Download - Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos
![Page 1: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/1.jpg)
|1| © 2016 GAIKER Centro Tecnológico
Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos
Seminario de Pinturas 13/04/2016
![Page 2: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/2.jpg)
|2|
ÍNDICE
Microscopio óptico
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)
Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM)
Goniómetro
Introducción
Microscopio confocal
![Page 3: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/3.jpg)
|3|
INTRODUCCIÓN
![Page 4: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/4.jpg)
|4|
Formulación Caracterización Fabricación de Prototipos Ensayos Reciclado
PLÁSTICOS & COMPOSITES
Micro-nano materiales
Desarrollo de materiales
Procesos y aplicaciones
Composites termoplásticos
Composites termoestables
Coatings Nanomateriales
Transformación procesos y
aplicaciones Diseño
Calculo & Simulación Caracterización y
ensayos
Contamos con la Acreditación para la
realización de ensayos Reacción al Fuego
Acreditación nº 72/LE187
Contamos con la Acreditación para la
realización de ensayos Plásticos
Acreditación nº 72/LE272
Transporte Energía Máquina-
Herramienta Salud
Textil Construcci
ón Eléctrico-
Electrónico Mobiliario
![Page 5: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/5.jpg)
|5|
RECUBRIMIENTOS I+D
AIC: Automotive Intelligence Centre
Nuestras instalaciones y laboratorios en el AIC-Automotive Intelligence Center (Amorebieta) están especializadas en:
Recubrimientos: Antibacterianos Autolimpiantes Autorreparantes Antirayado
Acabados: Texturizados Decorativos
Laboratorio de muestras húmedas
Campana de flujo laminar
Formulación. Caracterizar los recubrimientos en estado líquido
antes de su aplicación. Determinar propiedades reológicas: viscosidad,
nivelacion y descuelgue…. Determinar parámetros físicos: densidad, pH,
tiempo de secado…
Laboratorio de muestras húmedas
![Page 6: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/6.jpg)
|6|
RECUBRIMIENTOS I+D
Aplicación con robot
Aplicación spray
Aplicación en spray manual o robot.
Horno para el postcurado de las superficies (Tª o radiación UV)
Laboratorio de aplicación y curado
Laboratorio de aplicación y secado Laboratorio de muestras secas
Caracterización de los recubrimientos después de su aplicación sobre una superficie (microscopía).
Evaluación de las características estéticas obtenidas (color, velo superficial, piel de naranja…).
Crockmeter
Péndulos Persoz
Microscopio óptico Evaluación de las prestaciones físico-mecánicas de las distintas capas (adherencia, dureza, resistencia al rayado, abrasión, a agentes externos, etc..).
Laboratorio de muestras secas
![Page 7: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/7.jpg)
|7|
MICROSCOPIO ÓPTICO
![Page 8: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/8.jpg)
|8|
MICROSCOPIO ÓPTICO
Microscopio Óptico
Lupa: hasta 50x Microscopio óptico: 50x, 100x, 200x y 400x Lupa
0,00
5,00
10,00
15,00
20,00
25,00
30,00
35,00
4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Par
tícu
las
(%)
Longitud (micras)
¿Cuándo utilizar este equipo? Idea general de una pieza o cargas de tamaño varias micras o mm.
Analizador de imagen (Perfect Image): Distribución en número el tamaño de partículas
![Page 9: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/9.jpg)
|9|
MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS
![Page 10: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/10.jpg)
|10|
MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS
• Tamaños y formas de cargas o aditivos o defectos.
• Composición química de cargas, de un defecto o de un material.
• Dispersiones de aditivos en una matriz plástica.
• Distribución de un aditivo a lo largo del espesor de un barniz (si no es orgánico).
¿Cuándo utilizar estos equipos?
![Page 11: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/11.jpg)
|11|
MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS
Microscopio Electrónico de Barrido con detector de rayos X (SEM-EDX)
Microscopio Electrónico de Transmisión con detector de rayos X (TEM-EDX)
Resolución: 200nm (50000x)
Resolución: 0.24nm (1.000.000x). 1nm = millonésima parte de 1mm
![Page 12: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/12.jpg)
|12|
Todo tipo de muestras sólidas (nunca líquidas).
Metalización (sputtering) Capa de Au/Pd (80/20 w/w) de espesor 5nm Evitar deposición de carga electrostática en el material.
¿Y si la muestra es líquida? Deposición de una gota sobre el portamuestras. Esperar a que se evapore.
MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS
Microscopio Electrónico de Barrido con detector de rayos X (SEM-EDX)
Microscopio Electrónico de Transmisión con detector de rayos X (TEM-EDX)
Realizar un corte inferior a 100nm con la ayuda de un ultramicrotomo con sistema crio. Tª trabajo: ambiente o por debajo de 0ºC
¿Qué tipo de muestras se pueden observar en los microscopios electrónicos?
![Page 13: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/13.jpg)
|13|
EJEMPLOS: Aplicación para Aditivos
Tamaños y forma de aditivos
SEM TEM
NP Al2O3 (10-80 nm) Micro SiO2 (1-8 mm)
MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS
![Page 14: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/14.jpg)
|14|
MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS
NTC Grafeno
Tamaños y forma de aditivos
TEM
200 veces mas fuerte y 20 veces mas flexible que el acero.
Pinturas conductoras (PU + NTC) Reducción desgaste superficial
EJEMPLOS: Aplicación para Aditivos
![Page 15: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/15.jpg)
|15|
MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS
Dispersiones de aditivos a nivel superficial en una matriz plástica (SEM)
Element Weight% Atomic% O K 41.04 55.99 Na K 8.53 8.10 Mg K 2.82 2.53 Si K 37.68 29.29 K K 0.39 0.22 Ca K 6.50 3.54 Au M 3.04 0.34 Totals 100.00
Barniz + microesferas de SiO2
EJEMPLOS: Aplicación para Aditivos
![Page 16: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/16.jpg)
|16|
Distribución de un aditivo a lo largo del espesor de un barniz (si no es orgánico)
Carbono Oxígeno
Silicio
Barniz + SiO2
SEM
MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS EJEMPLOS:
Aplicación para Aditivos
![Page 17: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/17.jpg)
|17|
PERFILÓMETRO ÓPTICO 3D o MICROSCOPIO CONFOCAL
![Page 18: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/18.jpg)
|18|
MICROSCOPIO CONFOCAL
Mide la rugosidad superficial de una muestra a escala micro o nanométrica.
Se puede escanear áreas desde mm hasta cm.
• Acabado superficial en piezas o recubrimientos.
• Espesor de recubrimientos.
• Anchura y profundidad de defectos (rayas o poros).
• Medida de la capacidad de autoreparación de un material.
¿Cuándo utilizar este equipo?
![Page 19: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/19.jpg)
|19|
Acabado superficial en piezas o recubrimientos
Superficie homogénea
Superficie con defectos
MICROSCOPIO CONFOCAL EJEMPLOS:
Aplicación para Recubrimientos
![Page 20: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/20.jpg)
|20|
Espesor de recubrimientos
MICROSCOPIO CONFOCAL
Anchura y profundidad de rayas o poros
EJEMPLOS: Aplicación para Recubrimientos
![Page 21: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/21.jpg)
|21|
Muestra irradiada
MICROSCOPIO CONFOCAL
Medida de la capacidad de autoreparación de un material
EJEMPLOS: Aplicación para Recubrimientos
![Page 22: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/22.jpg)
|22|
GONIÓMETRO
![Page 23: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/23.jpg)
|23|
GONIÓMETRO
Medida del ángulo de contacto entre un disolvente y la superficie de una muestra.
Hidrofobicidad o hidrofilidad de diferentes disolventes sobre la superficie de una muestra.
Tensión superficial de un material.
Cómo afecta diferentes tratamientos realizados en la superficie de la muestra al ángulo de
contacto.
¿Cuándo utilizar este equipo?
![Page 24: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/24.jpg)
|24|
133º
91º
Superficie sin tratar Superficie tratada
GONIÓMETRO
![Page 26: Microscopía: Una herramienta avanzada para el desarrollo y caracterización de recubrimientos](https://reader031.vdocumento.com/reader031/viewer/2022011721/58a7f2381a28abfa488b45a5/html5/thumbnails/26.jpg)
|26|
gracias
thank you merci
eskerrik asko
gracias
thank you
eskerrik asko eskerrik asko
gracias
grazie
danke
evgaristó
spaisíva
arigato
Shokrán
cám òn qúi vi rhât
Xié Xie
bedankt
moltes gràcies
khrap
go raibh maith agaibh
matu suksama
ありがとうございます
谢谢
Parque Tecnológico de Bizkaia, Edificio 202 48170 Zamudio | Bizkaia | Spain
T. 0034 94 6002323 [email protected] | www.gaiker.es