x p s auger i s s 1
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Presentación de la primera clase
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Caracterización de materiales
Espectroscopía de electrones
XPS y Auger
XPS = X-ray photoelectron spectroscopy
ESCA = Electron spectroscopy for chemical analysis
Efecto fotoeléctrico de un electrón de conducción:
Instrumentación
hEk
Región analizada
UHV = vacío ultra alto
10
AES = Auger electron spectroscopy
1s
ISS = Ion scattering spectroscopy
LEIS = Low energy ion scattering
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