de emisión del haz láser: (a) cubeta con una disolución conteniendo el material activo

entre dos espejos; (b) microcavidad planar con una película orgánica entre dos espejos; (c) microanillo

consistente en una fibra de silicio recubierta con una capa orgánica; (d) y (e) láser con realimentación distribuida

(DFB) en 1 y 2 dimensiones respectivamente.

Aunque son fáciles de preparar, un inconveniente que presentan es que la distancia recorrida

por la luz en cada paso por el medio activo es pequeña (∼ 200 nm), por lo que el umbral de

emisión láser es alto, incluso con espejos muy reflectantes (> 99.9%). En este sentido, las

estructuras resonantes basadas en guías de ondas poseen la ventaja de que la luz viaja a lo

largo de distancias mayores. En los láseres basados en semiconductores cristalinos

inorgánicos, los espejos se fabrican puliendo los extremos del cristal, de manera que las caras

resultantes al principio y final de la guía reflejan la luz debido a la diferencia de índice de

refracción entre el cristal y el aire. En el caso de los polímeros, es difícil obtener caras de alta

calidad y además, incluso aunque esto fuera posible, la reflectividad en la intercara polímero-

aire sería menor del 10 %, debido a que el índice de refracción de los polímeros es

relativamente bajo (1.6-2.0).

Los microanillos (figura 1.12 c) son otra variedad de cavidad resonante consistente en una

película de polímero en configuración de guía de ondas, depositada alrededor de un núcleo

Page 35: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

21

dieléctrico o metálico. Estas estructuras se pueden fabricar mediante la introducción del

núcleo, que puede ser una fibra óptica o un anillo metálico, en una disolución concentrada de

polímero. Este tipo de láseres posee un tamaño mayor que el de las microcavidades, por lo

que la luz viaja distancias mayores a través del medio activo y en consecuencia la intensidad

umbral necesaria para conseguir emisión láser suele ser mucho menor que en éstas. No

obstante, el hecho de que este tipo de cavidades tenga mayor tamaño implica que el número

de modos longitudinales que soportan es mayor, por lo que la emisión láser puede oscilar a

longitudes de onda muy próximas entre sí. Este hecho hace que el espectro de emisión sea

complicado, no obteniéndose una direccionalidad del haz bien definida aunque por el

contrario, la luz emitida es uniforme en todas las direcciones radiales.

Una forma alternativa de reflejar la luz en una guía orgánica es incorporar una modulación

periódica del índice de refracción mediante el grabado de una red, bien en el substrato, o bien

en el medio activo de manera que la luz pueda ser reflejada por “scattering Bragg”. Estos

láseres son conocidos como láseres con realimentación distribuida (distributted feedback

lasers, DFB).14,15 Este tipo de láseres se fabrica de forma habitual con materiales

semiconductores inorgánicos. En la figura 1.12 (d) y (e) se muestran estructuras DFB en 1D y

2D respectivamente. En el DFB existen ondas viajando de derecha a izquierda y viceversa, de

tal manera que cada una de estas ondas recibe luz por “scattering-Bragg” de la onda que viaja

en sentido contrario. Esto genera un mecanismo de realimentación a lo largo de la estructura

periódica. El ángulo según el cual la luz se difracta depende de la longitud de onda, por lo que

se observa que para distintas longitudes de onda, la difracción se produce en diferentes

direcciones. Para un periodo determinado de la red, existen un grupo de longitudes de onda

(λBragg) que pueden ser difractadas desde un modo de propagación de la guía de ondas. Esta

situación tiene lugar cuando se cumple la condición de Bragg:

Λ= efBragg Nm 2λ (1.20)

donde λBragg es la longitud de onda Bragg, Λ es el periodo de la red, m es un número entero

que representa el orden difracción y Nef es el índice efectivo de la guía de ondas que depende

del espesor y del índice de refracción de la película. El funcionamiento del DFB está basado

en la teoría de ondas acopladas,16 cuyo desarrollo no se realiza en esta memoria. A este

respecto, es importante señalar que el trabajo presentado en esta tesis, en relación a los DFBs,

constituye únicamente el inicio de una nueva línea de investigación.

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

22

Lo que interesa conocer en este tipo de cavidades es el número de modos y frecuencias

resonantes de la cavidad, con sus correspondientes umbrales, así como la selectividad

espectral de la estructura. Para ello se ha de resolver la ecuación de ondas en la cavidad con

sus correspondientes condiciones de contorno. Las soluciones de estas ecuaciones son los

modos de propagación que soporta la cavidad. Kogelnik y Shank16 realizaron un análisis

lineal de la teoría de los modos acoplados, válida para situaciones próximas al umbral de

oscilación para intentar explicar cómo son los modos en la cavidad láser. Una característica

bien conocida de las estructuras periódicas es que son dispersivas y que presentan bandas de

frecuencias prohibidas en las que no puede haber propagación. Esta banda prohibida está

centrada en la longitud de onda Bragg de tal forma que el láser DFB podrá oscilar a dos

longitudes de onda correspondientes a los extremos de esta banda prohibida.17-20 Esta banda

prohibida de energía se traduce en la observación de una depresión en el espectro de emisión,

(gap) característica de la inhibición de la propagación de los modos en la guía de ondas. Así la

observación de esta depresión (ver figura 1.13) en el espectro de fotoluminiscencia es uno de

los indicadores de que se trata de una estructura tipo DFB.21 En comparación con otros tipos

de estructuras resonantes, los DFBs ofrecen una reflectividad elevada y un grado de

confinamiento del modo de oscilación en la cavidad alto, con umbrales láser bajos. Ello, los

hace muy interesantes de cara a la posibilidad de utilizar bombeo eléctrico.22,23 Además el haz

emitido presenta una calidad y una estabilidad elevadas. Para que estas redes sean efectivas,

su periodicidad debe estar en el rango de 200-400 nm (ver Ec. 1.20), por lo que es necesario

la utilización de técnicas holográficas (no es posible utilizar la fotolitografía estándar) o bien

litografía por cañón de electrones, aunque esta última es cara y lenta.

Recientemente se han desarrollado métodos alternativos más simples que aprovechan las

propiedades de procesabilidad de los polímeros. Ejemplos de dichas técnicas, englobados en

la familia de la “litografía blanda”,24,25 son el “embossing” y el moldeo. Los primeros láseres

de este tipo se fabricaron con películas de gelatina dicromatada dopadas con moléculas

orgánicas de colorante,2 extendiéndose posteriormente a los materiales inorgánicos. McGehee

y colaboradores fabricaron láseres DFB con bajos umbrales de emisión láser mediante la

deposición de películas de BuEH-PPV sobre redes grabadas en SiO2.26 También se han

fabricado láseres DFB depositando películas de MEH-PPV27 y poli(9,9-dioctilfluorenos)

(PFO).21 En los últimos años son numerosos los láseres de este tipo que se han desarrollado.5

Page 37: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

23

Figura 1.13.- Espectro de emisión láser característico de un láser DFB.

1.7 Modos de operación de un láser.13

En general, el modo de funcionamiento de un láser puede ser continuo o pulsado. Los láseres

continuos se caracterizan por un nivel continuo en el tiempo de potencia emitida. Para ello, se

requiere que el bombeo del medio activo se realice también de forma continua. La estabilidad

de este tipo de láseres es de aproximadamente un 2 %. En cuanto a su aplicaciones están

enfocadas fundamentalmente al procesado de materiales, en particular al corte, soldadura y

tratamiento térmico. En el caso de láseres pulsados, la potencia láser sufre variaciones

periódicas en el tiempo. En este tipo de funcionamiento hay que tener en cuenta variables

como la duración del pulso temporal, la potencia de pico, la energía y frecuencia de repetición

de los pulsos. En general los láseres pulsados se utilizan cuando es necesario disminuir la

potencia media suministrada sin variar los niveles de densidad de potencia, o cuando se

necesita obtener potencias de pico elevadas. Algunas de las técnicas utilizadas para generar

pulsos son la obturación del haz de salida, el pulsado por bombeo, la conmutación del factor

Q (“Q-Switching”) y el acoplamiento de modos (“mode locking”). La obturación del haz de

salida consiste en obtener pulsos utilizando un dispositivo electromecánico exterior a la

cavidad (un obturador) que obstruya periódicamente la salida del haz láser consiguiendo

pulsos cuya potencia de pico sea igual al nivel de potencia en continuo. Respecto al pulsado

por bombeo consiste en bombear el medio activo de forma pulsada como ocurre en el caso de

láseres Nd-YAG y de excímeros. En cuanto a la conmutación del factor Q (factor

proporcional al cociente entre la energía media temporal almacenada en la cavidad óptica y la

380 400 420 4400,0

0,1

0,2

0,3

0,4

depresión

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Longitud de onda (nm)

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Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

24

potencia perdida por la cavidad), consiste en introducir en la cavidad un obturador que inhiba

la emisión láser de forma controlada. Por último, la técnica de acoplamiento de modos se basa

en forzar a diferentes modos longitudinales que soporta la cavidad, a mantener relaciones de

fase constante. Para ello se utiliza un modulador de las pérdidas de la cavidad.

1.8 Emisión amplificada sin cavidad resonante: emisión espontánea

amplificada (ASE).11,12

En algunos sistemas láser es posible obtener ganancia sin la necesidad de introducir el medio

activo en una cavidad resonante. Sólo por el hecho de viajar a través del medio amplificador

se obtiene luz amplificada con un grado alto de coherencia. Los posibles mecanismos

responsables de esta amplificación son: super-radiancia, superfluorescencia y emisión

espontánea amplificada (ASE). El mecanismo de super-radiancia considera un sistema de N

átomos oscilando de forma coherente siendo µ1 el momento dipolar de cada átomo y Nµ1 el

momento macroscópico total, de tal manera que al excitar el sistema de N átomos la

intensidad de la radiación emitida será proporcional al número de átomos del sistema de la

forma (Nµ1)2. Respecto al mecanismo de superfluorescencia, es necesario que exista una

inversión de población alta, coeficientes de ganancia elevados y una longitud del medio activo

pequeña comparada con la distancia que la radiación viaja en el sistema con inversión de

población. En este caso, al igual que pasaba con el mecanismo de super-radiancia, la

intensidad emitida es proporcional a N2. Por el contrario, no es necesario que los átomos del

sistema oscilen coherentemente. Por último, el fenómeno de ASE se produce cuando al

excitar un medio, la emisión espontánea es amplificada por la presencia de emisión

estimulada, de tal forma que se obtiene ganancia al menos en una dirección de propagación de

los átomos en el medio. La emisión obtenida tiene propiedades intermedias entre emisión

láser coherente y emisión incoherente de una fuente de luz normal, de modo que su

direccionalidad es moderada, la coherencia es solo parcial y no posee modos láser al no tener

cavidad. Es común observar ASE en medios activos con elevada ganancia, en los que una de

las dimensiones es mayor que otra (ver figura. 1.14). Una forma particular de tener sistemas

que presenten ASE es preparar películas en configuración de guía de ondas y excitarlas

ópticamente. Cuando la intensidad del haz de bombeo es suficiente para que exista ganancia,

los fotones emitidos de forma espontánea se amplifican de forma exponencial al viajar por la

Page 39: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

25

guía debido a emisión estimulada. En consecuencia se produce un colapso espectral del haz

emitido por el extremo de la guía de ondas y un aumento de la intensidad emitida para una

determinada intensidad de bombeo denominada intensidad umbral. En este caso, la intensidad

del espectro de emisión no es proporcional al número de átomos inicial al cuadrado, como

ocurría en los fenómenos de superfluorescencia y superradiancia, sino que depende de la

longitud del medio activo excitado.

Supongamos que tenemos una situación como la que indica la figura 1.14.

Figura 1.14.- Esquema emisión espontánea amplificada (ASE), donde L es la longitud del medio activo, dz y 2a

es la longitud y la anchura del medio activo excitado respectivamente.

Consideramos que nuestro medio activo tiene una longitud L y un diámetro 2a. El sistema

tiene un número de átomos total N y en el existe una inversión de población completa. La

emisión espontánea se producirá en todas direcciones desde cualquier diferencial de volumen

del medio amplificador. Supongamos L >> a con lo que la intensidad de emisión espontánea

amplificada por cada dz se puede expresar como:

( )dzeL

NadI zLrad m −= α

πνγπ 2

2

2

4

h (1.21)

Donde 2αm es el coeficiente de amplificación a lo largo de L. Si integramos esta expresión

obtenemos la intensidad total de salida de la ASE.

( ) ( )( ) ( )( )[ ]1exp −

= lg

g

IAI net

P λλ

λλ (1.22)

donde A(λ) es una constante relacionada con la sección transversal para la emisión

espontánea, Ip es la intensidad de bombeo,“l” es la longitud de medio activo excitado y gnet(λ)

es el coeficiente de ganancia neto, equivalente a la ganancia (g), menos las pérdidas (γ)

definidas en el apartado 1.6.1.

dz

Z = 0 Z = L2a

I(L)

dz

Z = 0 Z = L2a

I(L)

dz

Z = 0 Z = L2a

I(L)

dz

Z = 0 Z = L2a

I(L)

Page 40: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 1.- Fundamentos del funcionamiento de un láser

26

Se puede observar que la intensidad de salida no depende directamente del número de átomos

inicial N, mientras que sí depende de la longitud “l” del medio activo excitado.

Si la intensidad de salida cumple la Ec. 1.22 y el coeficiente de ganancia es lo suficientemente

grande (algo más de la unidad) la amplificación observada es debida a la ASE.

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Capítulo 2________________________________

Teoría de guías de ondas.

2.1 Introducción.

2.2 Modelo de rayos para una guía de ondas planar.

2.3 Modos guiados.

2.4 El desplazamiento de Goos-Hänchen.

Page 42: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

28

Page 43: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas

29

2.1 Introducción.

Una parte del trabajo de investigación realizado consistió en el montaje de un sistema

experimental que permitiera determinar las propiedades de guía de ondas que presentaban las

películas fabricadas, ya que éstas constituyen guías de ondas planares asimétricas. Estas guías

asimétricas consisten en una película delgada de índice de refracción nf entre dos medios de

índice de refracción menor: substrato (ns) y recubrimiento (nc). Para que la luz pueda ser

guiada en la película debe cumplirse que nf < ns < nc. Las ondas viajan en la guía en distintos

modos ópticos que son las diferentes distribuciones espaciales de la energía en una o más

dimensiones.

Figura 2.1.- Estructura de una guía de ondas.

2.2 Modelo de rayos para una guía de ondas planar. 28,29,30

Para el caso de una guía de ondas planar con perfil de índice en escalón, el modelo de rayos

permite describir de forma adecuada el sistema, no siendo necesario utilizar la teoría

electromagnética. La luz queda confinada dentro de la guía gracias a las múltiples reflexiones

totales internas película-substrato y película-recubrimiento (ver figura 2.2) que sufre al viajar

por ella. El fenómeno de reflexión total se produce cuando la luz viajando por un medio

material de índice de refracción n1, incide sobre otro medio de índice de refracción n2 menor,

con un ángulo de incidencia mayor al llamado ángulo crítico θc (ángulo por encima del cual

se produce reflexión total). Según la ley de Snell este ángulo crítico viene dado por la

ecuación:

1

2

n

nsen c =θ (2.1)

película

substrato

películapelícula

substrato

película

Page 44: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas

30

La amplitud de la onda reflejada viene dada por la expresión ir rEE = donde r es el llamado

factor de reflexión que depende del ángulo de incidencia y de la polarización de la luz según

las ecuaciones de Fresnel.

Figura 2.2.- Comportamiento de un rayo incidente sobre la frontera entre dos medios n1 > n2.

Para el caso de polarización transversal eléctrica (TE) en la que el campo eléctrico es

perpendicular al plano de incidencia, formado por el vector de onda y la normal a la

superficie, según se ilustra en la figura 2.3, las ecuaciones de Fresnel para el coeficiente de

reflexión y transmisión para la amplitud son:

ti

ti

oi

or

nn

nn

E

Er

θθθθ

coscos

coscos

21

21

+−

=

⊥⊥ (2.2)

ttii

ii

oi

ot

nn

n

E

Et

θθθcoscos

cos2

+=

⊥⊥ (2.3)

Para el caso de polarización transversal magnética (TM) en la que el campo eléctrico es

paralelo al plano de incidencia, las ecuaciones de Fresnel son:

it

ti

nn

nnr

θθθθ

coscos

coscos

21

12// +

−= (2.4)

it nn

nt

θθθcoscos

cos2

21

11// +

= (2.5)

Cuando se cumple la condición de reflexión total, el factor de reflexión r tendrá módulo 1 y el

desfase sufrido por la luz reflejada para polarización TE y TM viene dado por las siguientes

expresiones a partir de manipulaciones en las fórmulas de Fresnel:

n2

Y

Z

θθθθi

n1 θθθθr

θθθθt

n2

Y

Z

θθθθi

n1 θθθθr

θθθθt

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Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas

31

i

iTE n

nsenntg

θθ

φcos1

22

221 −

= (2.6)

TETM tgn

ntg φφ

22

21= (2.7)

Figura 2.3.- Componentes del campo eléctrico para los modos TE y TM.

Para el caso de una guía de ondas planar asimétrica, como es nuestro caso ( )csf nnn >> ,

habrá dos ángulos críticos para la reflexión total guía-substrato (θs) y para la reflexión total

guía-recubrimiento (θc) con θc < θs, de forma que dependiendo del ángulo de incidencia,

habrá tres posibilidades (figura 2.4)

Figura 2.4.- Diferentes modos de una guía asimétrica en función del ángulo de incidencia θ.

XZ

Y

kr

TMEr

TEEr

Guía

Plano de incidencia

XZ

Y

kr

TMEr

TEEr

Guía

Plano de incidencia

θ

nc

a) Modo de radiación b) Modo de radiación al substrato

c) Modo guiado

nf

ns

nf

nc

ns

θ

nf

nc

ns

θ

θ

nc

a) Modo de radiación b) Modo de radiación al substrato

c) Modo guiado

nf

ns

nf

nc

ns

θ

nf

nc

ns

θ

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Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas

32

a) Modo de radiación θ < (θs,θc). No hay confinamiento de luz.

b) Modo de radiación al substrato: θc < θ < θs. No hay confinamiento.

c) Modo de propagación guiado: θ > θc > θs. Se produce reflexión total en ambas

fronteras y en consecuencia la luz es guiada.

2.3 Modos guiados.

Supongamos una guía de ondas planar donde la luz se propaga a lo largo del eje z y es

confinada en la dirección x según se muestra en la figura 2.4.c. Las ondas que se propagan son

monocromáticas y coherentes con frecuencia angular ω y longitud de onda en el vacío λ,

viajan con un vector de onda knf donde ck //2 ωλπ == . Como la parte espacial de las ondas

varía como

( )[ ]θθ zsenxikn f +±− cosexp (2.8)

la constante de propagación β será la componente z de knf:

effpzf kNsenknvwkn ==== θβ / (2.9)

donde Nef es el llamado índice de refracción efectivo

θβ sennkkknN fzfef === // (2.10)

De todos los ángulos θ que verifican la condición de reflexión total, no todos son posibles,

puesto que para que la energía se propague de una forma autoconsistente, debe haber

interferencia constructiva y la suma de todos los cambios de fase que se producen durante la

propagación desde substrato-película hacia recubrimiento y recubrimiento-película hacia

substrato así como el cambio de fase introducido por las reflexiones totales (φs y φc) debe ser

múltiplo entero de 2π. La ecuación de dispersión de la guía queda determinada por la llamada

condición de resonancia transversal:

( ) πθφθφθ mhkn csf 2)(22cos2 =−− m = 0,1,2..... orden del modo (2.11)

donde φs y φc son los desfases que vienen dados por las ecuaciones Ec. 2.6 y Ec. 2.7.

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Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas

33

Para cada valor entero m se obtiene un modo guiado caracterizado por un ángulo θm y una

constante de propagación βm relacionados según

mfm senkn θβ = (2.12)

La ecuación fundamental (Ec. 2.11) es una ecuación transcendental que requiere solución

numérica o gráfica. Una solución gráfica viene representada por la figura 2.5 para el modo

fundamental m = 0.

Figura 2.5.- Solución gráfica de la ecuación de dispersión para los modos fundamentales de las guías simétrica y

asimétrica.

En esta gráfica se ha representado por un lado los términos φc(θ), knfhcosθ, y φc(θ)+φs(θ) de

la ecuación transcendental en función del ángulo θ, de forma que la solución para m = 0 será

el corte de los dos últimos. También se ha representado 2φc(θ) para el caso de una guía

simétrica en la que φc = φs. En este caso se observa que para cualquier valor de h/λ hay

solución, no existiendo frecuencia de corte para el modo fundamental de una guía simétrica.

Cuanto mayor es el espesor de la guía más modos son guiados. Para la guía asimétrica, sólo la

zona sombreada de la gráfica está por encima del ángulo crítico del substrato φs. Para

determinados valores de h/λ por debajo de un valor determinado no hay solución. Por lo que

la guía asimétrica presenta una condición de corte. Para que el modo sea guiado θ debe

cumplir que θc < θs < θ < π/2. El valor límite por debajo del cual no hay solución de la Ec.

2.11 se obtiene para el valor del ángulo crítico en la interfase película-substrato (θ = θs).

2φc

π/2

φc

φ

θ

φc+ φs

θc

θs

20º 40º 60º 80º0º

2φc

π/2

φc

φ

θ

φc+ φs

θc

θs

20º 40º 60º 80º

λ

hπn f2

2φc

π/2

φc

φ

θ

φc+ φs

θc

θs

20º 40º 60º 80º0º

2φc

π/2

φc

φ

θ

φc+ φs

θc

θs

20º 40º 60º 80º

λ

hπn f2

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Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas

34

Considerando m = 0 y sustituyendo en la Ec. 2.11 las expresiones correspondientes de los

desfases para polarización TE así como el ángulo crítico en la interfase película substrato se

obtiene la expresión para el valor mínimo de h/λ necesario para que se propague el modo

fundamental donde h será el espesor mínimo de la guía (espesor de corte) para soportar un

modo de propagación a una longitud de onda λ determinada.

22

22

221

2 sf

sf

cs

nn

nn

nntg

h

−−

=

πλ ( 2.13)

En la figura 2.6 se muestra un diagrama ω-β donde se representan los tres primeros modos

guiados (m = 0, 1, 2) .

Figura 2.6.- Diagrama típico de una guía de ondas dieléctrica.

El valor límite más bajo para la frecuencia de corte es nsk = β y a medida que ω aumenta β

tiende a su límite superior knf (senθ ≅ 1) apareciendo cada vez más modos guiados. Para

obtener el número de modos que puede soportar la guía se sustituye el valor mínimo para θm

que es θs . Para modos TE se obtiene la siguiente expresión:

( )

π

2222

max

/)( sfcs nnnnVm

−−−= (2.14)

Donde V es la llamada frecuencia o espesor normalizado definido como:

22sf nnhkV −= (2.15)

β

w

Región prohibida

Modos de radiación

nsk

nfk

β

w

Región prohibida

Modos de radiación

nsk

nfk

m = 0m = 1

m = 2

β

w

Región prohibida

Modos de radiación

nsk

nfk

β

w

Región prohibida

Modos de radiación

nsk

nfk

m = 0m = 1

m = 2

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Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas

35

El número máximo de modos (M) que puede soportar una guía de espesor h a la longitud de

onda λ será:

M = Int(mmax)+1 (2.16)

2.4 El desplazamiento de Goos-Hänchen.30

Cuando la luz viaja por la guía hay una parte de la energía que penetra en los otros medios

(substrato y recubrimiento) una cierta distancia (x) de forma que la guía aparenta tener un

espesor mayor. Este espesor es el llamado espesor efectivo de la guía.

Figura 2.7.- Penetración de la onda en el substrato y recubrimiento de la guía de ondas.

La penetración del rayo x en el otro medio, produce un desplazamiento lateral (z) respecto al

rayo incidente, que viene dado por las leyes de la reflexión según:

Para ondas TE 2,

2cs

TE

nNk

tgz

−= θ

(2.17)

Para ondas TM

12

2

2,

2

−+=

fcs

TEsTM

n

N

n

N

zz (2.18)

Teniendo en cuenta la Ec. 2.17 y Ec. 2.18 el valor de x será:

θtg

zx = (2.19)

película

substrato

aire

h

xs

xcpelícula

substrato

aire

h

xs

xc

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Capítulo 2.- Teoría de guías de ondas

36

La guía aparenta tener un espesor mayor llamado espesor efectivo heff = h + xs+ xc siendo h el

espesor de la película y xs y xc la distancia que la onda penetra en el substrato y recubrimiento

respectivamente.

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Capítulo 3________________________________

Antecedentes en el estudio de las propiedades

láser en materiales orgánicos.

3.1 Introducción.

3.2 Clasificación de materiales y antecedentes.

3.2.1 Colorantes tradicionales: moléculas orgánicas no conductoras.

3.2.2 Materiales orgánicos semiconductores.

3.3 Comparación de las propiedades láser de materiales orgánicos láser estudiados

en la literatura.

3.4 Motivación y justificación del trabajo de esta memoria.

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38

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Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos

39

3.1 Introducción.

Con la finalidad de obtener buenos materiales láser se deben optimizar las propiedades tanto a

nivel molecular como macroscópico. En primer lugar, a nivel molecular, las propiedades6 que

debe presentar el material son: absorción y eficiencia cuántica luminiscente elevadas en el

estado singlete, estabilidad fotoquímica bajo excitación intensa, una zona de luminiscencia

amplia y bien separada de la zona de absorción para evitar fenómenos de autoabsorción,

eficiencia cuántica luminiscente baja para el estado triplete y un mínimo solapamiento entre la

absorción del estado singlete y la de los estados triplete y vibracionales. Todas estas

propiedades dependen de la estructura química de la molécula, por lo que modificaciones de

la estructura mediante sustituciones en diferentes posiciones pueden optimizarlas. Por otro

lado, a nivel macroscópico, las características espectrales del material dependen del tipo de

organización molecular en estado sólido, lo que es mucho más difícil de controlar.

3.2 Clasificación de materiales y antecedentes.

En general, los materiales orgánicos que se han investigado hasta el momento se pueden

clasificar en dos grandes grupos: (1) colorantes tradicionales (no semiconductores) y (2)

materiales orgánicos semiconductores entre los que se encuentran los polímeros, los

oligómeros, los dendrímeros y las moléculas orgánicas pequeñas. La mayoría de las

investigaciones llevadas a cabo en los últimos años se han orientado al estudio de esta

segunda clase de materiales.

3.2.1 Colorantes tradicionales: moléculas orgánicas no conductoras.

El nacimiento de los láseres orgánicos comenzó unos años después de la construcción en 1960

del primer láser de la historia, basado en rubí como material activo. En la década de los 60 se

realizaron numerosos trabajos sobre emisión estimulada en diversos sistemas basados en

moléculas orgánicas de colorantes, tales como la coumarina, rodamina o el DCM tanto en

disolución como en estado sólido (embebidas en una matriz sólida).2 De hecho, los láseres

basados en colorantes orgánicos en disolución están comercializados desde hace ya muchos

años y su interés reside fundamentalmente en su sintonizabilidad en un amplio rango de

longitudes de onda. Aunque este tipo de colorantes muestran elevados rendimientos de

fluorescencia, generalmente superiores a 0.6 y en ocasiones próximos a 1, no se han podido

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Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos

40

desarrollar y comercializar en estado sólido debido a los problemas de fotoestabilidad que

presentan. Además, no se pueden excitar mediante bombeo eléctrico, ya que no son

conductores y en general, existe un límite de concentración de colorante que se puede

introducir en la matriz por encima del cual se inhibe la fotoluminiscencia debido a la

interacción molecular, lo que conlleva a una limitación en los umbrales láser.6 La

investigación llevada a cabo en los últimos años en relación al desarrollo de láseres de estado

sólido basados en colorantes, se ha centrado en la mejora de la fotoestabilidad.2,

3.2.2 Materiales orgánicos semiconductores.

Un tipo de materiales de gran interés con los que se han realizado numerosos estudios son los

polímeros conjugados.4,5,31 Su atractivo se debe fundamentalmente a que sus propiedades

semiconductoras ofrecen la posibilidad de que la excitación sea eléctrica, en lugar de óptica.

Asimismo y a diferencia de los colorantes orgánicos, la tendencia general de los sistemas π-

conjugados al autoensamblaje mediante interacciones de tipo π-π, da lugar a elevados

rendimientos de fluorescencia incluso en películas puras (sin diluir). En 1992 Moses observó

emisión láser en polímeros conjugados por primera vez, al bombear ópticamente un derivado

soluble de PPV, MEH-PPV (poli(2-metoxi-5-(2´-etil-hexiloxi)-1,4-fenilenovinileno)) en

disolución.32 A principios de 1996, el grupo del Prof. Heeger observó emisión láser por

primera vez en polímeros en estado sólido, al introducir nanopartículas de TiO2 en películas

de MEH-PPV/poliestireno.33 En estos láseres, las partículas proporcionaban el mecanismo de

realimentación necesario para la observación de emisión láser. Posteriormente, en 1996

diversos grupos observaron de forma independiente emisión estimulada en películas puras de

polímeros conjugados tanto en configuración de guía de ondas34 como de microcavidad.35

Desde entonces y hasta el presente son numerosos los materiales estudiados,4,5 entre los que

cabe destacar derivados de poli(p-fenilenovinileno),20,35-37 polifluorenos38,39 o derivados de

poliparafenileno (PPP) en escalera (conocidos como “ladder polymers”).40 Una idea que ha

resultado ser muy efectiva para conseguir ganancia a energías de excitación menores, ha sido

la de utilizar transferencia de energía desde una molécula o polímero soporte a otra molécula

o polímero incluida en ella.41 Ello da lugar a un desplazamiento de la longitud de onda de

emisión respecto al borde de absorción, consiguiendo de este modo minimizar la

autoabsorción y la absorción desde el estado excitado. Otro tipo de materiales que también se

utiliza en la fabricación de láseres son análogos monodispersos de los polímeros conjugados

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Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos

41

tanto moleculares (oligómeros)42-47 como macromoleculares (dendrímeros).48-51 El interés

por los sistemas oligoméricos monodispersos (a pesar de ciertas limitaciones en la facilidad

de procesado y estabilidad con respecto a los polímeros) se basa fundamentalmente en dos

aspectos:52,53 (i) su estructura está muy bien definida, lo cual permite llevar a cabo de manera

precisa correlaciones estructura-actividad (los polímeros conjugados inevitablemente

contienen defectos distribuidos al azar que dan lugar a una distribución estadística de

longitudes de conjugación) y (ii) su estructura monodispersa hace que sea más fácil su

obtención con una mayor pureza y con ausencia de defectos lo que permite obtener

propiedades mejoradas con respecto a sus análogos poliméricos (por ejemplo movilidades

electrónicas). Entre los sistemas oligoméricos utilizados para la fabricación de láseres se

encuentran derivados de oligofenileno47 y del oligotiofeno54 y compuestos tipo spiro,55-57 que

consisten en dos oligómeros acoplados mediante uniones tipo “spiro”. Por otro lado, la

utilización de análogos dendriméricos permite combinar las propiedades de procesabilidad,

robustez y estabilidad de los polímeros orgánicos polidispersos y el control estructural

presente en oligómeros monodispersos. Entre los materiales estudiados se encuentran los bis-

fluorenos48 en los que se ha estudiado cómo influyen en las propiedades fotofísicas y láser del

material el aumento de generación. Además, dentro de los sistemas dendriméricos, se ha

estudiado en la familia de los bisfluorenos58 de primera generación, el efecto de la estructura

del dendrón en las propiedades láser del material.

Un último tipo de materiales que también se utiliza en la fabricación de láseres son las

moléculas orgánicas pequeñas semiconductoras. La ventaja de estos materiales respecto a

los polímeros es que son generalmente más solubles y su estructura está mejor definida. Por

otro lado, al igual que los colorantes, a menudo existen limitaciones en cuanto a la

concentración de material que se puede incorporar. No obstante, en algunos casos se ha

observado presencia de emisión estimulada en películas puras de material.59,60

Son diversos los grupos de investigación que han centrado su trabajo en esta segunda clase de

materiales, utilizando diferentes tipos de cavidades resonantes tales como las microcavidades,

los láseres con realimentación distribuida (DFB),4,5 etc. Como ya se ha señalado, dado que

estos materiales son semiconductores, se abre la posibilidad de poder utilizar el bombeo

eléctrico. Además, muchos de estos materiales semiconductores, tanto poliméricos como

moleculares, no presentan límite en la concentración de material activo que se puede

introducir, por lo que se puede obtener emisión estimulada en películas puras de material a

Page 56: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos

42

una intensidades umbrales más bajas. Respecto a la fotoestabilidad, como ya se ha señalado,

constituye la mayor parte de las investigaciones realizadas en el campo de los colorantes

tradicionales. Sin embargo, no existe mucha información sobre la fotoestabilidad de

materiales orgánicos semiconductores estudiados, a pesar de que es un punto clave para la

comercialización de dispositivos basados en este tipo de materiales.

3.3 Comparación de las propiedades láser de materiales orgánicos láser

estudiados en la literatura.

En este trabajo de investigación se ha hecho especial hincapié en la comparación de las

propiedades láser de distintos materiales, con el objetivo de determinar cuál es la situación

actual en la comunidad científica, ya que en estos momentos no está claro cuál de ellos es

mejor o peor.

Con la finalidad de clarificar las ventajas, limitaciones y futuros retos de este tipo de

materiales en aplicaciones láser, se comparan a continuación las propiedades láser que

presentan algunos de los materiales semiconductores más representativos descritos en la

literatura, tanto moleculares (tabla 3.1 a), como poliméricos (tabla 3.1 b). Esta información se

utilizará para valorar las prestaciones de los materiales estudiados en este trabajo. Respecto a

los colorantes, existe gran cantidad de información2,3 aunque en estas tablas sólo se dan un par

de datos como referencia, puesto que el trabajo desarrollado en esta memoria se centra en los

materiales semiconductores. Los parámetros que se han utilizado para esta comparación son la

intensidad umbral ASE y el tiempo de vida medio referido a la fotoestabilidad del material,

definida como el tiempo que la intensidad de la ASE tarda en decaer hasta la mitad de su

valor máximo. Respecto a la comparación de la intensidad umbral ASE entre varios

materiales, es importante señalar que para que se pueda realizar esta comparación de forma

adecuada, los valores de intensidad de excitación deben estar expresados en unidades de

(W/cm2). Es decir, en realidad lo que se debe considerar es la densidad de potencia, esto es la

energía del pulso de excitación dividida por el área del haz de excitación sobre la muestra y

por la anchura temporal del pulso. No obstante, esto sólo se puede realizar cuando el sistema

funciona en condiciones estacionarias, lo cual sucede cuando la anchura temporal del pulso de

excitación es mayor que el tiempo de vida de la ganancia del material. En la mayoría de los

trabajos publicados en la literatura, los umbrales vienen dados en energía/pulso (J/pulso) o en

Page 57: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos

43

densidad de energía (J/(pulso cm2)). Por otra parte, las anchuras temporales de los pulsos del

haz de excitación utilizados han sido muy diversas (desde ps a ns). Como consecuencia, la

comparación de los materiales medidos por diferentes grupos no es sencilla. Además, a la

hora de comparar distintos materiales, lo que se debe considerar son los umbrales ASE y no

los umbrales láser (con cavidad), ya que de lo contrario no estaría claro si las diferencias en el

funcionamiento son debidas al material o a la cavidad.

Así, con el fin de comparar materiales de forma adecuada y para asegurar que se está bajo

condiciones de estado estacionario, sólo se han considerado materiales excitados con láseres

cuyos pulsos tienen una anchura temporal en el rango de los ns, puesto que en general, los

materiales orgánicos poseen tiempos de vida de la ganancia del orden de los ps.

Aunque como hemos señalado, para la comparación de materiales el parámetro más adecuado

a considerar es el umbral ASE, se han incluido los umbrales láser DFB en aquellos casos en

los que la información está disponible. En las tablas se incluyen asimismo algunos datos

referentes al sistema experimental utilizado, que como veremos en capítulos posteriores,

influyen en los resultados obtenidos. En particular, la forma del haz de excitación, sobre la

muestra (circular o rectangular) y su tamaño, la geometría de recolección del haz emitido (en

reflexión, transmisión o por el extremo de la película), así como la anchura temporal del haz

de excitación, son factores que influyen en el valor de los umbrales. Por otra parte, el ritmo de

repetición del láser de excitación influye considerablemente en el tiempo de vida media de la

fotoestabilidad.

3.4 Motivación y justificación del trabajo de esta memoria.

De entre todos los tipos de materiales orgánicos existentes, el trabajo presentado en esta tesis

está relacionado con el estudio de las propiedades láser de diversos materiales

semiconductores moleculares, incluyendo varias moléculas orgánicas y diversos oligómeros.

Muchos de los materiales estudiados por diversos grupos, muestran intensidades umbrales

más bajas que las presentadas por los colorantes tradicionales (ver tablas 3.1). Además,

algunos de ellos presentan emisión estimulada en películas puras (sin diluir) de material. Esta

propiedad no es común ya que en muchos casos y como se ha mencionado anteriormente, la

fotoluminiscencia se inhibe al aumentar la concentración, debido a la interacción molecular.

Page 58: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos

44

Material (a) Haz de bombeo Haz emitido Refi

Nombre Estructura química

Tipoa muestra

DP(ns)b

RR(Hz)c Forma;d

Tamaño(cm) GRe λλλλASE f

λλλλDFB(nm)

IuASE g

IuDFB

(kW/cm2)

t1/2h

p

Moléculas pequeñas

Spiro-4p Películas SC Puras

1.3b C(ASE) TD 0.6×0.8

390(ASE) 31(ASE) --

55

Spiro-6p Película SC puras

1.3b C(ASE) TD 0.6×0.8

425(ASE) 3(ASE) 1×104

55

Cromóforo (BTAPVB) SC 10%/PS (ASE) 3%/PS (DFB)

10 b L(ASE) 10c 3×0.03

504(ASE) 300(ASE) -- 490(DFB2) 56000 (DFB2)

61 61

Colorantes (no conductores)

IR140/ PMMA SC 0.015:1 PM567/PMMA

3b L(ASE) 10c 0.8×0.01 E 0.5×0.02 (DFB1)

970(ASE) 1600(ASE) -- 918(DFB1) 12 (DFB2) 569(ASE)3800(ASE)16×103

62 63 3

Oligómeros

T5oCX SC

3b 10c

637(DFB3) 46(DFB3) -- 42

Fluorenil-tiofeno (FTS) SC

3b L(ASE) 10c 0.7×0.001

542(ASE) 50(ASE)

43

T3oxPh/PC 9:1 SC

3b L(ASE) 10c 0.85×0.01

495(ASE) 150(ASE)

44

T5oxPh/PC 9:1 SC

30b L(ASE) 0.85×0.01

545(ASE) 366(ASE)

44

Tiofeno/perileno Co-oligómero BP1T MC

3 b L(ASE) E 10c 0.85×0.01

462(ASE) 13(ASE)

45

Oligo (p-fenileno-vinileno) MC CCN-DPDSB

10b L(ASE) E 10c 0.85×0.01

469(ASE) 39.5(ASE)

46

Dendrímeros

Bifenilcarbazol BPC SC

4 b 20c

421(ASE) 4(ASE)

58

Bis-fluoreno Cored dendrímero SC G1

1b C(DFB2) P 5000c 0.008×0.01

408(DFB2) 1125(DFB2)

48

Bis-fluoreno Cored dendrímero SC G2

1b C(DFB2) P 5000c 0.008×0.01

408(DFB2) 625(DFB2)

48

N

CH3

CH3

N

CH3

CH3

N+

S S

N

N

ClCl

N+

S S

N

N

ClCl

S

S S

S S

O O

S

O O

S

O O

CN

CN

N N

RO

OR

OR

RO

OO

O O

O

O

O

O

O

O

O

O

Page 59: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos

45

Material (b ) Haz de bombeo Haz emitido Refi Nombre Estructura

Química Tipoa Muestra

DP(ns)b

RR(Hz)c Forma;d

Tamaño(cm) GRe λλλλASE f

λλλλDFB(nm)

IuASE g

IuDFB

(kW/cm2)

t1/2h

p

PPV

BUEH-PPV SC 10b L(ASE) 0.1×0.02 10c

562(ASE) 0.6(ASE) - 562(DFB1) 0.3(DFB1)

26

MEH-PPV SC 1b C(ASE) 0.1 C(DFB2bi) P 0.01×0.008 5000c

625(ASE) 4 (ASE) 625(DFB2bi)50(DFB2bi)

34 17

OC1C10-PPV SC 1b C (DFB2) P 0.01×0.008 5000c

638(DFB2) 2800(DFB2) -

64

LPP

MeLPPP SC 20b C(DFB2) P 10c 0.001

495(DFB2) 80(DFB2) --

40

Polifluoreno PF

PFO SC

20b L(ASE) E 10c 0.1×0.02 1b C(DFB2bi) P C(DFB2) 0.025×0.01

466(ASE) 2(ASE) - 455(DFB2bi) 3.2(DFB2bi) 64(DFB2)

65

21 38

F8DP SC 10b L(ASE) 10c 0.1×0.02 1b C(DFB2) P 0.025×0.01

452(ASE) 0.63(ASE) - 465(DFB2) 16(DFB2) --

66 67

38

F8BT SC 10b L(ASE) 10c 0.1×0.02 10b C(DFB2) P 10c 0.025×0.01

576(ASE) 2.8(ASE) - 576(DFB2) 2.4(DFB2) --

66 67

68

Copolímero SC Dow Red F

10b L(ASE) --- 1b C(DFB2bi) P 0.025×0.02

685(ASE) 2.8(ASE) - 675(DFB2) 10(DFB2) --

67 66

60

PEHSAF SC

10b L(ASE) E 10c 0.4×0.04 1b C(DFB2) P 10c 0.015×0.018

445(ASE) 13(ASE) - 441(DFB2) 6.6(DFB2) --

70

70

TFB SC

4 b L(ASE) 1c 0.4×0.02 E

459(ASE) 250(ASE) -

71

PFC SC

3b 10c E

454(ASE) 60(ASE) -

72

Tabla 3.1.-(a) Materiales moleculares; (b) Materiales poliméricos. a Tipo muestra: SC (película spin-coating), MC monocristal; bduración pulso; critmo de repetición; dforma del haz: C(circular) L (línea); egeometría de recolección: TD (todas direcciones), P (perpendicular a la película), E (por el extremo de la película); f longitud de onda de emisión; g umbral: ASE (emisión espontánea amplificada), DFBnbi: n (orden) del DFB, bi (dos dimensiones); htiempo de vida media de la ASE: p (número de pulsos); ireferencia.

O

O

n

N

H17C8 C8H17

n

N

H17C8 C8H17

n

R1 R2

n

R2

R1

n

O

O

n

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Capítulo 3.- Antecedentes en el estudio de las propiedades láser en materiales orgánicos

46

En el caso de películas de material, se ha demostrado que tanto la organización molecular

como la calidad de la película, juega un papel muy importante a la hora de obtener eficiencias

fotoluminiscentes elevadas y emisión estimulada en estado sólido. Hoy en día no se entiende

de forma clara este comportamiento, por lo que la investigación sobre la dependencia de las

propiedades láser del material con la concentración de molécula activa para intentar aclarar

el papel que juega la formación de especies agregadas, es de gran interés.

Sin embargo, las investigaciones realizadas por diversos grupos se basan en el estudio de

películas de material puro, por lo que en este trabajo se ha insistido en la importancia de

realizar experimentos con diferentes concentraciones de molécula activa, con la finalidad de

optimizar el comportamiento láser del material ya que no siempre la mejor opción es utilizar

películas puras de material.

Por otro lado, es importante señalar que a pesar de que existe un amplio rango de materiales

investigados, prácticamente no ha habido diseño, pues la mayoría de los materiales estudiados

para utilizarlos como láseres, han sido diseñados para otro tipo de aplicaciones tales como

LEDs. En relación con este hecho, uno de los principales retos existentes en este campo sería

poder establecer relaciones estructura-propiedad que permitan a los químicos orgánicos

diseñar materiales con mejores propiedades láser.

Page 61: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

________________ParteII___________________

TÉCNICAS EXPERIMENTALES

Page 62: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

48

Page 63: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

49

Capítulo 4________________________________

Técnicas experimentales.

4.1 Preparación de películas delgadas: spin coating.

4.2 Medidas de absorción y fotoluminiscencia.

4.3 Medida de eficiencias fotoluminiscentes.

4.4 Medida de espesores.

4.5 Caracterización de guías de ondas: técnica de los modos oscuros (“m-line” technique).

4.5.1 Sistema experimental.

4.5.2 Observación de modos y toma de medidas.

4.5.3 Caracterización y discusión de resultados.

4.6 Sistema experimental para determinar la presencia de emisión estimulada mediante la observación de ASE.

4.7 Medidas de fotoestabilidad.

4.8 Proceso de fabricación del DFB.

4.8.1 Grabado de la red por litografía holográfica y transferencia al substrato mediante “ataque iónico reactivo” (reactive ion etchin).

4.8.2 Depósito de la película sobre la red.

4.9 Sistema experimental para determinar la presencia de emisión láser en láseres

DFB.

4.10 Cálculo de la intensidad umbral: influencia de factores geométricos y métodos para la determinación del umbral.

Page 64: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

50

Page 65: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 4.- Técnicas experimentales

51

4.1 Preparación de películas delgadas: spin coating.

Una parte importante del trabajo de investigación realizado consistió en la preparación de

películas orgánicas delgadas. Es de suma importancia controlar la limpieza en el proceso de

fabricación para conseguir películas homogéneas, así como controlar los parámetros que van a

determinar el espesor de la película, ya que dicho espesor será determinante en las

propiedades de guía de ondas que presenten las películas estudiadas.

Existen muchos métodos, tanto físicos como químicos, para la preparación de películas

delgadas.73,74,75 Entre los diversos métodos físicos, la evaporación térmica y la deposición en

platina rotatoria (“sping coating”) son las más habituales para la preparación de películas

orgánicas. Esta última es mucho más sencilla, pero exige que el material a depositar sea

soluble. Todas las películas estudiadas en este trabajo han sido preparadas por esta técnica, de

ahí que se describa a continuación en más detalle.

La técnica de “Spin Coating” es una técnica sencilla que permite la obtención de películas

con muy buenas propiedades mecánicas (dureza) y ópticas (sin “scattering”). El modelo

spinner utilizado en la preparación de películas ha sido el SMA-SPINNER 6000 PRO (figura

4.1). Consiste en una platina metálica rotatoria sobre la que se coloca un substrato sujetado

por medio de vacío y que se cubre con una pequeña cantidad de disolución que contiene el

material orgánico de interés. La platina metálica gira, de manera que el disolvente se evapora,

quedando el material depositado sobre el substrato. Los parámetros fundamentales que

intervienen en el proceso y que determinan el espesor (h) de las películas son la velocidad de

rotación (v) y la viscosidad (p), determinada fundamentalmente por la concentración de

material orgánico respecto al disolvente, según la ecuación:

ν

2cph = (4.1)

donde c es una constante.

En los casos en los que el material activo es una molécula orgánica, es frecuente utilizar

mezclas con polímeros que actúan como matriz soporte que proporcionan buenas propiedades

mecánicas a la película y, a su vez, permite tener una distribución homogénea de las

moléculas orgánicas. Así, para fabricar la película, en primer lugar se prepara una

Page 66: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 4.- Técnicas experimentales

52

Figura 4.1.- Esquema y fotografía del spinner modelo SMA-SPINNER 6000 PRO utilizado para la preparación

de películas delgadas.

disolución conteniendo un polímero soporte, la molécula orgánica con la propiedad de interés

y el disolvente, dejando agitar la disolución con un imán durante varias horas. El substrato

utilizado en este trabajo ha sido vidrio BK7, cuyo índice de refracción viene dado por

43

222

102

λλλ AA

AAn +++= (4.2)

donde A0 = 2.2718929, A1 = -1.010806710-2, A2 = 1.0592509×102 y A3 = 2.0816965× 10-4.

El proceso de limpieza consiste en sumergir el substrato en mezcla crómica durante varias

horas. Transcurrido este tiempo, éste se coloca perfectamente limpio y seco sobre la platina

giratoria. Posteriormente se deposita sobre él una pequeña cantidad de disolución filtrada

(filtros con diámetro de poro de 0.45 µm) para la preparación de la película e inmediatamente

se hace girar la platina durante 30 s.

En cuanto al disolvente, es necesario que sea compatible tanto con la molécula orgánica como

con el polímero, lo que en ocasiones es un problema debido a la baja solubilidad que

generalmente poseen los polímeros. Asimismo, es importante que su punto de ebullición no

sea muy bajo, para evitar que la evaporación se produzca con excesiva rapidez, dando lugar a

inhomogeneidades de espesor.

Para la preparación de nuestras películas se ha utilizado como polímero soporte poliestireno

cuyo índice de refracción viene dado por:76

42

2

λλCB

An ++= (4.3)

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

53

donde A = 1.5691, B = 0.0052 y C = 0.0007.

En cuanto a los disolventes se han utilizado tolueno (pureza 99.5%, punto ebullición 110.8

ºC) y cloroformo (pureza 99.8%, punto ebullición 61 ºC).

4.2 Medidas de absorción y fotoluminiscencia.

Los espectros de absorción se midieron con un espectrofotómetro Shimadzu. A partir de estos

espectros se obtuvieron los valores de densidad óptica (OD) a una longitud de onda dada. A

partir de éstos se puede obtener la absorbancia o coeficiente de absorción (α) y el coeficiente

de extinción (ε), ambos para una longitud de onda dada.

Definiciones

La densidad óptica es la absorción de un elemento óptico, para una longitud de onda

(adimensional) que nos proporcionan los espectrofotómetros y que viene dada por:

=−=I

ITOD 0

10 loglogλ (4.4)

donde T es la transmitancia por unidad de longitud, I0 es la intensidad del rayo de luz

incidente e I es la intensidad del haz de luz transmitido.

En cuanto a la absorbancia α se define según:

h

OD 10ln×=α (4.5)

donde OD es la densidad óptica y h es el espesor de la muestra.

Por último, el coeficiente de extinción ε, expresado generalmente en unidades de mol-1cm-1 y

que es característico de cada sustancia, se mide en disoluciones muy diluidas y viene dado

por:

lC×

= αε (4.6)

donde C es la concentración de la muestra (mol/l) y l la distancia recorrida por el haz (grosor

de la celda que contiene la disolución).

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

54

Para las medidas de fotoluminiscencia (FL) tanto en disolución como en película, se utilizó un

fluorímetro Jasco FP-6500/6600 (ver figura 4.2 a). Para las medidas de fotoluminiscencia en

disolución, el haz emitido se recolecta por la cara de la cubeta perpendicular a la dirección del

haz incidente, mientras que para el caso de la película, el haz emitido se recolecta en reflexión

formando un ángulo de 45º respecto a la normal a la muestra (ver figura 4.2 b y c).

Figura 4.2.- a) Fluorímetro Jasco FP-6500/6600; b) dispositivo para la medida de espectros de fotoluminiscencia

en disolución; c) dispositivo para la medida de espectros de fotoluminiscencia en película.

Para medir los espectros de absorción y fotoluminiscencia en disolución se utilizaron cubetas

de cuarzo de (10 × 10) mm.

4.3 Medida de eficiencias fotoluminiscentes.

Cuando se excita un material con luz, parte de esa luz es absorbida por el material,

formándose un estado energético excitado. La eficiencia cuántica fotoluminiscente (φF) es el

cociente entre el número de fotones absorbidos y en número de fotones emitidos mediante

procesos de fluorescencia. Esta eficiencia da la probabilidad de que el estado excitado se

desactive mediante mecanismos de fluorescencia en lugar de a través de cualquier otro

proceso no radiativo.

Cubeta

Soporte cubeta

Ventana

haz de excitación

Ventana

haz de emisión

Ventana

haz de excitación

Ventana

haz de emisión

Soporte muestra sólida

MuestraCubeta

Soporte cubeta

Ventana

haz de excitación

Ventana

haz de emisión

Ventana

haz de excitación

Ventana

haz de emisión

Soporte muestra sólida

Muestra

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

55

En este trabajo, la determinación de eficiencias fotoluminiscentes se ha realizado mediante el

método comparativo de Williams,77 en el que se utilizan muestras estándar como referencia,

de las que es bien conocido su valor de eficiencia luminiscente. Básicamente, este método

consiste en asumir que disoluciones del material estándar y del material problema, con

absorbancias idénticas a la misma longitud de onda, pueden absorber el mismo número de

fotones.

De esta manera, el cociente entre las intensidades de fluorescencia integradas de las dos

disoluciones es comparable con el cociente de los valores de las eficiencias luminiscentes de

ambos materiales. Como la eficiencia luminiscente del estándar es conocida, es fácil calcular

la del material problema. En la práctica, el proceso es más complicado, ya que hay que tener

en cuenta la presencia de efectos debido a la concentración utilizada (interacción molecular),

el uso de distintos disolventes para el material estándar y el material problema y la fiabilidad

de los valores de eficiencia luminiscente de los estándars utilizados en el método. Para

intentar resolver este tipo de consideraciones, lo que se hace es trabajar con un rango de

concentraciones de manera que se obtenga una dependencia lineal de la absorbancia con la

concentración en ese rango. Además, en el cálculo de las eficiencias luminiscentes se tienen

en cuenta los índices de refracción de los disolventes utilizados. Respecto a la fiabilidad de

los valores de eficiencia luminiscente de los estándars, lo que se hace es calibrar el estándar

que se vaya a utilizar con otro estándar para asegurar que el valor que se obtiene es el mismo

que el que se describe en la literatura.

Consideraciones experimentales generales.

Los disolventes utilizados deben tener calidad espectranal (grado de pureza espectroscópico).

Respecto a la elección del material estándar se debe elegir aquel que absorba en la misma

región que el material problema y si es posible, que emita en la misma zona. Las cubetas

utilizadas deben de ser de cuarzo. En el caso de utilizar cubetas de 10 mm de sección, las

absorbancias no deben exceder valores de alrededor de 0.1 a la longitud de onda de

excitación, ya que por encima de este valor, se pueden observar efectos de interacción

molecular, lo cual perturbaría los valores de eficiencias fotoluminiscentes.

Page 70: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 4.- Técnicas experimentales

56

Procedimiento de medida.

Se prepararon disoluciones con un rango de concentraciones adecuado (tanto del material

problema como del estándar) para obtener absorbancias con valores alrededor de 0.1 a la

longitud de onda de excitación que se vaya a utilizar posteriormente para obtener el espectro

de fotoluminiscencia. Es importante a la hora de obtener el espectro de absorción, restarle los

posibles efectos del disolvente utilizado.

Además, se debe obtener el espectro de fotoluminiscencia de las disoluciones anteriores y

calcular la intensidad total de fotoluminiscencia (área del espectro de fotoluminiscencia),

tanto del material problema como del material estándar.

Para finalizar, se representaron gráficamente la intensidad total fotoluminiscente en función

de la absorbancia para cada material (incluyendo el punto 0,0). De esta representación, se

obtuvieron en cada caso la pendiente correspondiente a cada serie de medidas mediante un

ajuste por mínimos cuadrados.

Figura 4.3.- Ajuste por mínimos cuadrados del área total fotolumniscente frente a la absorbacia para la

obtención de las eficiencias cuánticas luminiscentes de un material mediante la Ec. 4.7.

Una vez obtenidas las pendientes para cada caso se obtiene el valor de la eficiencia

fotoluminiscente, mediante la siguiente ecuación:

=

2

2

ST

X

ST

XSTX Grad

Grad

ηηφφ (4.7)

0,00 0,02 0,04 0,06 0,08 0,10

0

1

2

3

4

5

Áre

a fo

tolu

min

isce

nte

(U.a

rb.)

α (cm-1)

Page 71: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 4.- Técnicas experimentales

57

donde los subíndices X y ST se refieren al material problema y al estándar respectivamente,

siendo φ la eficiencia luminiscente, Grad el valor de la pendiente obtenida mediante el ajuste

por mínimos cuadrados en cada caso y η el índice de refracción de los disolventes utilizados.

Con la finalidad de minimizar los errores durante el proceso de medida, se obtuvieron los

espectros de absorción y fotoluminiscencia inmediatamente después de la preparación de cada

una de las disoluciones, para evitar así que se evaporara el disolvente afectando a la

concentración de la disolución preparada.

4.4 Medida de espesores.

Para medir espesores en el laboratorio lo que se ha utilizado es un microscopio

interferométrico con un ocular micrométrico de la marca Hacker Instruments Inc. con un

objetivo de 8 mm. Como fuente se utiliza una lámpara de sodio y una bombilla de luz blanca.

La descripción detallada del método utilizado para la realización de esta medida fue llevada a

cabo en mi trabajo de DEA.78

Figura 4.4.- Microscopio interferomético

4.5 Caracterización de guías de ondas: técnica de los modos oscuros (“m-

line” technique).

Mediante la técnica de los modos oscuros (“m-line”) se determinaron las propiedades de guía

de ondas que presentan las películas preparadas con el material a estudiar. Esta técnica

consiste en acoplar luz a la guía de ondas mediante un prisma y determinar los ángulos de

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

58

propagación correspondientes a cada uno de los modos de propagación y los correspondientes

índices efectivos.

Para acoplar un haz de luz oblicuamente a la guía, es necesario que las velocidades de las

ondas en la guía y en el haz en la dirección z (ver figura 4.5) sean iguales. La condición de

acoplo requiere que la constante de propagación para el modo m (βm) cumpla

( ) mcmcm sennsenkn θλπθβ 0/2== (4.8)

donde βm es la constante de propagación para el modo m, θm es el ángulo de incidencia de la

luz en la guía respecto a la normal a la muestra y nc es el índice de refacción del

recubrimiento. Además, los modos guiados cumplen βm > knc, de tal forma que considerando

esta condición la Ec. 4.8 llevaría a senθm > 1 lo cuál no es posible.

Figura 4.5.- Intento de acoplo de la luz en la guía.

Una solución a este problema consiste en la utilización de un prisma de índice de refracción

mayor que el de la guía, de forma que dicho prisma permitirá acoplar la luz dentro de la guía

de forma selectiva para cada modo, dependiendo del ángulo de incidencia, gracias a que la luz

en cada modo se propaga a velocidades distintas.

En la figura 4.6 se observa como un haz incide sobre el prisma (con índice de refracción np >

nc ) de tal forma que el haz es totalmente reflejado en la interfase prisma-aire, e interfiere con

el haz incidente para dar lugar a un modo propagándose en el prisma en la dirección z con

constante de propagación βm. Para cada modo guiado (m) se tiene un ángulo de incidencia

sobre el prisma Am que hace que exista un ángulo de propagación en el prisma θm que debe

cumplir ( )pcm nnsen /1−>θ para que haya reflexión total dentro del mismo, siendo nc y np los

índices de refracción del aire y del prisma respectivamente con np > nc. Estos modos tienen

βm

ns

nc

nf

θm

x

z

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

59

Figura 4.6.- Acoplo de la luz en una guía de ondas mediante un prisma.

una onda evanescente que penetra más allá de la interfase. Si se coloca el prisma lo

suficientemente cerca de la guía (figura 4.6) puede darse un acoplo coherente de la energía

desde el modo del prisma al modo de la guía siendo sus índices efectivos iguales.

θθκβsennsenn

kN fmp

mmef === (4.9)

donde Nefm es el índice efectivo de la película para el modo de orden m, βm la correspondiente

constante de propagación de la onda y np es el índice de refracción del prisma.

La forma exponencial de los campos (ondas evanescentes) en la región de acoplo implica una

transferencia de energía por medio de efecto túnel. Para que se produzca un intercambio de

energía, la longitud de interacción a lo largo del eje z (L) debe verificar κL = π/2, siendo κ el

coeficiente de acoplamiento que depende del índice del prisma, del índice de la película, del

índice del recubrimiento y del espaciado entre el prisma y la guía. En este trabajo hemos

supuesto que κ = 1.

En la práctica, este acoplo se consigue colocando el prisma encima de la muestra y un

papelito debajo del substrato (figura 4.6) de tal forma que ejerciendo presión sobre el prisma

se consigue contacto en un punto (donde se ha colocado el papelito se verá un punto brillante

al conseguir el contacto). Debido al desplazamiento de Goos-Hächen, una vez acoplada la luz

en la guía, queda confinada. El mismo prisma funciona como acoplador de salida, operando

de igual modo. La imagen visualizada a la salida del prisma en una pantalla consistirá en una

mancha brillante con diversas líneas oscuras, que corresponden a los modos que han quedado

confinados en la guía.

Papel contacto

nsSubstrato

αααα

np

nc

Am

Am

ϕϕϕϕm

θθθθm

nf Guíaθθθθ

Papel contacto

nsSubstrato

αααα

np

nc

Am

Am

ϕϕϕϕm

θθθθm

nf Guíaθθθθ

Papel contacto

nsSubstrato

αααα

np

nc

Am

Am

ϕϕϕϕm

θθθθm

nf Guíaθθθθ

Papel contacto

nsSubstrato

αααα

np

nc

Am

Am

ϕϕϕϕm

θθθθm

nf Guíaθθθθ

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

60

4.5.1 Sistema experimental.

A continuación, se muestra una fotografía del sistema experimental montado por mí, y que ha

sido utilizado para determinar los modos de las guías de ondas (ver figura 4.7). El sistema

experimental utilizado en la técnica de los modos oscuros (ver figura 4.8) consta de los

siguientes de elementos:

Figura 4.7.- Fotografía de la técnica de los modos oscuros para la caracterización de guías de ondas.

Figura 4.8.- Esquema del sistema experimental utilizado en la técnica de los modos oscuros.

• Láser de He-Ne (emisión en el rojo a λ = 632.8 nm) como fuente de luz.

• Polarizador. Permite seleccionar la polarización de la fuente de luz con la que se quiere

trabajar (TE, TM).

Láser He-Ne

λλλλ = 632.8 nm Polaroide

Banco óptico

DiafragmaObjeto Lente Motor

giratorio

Pantalla

Lente

Motor

giratorio

Soporte para el prisma

Objeto

Diafragma

Polaroide

Láser He-Ne

λλλλ = 632.8 nmLente

Motor

giratorio

Soporte para el prisma

Objeto

Diafragma

Polaroide

Láser He-Ne

λλλλ = 632.8 nmLente

Motor

giratorio

Soporte para el prisma

Objeto

Diafragma

Polaroide

Láser He-Ne

λλλλ = 632.8 nmLente

Motor

giratorio

Soporte para el prisma

Objeto

Diafragma

Polaroide

Láser He-Ne

λλλλ = 632.8 nm

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

61

• Diafragma. Permite quedarse con la zona central del haz de forma que se asegura la

homogeneidad del mismo.

• Objeto (aspa). Sirve como referencia a la hora de realizar las medidas.

• Lente esférica de distancia focal f = 10 cm.

• Motor giratorio de la casa OWIS con controlador SM32.

• Prisma de la casa OWIS (np = 1.8041, α = 45º).

• Soporte para el prisma donde se coloca la muestra.

• Pantalla.

4.5.2 Observación de modos y toma de medidas.

El procedimiento de medida consiste en colocar la muestra en el soporte y realizar el contacto

con el prisma ejerciendo presión sobre el mismo mediante el soporte que muestra la figura 4.9

Figura 4.9.- Soporte para prisma con el fin de acoplar luz en la guía.

Tras fijar el origen en el punto en el que el haz incide perpendicularmente sobre el prisma, se

va girando el motor sobre el que está colocada la muestra de forma que se va cambiando el

ángulo de incidencia sobre el prisma y en consecuencia el de salida. Experimentalmente, lo

que se observa es el haz de salida del prisma en una pantalla que forma un mancha brillante,

αααααααα αααααααα

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

62

con la imagen del objeto referencia (aspa en forma de cruz) y líneas verticales oscuras que

corresponden a los modos guiados por la guía (ver figura 4.10). De esta forma, para

determinados ángulos de giro, van apareciendo los distintos modos que soporta la guía. Con

la señal de referencia colocada exactamente encima de cada modo se mide el ángulo que

forma el haz de salida con la normal al prisma (Am ángulo de acoplo para un modo

determinado). Puesto que el modo fundamenta (m = 0) es el que viaja más cerca del eje

central de la guía, por la geometría mostrada en la figura 4.6, corresponderá al ángulo Am

mayor y por lo tanto al valor más alto de θm.

Figura 4.10.- Imagen experimental del modo soportado por una guía de ondas mediante la técnica de los modos

oscuros.

4.5.3 Caracterización.

Para determinar el índice de refracción y el espesor de la película a partir de las medidas de

ángulos de propagación asociados a sus modos de propagación, es necesario conocer el índice

efectivo para cada película. El valor del índice efectivo se puede obtener a partir de los

ángulos de incidencia Am medidos mediante la técnica de los modos oscuros.

La expresión para el índice efectivo para el modo m viene dada por

mpmef sennN θ= (4.10)

Según la figura 4.6 se tiene:

mm ϕαθ += (4.11)

y aplicando la ley de Snell a la salida del prisma:

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

63

mcmp senAnsenn =ϕ (4.12)

Considerando la ecuación 4.10, la ley de Snell y que el recubrimiento es aire (nc = 1) se llega

a:

= −

mp

m senAn

sen11ϕ (4.13)

De esta forma se puede expresar la ecuación para el índice efectivo en función del índice del

prisma y del ángulo medido según:

+= −

mp

pmef senA

nsensennN

11α (4.14)

Una vez obtenido los índices efectivos de los modos de una determinada película, se puede

determinar su índice de refracción y su espesor mediante la resolución numérica de la

ecuación transcendental (Ec. 2.11) si la guía soporta al menos dos modos. Todas las guías

estudiadas tienen un único modo por lo que para la resolución de la ecuación transcendental,

tanto para el caso de polarización TE como para el TM, se considera m = 0. De esta forma se

sustituye en las expresiones para los desfases guía-substrato guía-recubrimiento

correspondiente a polarización TE (Ec. 2.6) y polarizazión TM (Ec. 2.7) respectivamente, el

ángulo en términos del índice efectivo y el índice de la película mediante la Ec. 4.10.

Finalmente se introducen estas ecuaciones en la ecuación transcendental quedando para el

caso de polarización TE:

( )

2

2

22

22

22

22

222 1

effefff

ceff

efff

sefff N

Nn

nNarctg

Nn

nNarctg

hkn =

−−

+−−

− (4.15)

y para el caso de polarización TM:

2

2

22

22

2

2

22

22

2

2

222 1

effefff

ceff

c

f

efff

seff

s

f NNn

nN

n

narctg

Nn

nN

n

narctg

hkn f =

+

− (4.16)

Las Ecs. 4.15 y 4.16 se resuelven numéricamente mediante un programa en C utilizando

Math-Lab, de forma que conocido el valor de índice efectivo calculado experimentalmente

mediante la Ec. 4.14, el índice del substrato y recubrimiento (ns y nc respectivamente) y el

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

64

espesor h medido según el apartado 4.4, el valor del índice de la película será aquel que

verifique la igualdad en la Ec. 4.15 para polarización TE y la Ec. 4.16 para polarización TM.

4.6 Sistema experimental para determinar la presencia de emisión

estimulada mediante la observación de ASE.

El método más sencillo para saber si un material es adecuado como medio activo láser

consiste en excitar ópticamente una película de dicho material e identificar un estrechamiento

de su espectro fotoluminiscente a una determinada intensidad de bombeo.33,34,60,79 Ello pone

de manifiesto la presencia de emisión estimulada y en consecuencia ganancia. El sistema

experimental utilizado para la realización de este trabajo es el que se muestra en la siguiente

figura 4.11 y consta de los siguientes elementos:

Figura 4.11.- Sistema experimental para determinar la presencia de emisión estimulada formado por: láser

Nd:YAG (1), galileo (2), filtros (3), lente cilíndrica (4), rendija variable (5), película (6), fibra (7),

espectrofotómero (8), ordenador (9). Las líneas continuas y de trazos corresponden a los rayos que en planos

perpendiculares limitan en anchura y longitud, respectivamente, la línea formada por la lente cilíndrica y la

abertura rectangular.

1. Un láser pulsado de Nd:YAG de la marca Spectra-Physics cuyos pulsos tienen una

duración de 10 ns, el ritmo de repetición es de 10 Hz y una energía máxima por pulso de

100 mJ, del que se ha utilizado el tercer armónico (355 nm) y el segundo armónico (533

nm) para excitar las muestras.

2. Un galileo invertido para expandir y colimar el haz del que se selecciona la parte central

del haz mediante un diafragma para asegurar que la intensidad sea uniforme.

3. Filtros neutros con diferentes densidades ópticas para controlar la energía de los pulsos.

1

2

7

3 4 5

6

8 9

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

65

4. Lente cilíndrica de distancia focal f = 13.5 cm que permite focalizar el haz en forma de

línea.

5. Rendija rectangular de anchura variable (entre 0 y 3.5 mm) para controlar la longitud de la

línea de excitación sobre la muestra.

6. Película orgánica sobre substrato.

7. Fibra óptica (marca Ocean Optics) colocada en el extremo de la muestra, perpendicular al

haz incidente, para recoger la fotoluminiscencia emitida por la muestra.

8. Espectrofotómetro (marca Ocean Optics) conectado a una fibra óptica para obtener el

espectro fotoluminiscente.

9. Ordenador.

Figura 4.12.- Sistema experimental para la medida de emisión estimulada.

La posición de la muestra respecto al foco de la lente cilíndrica es de 5 mm por detrás del

foco, de forma que la anchura de la línea de excitación es de 530 µm. Además, la longitud de

la línea de excitación se puede ajustar mediante la rendija variable en un rango entre 0 y 3.5

mm, fijándose un valor 3.5 × 0.53 mm para aquellos experimentos donde el haz de excitación

debe tener un tamaño fijo. Para medir el ancho de la línea de excitación se situó una cuchilla

sujeta a un tornillo micrométrico perpendicular al haz de excitación y en el mismo punto

donde se focaliza el haz de excitación sobre la muestra. Formando la imagen del ancho de la

línea en una pantalla alejada de este punto y desplazando la cuchilla mediante el tornillo

Galileo invertido

Filtros neutros

diafragma

Fibra

Soporte

muestraRendija

variable

Lentecilíndrica

Galileo invertido

Filtros neutros

diafragma

Fibra

Soporte

muestraRendija

variable

Lentecilíndrica

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

66

micrométrico perpendicular al haz, se determinó la anchura de la línea contando cuanto había

que desplazar el tornillo micrométrico desde el punto en que empezaba a desaparecer la

imagen del ancho de la línea en la pantalla hasta que desaparecía por completo.

Figura 4.13.- Esquema del haz de excitación en forma de línea sobre la muestra.

Figura 4.14.- Recolección del espectro de fotoluminiscencia mediante una fibra en el sistema experimental

descrito en el apartado 4.6.

Con este sistema experimental se excita la muestra con distintas intensidades de bombeo hasta

conseguir ver el colapso espectral, que nos indica la presencia de emisión estimulada. Como

ya se discutió en el apartado 1.8 existen diversos mecanismos que pueden dar lugar a

amplificación sin necesidad de tener cavidad resonante. El más común es la ASE, que aparece

por ejemplo en guías de ondas. El confinamiento de la luz en la guía permite que la luz

emitida viaje por el medio activo la distancia suficiente para experimentar ganancia. En todo

caso, para verificar que el mecanismo responsable del estrechamiento espectral es la ASE se

Rendija variable

Película

Línea excitación

l

Rendija variable

Película

Línea excitación

l

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

67

puede estudiar la dependencia de la emisión con la longitud de la línea de excitación y

comprobar que los datos se ajustan a la Ec. 1.22.

4.7 Medidas de fotoestabilidad.

Para la medida de la fotoestabilidad de las muestras se utiliza el sistema experimental descrito

en el apartado 4.6. Esta medida consiste en excitar la muestra con un haz de excitación de

tamaño fijo para una intensidad de bombeo por encima del umbral durante un periodo de

tiempo necesario hasta observar que la ASE alcanza la mitad de su valor máximo. A este

tiempo en el que la intensidad de la ASE disminuye a la mitad de su valor máximo, se le

llama tiempo de vida media y es el parámetro que habitualmente se utiliza en la

caracterización de la fotoestabilidad. Este tiempo también puede expresarse en términos de

números de pulsos de excitación. Es importante señalar que este parámetro depende del ritmo

de repetición del haz de bombeo que en nuestro caso es de 10 Hz.

4.8 Proceso de fabricación de láseres DFB.

La fabricación del láser DFB consistió en depositar una película de material activo sobre un

substrato de vidrio en el que previamente se había grabado una red con la finalidad de

introducir una modulación en el índice de refracción.

4.8.1 Grabado de la red por litografía holográfica y transferencia al substrato mediante

“ataque iónico reactivo”.

Para el grabado de la red se utilizó la técnica de litografía holográfica80-82 seguida de la técnica

convencional “ataque iónico reactivo” (reactive ion etching, RIE). En primer lugar se depositó

sobre un substrato de vidrio una película de gelatina dicromatada (material fotosensible) con

un espesor de unas 0.70 µm mediante la técnica de spin-coating. Cuando la gelatina

dicromatada se ilumina, se produce una reacción química que hace que el Cr+6 pase a Cr+3 de

tal manera que el Cr+3 se enlaza a la gelatina endureciéndola.80-82 Si previamente se ha

colocado sobre la muestra un patrón, se conseguirá que allí donde la luz incida, se endurezca

la gelatina, obteniéndose zonas blandas y zonas endurecidas en la película.

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

68

Mediante holografía se definió en esta película de gelatina una red utilizando el sistema

experimental descrito en la figura 4.15, consistente en un láser de Árgon con emisión a λ =

364 nm (1), un obturador (2), un objetivo (40×) (3), un diafragma de 40 µm de diámetro (4),

un colimador de distancia focal f = 20 cm (5), un espejo plano (6 ) y la película de gelatina

dicromatada depositada sobre vidrio (7).

Figura 4.15.- Sistema experimental para el grabado de la red del DFB formado por: láser Árgon (1), obturador

(2), objetivo (3), diafragma (4), colimador (5), espejo (6), película (7).

Mediante el objetivo se focaliza el haz en el iris a fin de seleccionar la parte central del haz y

así conseguir una mayor homogeneidad en su intensidad. El colimador proporciona un haz

paralelo de manera que se consigue que parte del haz incida directamente en la muestra y el

resto incida procedente de la reflexión en el espejo plano, formándose un patrón de

interferencia en la película de gelatina. Según la condición de Bragg (Ec. 1.20), el material

activo para el que se va a utilizar la red determina el periodo (Λ) de red que se debe grabar

(distancia entre las franjas de interferencia), puesto que depende del índice efectivo del

material y de la longitud de onda de emisión que se pretende obtener. En nuestro caso se

grabó una red con el fin de utilizar una película de poliestireno dopada con la molécula

orgánica TPD (ver capítulo 5) como material activo. Puesto que la emisión de este material

tiene lugar a una longitud de onda ∼ 420 nm y su índice efectivo es Nef ∼1.5540, para un

espesor de ∼155 nm y una concentración de TPD ∼ 30 %, utilizando la Ec. 1.20 se determina

el periodo que precisaría tener la red para que el DFB emita a una λBragg ∼ 420 nm. En

particular Λ = 135 nm para orden 1 (m = 1) y Λ = 270 nm para orden 2 (m = 2). Este periodo

será equivalente a la separación entre líneas de la red grabada, D (µm) dado por:

22

θλ

senD = (4.17)

1

2 3 4 5

6

7

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

69

donde λ es la longitud de onda del Árgon (µm) y θ es el ángulo formado entre el haz directo

del Árgon y la normal a la placa (42.4º).

Dado que en nuestro caso estamos limitados por la longitud de onda de operación del Árgon,

girando el sistema espejo-placa se consigue variar la separación D entre líneas.

Figura 4.16.- Esquema del procedimiento de grabado de la red, donde D es la separación entre franjas (270 nm)

y θ ángulo entre la placa y el haz directo.

Puesto que conseguir periodos Λ ∼ 135 nm (m = 1) conlleva una gran dificultad desde el

punto de vista experimental, pues sería necesario utilizar ángulos muy grandes ya que estamos

limitados por la longitud de onda del Árgon, decidimos comenzar los experimentos

preparando una red de periodo Λ = 270 nm que operará en el segundo orden de difracción (m

= 2).

Seguidamente se procedió a someter la muestra a un revelado seco utilizando un flujo de O2

mediante una fuente ECR modelo AX4300 de la marca ASTeX trabajando a una frecuencia

de 2.45 GHz de modo que la gelatina dicromatada se oxida más fácilmente en las zonas

blandas, estableciéndose sobre la película un relieve al eliminar la resina residual con agua.

La distancia entre la fuente y la muestra era de 7 cm. Para finalizar, este patrón se utilizó

como máscara transfiriéndose la red al substrato de vidrio mediante RIE, eliminando los

residuos de gelatina sobre el vidrio mediante lavado en agua (ver figura 4.17).

θθθθ

muestra

haz directo sobre la muestra

espejo

D

θθθθ

muestra

haz directo sobre la muestra

espejo

D

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

70

La caracterización de las redes obtenidas sobre gelatina se ha realizado mediante un

microscopio electrónico de transmisión (TEM), disponible en los servicios técnicos de la

Universidad de Alicante. Por otro lado, las redes en vidrio se han caracterizado mediante un

microscopio de fuerzas atómicas (AFM) a través de una colaboración con el Dr. Pablo Aitor

Postigo del Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM).

Figura 4.17.- Esquema del proceso de grabado de la red.

4.8.2 Depósito de la película sobre la red.

El siguiente paso para la fabricación del láser DFB consistió en el depósito de la película de

material activo sobre la red grabada en vidrio mediante la técnica de spin-coating descrita

previamente en el primer apartado de este capítulo. La estructura resultante se esquematiza en

la figura 4.18.

1. Spin coating

4. Ataque iónico reactivo(RIE)

3. Revelado seco(red de relieve en gelatina)

2. Exposición holográfica(endurecimiento diferencialde la gelatina)

Película de gelatina dicromatada(DCG) Espesor 0,70 nm

Franjas de interferencia

Flujo O2 para la obtención delrelieve grabado

Ataque selectivo del substrato

Red de relieve en el substrato

Substrato (vidrio o SiO2)

Ar láser

O2 ECR

1. Spin coating

4. Ataque iónico reactivo(RIE)

3. Revelado seco(red de relieve en gelatina)

5. Eliminación de la gelatinaresidual

2. Exposición holográfica(endurecimiento diferencialde la gelatina)

Película de gelatina dicromatada(DCG) Espesor 0,70 nm

Franjas de interferencia

Flujo O2 para la obtención delrelieve grabado

Ataque selectivo del substrato

Red de relieve en el substrato

Substrato (vidrio o SiO2)

Ar láser

O2 ECR

1. Spin coating

4. Ataque iónico reactivo(RIE)

3. Revelado seco(red de relieve en gelatina)

2. Exposición holográfica(endurecimiento diferencialde la gelatina)

Película de gelatina dicromatada(DCG) Espesor 0,70 nm

Franjas de interferencia

Flujo O2 para la obtención delrelieve grabado

Ataque selectivo del substrato

Red de relieve en el substrato

Substrato (vidrio o SiO2)

Ar láser

O2 ECR

1. Spin coating

4. Ataque iónico reactivo(RIE)

3. Revelado seco(red de relieve en gelatina)

5. Eliminación de la gelatinaresidual

2. Exposición holográfica(endurecimiento diferencialde la gelatina)

Película de gelatina dicromatada(DCG) Espesor 0,70 nm

Franjas de interferencia

Flujo O2 para la obtención delrelieve grabado

Ataque selectivo del substrato

Red de relieve en el substrato

Substrato (vidrio o SiO2)

Ar láser

O2 ECR

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

71

Figura 4.18.- Esquema de un láser DFB.

4.9 Sistema experimental para determinar la presencia de emisión láser en

láseres DFB.

Para el caso de DFBs de primer orden, el sistema experimental que se utiliza para caracterizar

las propiedades de emisión láser es el mismo que el empleado para la identificación de ASE.

En el caso de DFBs de segundo orden, el sistema experimental está ligeramente modificado

ya que hay que medir la luz emitida en la dirección normal a la muestra, puesto que es la

dirección donde mayor ganancia se produce. Las diferencias de este sistema experimental

respecto al utilizado para caracterizar la ASE son : (1) se utiliza una lente esférica (distancia

focal f = 20 cm), en lugar de una lente cilíndrica, de modo que el haz que incide sobre la

muestra tiene forma circular (diámetro ∼ 1.3 mm) en lugar de forma de línea; (2) la emisión

luminiscente se recoge en reflexión colocando la fibra a unos 5 mm de la muestra, en una

dirección perpendicular al plano de la película, en lugar de por el extremo de ésta y (3) para

poder recolectar la luz emitida, el haz de excitación incide con un ángulo ∼ 25º respecto a la

normal a la muestra, en lugar de los 0º utilizados en el experimento de la ASE. Al igual que

en el sistema experimental para determinar la presencia de ASE, se excita mediante un láser

pulsado de Nd:YAG trabajando a 355 ó 533 nm en función del espectro de absorción del

material activo. Debido a la presencia de cavidad resonante se produce un mayor

estrechamiento del espectro de emisión, alcanzando anchos de banda ∼ 1-2 nm así como unos

umbrales menores. El DFB estudiado es de segundo orden donde la realimentación es debida

al segundo orden de difracción de “scattering Bragg”. Respecto al mecanismo de extracción

de la luz emitida ésta se emite perpendicular a la muestra por “scattering Bragg” de primer

orden.14,16

Λ = 270 nm

vidrio

Película de material activo

Λ = 270 nm

vidrio

Película de material activo

Λ = 270 nm

vidrio

Película de material activo

Λ = 270 nm

vidrio

Película de material activo

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

72

En la figura 4.19 se muestra un esquema del sistema experimental utilizado en este caso. Los

elementos que cambian respecto al experimento para la caracterizar la ASE son:

4. Espejo para λ = 355 nn.

5. Lente esférica de distancia focal f = 20 cm que permite focalizar el haz en forma circular

con un diámetro de ∼ 1.3 cm.

6. Muestra sobre platina giratoria a fin de poder variar el ángulo entre la normal a la muestra

y el haz de bombeo. En el experimento se utilizó un ángulo ∼ 25º.

Figura 4.19.- Sistema experimental para determinar la presencia de emisión láser en un DFB de segundo orden

formado por: láser Nd:YAG (1), galileo (2), filtros (3), espejo (4), lente esférica (5), película (6), fibra (7),

espectrofotómero (8), ordenador (9).

4.10 Cálculo de la intensidad umbral: influencia de factores geométricos y

métodos para la determinación del umbral.

En este apartado se describen los métodos utilizados para la determinación de la intensidad

umbral de los materiales estudiados. Además, se resumen los experimentos previos realizados

para determinar la dependencia de la intensidad umbral con el tamaño, forma del haz de

excitación y sistema experimental utilizado para la toma de medidas.

4.10.1 Métodos para el cálculo de umbrales.

La existencia de ASE o de emisión láser se pone de manifiesto en la observación de un

estrechamiento del espectro fotoluminiscente acompañado de un aumento considerable en la

intensidad emitida tal y como se ha descrito en apartados anteriores. En general, se entiende

por umbral de ASE o umbral láser a la intensidad de excitación a la cual dicho fenómeno

1

2 34

5

67

89

1

2 34

5

67

89

1

2 34

5

67

89

1

2 34

5

67

89

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

73

empieza a producirse. Desde el punto de vista experimental, existen varias formas de

determinarlo:

1) Si se representa el ancho de banda a media altura (FWHM) del espectro de

fotoluminiscencia en función de la intensidad de bombeo (figura 4.20) se debe observar una

caída brusca para una determinada intensidad de bombeo. De este modo, la intensidad umbral

será aquella intensidad de bombeo para la cual el FWHM decae a la mitad de su valor

máximo.

0,1 1 100

5

10

15

20

Iumbral

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

Figura 4.20.- Determinación de la intensidad umbral mediante el procedimiento del FWHM.

2) Por otro lado, si se representa la intensidad emitida a la longitud de onda donde se produce

el colapso espectral, en función de la intensidad de bombeo (figura 4.21), lo que se espera

observar es un cambio brusco de pendiente ya que cuando se produce el estrechamiento

espectral del espectro de fotoluminiscencia aumenta la intensidad emitida de forma notable.

Este cambio de pendiente determina la intensidad umbral.

3) De forma análoga, si en lugar de representar la intensidad emitida a la longitud de onda del

máximo se representa el área total del espectro de fotoluminiscencia para cada intensidad de

bombeo (figura 4.22), se observa una gráfica similar a la anterior en la que el cambio de

pendiente determina la intensidad umbral.

Es importante tener en cuenta que los umbrales obtenidos a partir del primero de los métodos

descritos, esto es, a partir de los FWHM en función de la intensidad de bombeo son más bajos

(aproximadamente la mitad) que los obtenidos mediante los otros dos métodos. Esto es debido

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

74

0 2 4 60

2

4

6

Iumbral

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Intensidad de Bombeo (kW/cm2)

Figura 4.21.- Determinación de la intensidad umbral mediante el procedimiento del la intensidad FL.

a que al utilizar el FWHM en función de la intensidad de bombeo, el umbral es aquella

intensidad para la cual el espectro de fotoluminiscencia comienza a estrecharse (decae a la

mitad del valor máximo de FWHM) pero no es completamente estrecho. Sin embargo, si se

utiliza la intensidad emitida o el área en función de la intensidad de bombeo, el cambio de

pendiente indica la intensidad para la cual el espectro de fotoluminiscencia es completamente

estrecho.

0 2 4 6

10

12

14

16

18

Iumbral

Áre

a to

tal (

U. a

rb.)

Intensidad de Bombeo (kW/cm2)

Figura 4.22.- Determinación de la intensidad umbral mediante el procedimiento de la intensidad total FL.

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

75

4.10.2 Influencia en los umbrales del sistema experimental utilizado para la

caracterización de la emisión estimulada.

Puesto que en este trabajo se han utilizado dos sistemas experimentales diferentes, uno para la

caracterización de la ASE y otro para la caracterización de los DFBs de segundo orden,

hemos analizado en detalle como influyen diversos parámetros geométricos en los umbrales

obtenidos. Esto es de especial importancia a la hora de comparar materiales.

4.10.2.1 Sistema experimental para la caracterización de la ASE.

Este sistema experimental se caracteriza, como se vió en el apartado 4.6, porque se excita con

un haz en forma de línea perpendicular a la muestra y el haz emitido se recolecta por el

extremo de la película.

•••• Dependencia del umbral con la longitud de la línea de excitación.

En primer lugar, se excitó una película de PS (de espesor ∼300 nm) dopada con un 30 % de

TPD con un haz en forma de línea de ancho fijo 0.5 mm y longitud variable (1,1.5, 2, 2.5 y

3.5 mm). En todos los casos la intensidad umbral se calculó como la intensidad de bombeo

para la que el FWHM decae a la mitad de su valor máximo. En la figura 4.23 se representan

las intensidades umbrales obtenidas en función de la longitud de la línea de excitación.

0,0 0,5 1,0 1,5 2,0 2,5 3,0 3,5

0

400

800

1200

I umbr

al (

kW/c

m2 )

Longitud de la línea de excitación (mm)

Figura 4.23.- Iumbral

ASE en función de la longitud de la línea de excitación.

Como se puede observar, la intensidad umbral decrece conforme aumenta la longitud de la

línea de excitación, saturándose y manteniéndose constante a partir de longitudes de línea de

aproximadamente 2 mm.

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

76

• Dependencia del umbral con la geometría de recolección.

Se realizó un experimento que nos permitiera estudiar si la intensidad umbral dependía de la

forma de recolectar la luz emitida. Para ello, se excitó la muestra con un haz en forma de

línea de tamaño fijo (3.5 × 0.5 mm) recolectando por el extremo de la película y en reflexión.

En ambos casos se calculó la intensidad umbral obteniéndose los resultados que se muestran

en las figuras 4.24 a y 4.24 b.

Como se puede observar, se obtienen valores de intensidad umbral mayores cuando la

emisión se recolecta en reflexión, por lo que es muy importante que a la hora de comparar

umbrales se tenga en cuenta las condiciones experimentales en las que se han realizado la

medidas.

Figura 4.24.- FWHM en función de la intensidad de bombeo obtenido en el sistema experimental para la medida

de presencia de ASE, (recolectando la luz por el canto de la muestra (a) y en reflexión (b)) .

4.10.2.2 Sistema experimental para la caracterización de DFBs de 2º orden.

En este sistema experimental, descrito en el apartado 4.9, se excita con un haz en forma

circular con un ángulo diferente a la normal y el haz emitido se recolecta en reflexión.

•••• Dependencia del umbral con el diámetro del haz de excitación.

De la misma forma que en el caso del haz de excitación en forma de línea, se calculó la

intensidad umbral de la película anterior excitando ahora con una haz de forma circular con

diámetros de 0.5, 1.3, 2 y 2.5 mm. En este caso, la intensidad umbral también disminuía

conforme se aumentaba el diámetro del haz hasta diámetros de ∼ 1.3 mm saturándose y

0 1 2 3 4 5 60

5

10

15

20

25

30

(a)

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

0 10 20 30 40 50 600

4

8

12

16

20

24

28

32 (b)

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

0 1 2 3 4 5 60

5

10

15

20

25

30

(a)

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

0 10 20 30 40 50 600

4

8

12

16

20

24

28

32 (b)

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

Page 91: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 4.- Técnicas experimentales

77

manteniéndose constante a partir de este valor. Sin embargo, las intensidades umbrales

obtenidas para diámetros a partir de 1.3 mm (∼ 45 kW/cm2), son mayores que las obtenidas

cuando el haz de excitación es una línea con una longitud de al menos 2 mm (∼ 1 kW/cm2),

por lo que en algunos casos la película se estropeaba durante el proceso de medida. De forma

análoga, se realizó el mismo experimento sobre el DFB, depositando una película de las

mismas características (espesor 300 nm y 30 % de TPD) sobre la red.

Como se puede observar en la figura 4.25, el comportamiento de la intensidad umbral del

DFB con el tamaño del diámetro del haz de excitación es el mismo que el observado en el

caso de la película: el umbral disminuye conforme el diámetro del haz de excitación aumenta,

para saturarse y mantenerse constante a partir de diámetros de aproximadamente 1.3 mm.

0,5 1,0 1,5 2,0 2,550

100

150

200

250

300

350

400

450

I Um

bral D

FB (

kW/c

m2 )

Diámetro del haz de excitación (mm)

Figura 4.25.- Iumbral

DFB en función de la longitud del diámetro del haz de excitación.

•••• Dependencia del umbral con la forma del haz.

Con la finalidad de determinar si la diferencia de intensidades umbrales obtenidas eran

debidas al sistema experimental utilizado, se realizó un experimento adicional que consistió

en determinar la intensidad umbral de la película utilizando el sistema experimental descrito

en el apartado 4.9 pero excitando la muestra con una línea de 0.5 mm de ancho y 2 mm de

largo en lugar de con un haz circular (cambiando la lente esférica por una cilíndrica que me

proporciona un haz en forma de línea). Para el cálculo de la intensidad umbral se usó el

mismo método que en los casos anteriores (ver figura 4.26).

Page 92: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 4.- Técnicas experimentales

78

El valor de intensidad umbral obtenido es del mismo orden que el que se obtiene cuando se

excita con una haz de 2 mm de diámetro (∼ 45 kW/cm2, ver figura 4.27), lo que pone de

manifiesto que la diferencia de valor de intensidad umbral observada es debida a la forma de

recolectar la luz emitida y no a la forma del haz de excitación.

No obstante, es importante señalar que debido a que el haz incide sobre la muestra con un

ángulo distinto de 0º respecto a la normal a la película, la utilización de un haz de gran

tamaño o de un haz en forma de línea no es muy adecuado. Esto es debido a que en estos

casos no existiría una distribución homogénea de la luz en la zona iluminada y por tanto no

estaría claro a quien corresponde el umbral.

0 100 200 3000

10

20

30

40

50

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

Figura 4.26.- FWHM en función de la intensidad de bombeo Iumbral

ASE para la determinación del umbral en el

sistema experimental de la sección 4.9 con un haz de excitación en forma de línea.

Podemos concluir que las condiciones óptimas para utilizar este sistema experimental a fin de

minimizar estos problemas es con un haz del menor tamaño posible y que forme un ángulo

respecto a la normal a la muestra lo más cercano a 0º que se pueda. Ello no obstante limita el

umbral que se puede obtener, pues como hemos visto aumenta la disminuir el tamaño del haz.

Por tanto, y al margen del valor absoluto del umbral obtenido, al caracterizar un DFB, es

importante siempre medir a continuación una película de las mismas características pero

depositada sobre un substrato sin red en el mismo sistema experimental para así evaluar

correctamente el efecto de la red.

Por otro lado, si el objetivo es evaluar el umbral de un material, lo ideal es utilizar es sistema

experimental para determinar la presencia de emisión estimulada mediante la observación de

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Capítulo 4.- Técnicas experimentales

79

ASE descrito en el apartado 4.6 con una longitud de línea mayor de 2 mm. En estas

condiciones se obtendrían los valores optimizados.

0 25 50 75 100 125 1500

10

20

30

40

50

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

Figura 4.27.- Umbral película para el sistema experimental utilizado para el DFB de segundo orden excitando

con un haz circular de diámetro de 2 mm.

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________________Parte III_________________

RESULTADOS

________________________________________

Capítulo.5.-Estudio de las propiedades láser del N,N´-bis(3-

metilfenil)-N,N´difenilbenzidina (TPD).

Capítulo 6.-Estudio de las propiedades láser de dos derivados del

oligo-p-fenilenovinileno (OPVs).

Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados de

perilenodiimida (PDIs).

Capítulo 8.-Conclusiones.

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82

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83

Capítulo 5________________________________

Estudio de las propiedades láser del N,N´-bis(3-

metilfenil)-N,N´difenilbenzidina (TPD).

5.1. Introducción.

5.2. Preparación de muestras.

5.3. Estudio de la presencia de emisión estimulada y determinación del mecanismo responsable.

5.4. Dependencia de la ASE con el espesor de la película.

5.4.1 Longitud de onda, ancho de banda y umbral de la ASE: dependencia con el espesor.

5.4.2 Caracterización y modelización de las guías de ondas.

5.4.3 Discusión de los resultados.

5.5. Dependencia de la ASE con la concentración de TPD.

5.5.1 Espectros de absorción y fotoluminiscencia.

5.5.2 Longitud de onda, ancho de banda y umbral de la ASE.

5.5.3 Caracterización y modelización de las guías de ondas.

5.5.4 Fotodegradación.

5.6. Estudio de la emisión láser en un DFB basado en TPD.

5.7. Comparación de las propiedades láser de películas basadas en TPD con las de otros materiales.

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84

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

85

5.1 Introducción.

En este capítulo se estudia la posibilidad de utilizar la molécula orgánica N,N´-bis(3-

metilfenil)-N,N´-difenilbenzidina (TPD) (figura 5.1) como medio activo láser. Esta molécula

se utiliza comúnmente en la fabricación de LED’s. En particular se utiliza para fabricar la

capa transportadora de huecos, puesto que el TPD tiene muy buenas propiedades conductoras

(de huecos) y a su vez bloquea el transporte de electrones.

Figura 5.1.- Estructura química N,N´-bis(3-metilfenil)-N,N´-difenilbenzidina (TPD).

Recientemente, las propiedades ópticas de este material han despertado un gran interés puesto

que se ha observado emisión estimulada tanto en disoluciones como en forma de película

delgada mediante excitación óptica.59,60 Estos estudios mostraban que el espectro

luminiscente de películas de TPD se estrechaba a una determinada intensidad de bombeo

óptico. Estas observaciones se han realizado tanto en películas de PS dopadas con TPD como

en películas de TPD sin diluir. Este último hecho es de gran interés pues en la mayoría de los

materiales orgánicos (por ejemplo colorantes) existe una cantidad límite de material que se

puede introducir en la película debido a que la interacción molecular inhibe la

fotoluminiscencia. Sólo unos pocos materiales moleculares han mostrado emisión estimulada

en forma de películas puras. Entre ellos se encuentran varios oligómeros basados en

tiofeno83,84 así como varios materiales tipo espiro. 55,56

Tras el primer estudio de las propiedades de emisión láser en películas de PS dopadas con

TPD60 (llevadas a cabo en 2002 por la tutora de este trabajo), nuestro grupo se interesó en

profundizar en el tema. El primer objetivo consistía en identificar el mecanismo responsable

de los estrechamientos espectrales observados. Por ello, el primer trabajo de investigación en

el que me ví involucrada consistió en estudiar la dependencia de la emisión con la longitud de

la línea de excitación, a fin de determinar si el mecanismo responsable era la ASE.

Puesto que las películas estudiadas constituían guías de ondas, también se realizó el estudio

de sus propiedades como guías de ondas mediante la técnica de los modos oscuros descrita en

Page 99: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

86

la parte de técnicas experimentales de esta memoria. En realidad sólo se observaba colapso

espectral cuando las películas constituían guías de ondas.

Una de las características más interesantes de los láseres orgánicos es su sintonizabilidad, es

decir, la posibilidad de cambiar la longitud de onda de emisión. En los casos en los que el

estrechamiento espectral es debido a la ASE, dicho estrechamiento se produce a la longitud de

onda de uno de los máximos del espectro luminiscente. No obstante, si el espesor de la

película está próximo al espesor de corte para la propagación de un modo (Ec. 2.13), o es

incluso menor, es posible desplazar la longitud de onda de emisión.

Este tipo de desplazamientos ha sido observado en algunos materiales tales como películas

dopadas con colorantes85 y películas de polímeros semiconductores.86 Un segundo objetivo

que nos plateamos en este trabajo fue realizar este tipo de estudio en películas de PS dopadas

con TPD. Para ello se determinó la dependencia de la ASE con el espesor de las películas

preparadas.

El hecho de que se produzca un estrechamiento del espectro luminiscente a una determinada

intensidad de bombeo en películas puras de TPD,59 nos llevó a realizar un estudio más

detallado de la dependencia de la ASE con la concentración de TPD. Como veremos en

detalle posteriormente, se observó que existía la posibilidad de sintonizar la longitud de onda

de emisión mediante el control de la concentración de TPD en las películas. En otro tipo de

materiales, como son los polifluorenos,65 también se ha observado la posibilidad de sintonizar

la longitud de onda de emisión de la ASE mediante el control de la concentración del material

en la muestra. No obstante, en ese caso, el origen de estos desplazamientos no estaba claro, ya

que en ellos intervienen procesos de transferencia de energía. En nuestro caso el sistema es

más sencillo por lo que esperábamos poder llegar a una mejor compresión de los fenómenos

involucrados.

Finalmente, como ya se señaló en el capítulo 3, uno de los principales problemas que

presentan los dispositivos de estado sólido orgánicos es su fotoestabilidad.2 Debido a la

relevancia de este aspecto, sobre todo con vistas a posibles aplicaciones, también se ha

estudiado la fotoestabilidad de las muestras preparadas.

Page 100: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

87

5.2 Preparación de muestras.

Para la realización del estudio de las propiedades láser de la molécula TPD se prepararon

películas de PS, como polímero inerte, dopadas con TPD mediante la técnica de “spin-

coating”. Para ello se utilizaron disoluciones de PS y TPD en tolueno empleando distintos

porcentajes en peso que se detallan a continuación. Las películas fueron depositadas sobre

vidrio (BK7) y sus espesores fueron obtenidos mediante el microscopio interferométrico

descrito en el capítulo 4.

Estudio de la dependencia de la ASE con la longitud de la línea de excitación.

Para la realización de este estudio se prepararon películas de PS dopadas hasta un 20 % en

peso de TPD respecto al PS, con espesores entre 300 nm y 1000 nm. Para el estudio de la

dependencia de la intensidad umbral con el tamaño del haz de excitación se preparó una

película de PS dopada con un 30 % de TPD con un espesor de unos 300 nm.

Estudio de la dependencia de la ASE con el espesor de la película.

En este caso se prepararon películas de PS dopadas con un 15 % en peso de TPD respecto al

PS. A fin de poder cambiar el espesor de las películas (entre 80 y 1000 nm) se varió el

porcentaje de PS utilizado respecto al disolvente entre un 2.5 y un 15 % en peso. La calidad

de las películas obtenidas, en cuanto a homogeneidad y transparencia fue muy buena, siendo

estables durante varios meses.

Estudio de la dependencia de la ASE con la concentración de TPD.

Para este estudio se prepararon películas de PS dopado con concentraciones de TPD variables

en un rango entre el 2.5 % y el 90 % en peso respecto a la masa total. La concentración del

soluto en la disolución se ajustó de modo que se obtuvieron películas con espesores similares

(∼ 425 nm). Además, se preparó una película de TPD sin diluir (100 % de TPD, sin contenido

de PS) depositando por spin-coating una disolución que contenía 40 mg de TPD en 1 ml de

tolueno, obteniendo un espesor de unos 150 nm.

En este caso la calidad de las películas, en cuanto a transparencia y homogeneidad, era muy

buena para concentraciones de TPD entre 5 % y 70 %. Para concentraciones superiores (> 80

%) y especialmente para la película de TPD sin diluir, se observaron problemas de estabilidad

y homogeneidad, de modo que las películas permanecían transparentes tan sólo durantes unas

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

88

pocas horas. La estabilidad a la que nos referimos en este apartado es la que presenta la

muestra al estar en contacto con el aire y en oscuridad. Esta estabilidad no tiene nada que ver

con la fotodegradación (degradación debida a la excitación por bombeo óptico que sufre la

muestra en el proceso de medida), cuyo estudio será descrito posteriormente.

5.3 Estudio de la presencia de emisión estimulada y determinación del

mecanismo responsable.

Mediante el sistema experimental descrito en el apartado 4.6 del capítulo 4 se obtuvieron los

espectros de fotoluminiscencia de películas de PS dopadas hasta un 20 % de TPD, excitando a

355 nm a distintas intensidades de bombeo y con una longitud de la línea de excitación fija.

En todos los casos se observó un estrechamiento del espectro de fotoluminiscencia para una

cierta intensidad de bombeo (umbral) a una longitud de onda de λ ∼ 420 nm. En la figura 5.2

se ilustran los resultados obtenidos para una película de PS dopada con 10 % en peso de TPD

excitada a distintas intensidades de bombeo. Es importante indicar que para poder comparar

los resultados mostrados en la gráfica, las curvas por encima del umbral han sido divididas

por un factor 2.5 y 60 para intensidades de bombeo de 8.5 kW/cm2 y 12 kW/cm2,

respectivamente.

Para determinar si el mecanismo responsable del estrechamiento espectral observado era la

ASE lo que se hizo fue excitar las películas con distintas intensidades de bombeo con un haz

en forma de línea, obteniendo espectros de fotoluminiscencia por debajo y encima del umbral

para distintas longitudes de la línea de excitación, es decir en función del tamaño del medio

activo (l). Si la ASE está presente, los espectros de fotoluminiscencia para longitudes de línea

de excitación cortas deberían ser anchos e ir estrechándose conforme la longitud de la línea de

excitación fuera aumentando. Además, la intensidad de salida recogida al final de la línea de

excitación (por el extremo de la guía) debería seguir una dependencia exponencial con la

longitud de la línea según la Ec. 1.22.

En la figura 5.3 se muestra la evolución del ancho de banda a mitad de altura (FWHM) del

espectro de emisión en función de la longitud de la línea de excitación.

Como se puede observar, para ambas intensidades de bombeo, el espectro es ancho para

longitudes de línea de excitación cortas y va siendo cada vez más estrecho conforme aumenta

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

89

la longitud de la línea de excitación. Además, para la intensidad de bombeo mayor, el

estrechamiento espectral se produce a longitudes de línea de excitación menores, debido a que

se tiene mayor ganancia.

350 375 400 425 450 475 5000

2

4

6

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Longitud de onda (nm)

Figura 5.2.- Espectros de fotoluminiscencia de películas de PS dopadas con un 10% de TPD para varias

intensidades de bombeo por encima (8.5 Kw/cm2, línea a trazos; 12.4 Kw/cm2, línea gruesa sólida) y por debajo

(6.2 Kw/cm2, línea delgada sólida) del umbral ASE.

0,0 0,1 0,2 0,30

10

20

30

40

FW

HM

(nm

)

Longitud de la línea de excitación (cm)

Figura 5.3.- Evolución del ancho de banda (FWHM) en función de la longitud de la línea de excitación para

intensidades de bombeo de 10.5 kW/cm2 (cuadrados) y 12.4 kW/cm2 (círculos) para una película de PS dopada

con un 10% en peso de TPD.

En la figura 5.4 se muestra la intensidad de la emisión a λ = 420 nm en función de la longitud

de la línea de excitación, para varias intensidades de bombeo.

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

90

0,0 0,1 0,2 0,3

1

10

100

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Longitud de la línea de excitación (cm)

Figura 5.4.- Intensidad de emisión a λ = 420 nm en función de la longitud de la línea de excitación para una

película de PS dopada con TPD para intensidades de bombeo de 12.4 kW/cm2 (círculos), 10.5 kW/cm2

(cuadrados) y 6.2 kW/cm2 (triángulos). Las líneas continuas son ajustes de los datos mediante la Ec. 1.22 con los

parámetros mostrados en la tabla 5.1.

A fin de determinar la ganancia neta, los datos experimentales de la figura 5.4 se han ajustado

según la Ec. 1.22 utilizando como parámetros ajustables A y gnet. En la tabla 5.1 se muestran

los resultados obtenidos.

Intensidad de bombeo (kW/cm2) AIp (U. arb.) gnet (cm-1)

6.2 58.2 0.5

10.5 16.7 14

12.4 22.5 16

Tabla 5.1.- Parámetros obtenidos del ajuste de los datos de la figura 5.4 con la Ec. 1.22.

Para una intensidad de bombeo de 6.2 kW/cm2 se obtuvo una ganancia pequeña (gnet ∼ 0.5

cm-1) debido a que se está por debajo de la intensidad umbral, no produciéndose

estrechamiento espectral.

Como se ha podido comprobar, los datos experimentales se ajustan muy bien a la Ec. 1.22 que

describe la variación de la ASE en función de la longitud del medio activo. Por ello se puede

decir que el mecanismo responsable de los colapsos espectrales observados es la ASE. Los

valores de ganancia obtenidos (gnet = 16 cm-1 a 12.4 kW/cm2) son mucho menores que los

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

91

obtenidos en polímeros semiconductores (gnet = 62 cm-1 a 4.1 kW/cm2).59 Sin embargo, este

resultado es razonable puesto que en nuestro caso, la concentración de material activo es

mucho menor.

5.4 Dependencia de la ASE con el espesor de la película.

Como ya se indicó anteriormente, el segundo objetivo de este trabajo consistía en estudiar la

posible sintonización de la longitud de onda de emisión mediante el cambio del espesor de las

películas. Para ello, como ya se indicó en el apartado de preparación de muestras, se utilizaron

películas de distintos espesores (80 y 1000 nm) de PS dopadas con un porcentaje fijo (15 %

en peso) de TPD. Se estudió la dependencia con el espesor, no sólo de la longitud de onda de

emisión, sino también de los umbrales a los que la ASE tenía lugar. Asimismo, se

caracterizaron y modelizaron las propiedades de guía de ondas de las películas, a fin de

conocer su influencia en el comportamiento observado.

5.4.1 Longitud de onda, ancho de banda y umbral de la ASE: dependencia con el

espesor.

En primer lugar se obtuvieron los espectros de fotoluminiscencia a distintas intensidades de

bombeo para todas las muestras preparadas.

En la figura 5.5 se representa el ancho de banda a media altura para intensidades de bombeo

por encima del umbral (FWHMASE) en función del espesor de las películas. Sólo se observó el

estrechamiento del espectro luminiscente a una determinada intensidad de bombeo (que indica

presencia de ASE) en las películas con espesores mayores de 105 nm. Para espesores menores

de 105 nm no se observó ASE por muy alta que fuera la intensidad de bombeo sobre la

película. Este hecho es debido a que para espesores menores de 110 nm no se cumple la

condición necesaria para la propagación de un modo (Ec. 2.13) como se explica en detalle en

el apartado 5.4.3.

Por otro lado, en la figura 5.6 se representa la longitud de onda de la ASE, para las películas

representadas en la figura 5.5, en función del espesor de la película. Se observa que para

películas con espesores entre 200 nm y 1000 nm el pico de emisión de ASE permanece

constante alrededor de λ = 417 nm. Por ello en la figura 5.6 sólo se ha representado valores

de longitudes de onda de emisión para espesores por debajo de 500 nm. Sin embargo, para

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

92

espesores entre 200 nm y 105 nm, la posición del pico de emisión ASE sufre un

desplazamiento desde λ = 417 nm a λ = 404 nm.

0 200 400 600 800 1000

5

10

15

20

25

FW

HM

AS

E (

nm)

Espesor de la película (nm)

Figura 5.5.- Ancho de banda del espectro de fotoluminiscencia para intensidades de bombeo altas (> 150

kW/cm2), FWHMASE, en función del espesor de películas de PS dopada con 15 % de TPD.

100 200 300 400 500

400

405

410

415

420

λ AS

E (

nm)

Espesor de la película (nm)

Figura 5.6.- Longitud de onda de emisión ASE (λASE) para películas con diferentes espesores (puntos negros) y

cálculo del espesor de corte (cut-off) para las distintas longitudes de onda de emisión ASE (línea continua).

Por último, en la figura 5.7 se representa la influencia del espesor de la película en la

intensidad umbral a la cual tiene lugar la ASE (Iumbral ASE, eje izquierdo) en función del

espesor. Los umbrales se calculan en cada caso como la intensidad a la cual el ancho de banda

(FWHM) del espectro luminiscente disminuye hasta la mitad de su valor máximo.

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

93

150 300 450 600 750 9000

20

40

60

80

100

120

140

0

200

400

600

800

1000

1200

I umbr

al A

SE (

kW/c

m2 )

Espesor de la película (nm)

Pro

f. pe

netr

ació

n, x

s(nm

)

Figura 5.7.- Intensidad umbral experimental a la que se produce ASE (triángulos, eje izquierdo) y cálculo de la

profundidad de penetración del modo en el substrato (xs) (círculos, eje derecho) en función del espesor para

películas de PS dopadas con 15 % de TPD.

Se observa que para películas delgadas la intensidad umbral es mayor y disminuye conforme

el espesor de la película aumenta. Este comportamiento se puede explicar por el diferente

grado de confinamiento de los modos en la guía debido a variaciones del espesor y/o índice de

refracción de la guía (ver detalles en el apartado 5.4.2).

Para modos bien confinados, la mayor parte de la luz emitida viaja por la guía

amplificándose. Para modos menos confinados, la mayor parte de la luz emitida se pierde por

el substrato donde no se produce amplificación.

5.4.2 Caracterización y modelización de las guías de ondas.

Se procedió a determinar los ángulos de acoplo (Am) para cada muestra, tal como se explicó

en la parte de técnicas experimentales de esta memoria. Una vez determinados los distintos

ángulos de acoplo, tanto para polarización TE como TM, se obtuvieron los índices efectivos

correspondientes para λ = 633 nm mediante la Ec. 4.14. Los resultados obtenidos se recogen

en la tabla 5.2 y en la figura 5.8.

Para la longitud de onda de λ = 633 nm no se observan modos de propagación para películas

con espesores por debajo de 220 nm, lo cual está de acuerdo con el espesor de corte de 216

nm calculado mediante la Ec. 2.13 para la misma longitud de onda.

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

94

Espesor (nm) AmTE (º) Nef

TE AmTM (º) Nef

TM

223 22.1 1.5137 21.6 1.5091

302 24.2 1.5322 23.7 1.5278

497 28.2 1.5653 27.3 1.5581

546 28.1 1.5653 27.5 1.5597

637 29.5 1.5754 29.6 1.5762

804 30.1 1.5800 30.4 1.5823

859 31.7 1.5819 31.0 1.5867

Tabla 5.2.- Valores experimentales del ángulo de acoplo Am e índices efectivos Nef calculados (para polarización

TE y TM) en películas de PS dopadas con 15 % de TPD.

A su vez, estos índices efectivos, se utilizaron para calcular, a partir de la ecuación

fundamental Ec. 2.11 y de las expresiones correspondientes a modos TE Ec. 2.6 y TM Ec.

2.7, los valores de los índices de refracción (nf) de las películas a λ = 633 nm. Los valores

obtenidos para los distintos espesores y para modos TE y TM son prácticamente los mismos

(nf = 1.61) lo que indica que las películas son isótropas (el índice de refracción es el mismo

para modos TE y TM) (figura 5.8).

0 200 400 600 800 1000

1,50

1,52

1,54

1,56

1,58

1,60

Índi

ce e

fect

ivo,

Nef

Espesor de la película (nm)

Figura 5.8.- Índices de refracción efectivos (Nef) para modos TE (cuadrados negros) y TM (círculos) medidos a

633 nm en películas de PS dopadas con 15 % en peso de TPD en función del espesor de las películas.

Como ya se ha dicho, los valores de nf se han calculado para λ = 633 nm, pero realmente lo

que interesa es conocer nf para las longitudes de onda a las que tiene lugar la ASE. Así, para

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

95

calcular nf a la longitudes de onda de la ASE (entre 404 nm y 417 nm) se tuvo en cuenta la

dispersión del índice de refracción del PS y del TPD para las distintas longitudes de onda.

Para ello se calculó el espectro del índice de refracción de nuestra película de PS dopada con

un 15 % de TPD usando el espectro del índice de refracción de películas de TPD sin diluir59 y

el de películas puras de PS dado en el apartado 4.1 del capítulo de técnicas experimentales,

asumiéndose, que en este caso, el índice de refracción es proporcional a la concentración de

cada componente en la película (ley de las proporciones). Los resultados obtenidos se

muestran en la figura 5.9 junto a las curvas de dispersión del índice de refracción para

películas puras de TPD y PS.

El valor de nf a λ = 633 nm obtenido mediante la ley de las proporciones es prácticamente el

mismo valor que el obtenido mediante la técnica de los modos oscuros para la misma longitud

de onda, lo que verifica la validez de utilizar la ley de las proporciones para el cálculo del

índice de la película a cualquier longitud de onda. En el apartado 5.5.3 se volverá a utilizar

este método para el cálculo del índice de refracción a la longitud de onda de ASE para un gran

número de concentraciones. Como se verá, los resultados muestran que este método es

adecuado, corroborando la validez de las suposiciones que se han realizado.

350 400 450 500 550 600 650

1,6

1,7

1,8

1,9

2,0

2,1

Índi

ce d

e re

frac

ción

Longitud de onda (nm)

Figura 5.9.- Dispersión del índice de refracción de una película de PS dopada con 15 % de TPD (línea

continua). Curva de dispersión del índice de refracción de una película de TPD sin diluir (línea a trazos59) y de

una película de PS sin TPD (curva a puntos).

De la misma forma que se calculó el espesor de corte (hc) para λ = 633 nm, se obtuvo el

espesor de corte mediante la Ec. 2.13 para las distintas longitudes de emisión ASE mostradas

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

96

en la figura 5.6. Los valores obtenidos se representan también en la figura 5.6 mediante una

línea continua. Hay que puntualizar que para dicho cálculo también se utilizó la dispersión del

índice de refracción para el substrato (ver apartado 4.1 del capítulo de técnicas

experimentales).

5.4.3 Discusión de los resultados.

Como se muestra en la figura 5.6, no se observa ASE a la izquierda de la curva del espesor de

corte (línea continua). Esto indica que la condición de espesor de corte determina un límite

inferior en el espesor de la película, por debajo del cual no hay presencia de ASE.

El espesor de corte para una longitud de onda de emisión de λ = 417 nm es de 110 nm. Por

debajo de este espesor no puede haber propagación de un modo a esa longitud de onda y en

consecuencia no habrá presencia de ASE. No obstante, puesto que los espesores de las

películas más delgadas están muy próximos al valor del espesor de corte, se puede aún

obtener propagación de un modo, y por tanto ASE, desplazando la longitud de onda de

emisión hacia longitudes de onda menores.

Si la posición del pico de ASE estuviera sólo limitado por la condición de espesor de corte,

para espesores mayores de 127 nm no se deberían observar desplazamientos en la longitud de

onda de ASE. Sin embargo, los experimentos muestran desplazamientos de la longitud de

onda de emisión para películas con espesores entre 127 nm y 190 nm, lo que hace pensar que

existan otros factores que determinan este comportamiento. A este respecto es interesante

observar los espectros anchos (por debajo del umbral) de películas con distintos espesores.

Estos espectros constan de distintos picos vibracionales más o menos intensos, presentando

diferentes formas, dependiendo del espesor de la película, tal como muestra la figura 5.10.

La dependencia de la forma de los espectros de fotoluminiscencia con el espesor de las

películas es debido a la configuración experimental utilizada para obtener las medidas de

dichos espectros, puesto que la fibra recoge sólo la luz que viaja por la guía de ondas. Las

propiedades de las guías de ondas dependen del espesor de la película, por lo que es de

esperar que la variación de la forma del espectro de fotoluminiscencia recogido también

dependa del espesor. Como se puede observar en la figura 5.10, para las películas más

delgadas (con espesores por debajo de 127 nm) el espectro de fotoluminiscencia presenta

picos vibracionales más intensos a longitudes de onda menores de λ = 417 nm (λ = 395 nm y

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

97

375 400 425 450 475 5000,0

0,2

0,4

0,6

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 5.10.- Espectro de emisión de fotoluminiscencia para intensidades de bombeo por debajo del umbral para

películas de PS dopadas con 15 % de TPD de espesor: 94 nm (línea punto-trazo), 107 nm (línea a trazos), 122

nm (línea continua delgada), 150-300 nm (línea a puntos) y 455 nm (línea continua gruesa).

λ = 404 nm). Esto, junto al hecho de que el espesor de corte calculado a λ = 417 nm está

muy próximo a los valores de espesores de las películas más delgadas, hace que la emisión

sea más favorable a longitudes de onda menores. Para espesores mayores de 190 nm (mucho

mayores que el espesor de corte) la emisión ASE tiene lugar a λ = 417 nm, posición donde el

espectro de fotoluminiscencia tiene su pico más intenso. Para espesores entre 127 nm y 190

nm es de esperar que la emisión ASE se produzca a λ = 417 nm puesto que son espesores

alejados de la condición del espesor de corte y el pico vibracional más intenso en el espectro

de fotoluminiscencia aparece alrededor de λ = 417 nm. Sin embargo, se observa un

desplazamiento de la longitud de onda de emisión ASE entre λ = 411 nm y λ = 417 nm. La

condición de espesor de corte y la forma del espectro fotoluminsicente por debajo del umbral

no explica los desplazamientos de la longitud de onda de emisión ASE observados. Estos

desplazamientos se explican en términos de variación del grado del confinamiento en la guía

debido a cambios del espesor. Para este intervalo de espesores (entre 127 nm y 190 nm) el

grado de confinamiento del modo en la guía es mayor para longitudes de onda menores, lo

que hace más favorable la emisión a longitudes de onda más cortas.

En cuanto a la variación de la intensidad umbral necesaria para la observación de ASE con el

espesor de las películas (figura 5.7) también se puede explicar mediante el diferente grado de

confinamiento de los modos. Para ver si esta correlación tiene lugar se calculó la penetración

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

98

en el substrato (xs), mediante la Ec. 2.19 en el rango de espesores estudiado y se representó

este valor en el eje derecho de la figura 5.7. Como se puede observar en la figura 5.7, existe

una buena correlación entre el comportamiento de la intensidad umbral a la que se produce la

ASE y el grado de confinamiento del modo en la guía en función del espesor. La intensidad

umbral disminuye con el aumento del espesor de la película debido a que a espesores mayores

el confinamiento del modo es mejor. Es importante resaltar que para el cálculo del xs se ha

tenido en cuenta el valor del índice efectivo para cada longitud de onda de emisión ASE dada

por la figura 5.6 así como la dispersión del índice de refracción tanto para la película como

para el substrato.

5.5 Dependencia de la ASE con la concentración de TPD.

5.5.1 Espectros de absorción y fotoluminiscencia.

Para todas las películas preparadas se obtuvieron los espectros de fotoluminiscencia (medida

en el sistema experimental para la observación de emisión estimulada) por encima (ASE) y

debajo (FL-e) del umbral ASE, así como los espectros de fotoluminiscencia “estándar”

medidos en el fluorímetro (FL) y los correspondientes espectros de absorción (ABS). Para

todas las concentraciones de TPD (5 %-100 %), se observó, un estrechamiento del espectro

fotoluminiscente (a una determinada intensidad de bombeo). Como ilustración de los

resultados obtenidos, en la figura 5.11 se muestran los espectros obtenidos para una película

de PS dopada con 50 % en peso de TPD. Cabe destacar que la intensidad del espectro ASE se

ha dividido por 80 para poder comparar este espectro con el resto de espectros representados

en la figura.

El espectro de emisión estándar (FL) representado en la figura 5.11 consiste en una banda

principal (transición 0-0) con un máximo en λ = 403 nm y un primer pico vibracional

(transición 0-1) alrededor de λ = 420 nm. La ASE tiene lugar a la longitud de onda de la

transición 0-1 y alcanza un ancho de banda final de 4.8 nm. Para el régimen de

concentraciones estudiadas, el estrechamiento espectral ocurre siempre a la longitud de onda

del primer pico vibracional. Por el contrario, en disoluciones diluidas, en un determinado

disolvente la ASE se produce a la longitud de onda de la banda principal 0-0.59 Esto se explica

por el hecho de que en las películas existe una mayor absorción (y en consecuencia pérdidas)

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

99

300 400 5000,0

0,5

1,0

1,5

2,0

0,0

0,1

0,2

0,3

0,4

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)

FL-eFL ASEABS

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Figura 5.11.- Espectro de absorción de una película de PS dopada con 50 % en peso de TPD (ABS eje

izquierdo, línea continua), fotoluminiscencia estándar (FL, línea puntos, eje derecho), espectro de

fotoluminiscencia recolectado por el extremo de la muestra a una intensidad por debajo del umbral ASE (0.69

kW/cm2; FL-e , línea a trazos, eje derecho) y a intensidades por encima del umbral ASE (16.5 kW/cm2; ASE,

línea continua, eje derecho).

en la zona de longitudes de onda más cortas del espectro de emisión, donde el espectro de

absorción y emisión se solapan. Por ello, la ganancia a la longitud de onda de la transición 0-

1 es mayor que en la transición principal 0-0 y, en consecuencia, el estrechamiento espectral

es más favorable para el primer pico vibracional.

También es interesante fijarse en el hecho de que el espectro de emisión fotoluminiscente

(FL-e) obtenido en el experimento de emisión estimulada para intensidades por debajo del

umbral no tiene la misma forma que el espectro de emisión fotoluminiscente (FL) obtenido

con el fluorímetro. Este hecho ya se observó en el estudio de la dependencia con el espesor

(figura 5.10). Para la película de PS dopada con 50 % de TPD el pico que domina en el

espectro FL-e es el correspondiente a la transición 0-1, mientras que la transición 0-0

prácticamente no se observa. En la figura 5.12 se representan espectros FL-e obtenidos en el

experimento de emisión estimulada para películas con distintas concentraciones de TPD.

Como se observa en la figura 5.12, para concentraciones bajas de TPD, la forma del espectro

FL-e obtenido en el experimento de emisión estimulada es muy parecida a la forma del

espectro de fotoluminiscencia FL obtenido con el fluorímetro. Cuando la concentración de

TPD aumenta, la intensidad de la transición 0-1 crece respecto a la intensidad de la banda

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

100

350 400 450 5000

1

2

3

4

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 5.12.- Espectros de fotoluminiscencia para intensidades por debajo del umbral recogido por un extremo

de la muestra para películas de PS dopadas con concentraciones de TPD del 10 % (línea a trazos), 25 % (línea

continua) y 60 % peso (línea puntos).

principal 0-0. Para concentraciones altas de TPD, la transición dominante es la 0-1, mientras

que a longitudes de onda mayores, aparecen nuevas transiciones. Las variaciones observadas

en el espectro de emisión fotoluminiscente FL-e para intensidades por debajo del umbral se

deben a la configuración experimental usada en el experimento para la medida de presencia

ASE. En dicho sistema experimental la luz emitida viaja a lo largo de la guía de ondas que

forma la película con el substrato y el aire, de tal forma que la luz se amplifica al viajar por la

guía hasta que es recogida por la fibra por un extremo de la muestra. Por otro lado, en el

fluorímetro la luz recogida no es guiada, ya que viaja una distancia mucho más corta que en el

caso anterior y se recolecta la luz en transmisión. Como la ganancia tiene lugar a la longitud

de onda de la transición 0-1, la luz que viaja y se amplifica a través de la guía en el

experimento de emisión estimulada será la correspondiente a la longitud de onda asociada a la

transición 0-1, de tal forma que esta transición dominará a la transición principal 0-0, incluso

para intensidades por debajo del umbral ASE. Es evidente que cuanto más concentración de

TPD tenga la película, la ganancia será mayor, justificando que los cambios en el espectro

FL-e sean más acusados en las películas dopadas con más material activo. Por el contrario, la

forma del espectro obtenido en el fluorímetro no depende de la concentración de TPD ya que

en este caso la distancia que recorre la luz hasta ser recogida es mucho menor que en el caso

del experimento de la ASE, por lo que los cambios en el espectro debidos a la concentración

de TPD no son apreciables. La existencia de ganancia en la banda 0-1 a 420 nm explica el

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

101

hecho de que la forma del espectro de emisión de fotoluminiscencia (FL-e) en el experimento

de ASE sea diferente al espectro FL obtenido en el fluorímetro, puesto que en este caso la luz

apenas viaja por la guía y, en consecuencia, no existe tanta ganancia. Respecto a la forma del

espectro de absorción, hay que indicar que no cambia con la concentración de TPD.

Es importante volver a señalar el hecho de que las películas de TPD sin diluir se degradan

rápidamente y no tienen muy buena calidad. Esto es un problema a la hora de reproducir

resultados, sobre todo cuando se quieren comparar con los obtenidos con el resto de películas.

Por esta razón, los datos obtenidos en películas de TPD sin diluir no se han incluido en las

figuras que se muestran, aunque hay que mencionar que siguen el mismo comportamiento con

la concentración que el resto de películas.

En la figura 5.13 se representan los valores de la intensidad fotoluminiscente normalizada

(área integrada/espesor película) en el eje izquierdo y la absorción a 355 nm dividida por el

espesor de la película en el eje derecho en función de la concentración de TPD para todas las

películas estudiadas. A modo de ilustrar la magnitud de los errores, en las próximas figuras de

este capítulo se han introducido barras de error.

0 20 40 60 80 1000

10

20

30

40

50

60

0

3

6

9

12

15

18

Inte

nsid

ad F

L no

rmal

izad

a

Concentración de TPD (% en peso)

Abs

orba

ncia

a 3

55 n

m (

x104 c

m-1)

Figura 5.13.- Intensidad fotoluminiscente estándar normalizada (área total integrada/espesor película), eje

izquierdo (cuadrados), y absorbancia a la longitud de onda de excitación (densidad óptica a 355nm/ espesor) eje

derecho (círculos), en función de la concentración de TPD en películas de PS.

Como se puede observar en la figura 5.13, la absorción tiene una dependencia lineal con la

concentración de TPD, mientras que la intensidad fotoluminiscente aumenta hasta

concentraciones del 20 %, manteniendo este valor máximo aproximadamente constante para

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

102

concentraciones de TPD mayores. Presumiblemente, la saturación de la fotoluminiscencia se

debe a interacciones moleculares, factor que parece ser importante para concentraciones de

TPD por encima del 20 %. Sin embargo hay muchos aspectos que no están claros, tales como

el tipo de interacción que tiene lugar, la razón por la que la eficiencia luminiscente se satura a

partir de concentraciones del 20 %, pero no se inhibe completamente como ocurre en la

mayoría de colorantes.

5.5.2 Longitud de onda, ancho de banda y umbral de la ASE.

En este apartado se estudia la dependencia de la ASE con la concentración de TPD en base a

tres parámetros: intensidad umbral para la observación de la ASE, ancho de banda a media

altura del espectro de emisión para intensidades por encima del umbral (FWHMASE) y

longitud de onda del máximo de la emisión ASE (λASE).

En la figura 5.14 se representa la intensidad umbral de la ASE en función de la concentración

de TPD para todas las películas en el rango de concentraciones estudiado, calculada como la

intensidad de bombeo a la cual el ancho de banda del espectro de emisión fotoluminiscente

(FWHM) decae a la mitad de su valor máximo.

0 20 40 60 80 100

0

5

10

15

20

25

30

I umbr

al A

SE (

kW/c

m2 )

Concentración de TPD (% en peso)

Figura 5.14.- Intensidad umbral de la ASE en películas de PS dopadas con TPD en función de la concentración

de TPD.

Se observa que para concentraciones bajas de TPD, la intensidad umbral es alta,

disminuyendo progresivamente hasta una concentración de TPD de alrededor del 20 % en

peso, a la cual el valor del umbral se satura y mantiene constante hasta concentraciones del

90%. Estos resultados están en consonancia con el comportamiento de los resultados

Page 116: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

103

obtenidos para la intensidad fotoluminiscente normalizada (figura 5.13) ya que ésta

aumentaba hasta concentraciones de alrededor del 20 % de TPD, manteniéndose constante a

concentraciones mayores.

En la figura 5.15 se representa el ancho de banda del espectro fotoluminsicente para

intensidades por encima del umbral (FWHMASE) en función de la concentración de TPD.

0 20 40 60 80 1003

4

5

6

7

8

9

FW

HM

AS

E (

nm)

Concentración de TPD (% en peso)

Figura 5.15.- Ancho de banda ASE (FWHMASE) en función de la concentración en peso de TPD en películas de

PS dopadas con TPD.

Si se compara la figura 5.13 con las figuras 5.14 y 5.15 se observa que los parámetros

estudiados siguen el mismo comportamiento: tanto el umbral como el FWHMASE disminuyen

hasta concentraciones del 20 % de TPD, manteniendo su valor constante para concentraciones

superiores. Estos resultados muestran que el comportamiento de la ASE en términos de

intensidad umbral y ancho de banda final están determinados por la eficiencia luminiscente

del proceso, pues como se muestra en la figura 5.13, ésta aumenta hasta el 20 % y luego se

satura. En la figura 5.16 se ha representado la posición de los picos de emisión de los

espectros de fotoluminiscencia para la transición principal 0-0 y para los espectros de ASE

para todas las películas estudiadas.

Es importante señalar que cuando la concentración de TPD aumenta también aumenta la

absorción en la parte azul del espectro de emisión, donde hay solapamiento espectral de la

emisión y absorción. Además, la polaridad del medio es mayor cuando aumenta la

concentración de TPD debido a la polaridad del TPD. Por ello la longitud de onda de emisión

se desplaza a longitudes de onda mayores. De hecho, los desplazamientos de la longitud de

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

104

onda de emisión se observan tanto en los espectros de fotoluminiscencia (FL) como en los

espectros de ASE.

0 20 40 60 80 100395

400

405

410

415

420

425

FL (0-0)

ASE

Long

. de

onda

de

emis

ión,

λ (

nm)

Concentración TPD de (% en peso)

Figura 5.16.- Longitud de onda de la ASE (cuadrados negros) y longitud de onda de la banda 0-0 círculos del

espectro de emisión de fotoluminiscencia en función de la concentración de TPD.

Respecto a los desplazamientos de energía, se obtienen desplazamientos similares en ambos

casos, ∆E = 0.07 eV (∆λ = 10 nm) para la ASE y ∆E = 0.05 eV (∆λ = 6 nm) para FL (0-0).

Esto indica que los desplazamientos observados en la longitud de onda de la ASE son

producidos por el desplazamiento del espectro de fotoluminiscencia (FL) debido al aumento

de absorción y polaridad del medio. Lruhalak y colaboradores observaron desplazamientos

similares hacia el rojo en los espectros de fluorescencia de fibras de polímeros dopados con

colorante cuando aumentaban la concentración de colorante.87,88 Estos desplazamientos

fueron atribuidos al aumento de la absorción con la concentración.

5.5.3 Caracterización y modelización de las guías de ondas.

También se estudió la influencia de las propiedades como guías de ondas de las películas en el

comportamiento de la ASE. Como ya vimos anteriormente en el estudio de la dependencia de

la ASE con el espesor de la película, los desplazamientos observados en la posición de la

longitud de onda ASE para los distintos espesores se explicaron en términos del diferente

grado de confinamiento del modo en la guía debido a variaciones en el espesor y/o índice de

refracción de la película. Para modos bien confinados, la mayor parte de la luz emitida viaja a

través de la película (medio con ganancia) de forma que habrá amplificación de la luz emitida.

Por otro lado, para modos poco confinados, gran parte de la luz emitida es irradiada hacia el

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

105

substrato donde no se produce amplificación. Por ello, en el estudio de la dependencia de la

ASE con la concentración de TPD, también se han medido y caracterizado las propiedades de

guía de ondas que presentan las películas utilizadas, para determinar si influían en el

comportamiento observado. Para la medida de las propiedades de guía de ondas de las

películas se ha utilizado, al igual que en ocasiones anteriores, la técnica de los modos oscuros

a 633 nm. En la tabla 5.3 se muestran algunos de los valores medidos para polarizaciones TE

y TM.

TPD (% en peso) AmTE (º) Nef

TE AmTM (º) Nef

TM

2.5 23.6 1.5253 22.7 1.5173

7.5 24.1 1.5297 22.8 1.5182

10.0 23.5 1.5244 22.4 1.5146

12.5 24.1 1.5297 23.3 1.5227

15.0 25.0 1.5374 24.3 1.5314

17.5 25.6 1.5425 25.7 1.5433

20.0 26.7 1.5516 26.2 1.5475

30.0 26.7 1.5516 27.3 1.5565

40.0 29.8 1.5762 26.8 1.5524

50.0 30.0 1.5770 28.2 1.5637

Tabla 5.3.- Valores experimentales del ángulo de acoplo Am e índice efectivo Nef (para polarización TE y TM)

en películas de PS dopadas con distintas concentraciones de TPD.

A partir de los datos de la tabla 5.3 se calculó el índice de refracción a 633 nm siguiendo el

mismo método descrito en el apartado 5.4.2. Se obtuvo prácticamente el mismo valor para

ambas polarizaciones, lo cual indica que las películas son isótropas. En la figura 5.17 se

representan mediante cuadros los índices de refracción a 633 nm para la polarización TE

obtenidos por este método en función de la concentración de TPD en la película.

Como se puede observar en la figura 5.17, el índice de refracción aumenta linealmente con la

concentración (ajuste lineal representado en la figura 5.17 por una línea continua). La

precisión en la determinación de la posición de los modos es menor para concentraciones altas

de TPD debido a que la calidad de las películas no era muy buena para concentraciones

superiores al 70 %.

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

106

0 20 40 60 80 1001,56

1,60

1,64

1,68

1,72

1,76

1,80

1,84

Índi

ce d

e re

frac

ción

, nf

Concentración de TPD (% en peso)

Figura 5.17.- Índice de refracción de películas de PS dopadas con TPD (nf) en función del porcentaje en peso: nf

medido por la técnica de los modos oscuros a λ = 633 nm (cuadrados negros) y ajuste lineal (línea continua); nf

calculado mediante la ley de las proporciones a λ = 633 nm (linea de puntos) y a λASE (línea a trazos).

De forma paralela se realizó el cálculo de los índices de refracción a 633 nm utilizando el

mismo método utilizado en el apartado 5.4.2, consistente en suponer que el índice de

refracción de la película es proporcional a la concentración de cada componente (ley de las

proporciones). Los resultados de estos cálculos se han representado mediante una línea de

puntos en la figura 5.17. La buena correlación entre estos resultados y el ajuste lineal de los

valores de índice de refracción obtenidos experimentalmente (línea continua) nos indica la

validez de este método. De este modo es posible calcular el índice de refracción a cualquier

longitud de onda. En la figura 5.17 se representan los valores de nf a la longitud de onda de la

ASE (figura 5.16) para cada una de las películas calculados mediante este procedimiento

(línea a trazos).

Con el fin de determinar si los desplazamientos de la longitud de onda de la ASE están

influenciados por la condición de espesor de corte, se calculó el correspondiente valor según

la Ec. 2.13 para cada película, a su correspondiente λASE. Tanto la dispersión del índice de

refracción (curva a trazos en la figura 5.17) como la dispersión del índice de refracción del

vidrio, se tuvieron en cuenta para este cálculo. Los valores de espesor de corte obtenidos

varían entre 120 y 60 nm, muy por debajo de los espesores de las películas con las que se

trabaja en este apartado (∼ 225 nm). Esto indica que los desplazamientos observados en la

λASE no son debidos a la condición de corte. Para estudiar la influencia del confinamiento del

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

107

modo, se calculó para todas las películas, la distancia de penetración de la luz en el substrato

mediante la Ec. 2.19 de modo similar a lo que se hizo en el apartado 5.4.3. En la figura 5.18

se muestran los resultados obtenidos para la polarización TE.

0 20 40 60 80 100

60

75

90

105

120

135

150

165

180

Pro

f. de

pen

etra

ción

, xs (

nm)

Concentración de TPD (% en peso)

Figura 5.18.- Cálculo de la penetración en el substrato mediante la Ec. 2.19 en función de la concentración en

peso de TPD en películas de PS.

Como se puede observar en la figura 5.18, el valor de xs decrece con la concentración de TPD,

lo cual indica que el confinamiento del modo aumenta. En el cálculo de xs los parámetros

más importantes son el espesor y el índice de refracción de la película y la longitud de onda

de la ASE. Cuando la concentración de TPD aumenta, λASE y nf aumentan (figuras 5.16 y 5.17

respectivamente). Para estudiar la influencia de los desplazamientos de λASE en el

comportamiento de xs se realizó el cálculo de xs a la misma longitud de onda para todas las

películas λ = 420 nm. Los valores obtenidos para xs son prácticamente los mismos que los

obtenidos para las diferentes λASE de la figura 5.16. Sin embargo, para distintos índices de

refracción, el valor de xs sí que se ve modificado. Esto indica que el comportamiento de xs es

debido a variaciones del índice de refracción con la concentración de TPD.

En principio uno esperaría obtener valores más pequeños de intensidad umbral ASE y anchos

de banda final FWHMASE para modos mejor confinados. Para comprobar si el

comportamiento de la ASE está determinado por el grado de confinamiento del modo en la

guía, se comparan los resultados obtenidos para xs en función de la concentración de TPD

(figura 5.18) con la dependencia con la concentración del umbral ASE y el ancho de bada

final FWHMASE (figuras 5.14 y 5.15 respectivamente). Como se puede observar en la figura

5.18, xs disminuye gradualmente al aumentar la concentración de TPD. Asimismo, el umbral

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

108

ASE y el ancho de banda FWHMASE también disminuyen al aumentar la concentración pero

el tipo de variación es diferente a la del xs, puesto que baja hasta concentraciones de TPD de

alrededor del 20 %, saturándose y manteniéndose constantes para concentraciones mayores.

Esto indica que, aunque del grado de confinamiento del modo en la guía pueda influir en

cierta manera, el comportamiento de la ASE está determinado fundamentalmente por la

eficiencia luminiscente del proceso (figura 5.13).

5.5.4 Fotodegradación.

Para realizar el estudio de fotoestabilidad, se excitaron películas de PS dopadas con tres

concentraciones distintas de TPD (20 %, 50 % y 80 %) con una intensidad de bombeo de 5

kW/cm2 (por encima del umbral) durante un periodo de tiempo de 20 minutos, recogiendo el

espectro de fotoluminiscencia cada 30 segundos aproximadamente. En la figura 5.19 se

representa la intensidad total de la ASE dividida por el espesor, en función del tiempo de

exposición (eje inferior) y en función del número de pulsos de excitación sobre la muestra

(eje superior). Como se puede observar en la figura 5.19, la intensidad de la ASE disminuye

con el tiempo, obteniéndose un tiempo de vida media (ver sección 4.7) de unos 2.5-3 minutos,

es decir, después de irradiar la muestra con unos 1500-1750 pulsos, lo que hace evidente la

presencia de fotodegradación en la muestra. Si se compara la vida media de películas con alta

y baja concentración de TPD, no se observan diferencias notables. Sin embargo, si lo que se

compara es la intensidad emitida para tiempos de exposición grandes, se aprecia que para el

caso de películas con mayor concentración de TPD, la intensidad emitida decrece en menor

medida que para el caso de películas con concentraciones menores de TPD. La explicación de

este comportamiento puede ser debida al hecho de que el contenido de material activo es

mayor en películas con concentraciones mayores. No obstante, en ambos casos, transcurridos

10-12 minutos bajo excitación, la ASE desaparece.

Si comparamos los resultados obtenidos con estudios de fotodegradación realizados en otros

materiales69 donde los tiempos de vida media de la ASE son de varios cientos de minutos, se

observa que la fotodegradación es películas de PS dopadas con TPD es mayor. Para otros

materiales tales como colorantes “dipirrometano-BF2” la intensidad de la emisión decrece

hasta la mitad de su valor inicial después de irradiar la muestra con 10000-20000 pulsos con

un ritmo de repetición de 10 Hz.68 Además, se observa una degradación más rápida de las

muestras cuanto mayor es la intensidad de bombeo: si se excita la película de PS dopada con

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

109

0 5 10 15 200,0

0,2

0,4

0,6

0,8

1,0

0 3 6 9 12

Inte

nsid

ad A

SE

nor

mal

izad

a

Tiempo (minutos)

Número de pulsos (x 103)

Figura 5.19.- Intensidad ASE normalizada en función del tiempo de irradiación de la muestra (eje inferior) y en

función del número de pulsos (10ns, 10Hz; eje superior) para películas de PS dopadas con varias

concentraciones de TPD del 20 % (cuadrados), 50 % (círculos) y 80 % (triángulos).

20 % de TPD con una intensidad de bombeo de 2.8 MW/cm2 se obtiene una vida media de la

película de alrededor de 1 minuto y la ASE desaparece transcurridos 5 minutos de irradiación.

La definición de umbral de daño no es obvia puesto que la fotodegradación depende tanto del

tiempo de irradiación como de la intensidad de excitación sobre la muestra. Una posible

definición sería la intensidad de bombeo para la cual la vida media de la ASE es inferior a 1

minuto. En base a esto, el umbral de daño ASE obtenido para películas de PS dopadas con

TPD sería de alrededor de 2.8 MW/cm2. También se estudió la posibilidad de que la muestras

fotodegradadas recuperaran sus propiedades. Para ello se fotodegradó una película hasta que

la intensidad de la ASE disminuyera a la mitad de su valor inicial y después se la dejó sin

excitar durante 24 h a temperatura ambiente. Transcurrido ese tiempo, se volvió a excitar la

muestra en condiciones idénticas a las iniciales, no observándose recuperación de la eficiencia

ASE.

5.6 Estudio de la emisión láser en un DFB basado en TPD.

El siguiente paso consistió en fabricar un láser DFB basado en la molécula orgánica TPD

como material activo. La elección de este material está basada en el hecho de que como ya se

ha realizado un estudio detallado de las propiedades láser en función de parámetros tales

como el espesor y la concentración, nos es posible diseñar las películas a fin de tener unas

propiedades determinadas. Además, este material presenta umbrales bajos y valores de

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

110

fotoestabilidad razonables. Para la fabricación del láser DFB basado en la molécula orgánica

TPD, se depositó una película de PS que contenía un 30 % de material activo sobre un

substrato de vidrio en el que previamente se había grabado una red según se ha descrito en el

apartado 4.8 del capítulo de técnicas experimentales. La elección de esta concentración está

basada en los resultados obtenidos en el estudio previo realizado en el apartado 5.5 de las

propiedades láser que presenta este material en función de la concentración, que mostraban

esta concentración como óptima. En la figura 5.20 se muestra una imagen TEM de la red de

gelatina obtenida, mientras que en la figura 5.21 se muestra una imagen de AFM de la red

sobre vidrio a partir de la cual se estima la profundidad de la red (70-80 nm). Asimismo se

determinó la eficiencia de difracción (η) de las redes siendo del 28 % para la red sobre

gelatina y del 6 % para la red sobre vidrio.

Figura 5.20.- Fotografía (TEM) de la red grabada sobre una película de gelatina.

Tanto el periodo de la red como el espesor de la película se ajustaron para que la

realimentación se produjera a una longitud de onda en la región de ganancia del TPD (∼ 420

nm). El hecho de estar limitados por la longitud de onda del Árgon (λ = 364 nm) para el

grabado de la red, nos obligó a fabricar una láser DFB de segundo orden (m = 2 en la

Ec.1.20), pues con los parámetros del índice efectivo (Nef) y longitud de onda Bragg (λbragg)

determinados por el material estudiado, un DFB de 1er orden debería tener un periodo más

pequeño, lo que técnicamente era imposible de obtener con el equipo disponible. Así,

fabricamos una red de Λ = 270 nm con la idea de preparar películas de ∼ 155 nm de espesor

(Nef = 1.5540). Para la determinación de presencia de emisión láser se utilizó el sistema

experimental descrito en el apartado 4.9.

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

111

Figura 5.21.- Red sobre vidrio (AFM).

En la figura 5.22 se muestra el espectro de emisión del láser DFB de segundo orden preparado

para intensidades de bombeo por encima y debajo del umbral láser. Para intensidades por

debajo del umbral (25 kW/cm2) el espectro de emisión corresponde al espectro ancho de

fotoluminiscencia modificado por dos picos bien definidos correspondientes a la

fotoluminiscencia guiada que ha sido emitida en un ángulo perpendicular al substrato por

“scattering-Bragg”.

375 400 425 450 4750,0

0,1

0,2

0,3

0,4

Inte

nsid

ad F

L (U

.arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 5.22.- Espectros de emisión para un láser DFB de segundo orden basado en un película de PS dopada

con 30 % de TPD para intensidades de bombeo por encima del umbral (130 kW/cm2, línea continua) y por

debajo del umbral (25 kW/cm2, línea a trazos).

Este espectro muestra una depresión o pozo en la intensidad de emisión a λ ∼ 416 nm debido

a la inhibición de la propagación de la luz en la guía de ondas producida por la red. Para

intensidades por encima del umbral, (130 kW/cm2), la emisión láser se produce a longitudes

21.510.50

100

80

60

40

20

0

X[µm]

Z[n

m]

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

112

de onda próximas a la longitud de onda Bragg (λBragg) de la guía de ondas apareciendo un pico

muy estrecho a esa longitud de onda (λlasing) del espectro.

En este caso, el láser fabricado opera a una longitud de onda de emisión de 418 nm, con un

ancho de banda (FWHM) de 1.3 nm, limitado por la resolución de nuestro espectrómetro. En

cuanto a la luz emitida está fuertemente polarizada, con el vector de campo eléctrico paralelo

a las líneas definidas por los surcos del DFB.

En la figura 5.23, se ha representado la dependencia de la intensidad de salida a la longitud de

onda de emisión láser (λlasing) en función de la intensidad de bombeo. Se observa un cambio

brusco de pendiente que determina una intensidad umbral láser de unos 40 kW/cm2.

Figura 5.23.- Intensidad de salida a λDFB = 418 nm en función de la intensidad de bombeo para un láser DFB de

segundo orden basado en una películas de PS dopada con 30 % de TPD. El punto de corte de las líneas continuas

que ajustan los datos determina la intensidad umbral DFB.

Con la finalidad de valorar el efecto de la red introducida en el dispositivo en la disminución

de la intensidad umbral láser se determinó, en este sistema experimental y bajo las mismas

condiciones, el umbral que presentaba una película con las mismas características que la

depositada sobre la red pero ahora depositada sobre un vidrio sin red. Es importante destacar

que en este caso la emisión no es emisión láser dado que no hay cavidad. Por lo tanto, la

ganancia que se obtiene es debido a la ASE tal y como se ha explicado en capítulos previos.

En la figura 5.24 se representan los correspondientes espectros de fotoluminiscencia para

intensidades de bombeo por debajo (30 kW/cm2) y encima del umbral (140 kW/cm2). En este

caso el umbral de ASE se ha determinado por el primer de los métodos descrito en el apartado

0 2 4 60

2

4

6

Iumbral

Inte

nsid

ad d

e em

isón

(U

. arb

.)

Intensidad de Bombeo (kW/cm2)

20

40

60

80

120

100

40 80 120 160 2402000 2 4 60

2

4

6

Iumbral

Inte

nsid

ad d

e em

isón

(U

. arb

.)

Intensidad de Bombeo (kW/cm2)

20

40

60

80

120

100

40 80 120 160 240200

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

113

4.10.1 es decir, determinando la intensidad de excitación a la que la FWHM decae a la mitad

de su valor máximo (figura 5.25). En este caso este método era más adecuado pues el cambio

de pendiente en la representación de la intensidad emitida a la λASE en función de la

intensidad de bombeo no se veía de forma clara. Es importante recordar que el método

utilizado proporciona valores de intensidad un poco menores (del orden de la mitad) que el

método utilizado para la caracterización del DFB (figura 5.23).

Teniendo todo esto en cuenta, a partir de las figuras 5.23 y 5.25, para la película con red y sin

red respectivamente, se deduce que la red da lugar a una disminución del umbral a

aproximadamente la mitad de su valor sin red. Aunque el efecto no es muy grande, debido a

que la calidad de la red no es muy buena (ver figura 5.21), este resultado pone de manifiesto

que efectivamente se tiene emisión láser. Además, no se debe olvidar que el ancho de banda

de la emisión obtenida es ∼ 1.3 nm frente a los ∼ 5 nm de la emisión ASE.

375 400 425 450 4750,0

0,5

1,0

1,5

2,0

Intn

esid

ad F

L (U

.arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 5.24.- Espectros de emisión para una película de PS dopada con un 30% de TPD para intensidades de

bombeo por encima del umbral (140kW/cm2, línea continua) y por debajo del umbral (25 kW/cm2, línea a trazos)

obtenidos en el sistema experimental para la caracterización de emisión láser de un DFB de segundo orden.

Es importante señalar que el umbral ASE medido para la película sin red en este sistema

experimental (∼ 50 kW/cm2) es mayor que el obtenido para la misma película en secciones

anteriores (∼ 1 kW/cm2). Estas diferencias son debidas a que el sistema experimental utilizado

es diferente, como ya se discutió en detalle en la sección 4.10.2.

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

114

0 50 100 150 200 250

5

10

15

20

25

30

35

40

45

FW

HM

AS

E (

nm)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

Figura 5.25.- Ancho de banda del espectro de fotoluminiscencia (FWHM) en función de la intensidad de

bombeo para una películas de PS dopada con un 30% de TPD obtenidos en el sistema experimental para la

caracterización de un DFB de segundo orden.

A continuación se estudió la posibilidad de sintonizar la longitud de onda de emisión de

nuestro láser DFB en un rango de longitudes de onda comprendido dentro del espectro de

fotoluminiscencia del TPD. Para ello se calcularon mediante la Ec. 1.20 (con m = 2) los

índices efectivos que serían necesarios en una película dopada con 30 % de TPD para que la

emisión se produjera a una determinada longitud de onda, teniendo en cuenta que la red tenía

un periodo fijo de 270 nm. Una vez determinados estos índices efectivos y teniendo en cuenta

el índice de refracción de la película y el del substrato para esa longitud de onda, se utilizó la

Ec. 2.11 para obtener el espesor de la película necesario para que la emisión se produzca a la

longitud de onda deseada (tabla 5.4).

Es importante señalar que estos cálculos se han realizado utilizando un modelo de rayos pues

en el caso de guías de ondas con perfil de índice en escalón proporciona los mismos

resultados que la teoría electromagnética. En el caso de tener una configuración como es la

del DFB, los índices efectivos no serán los mismos que los obtenidos con estos cálculos. La

forma correcta de operar sería resolver la ecuación de ondas teniendo en cuenta la presencia

de la red. Este cálculo es bastante complicado por lo que se optó por utilizar el modelo de

rayos para tener una primera aproximación de cuales serían los resultados que se deberían

tener.

Page 128: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

115

λλλλlasinga (nm) Nef

b nfc hd (nm)

380 1.4060 1.7747 Sin solución

390 1.4430 1.7523 Sin solución

400 1.5156 1.7251 Sin solución

410 1.5170 1.7017 90

413 1.5281 1.6977 112

414 1.5329 1.6956 120

416 1.5392 1.6949 129

418 1.5466 1.6928 142

420 1.5540 1.6899 155

425 1.5725 1.6831 195

430 1.5910 1.6789 240

440 1.6280 1.6696 440

450 1.6650 1.6642 Sin solución

Tabla 5.4.- Valores teóricos de espesores necesarios para sintonizar un láser DFB de segundo orden basado en

una película de PS dopada con 30% de TPD con un periodo fijo de red de Λ = 270 nm; a λlasing: longitud de onda

de emisión láser; b Nef: índice efectivo; c nf: índice de la película; d h: espesor de la película.

Así, se depositaron películas con diversos espesores comprendidos en el rango calculado. La

variación de espesor se consiguió mediante la variación de la concentración de PS respecto al

disolvente. En la tabla 5.5 se representan los espesores medidos (hm) y la longitud de onda de

emisión del láser (λDFB). Asimismo, se incluye el espesor calculado a partir de la Ec. 2.11 (ver

tabla 5.4) que debería tener la película si la emisión se produjera a λBragg = λDFB.

Los mejores resultados (menor umbral) se obtuvieron para λDFB = 418 nm y λDFB = 415 nm en

los que λDFB ∼ λASE. Para λDFB > 420 nm el umbral aumenta considerablemente y además, se

observa también la ASE (ver figura 5.27), por lo que fue imposible determinar de forma fiable

el umbral láser, puesto que ambos procesos compiten.

Es importante señalar que los espesores hc que aparecen en la tabla 5.5 calculados a partir de

la tabla 5.4 a las λDFB obtenidas experimentalmente, difieren bastante de las medidas de

espesores realizadas de forma independiente (hm). Probablemente esto es debido a que se ha

supuesto que los índices efectivos de las guías de ondas no se ven afectados por la presencia

de la red.

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

116

hma (nm) λλλλDFB

b(nm) I umbralDFB c (kW/cm2) λλλλASE

d (nm) hce (nm)

275 423 __ 417 175

298 427 __ 417 215

250 418 40 __ 142

160 415 81 __ 125

Tabla 5.5.- Longitud de onda de emisión de láseres DFB (λDFB) de segundo orden basados en películas de PS

dopadas con 30% de TPD para varios espesores de película; (hm). IumbralDFB: intensidad umbral del DFB; λASE:

longitud de onda de emisión ASE experimental; hc: espesor teórico, calculado para tener emisión a λDFB a partir

de la tabla 5.4.

375 400 425 450 4750,0

0,4

0,8

1,2

1,6

2,0

λlasing= 427 nm

FWHM= 5 nm

FWHM= 1.5 nm

λASE= 417 nm

Inte

nsid

ad F

L (U

. Arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 5.26.- Espectro de emisión para λDFB > 420 nm.

Otro factor a tener en cuenta es el error cometido al medir el espesor. En este sentido, hay que

mencionar que los espesores no se miden en la película depositada sobre la red, sino en otra

depositada sobre vidrio en las mismas condiciones. Asimismo, las variaciones de espesor en

función de la zona de la muestra pueden llegar a ser de hasta un 20% aproximadamente. Por

otro lado, también es posible que los resultados no hayan sido muy buenos debido a la

modesta calidad de la red, sobre todo debido al proceso de transferencia al substrato. En la

actualidad se está trabajando activamente en la mejora de estos procesos.

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Capítulo 5.- Estudio de las propiedades láser del TPD

117

5.7 Comparación de las propiedades láser de películas basadas en TPD con

las de otros materiales.

En la tabla 5.6 se han resumido los valores de λemisión e Iumbral obtenidos para el TPD tanto para

la ASE como para el DFB de 2º orden (DFB2), así como el tiempo de vida media de la ASE

t(1/2), con la finalidad de comparar sus prestaciones con algunos de los materiales descritos en

la literatura (ver tabla 3.1(a) y (b)).

Material Haz de bombeo Haz emitido

Nombre Estructura Química

Tipoa Muestra

DP(ns)b

RR(Hz)c Forma;d

Tamaño(cm) GRe λλλλASE f

λλλλDFB(nm)

IuASE g

IuDFB

(kW/cm2)

t1/2h

p

TPD/PS

0.3:1 SC

b10 L(ASE) E c10 0.35×0.053

C(DFB2)

0.13

417(ASE) 1(ASE) 1500

418(DFB2) 0.5(DFB2)

Tabla 5.6.- Propiedades de emisión láser para la molécula orgánica TPD. a Tipo muestra: SC (película spin-

coating); bduración pulso, critmo de repetición, dforma del haz: L (línea) C (círculo); egeometría de recolección: E

(por el extremo de la película); f longitud de onda de emisión; g Umbral: ASE (emisión espontánea amplificada),

DFB2: DFB de 2º orden; htiempo de vida media de la ASE: p (número de pulsos).

Es importante volver a señalar que para la comparación de materiales se deben considerar los

resultados obtenidos en la ASE (sin cavidad). Se puede observar que el umbral ASE para el

TPD es uno de los más bajos obtenidos para los distintos tipos de materiales moleculares

estudiados, a la vez de que posee una fotoestabilidad razonable. Además, este umbral se ve

mejorado al introducir una cavidad DFB de 2º orden, reduciéndose a la mitad del valor que

presenta la ASE. Comparado con materiales poliméricos (tipo MEH-PPV), el TPD presenta

umbrales comparables, lo cual es de especial relevancia si se tiene en cuenta que el porcentaje

de material en la muestra es de ∼ 20-30 % comparado con el 100 % de los polímeros.

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Capítulo 6________________________________

Estudio de las propiedades láser

de dos derivados del

oligo-p-fenilenovinileno (OPVs).

6.1 Introducción.

6.2 Preparación de muestras.

6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas.

6.4 Estudio del estrechamiento espectral en términos de ancho de banda, la intensidad umbral y el confinamiento del modo.

6.5 Determinación del mecanismo responsable del estrechamiento espectral y obtención de los coeficientes de ganancia.

6.6 Fotoestabilidad.

6.7 Comparación de las propiedades láser de películas basadas en 3-OPV y 5-OPV con las de otros materiales.

Page 132: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

120

Page 133: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

121

6.1 Introducción

En este capítulo se muestran los resultados obtenidos en el estudio de las propiedades láser

que presentan dos derivados distintos de oligo-p-fenilenovinileno con tres (3-OPV) y cinco

(5-OPV) unidades de monómero, respectivamente. Estudios previos de derivados del OPV

realizados por Kretsch y colaboradores muestran presencia de ASE47 y emisión láser en

configuración DFB89 en películas de PS dopadas con 1,4-bis-(b-cianoestiril)-2,5-

dimetoxibenceno. Para la determinación de la presencia de ASE utilizaron un sistema

experimental parecido al descrito en el apartado 4.6. Respecto al DFB, formaron la red sobre

la película mediante un patrón de interferencia descomponiendo el haz de bombeo en dos

mediante prismas y haciéndolos interferir directamente sobre la película utilizando dos

espejos. En ambos casos utilizaron como haz de excitación un láser pulsado, cuyos pulsos

tenían una anchura temporal de 35 y 33 ps respectivamente, lo que imposibilita realizar una

comparación de nuestros umbrales con los obtenidos para estos materiales. Como se

mencionó en el capítulo 3, para poder comparar los umbrales de diversos materiales es

necesario estar en condiciones de estado estacionario, que en el caso de materiales orgánicos

se alcanzan generalmente con pulsos de excitación con duración de al menos unos pocos ns.

(a) (b)

Figura 6.1.- a: 3-OPV, b: 5-OPV.

El esquema de trabajo seguido para la caracterización de las propiedades láser de estos

materiales es parecido al utilizado para el estudio de la molécula orgánica TPD en capítulo

anterior. En primer lugar, se determinó la existencia de estrechamiento espectral en películas

de PS dopadas con diferentes concentraciones de oligómero a fin de conocer si existía una

concentración por encima de la cual el estrechamiento espectral desaparecía. Asimismo, se

determinaron las concentraciones de oligómero (3-OPV y 5-OPV) que presentaban mejores

resultados, en términos de intensidad umbral y ancho de banda final (FWHMASE). Por último,

se procedió al estudio de la dependencia de la emisión con la longitud de la línea de

NC

OC6H13

OC6H13

CN

OC6H13

OC6H13Br

BrNC

OC6H13

OC6H13

CN

OC6H13

OC6H13Br

Br

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

122

excitación con el fin de verificar que el mecanismo responsable del colapso espectral del

espectro de luminiscencia era la ASE, así como para obtener los correspondientes coeficientes

de ganancia.

6.2 Preparación de muestras.

De la misma forma que en apartados anteriores, las muestras se prepararon mediante la

técnica del spin-coating. Para ello se utilizaron disoluciones en tolueno de PS y de oligómero,

que tras ser depositadas sobre vidrio dieron lugar a películas de PS dopadas con distintas

concentraciones de oligómero (entre 2.5 % y 30 % en peso respecto al PS). El espesor de las

películas aumentaba con la concentración de oligómero según se muestra en la figura 6.2 en

un rango entre 320 y 580 nm para el 3-OPV y entre 400 y 620 nm para el 5-OPV.

0 5 10 15 20 25 30 35300

400

500

600

700

Esp

esor

de

la p

elíc

ula

(nm

)

Concentración de OPV (% en peso)

Figura 6.2.- Espesor de películas de PS dopadas con distintas concentraciones en peso de oligómero en función

de la concentración de 3-OPV (círculos) y 5-OPV (cuadrados).

Si se comparan los espesores obtenidos para películas de PS dopadas con la misma

concentración de 3-OPV y de 5-OPV se observa que las películas dopadas con 3-OPV son

más delgadas que las dopadas con 5-OPV. Esto es debido a que el peso molecular de 3-OPV

es menor que el de 5-OPV, puesto que contiene menor número de unidades de monómero.

Como consecuencia, la viscosidad de las disoluciones para 3-OPV es menor que las que

contienen 5-OPV, lo que conlleva a que las películas preparadas por spin-coating tengan un

espesor menor.

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

123

Estas películas, al igual que las películas de PS dopadas con TPD, también constituyen guías

de ondas planares puesto que el índice de refracción es mayor que el índice del substrato. Por

ello se determinaron las propiedades de guía de ondas mediante la técnica de los modos

oscuros a λ = 633 nm.

6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas.

Todas las muestras estudiadas en este apartado presentan dos modos de propagación (uno

para el modo TE y otro para el TM) para la longitud de onda λ = 633 nm. Para el rango de

concentraciones estudiado, el índice de refracción a esta longitud de onda no cambia

significativamente respecto al índice de refracción del PS. Además se obtiene el mismo valor

de índice de refracción para modos TE y TM, lo que indica que las películas son isótropas.

6.4 Estudio del estrechamiento espectral en términos de ancho de banda, la

intensidad umbral y el confinamiento del modo.

Se obtuvieron los espectros de fotoluminiscencia para varias películas de PS dopadas con

concentraciones de 3-OPV y 5-OPV entre 2.5 y 30 % en peso mediante el sistema

experimental descrito en el apartado 4.6 excitando las muestras a 355 nm con un haz de

tamaño fijo. En la figura 6.3, se muestran los espectros de emisión para una película de PS

dopada con un 15 % de 3-OPV y otra con un 9 % de 5-OPV, para dos intensidades de bombeo

distintas (una por encima del umbral y otra por debajo). Para intensidades de bombeo por

debajo del umbral, el espectro de fotoluminiscencia es ancho y no depende de la intensidad de

bombeo. Conforme aumenta la intensidad de bombeo la intensidad del pico del espectro

luminiscente también aumenta hasta que se produce un estrechamiento espectral para

intensidades por encima de la intensidad umbral, alcanzándose anchos de banda (FWHM) de

aproximadamente 6 nm para 3-OPV y de 12 nm para 5-OPV. Para poder representar los

espectros estrechos de ambos compuestos en la misma gráfica que los espectros anchos, se

han dividido por una factor de 1.5 para el 3-OPV y de 2 para 5-OPV.

Los resultados muestran que la emisión está centrada en 480 nm para el 3-OPV y en 530 nm

para el 5-OPV. El colapso del espectro luminiscente para una determinada intensidad umbral

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

124

de excitación se produce para todas las muestras, en el rango de concentraciones de oligómero

estudiadas y para espesores por encima de 194 nm para el 3-OPV y de 214 nm para el 5-OPV

(valores del espesor de corte para las correspondientes longitudes de onda de emisión).

400 500 600 7000,0

0,5

1,0

1,5

2,0

5-OPV

3-OPV

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 6.3.- Espectros de fotoluminiscencia para películas de PS dopadas con un 15 % en peso de 3-OPV

(emisión a 480 nm) y para películas de PS dopadas con un 9 % en peso de 5-OPV (emisión a 530 nm) para

varias intensidades de bombeo por encima del umbral (39 kW/cm2 línea contina y 82 kW/cm2 linea a puntos

respectivamente) y por debajo del umbral (3.4 kW/cm2 línea continua gruesa y 7 kW/cm2 línea a trazos

respectivamente).

La figura 6.4 muestra el ancho de banda (FWHM) del espectro de fotoluminiscencia en

función de la intensidad de bombeo para diferentes concentraciones de 3-OPV (figura 6.4 a) y

5-OPV (figura 6.4 b).

Es importante hacer constar la existencia de un límite en la cantidad de oligómero que se

puede introducir en la muestra. Para películas de PS dopadas con concentraciones de 3–OPV

superiores al 25 % se observa colapso espectral pero las intensidades de bombeo son muy

elevadas (umbrales muy altos) lo que conlleva a la degradación de la película en la región de

excitación.

Para el caso del 5-OPV, se puede observar en la figura 6.4 (b) que el colapso espectral del

espectro fotoluminiscente no es completo cuando se alcanzan concentraciones de 5-OPV de

aproximadamente 25 %, por muy elevada que sea la intensidad de bombeo. Para

concentraciones un poco mayores (∼ 30 %) no se produce estrechamiento. En este caso, para

el rango de intensidades de bombeo utilizado, no aparecen problemas de degradación.

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

125

Figura 6.4.- Evolución del ancho de banda a media altura (FWHM) del espectro de emisión para distintas

intensidades de bombeo para películas de PS dopadas con concentraciones en peso del 2% (cuadrados sólidos),

11% (estrellas), 15% (círculos), 17.5% cuadrados y 25% (triángulos) de 3-OPV (a) y 5% (estrellas), 9%

(círculos), 15% (triángulos) y 25% (cuadrados) de 5-OPV (b).

La figura 6.5 muestra los valores de intensidad umbral en función de la concentración de 3-

OPV y 5-OPV. Los valores de los umbrales fueron calculados a partir de las figuras 6.4 (a) y

(b) como la intensidad a la que la FWHM decae a la mitad de su valor máximo.

Como se puede observar en la figura 6.5, el comportamiento del umbral para 3-OPV y 5-OPV

es completamente diferente. Para 3-OPV el umbral decrece con la concentración de

oligómero, alcanzando un valor mínimo para una concentración de 3-OPV del 15 %. A partir

de esta concentración el umbral aumenta, saturándose en concentraciones de 3-OPV de

alrededor del 25 %.

Por otro lado, para el 5-OPV los umbrales no parecen cambiar para concentraciones de

oligómero entre el 5 y el 9 %, aumentando para concentraciones mayores. Los valores de

intensidad umbral obtenidos para ambos compuestos son muy parecidos (6 kW/cm2 y 13

kW/cm2 para películas de PS dopadas con un 15% de 3-OPV y 9% de 5-OPV

respectivamente). Los porcentajes de oligómero en la muestra son en peso, por lo que si

comparamos dos muestras con el mismo porcentaje de oligómero (una con 3-OPV y otra con

5-OPV) es evidente que la muestra dopada con 3-OPV contiene mayor número de moléculas.

Además la absorción a 355 nm para 3-OPV es mayor que para 5-OPV en todos los casos. Esto

indica que el compuesto 5-OPV es más eficiente, ya que se obtienen umbrales parecidos a los

del 3-OPV, pero con un número menor de moléculas.

1 10 100 10000

10

20

30

40

50

60

(a) 3-OPV

F

WH

M (

nm)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)1 10 100 1000

0

20

40

60

80

100

(b) 5-OPV

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

1 10 100 10000

10

20

30

40

50

60

(a) 3-OPV

F

WH

M (

nm)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)1 10 100 1000

0

20

40

60

80

100

(b) 5-OPV

FW

HM

(nm

)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

126

0 5 10 15 20 250

30

60

90

120

150

180

I umbr

al

AS

E (

kW/c

m2 )

Concentración de OPV (% peso)

Figura 6.5.- Intensidad umbral en función de la concentración de oligómero para películas de PS dopadas con 3-

OPV (cuadrados) y 5-OPV (círculos).

La dependencia de la intensidad umbral con la concentración de oligómero se puede explicar

en términos del espectro de absorción de las películas estudiadas. La figura 6.6 muestra los

espectros de absorción de películas de PS dopadas con diferentes cantidades de oligómero.

Para poder identificar posibles fenómenos de agregación, se han comparado en la figura 6.6

los espectros de absorción en película con los correspondientes espectros de absorción en

disolución.

Como se puede observar en la figura 6.6 (a), para el 3-OPV la forma del espectro de absorción

en disolución es muy similar al espectro de absorción en película. Estos espectros consisten

en dos picos principales alrededor de 330 y 396 nm. Cuando la concentración de 3-OPV

aumenta entre 2 % y el 25 %, la intensidad de los dos picos de absorción también crece

linealmente, no observándose variaciones en la forma del espectro. Esto indica que para el

rango de concentraciones estudiado no aparecen fenómenos de agregación. Estos resultados

se correlacionan con la disminución observada de la intensidad umbral hasta concentraciones

de 3-OPV del 15 % (figura 6.5). La saturación de la intensidad umbral para concentraciones

de 3-OPV superiores al 15 % puede ser debido a mecanismos de autoabsorción e interacción

molecular que inhiben la eficiencia luminiscente pero que no afectan al espectro de absorción.

Para el 5-OPV la situación es diferente. En primer lugar, el espectro de absorción en película

no es el mismo que el espectro de absorción en disolución (figura 6.6 b). Los dos picos que

aparecen en el espectro de absorción en disolución a 348 nm y 431 nm aparecen en los

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

127

espectros de absorción en película mucho más anchos y desplazados hacia el rojo. Además,

al contrario que en el espectro de absorción en disolución, en el espectro de absorción en

película el pico más intenso es el de menor longitud de onda (alrededor de 368 nm). Esto nos

indica la presencia de fenómenos de agregación, incluso para concentraciones de 5-OPV

bajas. Para el rango de concentraciones estudiado (entre 2 % y el 9 %), la absorción a 355 nm

no presenta ninguna variación y para la longitud de onda de 530 nm prácticamente no hay

absorción (longitud de onda en la que se produce emisión). Esto está en concordancia con el

hecho de que la intensidad umbral se mantiene constante para este rango de concentraciones.

Para concentraciones entre 15 % y 25 %, la forma del espectro de absorción varía

notablemente. Además la absorción aumenta en las longitudes de onda donde se produce la

emisión, por lo que la intensidad umbral aumenta tal como se mostraba en la figura 6.5. El

aumento de la intensidad umbral se produce debido a mecanismos de interacción molecular

que inhiben la luminiscencia y por tanto la existencia de colapso espectral.

Figura 6.6.- Espectros de absorción para disoluciones (línea continua-punto para el 3-OPV y línea sólida para el

5-OPV) y películas con concentraciones en peso del 7% (línea de puntos), 15 % (línea a trazos) y 25 % (línea

sólida) para el 3-OPV (a) y 5 % (línea continua-punto), 9 % (línea continua),15 % (línea de puntos) y 25 %

(línea a trazos) (b) 5-OPV.

Las propiedades de guías de ondas también pueden influir en las variaciones de la intensidad

umbral observadas. En particular, un diferente grado de confinamiento de los modos en la

guía, debido a variaciones del índice de refracción y/o espesor al cambiar la concentración,

pueden afectar a los umbrales. Las películas estudiadas muestran un aumento del espesor con

la concentración de oligómero y consecuentemente un aumento del confinamiento del modo

en la guía o lo que es lo mismo una disminución de la profundidad de penetración en el

250 300 350 400 450 5000,0

0,2

0,4

0,6

0,8(a) 3-OPV

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)250 300 350 400 450 500 550

0,0

0,1

0,2

(b) 5-OPV

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)250 300 350 400 450 500

0,0

0,2

0,4

0,6

0,8(a) 3-OPV

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)250 300 350 400 450 500 550

0,0

0,1

0,2

(b) 5-OPV

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

128

substrato (figura 6.7). Según esto se debería observar un continuo decrecimiento de la

intensidad umbral con la concentración lo cual no se observa para el 5-OPV, aunque sí para el

3-OPV hasta concentraciones del 15 % (figura 6.5).

300 350 400 450 500 550 600200

250

300

350

400

Pro

f. de

pen

etra

ción

xs(

nm)

Espesor de la película (nm)

Figura 6.7.- Profundidad de penetración en el substrato xs (nm) en función del espesor de la película para 3-OPV

(cuadrados) y 5-OPV (triángulos).

Respecto a la variación de la intensidad umbral debido a cambios en el índice de refracción, si

tuviéramos en cuenta la dispersión del índice de refracción a la longitud de onda de emisión,

se observaría un aumento de índice de refracción con la concentración de oligómero y en

consecuencia un mayor confinamiento del modo en la guía. Por ello, también se debería

observar un continuo decrecimiento de la intensidad umbral en función de la concentración.

Se puede concluir que para este tipo de materiales, el comportamiento observado en la figura

6.5 no puede ser explicado en términos de variación del confinamiento del modo en la guía de

ondas.

6.5 Determinación del mecanismo responsable del estrechamiento espectral

y obtención de los coeficientes de ganancia.

Para la realización del estudio que se desarrolla en este apartado se utilizaron películas de PS

dopadas con 15 % en peso de 3-OPV y 9 % de 5-OPV, puesto que estos porcentajes son los

que habían presentado mejores valores de intensidades umbrales y anchos de banda final

(FWHMASE).

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

129

Se estudió la variación del espectro de emisión con la longitud de la línea de excitación

siguiendo el mismo procedimiento que se utilizó con las películas de TPD (apartado 5.3). Las

figuras 6.8 (a) y (b) representan el ancho de banda a media altura (FWHM) del espectro de

emisión en función de la longitud de la línea de excitación, para películas de PS dopadas con

15 % de 3-OPV y con 9 % de 5-OPV respectivamente, para varias intensidades de bombeo.

Los resultados muestran que el mecanismo responsable de los estrechamientos observados es

la ASE, puesto que los espectros de luminiscencia son anchos para longitudes de línea de

excitación cortos y van estrechándose conforme aumenta la longitud de la línea. Para

intensidades de bombeo bajas (entre 5 y 10 kW/cm2), los coeficientes de ganancia obtenidos

son bajos y en consecuencia, el espectro de luminiscencia no llega a estrecharse del todo o lo

hace de forma gradual con la longitud de la línea de excitación. Por el contrario, para

intensidades de bombeo elevadas, el colapso espectral ocurre de forma más rápida debido a

que la ganancia es mayor.

Figura 6.8.- Dependencia del ancho de banda a media altura (FWHM) del espectro de emisión con la longitud

de la línea de excitación para películas de PS dopadas con (a) 15 % de 3-OPV para intensidades de bombeo de 5

kW/cm2 (cuadrados), 45 kW/cm2 (círculos), 141 kW/cm2 (estrellas) y (b) 9 % de 5-OPV para intensidades de

bombeo de 10 kW/cm2 (triángulos), 27 kW/cm2 (estrellas), 34 kW/cm2 (círculos), 55 kW/cm2 (cuadrados).

Para estas mismas películas, en las figuras 6.9 (a) y (b) se representa la intensidad de salida a

la longitud de onda del máximo del espectro de emisión (λ= 480 nm para 3-OPV y λ= 530 nm

para 5-OPV) en función de la longitud de la línea de excitación para distintas intensidades de

bombeo para películas dopadas con 15 % de 3-OPV y con 9 % de 5-OPV respectivamente.

Utilizando la Ec. 1.22 para los distintos valores de la intensidad de bombeo (Ip) se ajustaron

los datos experimentales de las gráficas de la figura 6.9 utilizando como parámetros ajustables

0,0 0,1 0,2 0,3 0,4

10

20

30

40

50

60

70

80

90(a) 3-OPV

FW

HM

(nm

)

Longitud de la línea de excitación (cm)0,0 0,1 0,2 0,3 0,4

10

20

30

40

50

60

70

(b) 5-OPV

FW

HM

(nm

)

Longitud de la línea de excitación (cm)

0,0 0,1 0,2 0,3 0,4

10

20

30

40

50

60

70

80

90(a) 3-OPV

FW

HM

(nm

)

Longitud de la línea de excitación (cm)0,0 0,1 0,2 0,3 0,4

10

20

30

40

50

60

70

(b) 5-OPV

FW

HM

(nm

)

Longitud de la línea de excitación (cm)

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

130

A y gnet (coeficiente de ganancia neto). Los ajustes obtenidos se representan mediante líneas

continuas en la figura 6.9. Los coeficientes A y gnet obtenidos del ajuste anterior se muestran

en la tabla 6.1.

Estos resultados justifican que el mecanismo responsable de los colapsos espectrales

observados es la ASE, descartando otros mecanismos como la superflourescencia o la emisión

espontánea de estados biexcitónicos.

Figura 6.9.- Dependencia de la intensidad de salida a λ = 480 nm (para 3-OPV) y a λ = 530 nm (para 5-OPV)

con la longitud de la línea de excitación en películas de PS dopadas con: (a) 15% en peso de 3-OPV con

intensidades de bombeo de 5 kW/cm2 (triángulos), 28 kW/cm2 (círculos) ,100 kW/cm2 (cuadrados), 141 kW/cm2

(estrellas); (b) 9% en peso de 5-OPV con intensidades de bombeo de 10 kW/cm2 (triángulos), 27 kW/cm2

(estrellas), 34 kW/cm2 (círculos) y 55 kW/cm2 (cuadrados). Las líneas continuas son ajustes de los datos

experimentales realizados mediante Ec. 1.22 con los parámetros de la tabla 6.1.

Oligómero Intensidad de bombeo (kW/cm2) AIp (U. arb.) gnet (cm1)

5 4.6 -7.0

3-OPV 10 6.0 -4.0

100 22.6 4.3

141 42.3 6.5

10 14.8 0.2

5-OPV 27 29.6 4.0

34 39.7 9.0

55 57.2 13.0

Tabla 6.1.- Parámetros obtenidos mediante el ajuste de los datos experimentales de la figura 6.9 con la Ec. 1.22.

0,0 0,1 0,2 0,3 0,4

0,1

1

10

100

1000(a) 3-OPV

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Longitud de la línea de excitación (cm)

0,0 0,1 0,2 0,3 0,40,1

1

10

100

1000

(b) 5-OPV

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Longitud de la línea de excitación (cm)

0,0 0,1 0,2 0,3 0,4

0,1

1

10

100

1000(a) 3-OPV

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Longitud de la línea de excitación (cm)

0,0 0,1 0,2 0,3 0,40,1

1

10

100

1000

(b) 5-OPV

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Longitud de la línea de excitación (cm)

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

131

Se observa que para intensidades de bombeo bajas, los coeficientes de ganancia obtenidos son

negativos, lo que indica que la ganancia no supera las pérdidas. Por otro lado, comparando

ambos compuestos, se observa que para intensidades de bombeo similares, los coeficientes de

ganancia obtenidos para 5-OPV son mayores que los obtenidos para 3-OPV. Por ejemplo,

para una intensidad de bombeo de 55 kW/cm2 se obtiene un coeficiente de ganancia gnet = 13

cm-1 para 5-OPV mientras que para el 3-OPV se obtiene una ganancia de gnet = 4.3 cm-1 con

una intensidad de bombeo de 100 kW/cm2. Este resultado muestra que el 5-OPV es más

eficiente que el 3-OPV como ya habíamos indicado anteriormente. Para finalizar este

capítulo, es importante puntualizar que los coeficientes de ganancia obtenidos para estos

oligómeros son más pequeños que los medidos en derivados del PPV (gnet = 62 cm-1 para una

intensidades de bombeo de 4.1 kW/cm2 para el BUEH-PPV). Esto es lógico, puesto que la

concentración de material activo en los materiales moleculares es menor que en los polímeros.

6.6 Fotoestabilidad.

Dado que la fotoestabilidad es un factor muy importante de cara a posibles aplicaciones de

estos materiales, se procedió a estudiar la fotoestabilidad que presentaban. Más

concretamente, se midieron películas de PS dopadas con 9 % de 5-OPV y 15 % de 3-OPV ya

que estas concentraciones son las que presentaron umbrales más bajos (ver figura 6.5). Al

igual que se procedió en el capítulo anterior para estudiar la fotoestabilidad del TPD, se

obtuvieron los espectros de emisión de ambas películas para una intensidad de bombeo por

encima del umbral de cada material fija a lo largo del tiempo, hasta observar que la intensidad

total emitida ASE disminuía hasta la mitad de su valor máximo. Los mejores resultados se

obtuvieron para el 5-OPV ya que presentaba un tiempo de vida media ASE, de unos 2000

pulsos (alrededor de 3 minutos) frente a los 600 pulsos (1 minuto) que presentó el 3-OPV.

6.7 Comparación de las propiedades láser de películas basadas 3-OPV y 5-

OPV con las de otros materiales.

En la tabla 6.2 se han resumido los valores de λemisión e Iumbral para la ASE, así como los

tiempos de vida media ASE t(1/2-ASE) obtenidos para el 3-OPV y 5-OPV con la finalidad de

comparar estos materiales con otros descritos en la literatura (ver tablas 3.1) . Si se comparan

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Capítulo 6.- Estudio de las propiedades láser de dos derivados del OPV

132

los resultados mostrados en la tabla 6.2 con los de la tablas 3.1 se observa que tanto el 3-OPV

como el 5-OPV muestran umbrales ASE bajos comparados con otros oligómeros tales como

el FTS, T3oxPh y T5oxPh. Además, hay que tener en cuenta que el porcentaje del 3-OPV y

5-OPV en la muestra era del 15 % y del 9 % respectivamente frente al 100 % presente en las

muestras de los oligómeros con los que se han comparado.

Material Haz de bombeo Haz emitido

Nombre Estructura Química

Tipoa Muestra

DP(ns)b

RR(Hz)c Forma;d

Tamaño(cm) GRe λλλλASE f

λλλλDFB(nm)

I uASE g

I uDFB

(kW/cm2)

t1/2h

p

5-OPV/PS

0.09:1 SC

b10 L(ASE) E c10 0.35×0.053

530(ASE) 13(ASE) 2000

3-OPV/PS

0.15:1 SC

b10 L(ASE) E c10 0.35×0.053

480(ASE) 6(ASE) 600

Tabla 6.2.- Propiedades de emisión láser para los oligómeros 3-OPV y 5-OPV. a Tipo muestra: SC (película

spin-coating); bDuración pulso, cRitmo de repetición, dForma del haz: C L (línea); egeometría de recolección: E

(por el extremo de la película); f longitud de onda de emisión; g umbral: ASE (emisión espontánea amplificada); htiempo de vida media de la ASE: p (número de pulsos).

NC

OC6H13

OC6H13

CN

OC6H13

OC6H13Br

Br

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Capítulo 7________________________________

Estudio de las propiedades láser de tres

derivados de perilenodiimida (PDIs).

7.1. Introducción.

7.2. Preparación de muestras.

7.3. Medidas de absorción, fotoluminiscencia y emisión estimulada.

7.3.1 Espectros de absorción y fotoluminiscencia en disolución.

7.3.2 Espectros de absorción y fotoluminiscencia en película.

7.3.3 Emisión estimulada en películas y estudio de la fotoestabilidad.

7.4. Estudio detallado de las propiedades láser de PDI-1.

7.4.1 Identificación del mecanismo responsable de los estrechamientos espectrales.

7.4.2 Dependencia de la ASE con la concentración de PDI-1.

7.5. Comparación de las propiedades láser en películas de PDI-1 con los de otros materiales.

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134

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

135

7.1 Introducción.

Durante varias décadas los perilenodiimidas (PDIs) han sido objeto de estudio en diversas

áreas científicas. Ya en los años 50 fueron utilizados como pigmentos debido a las buenas

propiedades que presentaban para este uso tales como insolubilidad, buena estabilidad

térmica, fotoestabilidad, etc.90 Además, este tipo de materiales presentan excelentes

propiedades de fotoluminiscencia, con elevadas eficiencias cuánticas (cercanas a 1) que hacen

que se puedan utilizar como láseres de colorante,91,92 colectores de luz fluorescentes93 y

marcadores es espectroscopía molecular.94 En 1984 Sadrai y Bird91 demostraron que los PDIs

podían utilizarse en aplicaciones láser en disolución.

Desde entonces se han realizado diversos estudios sobre el potencial de este tipo de materiales

en aplicaciones láser, tanto en disolución, como en estado sólido siendo incorporados a

matrices sólidas. Recientemente se han utilizado PDIs en aplicaciones en optoelectrónica tales

como dispositivos fotovoltaicos,95 transistores de efecto campo,96,97 diodos emisores de

luz,98…etc. Para el desarrollo de este tipo de aplicaciones es esencial aumentar la solubilidad

de los cromóforos y la fotoestabilidad. Por ello, y gracias a la versatilidad que presenta la

química orgánica, que permite cambiar las propiedades del material mediante modificaciones

en su estructura, se han propuesto distintas estrategias que consisten en incorporar en varias

posiciones de la estructura del perileno, grupos que hagan aumentar la solubilidad.99,100 Un

aspecto interesante que presentan los PDIs es que pueden emitir a longitudes de onda

comprendidas en las ventanas de máxima transmisión del polimetilmetacrilato (PMMA) que

se encuentran a las longitudes de onda de 530, 570 y 650 nm. De este modo poseen un gran

potencial en el campo de las comunicaciones con vistas a la fabricación de amplificadores

ópticos compatibles con fibras ópticas de polímero generalmente fabricadas con PMMA.5

Además los PDIs se encuentran entre los materiales más fotoestables descritos en la literatura,

lo que hace que sean buenos candidatos para ser utilizados en aplicaciones láser. La mayoría

de estudios realizados con PDIs insertados en matrices sólidas, han utilizado matrices de tipo

sol-gel y los derivados de perileno comerciales denominados “perileno-naranja”101 y

“perileno-rojo” siendo su finalidad la de mejorar la fotoestabilidad del material.

Sin embargo, hasta ahora no se han realizado estudios detallados del comportamiento de las

propiedades láser de estos materiales en función de la concentración de PDI. A este respecto,

alcanzar concentraciones de PDI lo más altas posibles con la finalidad de disminuir el umbral

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

136

para la emisión láser constituye en la actualidad un reto. Aunque se han desarrollado diversas

estrategias para modificar las propiedades espectrales de los PDIs,100 ninguna de ellas estaba

dirigida a optimizar las propiedades láser de estos materiales. Como consecuencia, hoy en día

no se conoce cuál es la modificación de la estructura más conveniente de cara a mejorar las

propiedades láser de los PDIs y a la vez conseguir fotoestabilidades altas.

Respecto a las propiedades espectrales de los PDIs, es bien conocido que los espectros de

absorción de PDIs sustituidos simétricamente en las posiciones de los nitrógenos imidas (tales

como PDI-1, figura 7.1) presentan una estructura sólida que sólo se puede ver ligeramente

influenciada por efectos del disolvente o por el tipo de sustituciones en la posición del

nitrógeno.99,100,102 En consecuencia, la realización de cambios en el tipo de sustituyentes

unidos a la posiciones del nitrógeno, no permiten obtener cambios significativos en el

espectro de absorción del material. Este tipo de PDIs son moléculas planas, muy fotoestables

y con muy buena estabilidad térmica. Además poseen eficiencias cuánticas excelentes (φ ≈

1)100,103 en disolución y en algunos casos también en estado sólido.

Principalmente existen dos rutas100 para conseguir desplazamientos del espectro de absorción

de estos materiales: a) realizar sustituciones en el núcleo del perileno y b) modificar el grupo

dicarboximida. Desde un punto de vista macroscópico, es conocido que los espectros de

absorción y fotoluminiscencia tanto en películas cristalinas como amorfas, sufren

desplazamientos hacia longitudes de onda mayores respecto a los espectros que se obtienen

para una molécula aislada.102 Por otro lado, si lo que se pretende es mejorar el

comportamiento láser del material, es conveniente evitar la aparición de especies agregadas,

pues las interacciones moleculares generalmente inhiben la luminiscencia.104 En este sentido,

realizar sustituciones en las posición “bahía” del núcleo del PDI (tales como PDI-2 figura 7.1)

da lugar a una disminución significativa de la energía de apilamiento π-π debido a

impedimentos estéricos inducidos por las sustituciones realizadas en el núcleo del PDI, siendo

mínima para los sistemas π con mayor torsión.105 Normalmente, y como ya se ha indicado, la

interacción molecular inhibe la emisión luminiscente y, en consecuencia, la emisión

estimulada del material, por lo que con este tipo de sustituciones se esperaría obtener emisión

láser a concentraciones de material activo en la película mayores, comparado con las

concentraciones máximas que se pueden incorporar con los PDIs sustituidos en las

posiciones imidas del nitrógeno. Sin embargo, se ha de tener en cuenta que la sustitución en

las posiciones bahía del núcleo del PDI producen generalmente disminuciones en la

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

137

eficiencias cuánticas luminiscentes, hecho que es negativo para el funcionamiento láser del

material. Por ejemplo, se han medido eficiencias cuánticas luminiscentes de φ = 0.85 y φ = 0.5

en perilenos tetra-cloro sustituidos106 y perilenos basados en colesterol107 respectivamente.

En cuanto a la modificación del grupo dicarboximida del PDI (PDI-3, figura 7.1), permite

obtener cambios más notables en el espectro de absorción del monómero, mientras que la

energía de apilamiento π-π se mantiene prácticamente constante.

El objetivo principal de este trabajo ha sido estudiar la posibilidad de mejorar el

funcionamiento láser de los PDIs, mediante la realización de distintos tipos de sustituciones y

modificaciones en la estructura molecular. Esta información es de gran utilidad a la hora de

establecer relaciones estructura-propiedad que permitan a los químicos orgánicos diseñar

materiales que presenten mejoras en sus propiedades láser. En particular, en este capítulo se

ha estudiado la posibilidad de controlar la longitud de onda de emisión mediante

modificaciones en las propiedades espectrales, así como la de aumentar la concentración de

PDI en la matriz, evitando la formación de especies agregadas, y así disminuir el umbral láser,

manteniendo a la vez una buena fotoestabilidad del material. Para ello se estudió la

dependencia de las propiedades espectrales y láser (presencia de emisión estimulada mediante

bombeo óptico) con la concentración de PDI, determinando la aparición y la influencia de

especies agregadas en las propiedades láser del material. Se han estudiado tres tipos de

modificaciones de la estructura química del PDI: a) sustitución simétrica en las posiciones

imidas del nitrógeno, N,N’-di(10-nonadecil)perileno-3,4:9-10-tetracarboxilico diimida (PDI-

1), b) sustitución en las posiciones bahía del cuerpo del PDI, N,N´-di(2´´-etilhexil)-1,7-bis(4-

tert-butilfenoxi)perileno-3,4:-,10-tetracarboxilico diimida (PDI-2) y c) modificación del grupo

dicarboximida (PDI-3).

Los tres derivados de PDI estudiados presentaban muy buena solubilidad en disolventes

orgánicos, lo que ha permitido que se puedan depositar en forma de películas finas a partir de

disoluciones.

En aquellos PDIs en los que se observó presencia de emisión estimulada (estrechamiento del

espectro luminiscente para una intensidad de bombeo determinada) se estudió si el

mecanismo responsable de las ganancias observadas era la ASE, obteniéndose los

correspondientes coeficientes de ganancia. Además, se realizó un estudio de la dependencia

de la ASE con la concentración de PDI en términos de umbral, ancho de banda final y

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

138

longitud de onda de emisión. Para finalizar, se realizó un estudio de la fotoestabilidad de

aquellas muestras que presentaban un mejor funcionamiento dado que este aspecto es muy

importante de cara a posibles aplicaciones tal y como se ha indicado en otros capítulos de este

trabajo.

N OO

O N O

H19C9 C9H19

H19C9 C9H19

N OO

O N O

OO

N ON

O N O

H19C9 C9H19

CH3H3C

PDI-1 PDI-2 PDI-3

Figura 7.1.- Estructura química de los compuestos PDI-1, PDI-2 y PD1-3.

7.2 Preparación de muestras.

Al igual que en capítulos anteriores, las muestras estudiadas consistían en películas de PS

dopadas con los derivados de PDI indicados en el apartado anterior con espesores de

alrededor de 1 µm para el PDI-1 y PDI-2 y de 3 µm para el PDI-3 (medidos con el

microscopio interferométrico) depositadas sobre vidrio mediante la técnica de spin-coating.

Para ello se utilizaron disoluciones de PS y derivado de PDI (compuestos 1, 2 y 3) en un

rango de concentraciones en peso respecto al PS entre 0.25 y 5 %, utilizando como disolvente

tolueno para los compuestos PDI-1 y PDI-2 y cloroformo para el compuesto PDI-3. La

calidad de las películas en términos de transparencia y homogeneidad fue buena en todos los

casos.

7.3 Medidas de absorción, fotoluminiscencia y emisión estimulada.

Se obtuvieron los espectros de absorción y fotoluminiscencia para los tres derivados de PDI

indicados, tanto en disolución como en película siguiendo los pasos descritos en el capítulo de

técnicas experimentales. En cuanto a los espectros de fotoluminiscencia en película, se

midieron excitando las muestras a una longitud de onda de 491 nm (para evitar solapamiento

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

139

entre el espectro de absorción y fotoluminiscencia) para PDI-1 y a 533 nm para PDI-2 y PDI-

3. Para la medida de presencia de emisión estimulada en películas de estos tres compuestos,

se utilizó el sistema experimental descrito en el apartado 4.6 excitando las muestras a 533 nm

con un haz de tamaño fijo.

Además, se obtuvieron las eficiencias cuánticas luminiscentes mediante el procedimiento

descrito en la parte de técnicas experimentales. Como ya se señaló, para aplicar este método

es necesario usar muestras estándar de las que se conozca el valor de su eficiencia cuántica

luminiscente y así poder compararlas con el material problema, por lo que es clave una buena

elección del estándar. Para el PDI-1 se utilizó como estándar un perileno comercial, (N,N’-

di(1-hexilheptil)perileno3,4:9,tetracarboxilico diimida) conocido como S13 (φ = 0.99)108 y

para el PDI-2 y PDI-3 cresil violeta (φ = 0.54).109

Medida de la eficiencia cuántica luminiscente para el PDI-1.

Como ejemplo se describirá a continuación como se realizó las medidas de la eficiencia

cuántica luminsicecente del PDI-1. Siguiendo el procedimiento descrito en el apartado 4.3, se

prepararon disoluciones de PDI-1 en tolueno y del estándar usado como referencia (S13) en

cloroformo (ambos disolventes con calidad espectranal) a concentraciones lo suficientemente

diluidas para obtener absorbancias a λ = 491 nm alrededor de 0.1. Además, se obtuvieron los

espectros de fotoluminiscencia excitando a λ = 491 nm para cada una de las disoluciones

preparadas. Con la finalidad de evitar que el disolvente se evaporara y en consecuencia

variara la concentración de las disoluciones, la absorción y la fotoluminiscencia de cada

disolución se midieron inmediatamente después de prepararla. Una vez obtenidos todos los

espectros, se representó para cada material la intensidad total emitida (área del espectro

fotoluminiscente) en función de la absorbancia y se realizó el correspondiente ajuste por

mínimos cuadrados (ver figura 7.2).

Sustituyendo en la Ec. 4.7 los correspondientes valores de índice de refracción para de los

disolventes utilizados (tolueno nd = 1.4969 y cloroformo nd = 1.4430), la eficiencia cuántica del

material estándar y las pendientes obtenidas de los ajustes por mínimos cuadrados anteriores

(m = 8527 y m = 7424 para S13 y PDI-1 respectivamente), se obtuvo el valor de la eficiencia

cuántica luminiscente del PDI-1. Hay que indicar que los índices de refracción de los

disolventes que se han utilizado son los correspondientes a la longitud de onda del sodio, ya

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

140

que prácticamente son los mismos valores que a λ = 491 nm, que es la longitud de onda a la

cual se ha obtenido la absorbancia.

Figura 7.2.- Ajuste por mínimos cuadrados de la fotoluminiscencia total en función de la absorbancia a 491 nm

para disoluciones de estándar (S13) en cloroformo (a) y de PDI-1 en tolueno (b).

7.3.1 Espectros de absorción y fotoluminiscencia en disolución.

En este apartado se muestran los espectros de absorción y fotoluminiscencia obtenidos para

los tres derivados de PDI (1, 2 y 3). Los disolventes utilizados para obtener estos espectros

son los mismos que se han usado para preparar las películas mediante la técnica de spin-

coating, es decir, tolueno para los derivados PDI-1 y PDI-2 y cloroformo para el derivado

PDI-3. En la tabla 7.1 se resumen los parámetros experimentales obtenidos relacionados con

la luminiscencia y absorción del estado singlete para cada PDI.

PDI-1. En la figura 7.3 se representan los espectros de absorción y fotoluminiscencia para

una disolución de PDI-1 (2×10-4M) en tolueno.

La forma de los espectros es similar a la obtenida en cloroformo para el mismo tipo de

compuesto,110 salvo algunos pequeños desplazamientos en la posición del pico debido a la

distinta polaridad del disolvente. El espectro de absorción muestra un máximo a 527 nm

(debido a la transición π-π* del núcleo del perileno) y dos picos vibracionales, a 459 y 490

nm. Respecto al espectro de fotoluminiscencia, también se observa una estructura vibracional.

Los parámetros representados en la tabla 7.1 referidos al compuesto PDI-1 muestran una

eficiencia cuántica luminiscente elevada (próxima a 1), y un coeficiente de extinción elevado

para la transición a la longitud de onda mayor (ε = 66.5 × 103 (M-1cm-1)). Estos parámetros

0,00 0,02 0,04 0,06 0,08 0,10 0,12

0

200

400

600

800

1000

1200

1400 (a)

Áre

a fo

tolu

min

isce

nte

(U. a

rb.)

α (cm-1)

0,00 0,02 0,04 0,06 0,08 0,10 0,12 0,14

0

200

400

600

800

1000

(b)

Áre

a fo

tolu

min

isce

nte

(U. a

rb.)

α (cm-1)

0,00 0,02 0,04 0,06 0,08 0,10 0,12

0

200

400

600

800

1000

1200

1400 (a)

Áre

a fo

tolu

min

isce

nte

(U. a

rb.)

α (cm-1)

0,00 0,02 0,04 0,06 0,08 0,10 0,12 0,14

0

200

400

600

800

1000

(b)

Áre

a fo

tolu

min

isce

nte

(U. a

rb.)

α (cm-1)

Page 153: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

141

indican que se trata de un material con propiedades adecuadas para ser utilizado como medio

activo láser.

PDI λλλλ1a(εεεεb)))) λλλλ2222

a(εεεεb)))) λλλλ3a(εεεεb)))) λλλλ(FL)1

c λλλλ(FL)2c Φ Φ Φ Φ d Disolvente

1 527(66.5) 490(40) 459(13) 537 576 0.99±0.09 Tolueno

2 540(47) 505(32) 469(sh) 562 569 0.5±0.1 Tolueno

3 583(45) 554(50) 490(sh) 624 641(sh) 0.2±0.1 CHCl3

Tabla 7.1.- Propiedades espectrales de los derivados del PDI 1,2 y 3 en disolución. a λ1,2,3: longitud de onda (nm)

de los picos de absorción ; b ε: coeficientes de extinción (×103 M-1 cm-1); c λ(PL)1,2: longitud de onda (nm) de los

picos de fotoluminiscencia; d Φ: eficiencia cuántica luminiscente.

400 500 6000,00

0,05

0,10

0,15

0,0

0,5

1,0

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)

N OO

O N O

H19C9 C9H19

H19C9 C9H19

FLABSIn

tens

idad

FL

(U. a

rb.)

Figura 7.3.- Espectros de absorción y fotoluminiscencia para PDI-1 en disolución (tolueno).

PDI-2 En la figura 7.4 se representan los espectros de absorción y fotoluminiscencia de PDI-2

en disolución (10-4M), utilizando tolueno como disolvente.

Si se compara el espectro de absorción del compuesto PDI-2 con el obtenido para el

compuesto PDI-1, se observa un claro desplazamiento del máximo de absorción para PDI-2

de unos 13 nm (el máximo de absorción aparece a 540 nm). Este desplazamiento se puede

explicar mediante la teoría del color de König100 en base a la presencia del grupo p-tert-

butilfenoxi dador de dos electrones en la posición bahía. Además, es importante notar que la

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

142

estructura vibracional del espectro de absorción que aparecía en el compuesto PDI-1

desaparece en el espectro de PDI-2. Esta pérdida de la estructura vibracional y el consiguiente

ensanchamiento del espectro de absorción se puede atribuir a dos motivos: (1) al aumento de

la conjugación en el sustituyente añadido y el núcleo del perileno, y (2) a la torsión que sufre

el cuerpo del perileno debido a las sustituciones realizadas. Respecto a los parámetros

representados en la tabla 7.1 correspondientes al compuesto PDI-2, se observa que esta

modificación de la estructura ha hecho que tanto la eficiencia cuántica luminiscente (φ = 0.5)

como el coeficiente de extinción para la transición S0→ S1 (ε = 47 × 103 (M-1 cm-1))

disminuyan.

400 500 6000,00

0,01

0,02

0,03

0,04

0,05

0,0

0,5

1,0

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)

N OO

O N O

OO

FLABS

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Figura 7.4.- Espectros de absorción y fotoluminiscencia para PDI-2 en disolución (tolueno).

PDI-3 En la figura 7.5 se muestran los espectros de absorción y luminiscencia del PDI-3 en

disolución (2×10-4M), esta vez en cloroformo.

Como se puede observar, esta modificación de la estructura da lugar a un desplazamiento del

espectro de absorción hacia el rojo, respecto a los espectros obtenidos para el PDI-1 y PDI-2.

Además el espectro ancho, consta de dos máximos a las longitudes de onda de 554 y 583 nm

y prácticamente no existe estructura vibracional. Es importante destacar así mismo que, al

contrario que ocurría para los compuestos PDI-1 y PDI-2, el máximo de absorción aparece a

la longitud de onda menor. Respecto al espectro de luminiscencia, es muy parecido al

obtenido para el compuesto PDI-2, presentando un máximo a 624 nm y un hombro a 641 nm.

En cuanto a los parámetros representados en la tabla 7.1, destaca el hecho de que la eficiencia

cuántica luminiscente medida es menor (φ = 0.2).

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

143

400 500 600 7000,00

0,04

0,08

0,12

0,0

0,5

1,0

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)

N ON

O N O

H19C9 C9H19

CH3H3CFLABS

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Figura 7.5.- Espectros de absorción y fotoluminiscencia para PDI-3 en disolución (cloroformo).

7.3.2 Espectros de absorción y fotoluminiscencia en película.

Un aspecto importante de cara a posibles aplicaciones láser de estos materiales es estudiar sus

propiedades espectrales en estado sólido y ver si las modificaciones introducidas en su

estructura conducen a una mejora del comportamiento láser. Por ello estudiamos los espectros

de absorción y fotoluminiscencia de los compuestos PDI-1, 2 y 3 en estado sólido (diluidas en

PS). Como en los casos anteriores estudiados en este trabajo, las películas constituyen guías

de ondas, puesto que el índice de refracción de las películas (nf = 1.59) es mayor que el del

substrato (ns = 1.52). Además, los espesores de las películas obtenidos son mayores en todos

los casos que el espesor de corte (hc) para la propagación de un modo (hc = 230-250 nm a la

longitud de onda del máximo de emisión del espectro de fotoluminiscencia). Hay que destacar

que aunque en las películas preparadas el PDI está diluido en PS, su concentración es mayor

que en el caso de las disoluciones de las que previamente se han descrito sus propiedades

espectrales. Mientras que para la disolución de PDI-1 en tolueno la absorbancia (α) es de 0.30

cm-1 a una concentración de 2 × 10-6 M, para películas de PS dopadas con un 0.5 % en peso

respecto al PS del mismo compuesto se obtienen valores de α = 1151 cm-1.

PDI-1. En la figura 7.6 se representan los espectros de absorción obtenidos para películas de

PS dopadas con distintas concentraciones (0.5, 1.75 y 5%) de PDI-1. Se observa que la forma

de los espectros de absorción es muy similar a la obtenida para este material en disolución,

simplemente muestran un pequeño desplazamiento de alrededor de 2 nm hacia el rojo

comparado con el espectro en disolución. Para el rango de concentraciones estudiado, la

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

144

forma del espectro de absorción no presenta cambios, y la absorbancia a la longitud de onda

del máximo aumenta linealmente con la concentración.

400 450 500 550 6000,0

0,1

0,2

0,3

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)

Figura 7.6.- Espectros de absorción para películas de PS dopadas con concentraciones de PDI-1 del 0.5 % (línea

de puntos), 1.75 %(línea continua) y 5% (línea a trazos).

Por otro lado, según se muestra en la figura 7.7, en los espectros de fotoluminiscencia

obtenidos sí que se observan cambios con la concentración de PDI-1.

Para concentraciones de PDI-1 del 0.5 %, el espectro de fotoluminiscencia es parecido al

obtenido en disolución, consistente en una banda principal a 536 nm y un primer pico

vibracional a 576 nm. Conforme aumenta la concentración de PDI-1 en la película y hasta

llegar a concentraciones del 1.75 %, la intensidad de ambos picos es comparable.

Para concentraciones mayores la posición del pico situado alrededor de 537 nm se mantiene

constante y su intensidad decrece gradualmente con la concentración hasta que prácticamente

desaparece para una concentración del 5 %. Además, el pico de 576 nm sufre un

desplazamiento hasta 596 nm al aumentar la concentración. Este hecho se puede interpretar de

dos maneras: en primer lugar, es posible que la transición 0-1 del espectro de

fotoluminiscencia sufra un desplazamiento hacia el rojo al aumentar la concentración. Otra

posibilidad es que aparezca una nueva banda de emisión debido a la presencia de especies

agregadas, de modo que su composición con el pico de la transición 0-1 del espectro de

fotoluminiscencia de lugar al desplazamiento desde 579 a 600 nm observado. En otros

trabajos previos descritos en la literatura con compuestos similares se han obtenido resultados

parecidos a los aquí expuestos, observándose espectros de fotoluminiscencia en estado sólido

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

145

con picos alrededor de 612 nm.111 Por otra parte, en la literatura también aparecen trabajos

que describen cambios similares en el espectro de fotoluminiscencia del derivado de perileno

N,N´-bis(2,5-di-tert-butilfenil)-3,4:9,10-perilenodiimida (DBPI) en función de la

concentración, tanto en disolución,112 como en matrices sol-gel.113 En el DBPI los cambios

observados en el espectro de fotoluminiscencia con la concentración se deben a la aparición

de especies agregadas que también afectan al espectro de absorción. En nuestro caso, para el

PDI-1, pensamos que la emisión a 595 nm se debe a la presencia de especies agregadas,

aunque el espectro de absorción no se vea afectado, al menos en el rango de concentraciones

estudiado.

500 550 600 650 7000,0

0,5

1,0

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 7.7.- Espectros de fotoluminiscencia para películas de PS dopadas con concentraciones de PDI-1 del 0.5

% (línea de puntos), 1.75 %(línea continua) y 5 % (línea a trazos).

PDI-2. En la figura 7.8 se representan los espectros de absorción de películas de PS dopadas

con diversas concentraciones de PDI-2.

En este caso los espectros de absorción en película cambian respecto a los obtenidos en

disolución. Para concentraciones de PDI-2 bajas (0.5 %), el espectro presenta tres picos a 462,

507 y 557 nm que aparentan ser los mismos que en disolución, pero ligeramente desplazados

hacia longitudes de onda mayores. Este desplazamiento es más pronunciado en el pico de 557

nm, que aparecía a 540 nm en el espectro en disolución.

También hay que destacar que las intensidades de pico relativas son diferentes. Mientras que

en disolución el pico de mayor intensidad era el de 540 nm, en la película el pico de mayor

absorción está en 507 nm. Si se sigue la evolución del espectro de absorción con la

concentración de PDI-2 en la película, se observa que la intensidad del pico de 507 nm

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

146

aumenta de forma más pronunciada comparada con la intensidad del pico a 557 nm. Además

sufre un desplazamiento hacia longitudes de onda mayores, hasta llegar a 511 nm para

concentraciones del 2.8 %. Estas observaciones indican que el aumento de la concentración de

PDI-2 en las películas hace que los espectros de absorción sufran desplazamientos hacia el

rojo, así como cambios en las intensidades de pico relativas.

450 500 550 6000,00

0,05

0,10

0,15

D

ensi

dad

óptic

a

Longitud de onda (nm)

Figura 7.8.- Espectros de absorción para películas de PS dopadas con concentraciones de PDI-2 del 0.5 % (línea

continua gruesa), 1 % (línea de puntos), 1.5 % (línea continua) y 2.8 % (línea a trazos).

Estos cambios espectrales son parecidos a los descritos para el DPBI113 y se atribuyen a la

aparición de especies agregadas. Probablemente, el desplazamiento hacia el azul observado en

el pico de absorción desde 557 nm a 552 nm es debido a la composición de varios picos

teniendo en cuenta los cambios relativos en las intensidades de pico.

La figura 7.9 muestra los espectros de fotoluminiscencia obtenidos para películas de PS

dopadas con diversas concentraciones de PDI-2. Para el espectro de fotoluminiscencia

correspondiente a la concentración del 0.5 % se observa un pico principal a 562 nm, que

coincide con la banda principal observada en el espectro de fotoluminiscencia en disolución

para este mismo material. Sin embargo, este espectro es mucho más ancho que el obtenido en

disolución y muestra un hombro alrededor de 600 nm. Para concentraciones mayores, el

comportamiento espectral es similar al observado para el compuesto PDI-1. Aparecen

emisiones nuevas alrededor de 611 nm debido a la presencia de especies agregadas que

dominan completamente el espectro a concentraciones del 2.8 %.

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

147

500 550 600 650 7000,0

0,5

1,0

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 7.9.- Espectros de fotoluminiscencia para películas de PS dopadas con concentraciones de PDI-2 del

0.5% (línea continua gruesa), 1% (línea puntos), 1.5% (línea continua) y 2.8% (línea trazos).

PDI-3 Al igual que para los compuestos PDI-1 y PDI-2 se obtuvieron los espectros de

absorción y luminiscencia en película del compuesto PDI-3 (ver figura 7.10 y 7.11).

Los espectros de absorción en película son mucho más anchos que los obtenidos para este

material en disolución, hasta el punto que aparece una nueva transición a 623 nm.

Tanto en disolución como en película se observan dos picos a 554 y 583 nm, pero en el caso

de los espectros en película, estos picos sufren un desplazamiento hacia el azul al aumentar la

concentración.

400 500 600 7000,0

0,1

0,2

0,3

Den

sida

d óp

tica

Longitud de onda (nm)

Figura 7.10.- Espectros de absorción para películas de PS dopadas con concentraciones de PDI-3 del 0.5 %

(línea continua gruesa), 1 % (línea de puntos), 2 % (línea continua) y 3 % (línea a trazos).

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

148

En la figura 7.11 se representan los espectros de fotoluminiscencia para las mismas

concentraciones de PDI-3 representadas en la figura 7.10. En este caso los espectros

obtenidos muestran intensidades más débiles que las obtenidas para los compuestos PDI-1 y

PDI-2. Además, la calidad de los espectros de fotoluminiscencia para este compuesto no es

muy buena ya que aparecen fenómenos de autoabsorción que hacen que los espectros se

deformen por la intensidad de bombeo, sobre todo para las concentraciones más elevadas,

donde la autoabsorción es mayor.

600 650 700 7500,0

0,5

1,0

Inte

nsid

ad F

L (U

. arb

.)

Longitud de onda (nm)

Figura 7.11.- Espectros de fotoluminiscencia para películas de PS dopadas con concentraciones de PDI-3 del

0.5% (línea continua gruesa), 1 % (línea de puntos), 2 % (línea continua) y 3 % (línea a trazos).

7.3.3 Emisión estimulada en películas y estudio de fotoestabilidad.

A continuación se determinó si las películas estudiadas anteriormente con los diversos PDIs

presentaban emisión estimulada.

En primer lugar se obtuvieron los espectros de fotoluminiscencia en el sistema experimental

para la medida de ASE de películas de PS dopadas con concentraciones en peso de PDI-1

entre 0.25 y 5 % para distintas intensidades de bombeo. En todos los casos se observó un

estrechamiento del espectro de emisión y un aumento considerable de su intensidad para una

determinada intensidad de bombeo, lo que indicaba que el material activo presentaba

ganancia. Para concentraciones de PDI-1 entre 0.25 y 0.75 % se obtuvieron los valores de

intensidad umbral más bajos (15 kW/cm2) con un ancho de banda de unos 7 nm.

El estrechamiento del espectro fotoluminiscente se produjo a 579 nm (ver figura 7.12) que es

prácticamente la longitud de onda del pico vibracional (transición 0-1) del espectro de

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

149

fotoluminiscencia, aunque se observa un pequeño desplazamiento hacia el rojo de unos 3 nm.

Son muchos los materiales que presentan ganancia a longitudes de onda correspondientes a

picos vibracionales de su espectro de fotoluminiscencia lo cual permite obtener emisión láser

en materiales que presentan pequeños desplazamientos Stokes.91

500 550 600 650 7000

5

10

15

20

ASE (2)ASE (1)FL (1)

FL (2)

In

tens

idad

de

emis

ión

(U. a

rb.)

Longitud de onda (nm)

Figura 7.12.- Espectros de fotoluminiscencia (FL) y ASE correspondientes a películas de PS dopadas con 0.75

% de PDI-1 y 2.8 % de PDI-2.

Al igual que para el compuesto PDI-1, se obtuvieron los espectros de emisión utilizando el

sistema experimental para determinar la presencia de ASE de películas de PS dopadas con

concentraciones de PDI-2 entre 0.25 y 5 % para distintas intensidades de bombeo. Sólo se

observó estrechamiento del espectro fotoluminiscente para concentraciones entre 1.5 y 3 %.

Además, los umbrales ASE obtenidos para el PDI-2 eran más elevados que los

correspondientes al PDI-1. En particular se obtuvieron valores de 1500 kW/cm2 para una

concentración de PDI-2 del 2.8%, frente a los 15 kW/cm2 obtenidos para una concentración

de PDI-1 del 0.75%. Por otro lado, los anchos de banda de la ASE obtenidos para el PDI-2

son del orden de 7 nm, siendo más anchos que en el caso del PDI-1 a concentraciones del 3%

en peso (∼ 3 nm). En la figura 7.12 se han representado los espectros de FL y ASE

correspondientes a las películas que presentaban menores umbrales correspondientes a las

concentraciones de 0.75 % de PDI-1 y 2.8 % de PDI -2.

En el caso del compuesto PDI-3 se estudió la presencia de ASE en el mismo rango de

concentraciones que para los compuestos PDI-1 y PDI-2 (0.25-5 %). En ningún caso se

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

150

observó estrechamiento del espectro fotoluminiscente, probablemente debido a que presenta

una eficiencia cuántica luminiscente muy baja comparada con los otros dos compuestos.

El comportamiento diferente de los tres derivados de PDI estudiados puede explicarse en

términos de sus correspondientes eficiencias cuánticas luminiscentes. Sin embargo, se ha de

ser prudente al respecto ya que existen otros parámetros involucrados en el proceso. En

particular, se ha de tener en cuenta la eficiencia cuántica de la formación de estados triplete y

el solapamiento de la región de absorción triplete-triplete (T1 Tn) con la región de emisión

láser (S1 T0). Por ejemplo, la elevada eficiencia láser que presenta el compuesto N,N´-

bis(2,6-dimetilfenil)3,4:9,10-perilenodiimida, que posee una estructura similar a la del

compuesto PDI-1, se justificó106 en base a que la absorción triplete-triplete estaba desplazado

hasta prácticamente coincidir con la banda de absorción del estado singlete-singlete (S0 S1),

dejando la región de fluorescencia y la región láser libre de la región de absorción triplete.

Por otro lado, otros derivados de PDI con sustituciones en el núcleo del perileno en las

posiciones bahía (similar a PDI-2), han mostrado espectros triplete-triplete desplazados hacia

la región láser.106

Este desplazamiento depende mucho del tipo de sustitución que se realice en la estructura del

perileno, por lo que en algunos casos se observa que la eficiencia láser disminuye, mientras

que en otros casos no se llega a obtener emisión láser. Por ello, el hecho del que el compuesto

PDI-2 estudiado muestre poca eficiencia láser, puede deberse no solamente al hecho de que

presente una eficiencia cuántica luminiscente baja sino que puede darse la posibilidad de que

existan solapamientos de la región de emisión con la banda de absorción triplete-triplete. Algo

similar podría ocurrir con el compuesto PDI-3, aunque en este caso la razón más importante

para que este material no presente emisión estimulada es seguramente que posee una

eficiencia cuántica luminiscente baja.

Fotoestabilidad.

Como ya se ha indicado en la introducción de este capítulo, el estudio de la fotoestabilidad de

los materiales es un punto de vital importancia de cara a posibles aplicaciones y su posterior

comercialización. Por ello se estudió la fotoestabilidad que los PDIs que presentan emisión

estimulada (PDI-1 y PDI-2). En particular, se midieron películas de PS dopadas con 0.75 %

de PDI-1 y 2 % de PDI-2. En la figura 7.13 se representa la intensidad total emitida ASE en

función del número de pulsos recibidos por la muestra (eje superior) y del tiempo de

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

151

exposición de la muestra (eje inferior) para una intensidad de bombeo fija por encima del

umbral: 70 y 2500 kW/cm2 para películas dopadas con PDI-1 y PDI-2 respectivamente.

1 10 1000,0

0,2

0,4

0,6

0,8

1,0

0,1 1 10

Inte

nsid

ad A

SE

nor

mal

izad

a

Tiempo (minutos)

Número de pulsos (x 103)

Figura 7.13.- Intensidad ASE normalizada en función del númeo de pulsos (10 ns, 10 Hz) para películas de PS

dopadas con 0.75 % de PDI-1 (cuadrados) y 2 % de PDI-2 (círculos). Intensidades de bombeo: 70 kW/cm2 (PDI-

1) y 2500 kW/cm2 (PDI-2).

Como se puede observar en la figura 7.13 la presencia de fotodegradación es evidente puesto

que la intensidad total ASE disminuye conforme aumenta el número de pulsos a los que se ve

expuesta la muestra para ambos materiales. Para el caso del PDI-1 se obtienen buenos

resultados, puesto que presentan un tiempo de vida media ASE, de unos 31×103 pulsos (50

minutos). Por otro lado, al aumentar la concentración de PDI-1, la fotoestabilidad se ve

reducida de forma notable por ejemplo 15×103 pulsos (25 minutos) cuando la intensidad de

bombeo es de 400 kW/cm2). Estos resultados son comparables a los obtenidos para el perileno

naranja (material comercial de fácil disponibilidad), introducido en diferentes tipos de

matrices, tal como algunos silicatos modificados (ORMOSILs)114 o PMMA,115 con tiempos

de vida de 26 × 103 (ritmo de repetición 2 Hz) y 30 × 103 pulsos (ritmo de repetición 10 Hz)

respectivamente. Por otro lado, las películas dopadas con PDI-2 se degradan de forma muy

rápida, debido a que presentan umbrales ASE muy elevados que hacen que las muestras

presenten tiempos de vida de tan sólo 300 pulsos (es decir, 30 segundos).

Con la finalidad de indagar más sobre el mecanismo de fotodegradación involucrado en el

proceso, excitamos nuestras muestras con la intensidad máxima que nuestro láser podía

suministrar (19 MW/cm2). Con estas condiciones, las películas dopadas con 0.75 % en peso

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

152

de PDI-1 mostraron tiempos de vida de 1.8 × 103 pulsos (3 minutos), reduciéndose a 0.6 ×

103 pulsos (1 minuto) para concentraciones más elevadas. Hay que destacar que para estas

intensidades de bombeo tan elevadas las películas mostraban daño mecánico después de sólo

30 segundos de exposición, aunque se seguía observado ASE hasta 1-3 minutos de exposición

tal como se ha indicado. Este daño mecánico que sufre la muestra también se ha observado en

películas puras de PS (películas sin dopar con la molécula activa). Este hecho hace que en

estos momentos, no se tenga claro si la ASE se inhibe debido a la degradación de la molécula

activa (en nuestro caso PDI), de la matriz (PS) o de ambos. En la actualidad estamos

estudiando el comportamiento de estos PDIs en otro tipo de matrices con mejores propiedades

mecánicas.

7.4 Estudio detallado de las propiedades láser de PDI-1.

Puesto que el PDI-1 ha sido el compuesto que mejor comportamiento ha presentado, se ha

realizado un estudio más detallado de sus propiedades.

7.4.1 Identificación del mecanismo responsable de los estrechamientos espectrales.

Con la finalidad de determinar si es la ASE era el mecanismo responsable del estrechamiento

de los espectros luminiscente, se realizaron medidas de la intensidad de salida para diferentes

intensidades de bombeo en función de la longitud de la línea de excitación. En la figura 7.14

se representan la intensidad de salida a la longitud de onda del pico máximo del espectro de

emisión (λ = 579 nm) en función de la longitud de la línea de excitación para tres intensidades

de bombeo por encima del umbral.

Como era de esperar, se obtuvieron espectros anchos para longitudes de línea cortas, que iban

estrechándose a medida que se aumentaba la longitud de la línea de excitación. Los datos

experimentales se ajustaron con la Ec. 1.22 utilizando A y gnet como parámetros ajustables,

(ver tabla 7.2).

Como se puede ver, los datos experimentales se ajustan muy bien a la Ec. 1.22, lo que permite

afirmar que el mecanismo responsable de los estrechamientos observados es la ASE,

descartando otros mecanismos tales como superfluorescencia y la emisión espontánea desde

estados biexcitónicos, ya que para que estos mecanismos estuvieran presentes se deberían

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

153

haber observados estrechamientos del espectro fotoluminiscente para las longitudes de línea

de excitación más cortas.

.

0,0 0,1 0,2 0,3 0,40,01

0,1

1

10

100

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Longitud de la línea de excitación (cm)

Figura 7.14.- Intensidad de emisión a λmax = 579 nm para una película de PS dopada con 0.5 % en peso de PDI-1

en función de la longitud de línea de excitación para varias intensidades de bombeo: 74 kW/cm2 (círculos), 60

kW/cm2 (triángulos) y 26 kW/cm2 (cuadrados). Los ajustes de los datos experimentales mediante la Ec. 1.22

vienen representados por la línea continua de donde se han obtenido los coeficientes de ganancia (gnet).

Intensidad de bombeo (kW/cm2) AIp (U. arb.) gnet (cm-1)

74 9.6 10.0

60 7.9 8.3

26 2.7 2.0

Tabla 7.2.- Parámetros obtenidos del ajuste de los datos de la figura 7.14 con la Ec. 1.22

7.4.2 Dependencia de la ASE con la concentración de PDI-1.

Dado que este material presentaba buenas propiedades para ser utilizado como medio activo

láser decidimos profundizar más en el comportamiento de la ASE con la concentración de

PDI-1 en películas de PS a través de tres parámetros: intensidad umbral (IumbralASE), ancho de

banda final (FWHMASE) y longitud de onda de emisión (λASE).

Intensidad umbral.

Para cada una de las concentraciones estudiadas, la intensidad umbral se determinó

representado la intensidad de salida en función de la intensidad de bombeo y viendo

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

154

gráficamente cuando se producía un cambio brusco de pendiente (figura 7.15). Este punto nos

da la intensidad de bombeo para la cual se produce el estrechamiento del espectro

fotoluminiscente.

5 10 15 20 25 30

0

2

4

6

8

Iumbral

Inte

nsid

ad d

e sa

lida

(U. a

rb.)

Intensidad de bombeo (kW/cm2)

Figura 7.15.- Intensidad de salida a λmax = 579 nm en función de la intensidad de bombeo para una película de

PS dopada con un 0.5 % de PDI-1. Las líneas continuas son ajustes lineales de los datos. El punto de corte

determina la intensidad umbral ASE.

En este caso no se utilizó el método del FWHM para calcular el umbral debido a que como ya

se ha mencionado, el espectro de fotoluminiscencia para concentraciones de PDI-1 hasta 1.75

% presentaba dos picos bien diferenciados (ver figura 7.7). Para intensidades de bombeo

bajas, la banda principal a 536 nm presentaba mayor intensidad que la correspondiente al

primer pico vibracional a 576 nm. Conforme se aumentaba la intensidad de bombeo, la

intensidad del primer pico vibracional iba aumentando progresivamente respecto a la

intensidad de la banda principal hasta ganar al excitar con intensidades por encima del umbral

(ver figura 7.12). Este hecho dificultaba la obtención del FWHM del espectro de emisión para

intensidades de bombeo por debajo del umbral, por lo que se optó por no utilizar este método

para el cálculo del umbral.

En la figura 7.16 se representan los umbrales obtenidos en función de la concentración de

PDI-1, siguiendo este método. El mayor problema que presenta el PDI-1 es que sólo se

observa ASE en películas de PS dopadas con concentraciones bajas de este material (< 3 %).

Para concentraciones mayores de material activo, los umbrales son tan elevados que la

película se estropea durante el proceso de medida, lo que hace imposible determinar los

umbrales de forma precisa.

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

155

0 1 2 30

100

200

300

400

500

I umbr

al

AS

E (

kW/c

m2 )

Concentración de PDI-1 (% en peso)

Figura 7.16.- Intensidad umbral en función de la concentración de PDI-1 en películas de PS.

En la figura 7.16 también se observa que los umbrales más bajos (alrededor de 15 kW/cm2) se

obtienen para las concentraciones de PDI-1 más pequeñas (0.25-0.75 %), aumentando

lentamente hasta concentraciones del 1.5% en peso. A partir de estas concentraciones, los

umbrales crecen rápidamente al aumentar la concentración alcanzando valores de unos 500

kW/cm2 para concentraciones del 3 %.

FWHM ASE

Otro parámetro, cuya evolución en función de la concentración de PDI ha sido estudiado, es

el ancho de banda ASE final, es decir, el FWHM de la emisión cuando la excitación se realiza

por encima del umbral. En la figura 7.17 se representa el ancho de banda final (FWHMASE) en

función de la concentración de material activo.

Se observa que el FWHMASE decrece gradualmente de 7 a 3.5 nm cuando la concentración de

PDI-1 varía de 0.5 al 3%. A partir de esta concentración el FWHMASE se satura y mantiene

constante. Los anchos de banda más pequeños se han obtenido para las concentraciones

mayores, aunque éstas son las que presentan mayores umbrales según muestra la figura 7.16.

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

156

0 1 2 3 4 5 63

4

5

6

7

FW

HM

AS

E (

nm)

Concentración de PDI-1 (% en peso)

Figura 7.17.- Ancho de banda ASE (FWHMASE) en función de la concentración PDI-1 en películas de PS.

Longitud de onda de emisión ASE (λλλλASE).

La evolución de la longitud de onda de emisión ASE (λASE) en función de la concentración de

PDI-1 se representa en la figura 7.18.

0 1 2 3 4 5 6

540

560

580

600

ASE

FL(0-1)

FL(0-0)

Long

. de

onda

de

emis

ión,

λ (

nm)

Concentración de PDI-1 (% en peso)

Figura 7.18.- Longitud de onda de emisión ASE (círculos), FL (0-0) (triángulos) y FL (0-1) (cuadrados) en

función de la concentración de PDI-1 en películas de PS.

Se observa que para concentraciones bajas, λASE es de 579 nm, desplazándose ligeramente

hasta 581 nm conforme aumenta la concentración. Además, también se ha representado la

longitud de onda de los dos picos que presenta el espectro de fotoluminiscencia (λFL(0-0) y

λFL(0-1)). Mientras que λFL

(0-0) se mantiene prácticamente constante alrededor de la longitud de

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

157

onda λFL(0-0) = 536 nm al aumentar la concentración, λFL

(0-1) sufre un desplazamiento

considerable desde la longitud de onda λ = 576 nm a longitudes de onda mayores a partir de

concentraciones de PDI-1 del 2 %.

Por otra parte, la intensidad del pico correspondiente a la transición FL (0-1) aumenta de

forma notable respecto a la del pico de la transición FL (0-0) dominando el espectro a las

concentraciones más altas. Como se puede observar en la figura 7.19, la intensidad del pico de

la transición FL (0-0) disminuye con la concentración al mismo tiempo que la de la transición

FL (0-1) aumenta hasta concentraciones de PDI-1 del 2 %. Por encima de esta concentración

la transición que domina el espectro es la FL (0-1).

0 1 2 3 4 50

10

20

30

FL(0-1)

FL(0-0)

Inte

nsid

ad d

e pi

co F

L (U

. arb

.)

Concentración de PDI-1 (% en peso)

Figura 7.19.- Intensidad de los picos de emisión de la transición FL (0-0) (triángulos) y FL (0-1) (cuadrados), en

función de la concentración de PDI-1 en películas de PS.

Este comportamiento es debido a la aparición de especies agregadas que dan lugar a una

nueva emisión, de tal forma que la composición de esta nueva emisión con la emisión de la

transición FL (0-1) hace que se observe un desplazamiento hacia el rojo al aumentar la

concentración, de modo que la longitud de onda varía desde 576 a 600 nm.

Estos resultados indican que los niveles involucrados en la transición láser son los del

monómero y no los de las especies agregadas. Esta afirmación se justifica por el hecho de que

la λASE no se desplaza hacia el rojo al aumentar la concentración de PDI-1, tal como sucede

con la transición FL (0-1). Además, el umbral aumenta de forma considerable a partir de

concentraciones del 1.5-2 %, que son justo las concentraciones a partir de la cuales comienzan

a aparecer las especies agregadas. Para las concentraciones altas el espectro de luminiscencia

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

158

se debe principalmente a la emisión de especies agregadas, que son incapaces de generar

emisión estimulada. Desde un punto de vista general, esta observación es muy importante, ya

que indica que el hecho de que un material presente eficiencia cuántica luminiscente elevada

en película pura de material (100% material activo, 0% PS), no quiere decir que también

muestre emisión estimulada.

Es importante señalar que el comportamiento de la ASE mostrado por el compuesto PDI-1

diluido en matrices de PS difiere del descrito para otros materiales tales como el TPD. En el

caso del PDI-1 sólo se ha observado ASE en películas de PS dopadas con concentraciones de

PDI-1 por debajo del 5 %. En este rango de concentraciones, el umbral aumenta con la

concentración, distinguiéndose dos regímenes bien diferenciados: uno para concentraciones

por debajo del 2 %, donde el umbral aumenta lentamente con la concentración (figura 7.16)

mientras que la intensidad del pico de la transición FL (0-1) aumenta respecto a la de la

transición FL (0-0) (figura 7.19). Así, aunque en este régimen λASE = λFL(0-1), el incremento

de intensidad de la transición FL (0-1) al aumentar la concentración, no se traduce en una

disminución del umbral ASE. A pesar de que la intensidad total de fotoluminiscencia aumenta

con la concentración, los cambios que se observan en la forma del espectro de

fotoluminiscencia son un indicador de la existencia de interacción molecular, que

probablemente sea la responsable del aumento observado en el umbral. El segundo régimen

aparece para concentraciones de PDI-1 por encima del 2 %, en el que umbral aumenta con la

concentración más rápidamente que en el otro régimen (figura 7.16) y el pico de la transición

FL (0-0) prácticamente desaparece. Además, a partir de esta concentración λFL(0-1) comienza a

desplazarse hacia el rojo, que como ya se ha indicado es debido a la presencia de especies

agregadas, incapaces de generar emisión estimulada. Respecto al comportamiento del ancho

de banda final ASE (FWHMASE) con la concentración, lo que se esperaba era obtener un

comportamiento similar al umbral. Sin embargo, se observa que FWHMASE decrece

gradualmente con la concentración hasta valores del 2 %, saturándose y manteniéndose

constante para concentraciones mayores. Por el contrario, el umbral ASE aumenta en todos

los casos, de forma lenta hasta concentraciones del 2 % y más acentuada para concentraciones

mayores. Esto se puede interpretar en función del cambio de forma del espectro

fotoluminiscente. Como muestra la figura 7.7 la forma del espectro de fotoluminiscencia

depende de la concentración de PDI, al contrario de lo que ocurre para otros materiales tales

como el TPD (descrito en esta memoria). Como el ancho de banda final de una determinada

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

159

transición se ve influenciado por la forma del espectro, es razonable pensar que la transición

del espectro de fotoluminiscencia más estrecha de lugar a anchos de banda ASE más

estrechos. De hecho, la transición a la cual tiene lugar la ASE es la FL (0-1) donde la

intensidad del pico es cada vez mayor (respecto a la FL (0-0)) conforme se aumenta la

concentración. A partir del 2 % de PDI-1, la transición FL (0-0) prácticamente desaparece y la

forma del espectro de fotoluminiscencia cambia completamente. Esto está en concordancia

con lo observado en la figura 7.17, ya que para concentraciones de hasta 2 % en peso se

observa una disminución de FWHMASE para saturarse y mantenerse constante a

concentraciones mayores.

7.5 Comparación de las propiedades láser de películas dopadas con PDI-1

con las de otros materiales.

En la tabla 7.3 se han representado los valores de λemisión e Iumbral para la ASE, así como los

tiempos de vida media ASE t(1/2-ASE) obtenidos para el PDI-1 con la finalidad de comparar este

material con algunos de los materiales descritos en la literatura resumidos en las tablas 3.1.

Así, comparando las tablas 3.1 y 7.3, el derivado PDI-1 muestra una elevada fotoestabilidad.

Como se ha mencionado en apartados previos, este valor se podría mejorar aún más utilizando

otro tipo de matriz diferente al PS, o uniendo covalentemente el material activo a la matriz.

Esta estrategia ha dado lugar a buenos resultados en otros materiales tales como colorantes

dipirrometeno.3 Es importante destacar el hecho de que prácticamente no hay información en

la literatura sobre la fotoestabilidad de polímeros utilizados en aplicaciones láser.

Como se puede observar en las tablas 7.3 y 3.1, la intensidad umbral ASE que presenta las

películas basadas en PDI-1 (15 kW/cm2) es baja comparada con la obtenida en películas

basadas en otros materiales moleculares tales como el colorante PM567 (3800 kW/cm2) o

T5oxPh (366 kW/cm2). Cabe resaltar, que en el caso del T5oxPh la concentración de material

activo es mucho más elevada que la considerada para el PDI-1, ya que se trata de películas

prácticamente sin diluir de material. Con respecto a la comparación con polímeros, las

películas basadas en PDI-1 muestran un umbral un orden de magnitud mayor que los que

presentan los polímeros descritos en la tabla 3.1 (b). No obstante esta diferencia no es tan

importante si se tiene en cuenta que existe una diferencia en dos órdenes de magnitud en la

concentración que se compara. De este modo, en el presente, uno de los mayores retos

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Capítulo 7.-Estudio de las propiedades láser de tres derivados del PDI

160

consiste en diseñar materiales en los que se pueda introducir una cantidad mayor de PDI con

la finalidad de disminuir el umbral ASE sin que exista inhibición de la ASE, manteniéndose, a

la vez la fotoestabilidad del material.

Material Haz de bombeo Haz emitido

Nombre Estructura Química

Tipoa Muestra

DP(ns)b

RR(Hz)c Forma;d

Tamaño(cm) GRe λλλλASE f

λλλλDFB(nm)

IuASE g

IuDFB

(kW/cm2)

t1/2h

p

PDI-1/PS SC

0.0075:1

10 L(ASE) E

10 0.35×0.053

579(ASE) 15(ASE) 31×103

Tabla 7.3.- Propiedades de emisión láser para el derivado de perilenodiimida PDI-1. a Tipo muestra: SC (película

spin-coating); bduración pulso, critmo de repetición, dforma del haz:, L (línea); egeometría de recolección: E (por

el extremo de la película); f longitud de onda de emisión; g umbral: ASE (emisión espontánea amplificada); htiempo de vida media de la ASE: p (número de pulsos).

N

O

OO

N

O

H19C9

H19C9

C9H19

C9H19

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Capítulo 8________________________________

Conclusiones

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162

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Capítulo 8.- Conclusiones

163

En este trabajo de investigación se ha realizado un estudio experimental de las propiedades

láser que presentan diversos sistemas moleculares orgánicos. En particular se han estudiado

películas de un polímero inerte (PS) dopadas con: (1) la molécula orgánica transportadora de

huecos N,N’-bis(3-metilfenil)-N,N’difenilbenzidina (TPD), (2) dos derivados del oligo-(p-

fenilenovinileno) (OPVs) con tres (3-OPV) y cinco (5-OPV) unidades monoméricas y (3) tres

derivados de perilenodiimida (PDIs). Además, se ha fabricado un láser DFB de segundo

orden basado en la molécula orgánica TPD y se ha estudiado cómo influye la presencia de la

cavidad en las propiedades de emisión láser de este material. Por otro lado, se ha realizado un

importante esfuerzo en hacer una revisión bibliográfica de las propiedades láser que presentan

diversos materiales orgánicos semiconductores descritos en la literatura para clarificar cual es

la situación actual en la comunidad científica y valorar los resultados obtenidos en los

materiales estudiados en este trabajo.

Las contribuciones más importantes del trabajo presentado en esta memoria pueden

sintetizarse en los siguientes puntos:

Estudio de la molécula orgánica TPD

Se ha observado estrechamiento del espectro fotoluminiscente en películas de PS dopadas con

TPD al ser excitadas mediante bombeo óptico para una determinada intensidad de bombeo.

Las medidas de la dependencia de la intensidad emitida en función de la longitud de la línea

de excitación, muestran que el mecanismo responsable de los colapsos espectrales observados

es la emisión espontánea amplificada (ASE), obteniéndose en el proceso de amplificación una

ganancia neta de hasta 16 cm-1 a una intensidad de bombeo de 12 kW/cm2. Los estudios de la

dependencia de la ASE con el espesor de la película (concentración de TPD al 15 %) y la

concentración de TPD en la película muestran la posibilidad de sintonizar la longitud de onda

de la ASE entre 404 y 417 nm mediante variaciones del espesor (entre 100 y 200 nm) y entre

413 y 422 nm mediante el control de la concentración. En el caso del estudio con el espesor

los resultados muestran que los desplazamientos observados en la longitud de onda de la ASE

dependen de la forma del espectro fotoluminiscente que consta de varios picos vibracionales y

de las propiedades de guía de onda que presentan las películas. Para el caso del estudio con la

concentración, los desplazamientos observados vienen justificados en términos de la

eficiencia luminiscente del proceso, aunque el grado de confinamiento de los modos en la

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Capítulo 8.- Conclusiones

164

guía pueda influenciar el comportamiento de la ASE observado. Respecto a los umbrales

ASE, los experimentos para estudiar la dependencia con el espesor, realizados con películas

de PS dopadas con un 15 % de TPD muestran que el umbral disminuye al aumentar el espesor

de la película, debido al aumento del confinamiento del modo de propagación, alcanzando

valores mínimos de 12 kW/cm2 para espesores mayores de 190 nm. En el caso del estudio con

la concentración de TPD, los valores óptimos (∼ 1 kW/cm2) se alcanzan para concentraciones

entre el 20 y 90 %. Puesto que para altas concentraciones aparecen problemas de

inestabilidad, las películas más eficientes son aquellas que están dopadas entre un 20 y un

30%. Respecto al estudio de la fotoestabilidad de este material, excitado justo por encima del

umbral, los resultados muestran que la intensidad total de la ASE disminuye rápidamente con

el tiempo de irradiación sobre la muestra, alcanzando la mitad de su valor máximo a los 2 ó 3

minutos y desapareciendo por completo después de 10 minutos. Por último, se ha observado

emisión láser en un DFB de segundo orden basado en un película de PS dopada con un 30 %

de TPD. Las mejoras introducidas por la cavidad en las propiedades de emisión láser de este

material consisten en una disminución de la intensidad umbral a la mitad del valor obtenido

para la película sin red, junto a un menor ancho de banda de la emisión ∼ 1.3 nm frente a los ∼

5 nm de la ASE.

Estudio de dos derivados de OPV

Se ha observado estrechamiento espectral en películas de PS dopadas con dos derivados

distintos de OPV (3-OPV y 5-OPV con 3 y 5 unidades de monómero respectivamente).

Estudios de la dependencia de la emisión con la longitud de la línea de excitación han

determinado que el mecanismo responsable del colapso espectral es la ASE, produciéndose el

estrechamiento espectral a las longitudes de onda de 480 y 530 nm para el 3-OPV y 5-OPV

respectivamente. Se han obtenido coeficientes de ganancia de gnet = 13 cm-1 a 55 kW/cm2 y

gnet = 4.3 cm-1 a 100 kW/cm2 para el 5-OPV y 3-OPV respectivamente. Además, los

experimentos muestran que existe un límite en la cantidad de oligómero que se puede

introducir en la película (25% para el 3-OPV y 20 % para el 5-OPV). En películas dopadas

con 3-OPV este límite es debido a que aparecen fenómenos de agregación a partir de

concentraciones superiores al 25 %, que producen un aumento del umbral de modo que las

películas resultan dañadas. Por otro lado, en el 5-OPV se observa la inhibición de la ASE

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Capítulo 8.- Conclusiones

165

debido a interacción molecular a partir de concentraciones superiores al 20 %. El

comportamiento observado de la intensidad umbral en función de la concentración de

oligómero se correlaciona con los espectros de absorción obtenidos. Los valores de intensidad

umbral mínimos obtenidos corresponden a películas de PS dopadas con un 15 % de 3-OPV (6

kW/cm2) y un 9 % de 5-OPV (13 kW/cm2).

Estudio de tres derivados de PDI.

Tras el estudio realizado sobre el efecto que produce la realización de tres modificaciones en

la estructura química del perilenodiimida (PDIs) en las propiedades láser y espectrales, tanto

en disolución como en películas de PS dopadas con distintas concentraciones de PDI, se

observa que los mejores resultados se obtienen para películas dopadas con un 0.75 % del

derivado que presenta sustituciones simétricas en las posiciones de los de nitrógenos (PDI-1).

En este caso, se observa estrechamiento espectral a λ = 579 nm para una intensidad umbral de

15 kW/cm2. Respecto a la fotoestabilidad de este material, se obtienen valores de tiempo de

vida media de unos 50 minutos (31×103 pulsos) para una intensidad de bombeo de 70

kW/cm2. En cuanto al estudio detallado de la emisión estimulada de este material en función

de la concentración de PDI-1 se observó estrechamiento del espectro de fotoluminiscencia

para concentraciones de PDI-1 entre el 0.25 y 5 %. El estudio de la dependencia de la

intensidad emitida en función de la longitud de la línea de excitación muestra que el

mecanismo responsable de los estrechamientos del espectro de fotoluminiscencia observados

es la ASE, obteniéndose ganancias netas de hasta 10 cm-1 a una intensidad de bombeo de 74

kW/cm2. Los umbrales más bajos (15 kW/cm2) se obtuvieron para concentraciones entre 0.25

y 0.75 %, con un ancho de banda de unos 7 nm a λASE = 579 nm. Para concentraciones

mayores los umbrales aumentan y en consecuencia disminuye la fotoestabilidad debido a la

presencia de especies agregadas. Por último, los experimentos muestran un desplazamiento de

la λASE con la concentración desde 579 hasta 581 nm al aumentar la concentración entre 0.25

y 5%.

Respecto a la sustitución realizada en la posición bahía del perileno (PDI-2) con la finalidad

de prevenir la agregación, dado que rompe la planaridad de la molécula, no ha mejorado las

propiedades láser del material respecto al PDI-1, ya que presenta eficiencias fotolumniscentes

de φ = 0.5 frente a la obtenida para el PDI-1 (φ = 1). La intensidad umbral ASE en películas

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Capítulo 8.- Conclusiones

166

de PS dopadas con PDI-2 es dos órdenes mayor que para el PDI-1 (1500 kW/cm2 para 2.8 %

de PDI-2 con λASE = 600 nm). Como consecuencia del aumento del umbral la fotoestabilidad

disminuye.

Por último, la modificación del grupo carboximida (PDI-3) tampoco ha conducido a mejoras

de las propiedades láser, no observándose presencia de ASE en películas de PS dopadas con

este material. Ello es debido fundamentalmente a la baja eficiencia cuántica luminiscente que

presenta (φ = 0.2).

Comparación de las propiedades láser de los materiales estudiados con los

descritos en la literatura.

Tras la realización de este trabajo se llega a la conclusión de que para poder hacer una

correcta comparación de las propiedades láser de diferentes materiales es necesario tener en

cuenta las características del sistema experimental utilizado, ya que sólo se podrán comparar

aquellos materiales que hayan sido evaluados bajo condiciones similares. Además los

umbrales se deben dar en unidades de densidad de potencia (kW/cm2), por lo que el láser de

excitación utilizado debe tener pulsos cuya duración sea ∼ ns para asegurase de que se está en

condiciones de estado estacionario. Además, el tamaño del haz de excitación sobre la muestra

se debe medir de forma precisa, puesto que es un parámetro crítico en la obtención de los

umbrales.

Por otro lado, si se quieren comparar las propiedades láser de distintos materiales, lo que se

debe considerar son los resultados obtenidos para la ASE (en configuración de guía de ondas)

y no cuando el material es introducido en una cavidad, ya que entonces no es posible discernir

si las posibles mejoras son debidas al material activo o a la cavidad resonante. Con la

finalidad de evaluar las prestaciones de la cavidad se debe medir la ASE en una película con

idénticas características que la utilizada en el dispositivo láser y en el mismo sistema

experimental.

Los resultados obtenidos para los materiales descritos en estas memoria muestran que en el

caso de la molécula orgánica TPD presenta valores de intensidad umbral ASE (1 kW/cm2,

λASE = 417 nm) y láser (0.5 kW/cm2, λDFB2 = 418 nm), entre los más bajos descritos en la

literatura para moléculas pequeñas y polímeros. Respecto a los dos derivados del OPV

Page 179: Propiedades de emisión láser en películas delgadas de ... · 6.3 Caracterización de las propiedades de guía de ondas ... materiales semiconductores inorgánicos, tales como diodos

Capítulo 8.- Conclusiones

167

estudiados, ambos muestran umbrales bajos comparados con otros oligómeros (13 kW/cm2,

λASE = 530 nm para el 5-OPV y 6 kW/cm2, λASE = 480 nm para el 3-OPV). Por último el

derivado de perilenodiimida PDI-1 presenta una de las mayores fotoestabilidades descritas en

la literatura junto a umbrales más que aceptables (15 kW/cm2, λASE = 579 nm) siendo muy

interesante por su potencial aplicación en el campo de las comunicaciones.

En todos los casos, los materiales estudiados presentan propiedades adecuadas para poder ser

utilizados como medio activo láser.

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169

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E.J.R. Sudhölter, J. Am. Chem. Soc. 122, 11057 (2000).

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114. Y. Yang, M. Wang, G. Qian, Z.Wang, X. Fan, Opt. Mater. 24, 621 (2004).

115. N. Tanaka, N. Barashkov, J. Heath, W.N. Sisk, Appl. Opt. 45, 3846 (2006).

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175

Apéndice A_______________________________

Publicaciones y

comunicaciones a congresos

A.1 Publicaciones relacionadas con esta memoria

1. ”TPD-Based Blue Organic Lasers”. M.A. Díaz-García, E.M. Calzado, J.M. Villalvilla,

P.G. Boj, J.A. Quintana, M. Kuzyk. J. Nonl. Opt. Phys. & Mater. 13, 621 (2004).

2. “Concentration dependence of amplified spontaneous emission in two olig-(p-

phenylenovinylene) derivatives”. M.A. Díaz-García, E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.G.

Boj, J.A. Quintana, F. Giacalone, J. L. Segura, N. Martín, J. Appl. Phys. 97, 063522-1

(2005).

3. “Tuneability of Amplified Spontaneous emission through control of the thickness in

organic-based waveguides”. E.M. Calzado, M.A. Díaz-García,, J.M. Villalvilla, P.G.

Boj, J.A. Quintana, J. Appl. Phys. 97, 093103-1 (2005).

4. “ Concentration dependence of amplified spontaneous emission in organic-based

waveguides”. E.M. Calzado, M.A. Díaz-García,, J.M. Villalvilla, P.G. Boj, J.A. Quintana,

Organic Electronics, 7, 319, (2006).

5. “ Amplified spontaneous emission in polymer films doped with a perylenediimide

derivative”. E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.G. Boj, J.A. Quintana, R. Gómez, J.L.

Segura, M.A. Díaz-García, Appl. Opt. 46, 3836, (2007).

6. “Effect of structural modifications in the spectral and laser properties of perylenebisimide

derivatives”. E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.G. Boj, J.A. Quintana, R. Gómez, J.L.

Segura, M.A. Díaz-García, J. Phys. Chem. C. 111, 13595 (2007).

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176

7. “Low-threhsold blue-emitting distributed feedback lasers based on TPD”. E.M.

Calzado, J.M. Villalvilla, P.G. Boj, J.A. Quintana, M.A. Díaz-García, P.A. Postigo.

Manuscrito en preparación

A.2 Otras publicaciones no relacionadas con esta memoria.

1. "The structure and energetics of TPD ground and excited states". I. Vragovic, E.M.

Calzado, M.A. Díaz-García. Chem. Phys. 332, 48 (2007).

2. “Modelling absorption and photoluminescence of TPD”. I. Vragovic, E.M. Calzado,

M.A. Díaz-García, C. Himcincschi, L. Gisslén, R. Scholz, J. Lumin. 128, 845 (2008).

3. “Asymmetry between absorption and photoluminescence line shape of TPD:

spectroscopic fingerprint of the twisted biphenyl core” . R. Scholz, C. Himcincschi, L.

Gisslén, I. Vragovic, E.M. Calzado, E. Louis, E. San Fabian, M.A. Díaz-García. Enviado

al Phys. Rev. B.

4. “Effect of ring-fusion in the laser properties of oligothiophenes” . E.M. Calzado, V.

Navarro-Fuster, J.M. Villalvilla, P.G. Boj, J.A. Quintana, M.A. Díaz-García, J.T,

Henssler, A.J. Matzger, V. Hernández-Jolín, T. Navarrete. Manuscrito en preparación .

A.3 Artículos completos en libros y proceedings de congresos.

1. “Emisión espontánea amplificada en guías de onda fabricadas con TPD: dependencia

con el espesor.” E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.Boj, J.A. Quintana, M.A. Díaz-García.

Libro de Actas de la IV Reunión de Optolelectrónica, Alicante (2005).

2. “Amplified spontaneous emission in TPD-based waveguides: Thickness and TPD

concentration dependence”. E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.G. Boj, J.A. Quintana, M.A.

Díaz-García. Proc. SPIE, 619231, Estrasburgo, Francia (2006).

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177

A.4 Contribuciones a congresos

1. “TPD-based blue organic lasers” (póster). M.A. Díaz-García, E.M. Calzado, J.M.

Villalvilla, P. Boj, J.A. Quintana, M. Kuzyk; ICONO7 International Conference on

Organic Nonlinear Optics, Sorak, Corea (2003).

2. “ Propiedades láser en Oligómeros de PPV” (póster). E.M.Calzado, J.M. Villalvilla, P.

Boj, J.A. Quintana, M.A. Díaz-García, F. Giacalone, J.L. Segura, N. Martín; III Reunión

de Física del Estado Sólido, San Sebastián, España (2004)

3. “Concentration dependence of amplified spontaneous emission in PPV oligomers”

(presentación oral). M.A. Díaz-García, E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.Boj, J.A.

Quintana, F. Giacalone, J.L. Segura, N. Martín; 6th International Symposium on

Functional π-Electron Systems, Ithaca, USA (2004).

4. “ Propiedades laser en Oligómeros de PPV” (póster). E.M. Calzado, J.M. Villalvilla,

P.Boj, J.A. Quintana, M.A. Díaz-García; I Jornadas Científicas de Instituto Universitario

de Materiales de Alicante, Alicante, España (2005)

5. “Dependencia con el espesor de la ASE en guías de onda fabricadas con TPD”

(comunicación oral). E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.Boj, J.A. Quintana, M.A. Díaz-

García; Escuela de Materiales Moleculares, Boi-Taull, España (2005).

6. “ Emisión espontánea amplificada en guías de onda fabricadas con TPD: dependencia

con el espesor” (póster). E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.Boj, J.A. Quintana, M.A.

Díaz-García; IV Reunión de Optoelectrónica, Elche, España (2005).

7. “ Propiedades de emisión láser en películas orgánicas” (conferencia invitada). M.A.

Díaz-García, E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P.Boj, J.A. Quintana; 1ª Reunión sobre

dispositivos organicos fotovoltaicos, electroópticos y electrónicos, Benicassim, España

(2005).

8. “ Dependencia con la concentración de la emisión espontánea amplificada en guías de

onda fabricadas con TPD” (póster). E.M.Calzado, J.M. Villalvilla, P. Boj, J.A. Quintana,

M.A. Díaz-García; IV Reunión de Física del Estado Sólido, Alicante, España (2006).

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178

9. “The structure and the energetics of TPD neutral molecule in ground and excited states

cation and anion” (poster). I. Vragovic, E. M. Calzado, M. A. Díaz-García; IV Reunión

de Física del Estado Sólido, Alicante, España (2006).

10. “Dependencia con la concentración de la emisión espontánea amplificada en guías de

onda fabricadas con TPD” (póster). E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P. Boj, J.A.

Quintana, M.A. Díaz-García; II Jornadas Científicas de Instituto Universitario de

Materiales de Alicante, Alicante, España (2006).

11. “Amplified spontaneous emission in TPD-based waveguides: Thickness and TPD

concentration dependence” (poster). E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P. Boj, J.A.

Quintana, M.A. Díaz-García; Photonics Europe (SPIE Europe), Estrasburgo, Francia

(2006).

12. “Tuneability of amplified spontaneous emission in TPD-based waveguides through

control of thickness and concentration” (poster). M.A. Díaz-García, E.M. Calzado, J.M.

Villalvilla, P. Boj, J.A. Quintana; 7th International Symposium on Functional p-Electron

Systems, Osaka, Japón (2006).

13. “Materiales para optoelectrónica” (presentación oral). M.A. Díaz-García, E.M. Calzado,

J.M. Villalvilla, P.G. Boj, J.A. Quintana; 8ª Reunión Nacional de Óptica, Alicante, España

(2006).

14. “Acción láser en películas orgánicas basadas en un derivado de perilenodiimida”

(póster). P. Boj, E.M. Calzado, J.A. Quintana, J.M. Villalvilla, R. Gómez, J.L. Segura,

M.A. Díaz-García; 8ª Reunión Nacional de Óptica, Alicante, España (2006).

15. “Propiedades de emisión láser en películas de perilenodiimida” (presentación oral). E.M.

Calzado, J.M. Villalvilla, P. Boj, J.A. Quintana, M.A. Díaz-García, R. Gómez, J.L.

Segura; Escuela Nacional de Materiales Moleculares, Estepona, España (2007).

16. “The structure and energetics of TPD: HF and DFT studies of ground and excited stated,

cation and anion” (presentación oral). I. Vragovic, E.M. Calzado, M.A. Díaz-García;

Escuela Nacional de Materiales Moleculares, Estepona, España (2007).

17. “Laser properties of polymer films doped with a pentathienoacene derivative: comparison

with other types of oligomers and molecular materials” (presentación oral). M.A. Díaz-

García, E.M. Calzado, J.M. Villalvilla, P. Boj, J.A. Quintana, J. Henssler, A.J. Matzger;

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7th International conference on optical probes of pi-conjugated polymers and functional

self assemblies, Turku, Finlandia (2007).

18. “Modelling absorption and photoluminescence of TPD” (póster). I. Vragovic, E. M.

Calzado, M.A. Díaz-García, C. Himcinschi, L. Gisslén, R. Schölz; 16th International

Conference on Dynamical processes in excited states of solids (DPC´07), Segovia, España

(2007).