Dispositivo de perfilaje

Unidad de perfilaje

Panel de controlTambor del cable

Medidor de profundidad Punto de profundidad cero1

Tema 5

PERFILAJE A POZO DESNUDO Propiedades elctricas Propiedades acsticas

Porosidad Saturaciones Arcillosidad permeabilidad Espesores Litologa ETC.

Propiedades radioactivas

2

PERFILES DE POZOSRESISTIVOSELCTRICO CONVECIONAL (EL) Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP Laterolog (LL) Dual-Laterolog (DLL) Induccin (IL) Doble-Induccin (DIL)

ACUSTICOSSnico Compensado (BHC) Snico de Esp. Largo Snico Digital

RADIOACTIVOSDensidad (FDC) Litodensidad (LDL) Neutrones (CNL) (SNP) Neutrn de Doble Porosidad Rayos Gamma Rayos Gamma Espectral

Esfrico (SFL)

MICRO RESISTIVOSMicrolog (ML) Microlaterolog (MLL) Proximity (PL) Microesfrico (MSFL) 3

APLICACIONES DE LOS REGISTROS(En hoyo desnudo)

Cualitativas :Cuantitativas :

Correlacin Litologa Espesor de arena Porosidad Saturacin de agua - hidrocarburos Permeabilidad Arcillosidad

Especiales :

Buzamiento , Desviacin, Fracturas, Geomecnica, Geofsica etc. Espesor y rea (mapa) volumen de la roca Porosidad y saturaciones4

volumen de los fluidos

Caracterizacin del yacimiento y determinacn de la reserva

Propiedades medidas por los perfiles

ELECTRICAS

Resistividad Potencial espontneo

ACUSTICAS

Velocidad del sonido Natural Rayos Gamma Densidad total Indice de hidrgeno

RADIACTIVAS5

Inducida

Utilizacin de los registros segn la propiedad medida

DeterminaResistividad Induccin Laterolog Microesfrico

Saturacin de agua Rw Vsh

SP

Acstica

Snico

Porosidad

Rayos Gamma Rayos Gamma EspectralRadioactiva6

LitologaPorosidad

Densidad Neutrn

PERFILES DE POZOS

RESISTIVOSELCTRICO CONVECIONAL (EL) Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) Fuera del mercado desde los aos setentas

SP

Se corre todava en la actualidad

7

SP - Potencial Espontneo * Es un potencial elctrico desarrollado en el pozo debido al movimiento de los iones presentes en el agua de formacin y en el barro de perforacin * El movimiento de los iones se debe al contraste de salinidad entre el agua de formacin y el filtrado de barro de perforacin * Los iones se migran de la solucin de alta concentracin a la de baja concentracin y son principalmente iones de Cl- y Na+ * Estos iones se migran por dos trayectorias originando dos potenciales Potencial de contacto Ed 8 Potencial membrana Esh

Desarrollo del potencial espontneoCl Cl Cl Cl -

+

+Cl Cl Cl Cl -

Na +Na +Cl -

Na +Cl -

Na + Na +

+ Na + Na + Na + + +

Lutita

+ Cl Na + ClNa + Cl Cl - Na Na + Cl Na + Na + Cl + Na

Barro

Potencial de contacto (Ed) Potencial de membrana (Esh)

Baja concentracin

Alta concentracin

Filtrado Agua de formacin

9

Desarrollo del potencial espontneoGenera un voltajeNa +

Na +Na +

Potencial de lutita Esh

Na +Cl - Na + Cl Na + Cl Na +

Na +Cl Cl Cl Cl -

Na +

Cl -

Genera un voltajePotencial de contacto Ed o EsandCl -

Cl

-

Na + Na +

Cl Cl -

Cl Cl -

Na +

Na + Na +

Invasin

Baja concentracin

Alta concentracin

Curva de SP = Ed + Esh10

Expresin matemtica de las dos potencialesPotencial de lutita Potencial de contacto Esh = 0.111 (460 + T) log Rmfe Rwe Ed = 0.022 (460 + T) log Rmfe Rwe

Ec = Potencial electroqumico = Esh + Ed Ec = Esh + Ed = 0.133 (460 + T) log Rmfe Rwe Ec = (61 + 0.133T) log Rmfe Rwe K

Ec = K log Rmfe Rwe11

K = 61 + 0.133 T Resistividades equivalentes

Relacin entre Rw y Rmf con Rwe y Rmfe

12

Rmf

o

Definicin de SP y SSPPotencial electroqumico desarrollado Ec Ec = K log Rmfe Rwe

Ec = SSPPotencial electrqumico medido SP

Ec

SP < SSP Por efectos de factores del pozo y de la formacin

13

Factores que afectan a la curva de SPSPLedo < SSP = SPDesarrollado1. Resistividad 2. Arcillosidad

Arcillosidad (Vsh)

Resitividad Alta

SPledo

SSP14

Factores que afectan a la curva de SP3 Efectos por invasin

Invasin profunda (Di grande) Invasin

SPledo

SSP

4 Efectos por capas vecinas (por espesor delgado)

SPledo < SSP

SSP

15

Los efectos por espesor y por invasin pueden ser corregidos utilizando grafico preparado

SUMARIO

Factores que afectan a la curva de SP(Rt)

1 La resistividad de la formacin. 2 La arcillosidad. (Vsh) 3 La profundidad de invasin. (Di)

4 El espesor de la capa. (e)

(SP)leido = SSP - (Ef)Rt + (Ef)Vsh + (Ef)Di + (Ef)e(Ec) Potencial 16 electroqumico Efectos que reducen el potencial electroqumico

Correccin de la curva de SP Por espesor y por invasinRi Rm Tiene relacin directa con Di

Grfico para corregir SP por espesor y por invasin

Si la Porosidad baja (invasin es profunda ) La curva de SP debe corregirse si el espesor es menor que 30

30

8

Si la porosidad es alta (Invasin somera) se desprecia la correccin si el espesor es 8Invasin profunda

Correccion 10% 17

FC

Utilizacin de la curva de SP* Determinar Rw. * Determinar la arcillosidad. * Correlacionar unidades litolgicas.

* Identificar zonas permeables.18

Determinacin de Rw a partir de la curva de SPLa curva de SP puede ser usada para determinar Rw si se cumplen las siguientes condiciones:

(SP)leido = SSP - (Ef)Rt + (Ef)Vsh + (Ef)Di + (Ef)eSon despreciables

Resistividad no muy alta Arena acufera Sw = 100% La arena es limpia o libre de arcilla. Invasin no profunda (Porosidad mediana) Espesor adecuado o la lectura ha sido corregida por capas vecinas.19

SP = Ec= SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe)

Determinacin de Rw a partir de la curva de SP

SP = Ec= SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe)Determinacin de K y Rmfe

K=61+0.133*TF Rmfe a partir del grficoRmf > 0.1 a 75F Rmfe es aprono usar el grfico ximado con

Rmfe = 0.85*Rmf

Para la conversin de Rwe a Rw s se puede usar todo el grfico o algebraicamente.20

Ejemplo

Determinacin de Rw a partir de la curva de SPSSP = -68 Rmf = 0.41 a Tf = 150F SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe) K = 61+ 0.133*TF Rmfe = 0.85*Rmf(Rmf > 0.1)

K = 61+0.133*150 = 81 Rmfe = 0.85*0.41 = 0.348 SSP log ( Rmfe/Rwe) = -KRmfe/Rwe = (10)SSP -K

=

- 68 (10) - 81

= 6.9Rw=0.060

Rmfe 0.348 =0.050 Rwe = 6.9 = 6.9 Rw=0.06021

Determinacin de la arcillosidad a partir de la curva de SP SP mv

Linea de arena limpia

0 Vsh =

Y X

Y = SSP - SPA X = SSPArena considerada como limpia

X = SSP

SSP - SP

Vsh =

SSP

Y22

SPB

Ejercicio No. 2 para los participantes

Determine la fraccin de arcillas, Vsh, de los intervalos A y C de la arena 2mv

A BC23

Solucin del ejercicio No. 2 Determine la fraccin de arcillas, Vsh, de los intervalos A y C de la arena 2

SSP SP Vsh = SSP Linea de lutita mv

SSP = -72 SPA = -52 SPB = -62

VshA =

-72 (-52) -72

Arena limpiaSSP = -72 mv

VshA = 0.278 = 27.8% -72 (-62) -72

VshB = SP = -52 mv A

VshB = 0.139 = 13.9%

BSP = -62 mv24

C

Registro Elctrico ConvencionalSistema LateralRESISTIVOSELCTRICO CONVECIONAL (EL)

Fundamentos de medicin

Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP

V R= I [ohm-m] I

V25

Forma de la curva Lateral en estrato gruesoCaractersticasLa curva es asimtricaEspesor = 5 x AO

Difcil de leer el valor medido

Rt=25 ohm-mValor mximo

Valor mximo

26

Fundamentos de medicinRESISTIVOSELCTRICO CONVECIONAL (EL)

Registro elctrico convencionalSistema Nomal

Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP

V R= I [ohm-m]

N alejado de A y M

VEspaciamiento

27

Forma de la curva Normal en estrato gruesoCaracterstcas La curva es simtrica

Su valor se lee en el mximo de la curva

Rt=25 Rleida